(19)
(11) EP 2 696 749 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
31.01.2013

(43) Veröffentlichungstag:
19.02.2014  Patentblatt  2014/08

(21) Anmeldenummer: 12720790.0

(22) Anmeldetag:  16.04.2012
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
A61B 5/00(2006.01)
A61B 5/145(2006.01)
A61B 5/1455(2006.01)
G01N 21/64(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2012/001637
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2012/139776 (18.10.2012 Gazette  2012/42)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 14.04.2011 DE 102011017064

(71) Anmelder: Flore, Ingo
44141 Dortmund (DE)

(72) Erfinder:
  • KIM, Yoon Ok
    58239 Schwerte (DE)
  • CHO, Ok-Kyung
    58239 Schwerte (DE)

(74) Vertreter: Isfort, Olaf 
Schneiders & Behrendt Rechts- und Patentanwälte Huestraße 23
44787 Bochum
44787 Bochum (DE)

   


(54) DIAGNOSTISCHE MESSVORRICHTUNG MIT INTEGRIERTEM SPEKTROMETER