Vorrichtung und Verfahren zur Interferenzstrukturierung von flächigen Proben

(19)

(11)

EP 2 596 899 B8

(12)	KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
	Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15)	Korrekturinformation:
	Korrigierte Fassung Nr. 1 (W1 B1)

(48)	Corrigendum ausgegeben am:
	06.01.2021 Patentblatt 2021/01

(45)	Hinweis auf die Patenterteilung:
	11.11.2020 Patentblatt 2020/46

(21)	Anmeldenummer: 12193414.5

(22)	Anmeldetag: 20.11.2012

(51)

Internationale Patentklassifikation (IPC):

B23K 26/06^(2014.01)
B23K 26/00^(2014.01)

B23K 26/073^(2006.01)
B23K 26/067^(2006.01)

(54)	Vorrichtung und Verfahren zur Interferenzstrukturierung von flächigen Proben Method and device for the interference structuring of flat samples Dispositif et procédé de structuration par interférences d'échantillons plats

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AL AT BE BG CH CY CZ DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30)

Priorität:

24.11.2011 DE 102011119764

(43)	Veröffentlichungstag der Anmeldung:
	29.05.2013 Patentblatt 2013/22

(73)	Patentinhaber: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung
	80686 München (DE)

(72)	Erfinder:
	Lasagni, Andrés Fabián 01723 Grumbach (DE)

(74)	Vertreter: Pfenning, Meinig & Partner mbB
	Patent- und Rechtsanwälte An der Frauenkirche 20 01067 Dresden 01067 Dresden (DE)

(56)

Entgegenhaltungen: :

WO-A2-2011/072663
US-B1- 6 304 318

DE-A1-102006 032 053

Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).