ATBECHDEDKESFRGBGRITLILUNLSEMCPTIESILTLVFIROMKCYALTRBGCZEEHUPLSK..HRIS..MTNORS..SM..................*JBDM Ver 0.1.63 (23 May 2017) - 2999001/02895268KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFTB8B120170802W172deBibliographieenBibliographyfrBibliographieEP13783510.4201310212015041520160929dedede10201221965620121026DE2017080220173120150722201530201703292017132016101420170802201731B01L 3/00 20060101AFI20140513BHEP B01L 7/00 20060101ALI20140513BHEP H05B 3/26 20060101ALI20140513BHEP deSYSTEM ZUR DURCHFÜHRUNG EINER BERÜHRUNGSLOSEN MESSUNG AN EINER PROBE UND PROBENTRÄGERenSYSTEM ZUR DURCHFÜHRUNG EINER BERÜHRUNGSLOSEN MESSUNG AN EINER PROBE UND PROBENTRÄGERfrSYSTÈME DE RÉALISATION D'UNE MESURE SANS CONTACT SUR UN ÉCHANTILLON ET PORTE-ÉCHANTILLONWO-A2-2009/019658US-A1- 2009 211 336US-A1- 2011 056 926DOMENICO CAPUTO ET AL: "Monitoring of Temperature Distribution in a Thin Film Heater by an Array of a-Si:H Temperature Sensors", IEEE SENSORS JOURNAL, IEEE SERVICE CENTER, NEW YORK, NY, US, Bd. 12, Nr. 5, 1. Mai 2012 (2012-05-01), Seiten 1209-1213, XP011441122, ISSN: 1530-437X, DOI: 10.1109/JSEN.2011.2167506OHLANDER, AnnaParkstrasse 2680339 MünchenDEKLINK, GerhardWerftstrasse 2c82256 FürstenfeldbruckDEBOCK, KarlheinzAm Marienberg 682239 AllingDERUSSOM, AmanRoslagstullsbacken 21S-114 21 StockholmSEFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.101427302FH131037PEPHansastraße 27c80686 MünchenDESchenk, Markuset al101162255Schoppe, Zimmermann, Stöckeler Zinkler, Schenk & Partner mbB Patentanwälte Radlkoferstrasse 281373 MünchenDEALATBEBGCHCYCZDEDKEEESFIFRGBGRHRHUIEISITLILTLULVMCMKMTNLNOPLPTRORSSESISKSMTREP201307195220131021deWO20140640402014050120141820150722201530