(19)
(11) EP 2 414 575 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
08.02.2012  Patentblatt  2012/06

(21) Anmeldenummer: 10712425.7

(22) Anmeldetag:  31.03.2010
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
D04H 3/05(2006.01)
D01D 5/00(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2010/054350
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2010/112564 (07.10.2010 Gazette  2010/40)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 01.04.2009 DE 102009015226

(71) Anmelder:
  • Centro De Estudios E Investigaciones Técnicas De Guipuzcoa (CEITG)
    20018 San Sebastián (Guipuzcoa) (ES)
  • Kim, Gyeong-Man
    20009 Donostia - San Sebastián (ES)

(72) Erfinder:
  • KIM, Gyeong-Man
    20009 Donostia - San Sebastián (ES)

(74) Vertreter: Cohausz & Florack 
Bleichstraße 14
40211 Düsseldorf
40211 Düsseldorf (DE)

   


(54) TEMPLATE-GESTÜTZTES MUSTERBILDUNGSVERFAHREN VON NANOFASERN IM ELECTROSPINN-VERFAHREN UND DEREN ANWENDUNGEN