DISPOSITIF ET PROCÈDE DE MESURE POLARIMÉTRIQUE A RÉSOLUTION MICROSCOPIQUE, ACCESSOIRE DE POLARIMÉTRIE POUR MICROSCOPE, ELLIPSO-MICROSCOPE ET MICROSCOPE A CONTRASTE ELLIPSOMÉTRIQUE - Patent 2596325

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EP 2 596 325 A1

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(43)	Date de publication:
	29.05.2013 Bulletin 2013/22

(21)	Numéro de dépôt: 11754441.1

(22)	Date de dépôt: 18.07.2011

(51)

Int. Cl.:

G01J 4/00^(2006.01)

G02B 21/00^(2006.01)

(86)	Numéro de dépôt:
	PCT/FR2011/051715

(87)	Numéro de publication internationale:
	WO 2012/017158 (09.02.2012 Gazette 2012/06)

(84)	Etats contractants désignés:
	AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30)

Priorité:

19.07.2010 FR 1055837

(71)	Demandeur: Horiba Jobin Yvon S.A.S.
	91160 Longjumeau (FR)

(72)	Inventeur:
	ACHER, Olivier F-91190 Gif-sur-Yvette (FR)

(74)	Mandataire: Coralis Harle
	14-16 Rue Ballu 75009 Paris 75009 Paris (FR)

(54)	DISPOSITIF ET PROCÈDE DE MESURE POLARIMÉTRIQUE A RÉSOLUTION MICROSCOPIQUE, ACCESSOIRE DE POLARIMÉTRIE POUR MICROSCOPE, ELLIPSO-MICROSCOPE ET MICROSCOPE A CONTRASTE ELLIPSOMÉTRIQUE