(19)
(11) EP 2 433 114 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
28.03.2012  Patentblatt  2012/13

(21) Anmeldenummer: 10720413.3

(22) Anmeldetag:  18.05.2010
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/35(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2010/056770
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2010/133566 (25.11.2010 Gazette  2010/47)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 19.05.2009 DE 102009021829

(71) Anmelder: Siemens Aktiengesellschaft
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • BITTER, Ralf
    76139 Karlsruhe (DE)
  • LUDWIG, Michael
    76149 Karlsruhe (DE)
  • HEFFELS, Camiel
    76297 Stutensee-Büchig (DE)
  • HÖRNER, Thomas
    76135 Karlsruhe (DE)
  • KIONKE, Martin
    76137 Karlsruhe (DE)

(74) Vertreter: Wolff, Harry 
Siemens AG, CT IPS AM Postfach 22 16 36
80506 München
80506 München (DE)

   


(54) NDIR-ZWEISTRAHL-GASANALYSATOR UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER KONZENTRATION EINER MESSGASKOMPONENTE IN EINEM GASGEMISCH MITTELS EINES SOLCHEN GASANALYSATORS