(19)
(11) EP 2 539 754 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
02.01.2013  Patentblatt  2013/01

(21) Anmeldenummer: 11704938.7

(22) Anmeldetag:  21.02.2011
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 6/122(2006.01)
G02B 1/00(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2011/000825
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2011/103993 (01.09.2011 Gazette  2011/35)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 23.02.2010 DE 102010008905

(71) Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
80686 München (DE)

(72) Erfinder:
  • PETERS, Marius c/o Andreas Peters
    72074 Tuebingen (DE)
  • BLÄSI, Benedikt
    79104 Freiburg (DE)
  • GOLDSCHMIDT, Jan Christoph
    63619 Bad Orb (DE)

(74) Vertreter: Pfenning, Meinig & Partner GbR 
Theresienhöhe 13
80339 München
80339 München (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINER STRUKTUR EINES HALBLEITERMATERIALS MIT VORDEFINIERTEN ELEKTROOPTISCHEN EIGENSCHAFTEN, VERFAHREN ZU DESSEN HERSTELLUNG SOWIE HALBLEITERMATERIAL