(19)
(11) EP 2 663 854 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
20.11.2013  Patentblatt  2013/47

(21) Anmeldenummer: 12703434.6

(22) Anmeldetag:  12.01.2012
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/25(2006.01)
G01N 21/64(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2012/000117
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2012/095312 (19.07.2012 Gazette  2012/29)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 14.01.2011 DE 202011001569 U

(71) Anmelder: Berthold Technologies GmbH & Co. KG
75323 Bad Wildbad (DE)

(72) Erfinder:
  • BERTHOLD, Fritz
    75173 Pforzheim (DE)
  • REUTER, Wilfried
    75334 Straubenhardt (DE)
  • WULF, Jürgen
    88662 Überlingen (DE)
  • HAFNER, Klaus
    04157 Leipzig (DE)

(74) Vertreter: Schön, Thilo et al
Patentanwälte Frank Wacker Schön Schwarzwaldstrasse 1A
75173 Pforzheim
75173 Pforzheim (DE)

   


(54) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON OPTISCHEN EIGENSCHAFTEN VON PROBEN IN MIKROPLATTEN