VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINES ERREGERLEITERABSTANDES, VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINES MAGNETFELDSENSORS, KALIBRIERBARER MAGNETFELDSENSOR UND VERWENDUNG EINER ERREGERLEITERSTRUKTUR ZUR BESTIMMUNG EINES ERREGERLEITERABSTANDES ZWISCHEN EINEM ERREGERLEITER UND EINEM MAGNETFELDSENSOR - Patent 2564225

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EP 2 564 225 A1

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(43)	Veröffentlichungstag:
	06.03.2013 Patentblatt 2013/10

(21)	Anmeldenummer: 11713740.6

(22)	Anmeldetag: 04.04.2011

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

G01R 33/00^(2006.01)

G01R 33/07^(2006.01)

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/EP2011/055224

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 2011/134748 (03.11.2011 Gazette 2011/44)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

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Priorität:

29.04.2010 DE 102010028390

(71)	Anmelder: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Wissenschaft E.V.
	80686 München (DE)

(72)	Erfinder:
	ERNST, Roland 91052 Erlangen (DE) STAHL-OFFERGELD, Markus 91058 Erlangen (DE) HOHE, Hans-Peter 91332 Heiligenstadt (DE)

(74)	Vertreter: Hersina, Günter
	Schoppe, Zimmermann, Stöckeler, Zinkler & Partner Postfach 246 82043 Pullach 82043 Pullach (DE)

(54)	VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINES ERREGERLEITERABSTANDES, VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINES MAGNETFELDSENSORS, KALIBRIERBARER MAGNETFELDSENSOR UND VERWENDUNG EINER ERREGERLEITERSTRUKTUR ZUR BESTIMMUNG EINES ERREGERLEITERABSTANDES ZWISCHEN EINEM ERREGERLEITER UND EINEM MAGNETFELDSENSOR