| (84) |
Benannte Vertragsstaaten: |
|
AL AT BE BG CH CY CZ DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO
PL PT RO SE SI SK SM TR |
| (30) |
Priorität: |
26.05.2009 DE 102009022611
|
| (43) |
Veröffentlichungstag der Anmeldung: |
|
04.04.2012 Patentblatt 2012/14 |
| (73) |
Patentinhaber: Instrument Systems Optische Messtechnik Gmbh |
|
81673 München (DE) |
|
| (72) |
Erfinder: |
|
- NÄGELE, Thomas
86916 Kaufering (DE)
- HANNAK, Detlef
85570 Markt Schwaben (DE)
- STURM, Simon
81673 München (DE)
|
| (74) |
Vertreter: Samson & Partner Patentanwälte mbB |
|
Widenmayerstraße 6 80538 München 80538 München (DE) |
| (56) |
Entgegenhaltungen: :
US-A1- 2005 270 776 US-B1- 6 179 465
|
US-A1- 2006 139 630
|
|
| |
|
|
|
|