(19)
(11) EP 2 873 093 A1

(12)

(43) Date de publication:
20.05.2015  Bulletin  2015/21

(21) Numéro de dépôt: 13736567.2

(22) Date de dépôt:  11.07.2013
(51) Int. Cl.: 
H01L 21/66(2006.01)
(86) Numéro de dépôt:
PCT/EP2013/064677
(87) Numéro de publication internationale:
WO 2014/009470 (16.01.2014 Gazette  2014/03)
(84) Etats contractants désignés:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Etats d'extension désignés:
BA ME

(30) Priorité: 11.07.2012 FR 1256689

(71) Demandeur: Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
75015 Paris (FR)

(72) Inventeur:
  • BEN JAMAA, Haykel
    F-38000 Grenoble (FR)

(74) Mandataire: Brevalex 
95, rue d'Amsterdam
75378 Paris Cedex 8
75378 Paris Cedex 8 (FR)

   


(54) DISPOSITIF DE TEST ELECTRIQUE D'INTERCONNEXIONS D'UN DISPOSITIF MICROELECTRONIQUE