VERFAHREN ZUR MESSUNG DER HOCHSPANNUNGSDEGRADATION VON ZUMINDEST EINER SOLARZELLE ODER EINES PHOTOVOLTAIK-MODULS SOWIE VERWENDUNG DESSELBEN BEI DER HERSTELLUNG VON SOLARZELLEN UND PHOTOVOLTAIK-MODULEN - Patent 2718733

(19)

(11)

EP 2 718 733 A2

(12)

(88)	Veröffentlichungstag A3:
	21.03.2013

(43)	Veröffentlichungstag:
	16.04.2014 Patentblatt 2014/16

(21)	Anmeldenummer: 12730409.5

(22)	Anmeldetag: 05.06.2012

(51)

Internationale Patentklassifikation (IPC):

G01R 31/12^(2006.01)

G01R 31/40^(2014.01)

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/EP2012/060613

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 2012/168249 (13.12.2012 Gazette 2012/50)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30)

Priorität:

05.06.2011 DE 102011104693
16.06.2011 DE 102011051112

(71)	Anmelder: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
	80686 München (DE)

(72)	Erfinder:
	NAGEL, Henning 63755 Alzenau (DE)

(74)	Vertreter: 2K Patentanwälte Blasberg Kewitz & Reichel
	Partnerschaft Schumannstrasse 27 60325 Frankfurt am Main 60325 Frankfurt am Main (DE)

(54)	VERFAHREN ZUR MESSUNG DER HOCHSPANNUNGSDEGRADATION VON ZUMINDEST EINER SOLARZELLE ODER EINES PHOTOVOLTAIK-MODULS SOWIE VERWENDUNG DESSELBEN BEI DER HERSTELLUNG VON SOLARZELLEN UND PHOTOVOLTAIK-MODULEN