MEHRSCHICHTSYSTEME FÜR EINE SELEKTIVE REFLEXION ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG AUS DEM WELLENLÄNGENSPEKTRUM DES SONNENLICHTS UND VERFAHREN ZU SEINER HERSTELLUNG - Patent 2766751

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EP 2 766 751 A1

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(43)	Veröffentlichungstag:
	20.08.2014 Patentblatt 2014/34

(21)	Anmeldenummer: 12769389.3

(22)	Anmeldetag: 28.09.2012

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

G02B 5/08^(2006.01)

G02B 5/20^(2006.01)

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/EP2012/069204

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 2013/053608 (18.04.2013 Gazette 2013/16)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

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Priorität:

13.10.2011 DE 102011116191

(71)	Anmelder: Southwall Europe GmbH
	01900 Großröhrsdorf (DE)

(72)	Erfinder:
	THIELSCH, Roland 01189 Dresden (DE) KLEINHEMPEL, Ronny 09423 Gelenau (DE) WAHL, Andre 01900 Großröhrsdorf (DE)

(74)	Vertreter: Ricker, Mathias
	Wallinger Ricker Schlotter Tostmann Patent- und Rechtsanwälte Zweibrückenstrasse 5-7 80331 München 80331 München (DE)

(54)	MEHRSCHICHTSYSTEME FÜR EINE SELEKTIVE REFLEXION ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG AUS DEM WELLENLÄNGENSPEKTRUM DES SONNENLICHTS UND VERFAHREN ZU SEINER HERSTELLUNG