(19)
(11) EP 2 409 165 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
25.01.2012  Patentblatt  2012/04

(21) Anmeldenummer: 09775848.6

(22) Anmeldetag:  16.03.2009
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01Q 60/38(2010.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2009/000382
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2010/105584 (23.09.2010 Gazette  2010/38)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR

(71) Anmelder:
  • Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
    80686 München (DE)
  • Technische Universität Dresden
    01062 Dresden (DE)

(72) Erfinder:
  • HEUER, Henning
    01324 Dresden (DE)
  • STRIEGLER, André
    01187 Dresden (DE)
  • OPITZ, Jörg
    01219 Dresden (DE)
  • KOPYCINSKA-MÜLLER, Malgorzata
    01109 Dresden (DE)
  • NAUMANN, Sascha
    01169 Dresden (DE)

(74) Vertreter: Pfenning, Meinig & Partner GbR 
Patent- und Rechtsanwälte An der Frauenkirche 20
01067 Dresden
01067 Dresden (DE)

   


(54) RASTERKRAFTMIKROSKOP