(19)
(11)
EP 2 696 749 A2
(12)
(88)
Veröffentlichungstag A3:
31.01.2013
(43)
Veröffentlichungstag:
19.02.2014
Patentblatt 2014/08
(21)
Anmeldenummer:
12720790.0
(22)
Anmeldetag:
16.04.2012
(51)
Internationale Patentklassifikation (IPC):
A61B
5/00
(2006.01)
A61B
5/145
(2006.01)
A61B
5/1455
(2006.01)
G01N
21/64
(2006.01)
(86)
Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2012/001637
(87)
Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2012/139776
(
18.10.2012
Gazette 2012/42)
(84)
Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
(30)
Priorität:
14.04.2011
DE 102011017064
(71)
Anmelder:
Flore, Ingo
44141 Dortmund (DE)
(72)
Erfinder:
KIM, Yoon Ok
58239 Schwerte (DE)
CHO, Ok-Kyung
58239 Schwerte (DE)
(74)
Vertreter:
Isfort, Olaf
Schneiders & Behrendt Rechts- und Patentanwälte Huestraße 23
44787 Bochum
44787 Bochum (DE)
(54)
DIAGNOSTISCHE MESSVORRICHTUNG MIT INTEGRIERTEM SPEKTROMETER