[0001] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung einer Photolumineszenzmessvorrichtung
sowie ein Messsverfahren unter Verwendung derselben, welche eine schnelle Bestimmung
einer absoluten Lumineszenzintensität von flächigen Proben ermöglichen.
[0002] Beispielsweise im Bereich der Herstellung von Wert- oder Sicherheitsdokumenten werden
lumineszierende Substanzen verwendet und ein Lumineszenzverhalten als ein Sicherheitsmerkmal
verwendet. Lumineszenz ist hierbei die auftretende optische Strahlung des Materials
oder Substanz, die bei einem Übergang von einem energetisch aktivierten Zustand in
einen energetisch niedriger liegenden Zustand ausgesandt wird. Je nach Art der Anregung
wird die Lumineszenz weiter unterteilt. Findet die Anregung mittels Photonen statt,
so spricht man von sogenannter Photolumineszenz. Diese wird je nach zeitlichem Verhalten
zwischen der Photoanregung und der austretenden Lumineszenzstrahlung als Fluoreszenz
oder Phophoreszenz bezeichnet. Die Unterscheidung hierzwischen ist fließend. Als Fluoreszenz
wird in der Regel die Lumineszenzstrahlung bezeichnet, die nach Beenden der Photoanregung
rasch abklingt. Phosphoreszierende Materialen senden hingegen die Lumineszenzstrahlung
noch lange nach der Anregung, beispielsweise Minuten, Stunden oder sogar Tage später
aus.
[0003] Im Bereich der Sicherheits- und/oder Wertdokumente sind insbesondere in die Fluoreszenz
und schnelle Phosphoreszenz von entscheidender Bedeutung. Eine große Schwierigkeit
ergibt sich jedoch daraus, dass physikalische Systeme, die eine Fluoreszenz oder allgemein
eine Photolumineszenz zeigen, häufig Alterungsprozessen unterworfen sind, sodass keine
geeigneten Fluoreszenznormale oder Photolumineszenznormale existieren, welche eine
ausreichende Lumineszenzintesität zeigen und langzeitstabil sind. Insbesondere sind
keine festen Referenzproben bekannt, die hierfür geeignet wären. Aus dem Stand der
Technik sind zwar flüssige Systeme bekannt, die unmittelbar nach ihrer Zubereitung
eine bekannte Lumineszenzintensität aufweisen. So können beispielsweise bestimmte
Farbstofflösungen angesetzt werden, deren Lumineszenzintensität bei bekannter Anregung
bekannt ist. Die hierbei verwendeten Farbstoffe werden jedoch im Prozess der Anregung
und Abregung teilweise zerstört, sodass solche Lösungen keine Langzeitstabilität aufweisen.
Darüber hinaus sind flüssige Proben in der Handhabung schwierig. Des Weiteren wird
für die Vermessung von flüssigen Proben eine ganz andere Probengeometrie als für die
Vermessung von festen Proben verwendet, sodass in einem Messaufbau die Vermessung
sowohl einer festen als auch einer flüssigen Probe nicht möglich ist. Eine feste Probe
wird zudem nur an der Oberfläche, eine flüssige Probe jedoch im Volumen angeregt.
[0004] Eine Messung einer Photolumineszenzintensität wird in der Regel ausgeführt, indem
eine Einstrahlung von Licht im ultravioletten Wellenlängenbereich vorgenommen wird
und die auftretende Lumineszenzintensität gemessen wird. In der Regel erfolgt die
Messung spektral selektiv. Je größer die in dem lumineszierenden Stoff erzeugte Lumineszenzstrahlungsintensität
bei konstanter Anregung ist, desto größer ist eine sogenannte Lumineszenz- oder Fluoreszenzeffizienz.
Eine maximale Lumineszenzeffizienz ist erreicht, wenn jedes absorbierte Anregungsphoton
in ein Lumineszenzphoton umgewandelt wird. Eine Sättigung der erzielbaren Lumineszenzintensität
ist erreicht, wenn eine weitere Steigerung der Anregungsintensität zu keiner weiteren
Steigerung der Lumineszenzintensität führt. Bei einem 2-NiveauSystem ist dieser Zustand
erreicht, wenn die sich Hälfte der lumineszierenden Einheiten im angeregten Zustand
befindet. Ein höherer Besetzungszustand des angeregten Niveaus kann bei einem 2-Niveausystem
nicht erreicht werden, da der Wirkungsquerschnitt für die Photoabsorption gleich dem
Wirkungsquerschnitt für die Photoemission ist.
Diese theoretisch maximale Lumineszenzeffizienz kann in der Praxis in der Regel nicht
erreicht werden. Dennoch ist es insbesondere bei der Materialeingangsprüfung aber
auch zu Verifikationszwecken häufig notwendig, eine Fluoreszenzeffizienz von Festkörperproben,
beispielsweise von flächigen Druckmustern, oder auch von flächigen, im Volumen lumineszierenden
Substratschichten oder Ähnlichem, zu ermitteln. Hierfür sind aus dem Stand der Technik
keine geeigneten Messvorrichtungen und Messverfahren bekannt, die eine Bestimmung
einer absoluten Lumineszenzeffizienz auf einfache Weise gestatten.
[0005] US 2006/227319 A1 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bestimmen eines Gesamtstrahldichtefaktors
einer fluoreszierenden Probe bei einer vorgegebenen Beleuchtung ohne Verwendung eines
Fluoreszenzstandards und einer UV-Licht-Korrektur. Hierbei werden zwei Lichtquellen
unterschiedlicher spektraler Intensitäten eingesetzt.
[0006] US 2002/195571 A1 beschreibt einen Papierfluoreszenz-Messsensor. Um einen Zustand der Beleuchtung bei
der Messung kontrollieren zu können, ist ein Messsensor vorgesehen, der Licht, welches
an einer Innenseite eines Beleuchtungsfensters reflektiert wird, misst.
[0007] US 5,918,960 A beschreibt die Detektion von gefälschten Objekten, insbesondere von gefälschten Banknoten.
Hierfür wird UV-Licht einer Lichtquelle auf eine Probe gelenkt und die Menge des von
der Probe reflektierten UV-Licht mit einer ersten Photozelle gemessen und die Menge
des Fluoreszenzlichts der Probe mit einer zweiten Photozelle gemessen. Beide ermittelten
Mengen werden mit Referenzwerten vergleichen. Nur wenn beide ermittelten Mengen vorgegebene
Kriterien erfüllen, wird die Probe als echt identifiziert.
[0008] Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein Kalibrationsverfahren für eine
Photolumineszenzmessvorrichtung, sowie ein Messverfahren anzugeben, mit deren Hilfe
eine einfache und schnelle absolute Bestimmung einer Photolumineszenzeffizienz von
flächigen Proben möglich ist.
[0009] Der Erfindung liegt die Idee zugrunde, ein Kalibrierverfahren für Messvorrichtung
zu schaffen, ohne hierfür auf eine lumineszierende, beispielsweise fluoreszierende,
Substanz zurückgreifen zu müssen, sodass die Messergebnisse auf rein radiometrische
Größen zurückgeführt werden können.
[0010] Gelöst wird die technische Aufgabe durch ein Kalibrierverfahren mit den Merkmalen
des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Photolumineszenzeffizienz
mit den Merkmalen des Anspruchs 2. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
Definitionen
[0011] Als Photolumineszenz wird hier jene Lumineszenz bezeichnet, welche bei Anregung mittels
Photonen entsteht. Als Fluoreszenz wird in der Regel jene Photolumineszenz bezeichnet,
bei der die emittierte Lumineszenzintensität mit einem Beenden der Anregung vollständig
oder nahezu vollständig in einem Zeitfenster < 1 ns bis 1 µs endet. Als Phosphoreszenz
wird dann entsprechend jene Phololumineszenz bezeichnet, bei der die emittierte Lumineszenzintensität
nach dem Beenden der Anregung noch für mehr als 1 ns bzw. 1 µs messbar ist. Für die
hier beschriebene Erfindung ist Photolumineszenz von besonderem Interesse, deren Lumineszenzintensität
in einem Zeitfenster von weniger als 1 s nach dem Beenden der Anregung vollständig
oder nahezu vollständig abklingt.
[0012] Als sichtbarer Spektralbereich wird jener Wellenlängenbereich der elektromagnetischen
Dipolstrahlung bezeichnet, den menschliche Betrachter mittels ihrer Augen erfassen
können. Der sich an den sichtbaren Spektralbereich anschließende Wellenlängenbereich
zu kürzeren Wellenlängen wird als UV-Spektralbereich (ultravioletter Spektralbereich)
bezeichnet. Licht in diesem Wellenlängenbereich wird als UV-Licht bezeichnet. Der
sich zu längeren Wellenlängen an den sichtbaren Wellenlängenbereich anschließende
Spektralbereich wird als infraroter Spektralbereich oder IR-Spektralbereich bezeichnet.
Für die Erfindung ist insbesondere der Wellenlängenbereich von 190 nm bis 1100 nm
interessant. Bevorzugt liegt die Photolumineszenzstrahlung im Wellenlängenbereich
von 400 nm bis 1100 nm.
[0013] Als vorgegebener Wellenlängenbereich oder vorgegebener Spektralbereich wird hier
immer ein Wellenlängenbereich angesehen, der den sichtbaren Wellenlängenbereich zumindest
teilweise umfasst. Vorzugsweise ist dieser vorgegebene Wellenlängenbereich so gewählt,
dass die untere Wellenlängengrenze oberhalb der Wellelänge liegt, welche für eine
UV-Anregung von Photolumineszenz genutzt wird. Eine obere Wellenlängengrenze wird
bei etwa 1100 nm gewählt. Der vorgegebene Wellenlängenbereich wird bevorzugt angepasst
an eine Messeinrichtung so gewählt, dass diese eine nahezu von der Wellenlänge unabhängige
Nachweiseffizienz für Photonen aufweist. Wird die Messeinrichtung zusammen mit einem
Filter zum Begrenzen des einfallenden Wellenlängenbereichs betrieben, so kann der
tatsächliche Wellenlängenbereich, in dem die Messeinrichtung empfindlich ist, größer
als der vorgegebene Wellenlängenbereich sein, der dann durch den Filter mit bestimmt
ist.
[0014] Die Begriffe Spektralbereich und Wellenlängenbereich werden als Synonyme verwendet.
Als Lambert-Strahler wird ein Strahler bezeichnet, dessen richtungsabhängige Intensität
folgender Gesetzmäßigkeit folgt:

wobei α der gegen eine Flächennormale einer flachen Austrittsfläche des Strahlers
gemessene Winkel ist. I
0 ist eine konstante Intensität.
[0015] Strahlung, welche an einem Punkt einer Ebene diffus abgestrahlt wird und eine entsprechende
Strahlungscharakteristik gemäß obiger Formel bezogen auf die Flächennormale durch
diesen Punkt aufweist, wird als lambertstrahlerförmige Strahlung bzw. als Strahlung
bezeichnet, welche eine Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik aufweist.
[0016] Als Stokes-Verschiebung wird jene Energieverschiebung bezeichnet, die bei einem Photolumineszenzprozess
auftritt. Während die Anregung mit einem Photon im UV-Wellenlängenbereich erfolgt,
welches eine höhere Energie aufweist, erfolgt die Abstrahlung des Lumineszenzphotons
mit einer Wellenlänge, welche größer als die Anregungswellenlänge ist, sodass das
abgestrahlte Lumineszenzphoton eine geringere Energie als das eingestrahlte Anregungsphoton
aufweist. Die Energiedifferenz zwischen den Photonen, d.h. die Energiedifferenz zwischen
der Energie des Anregungsphotons und der Energie des Lumineszenzphotons, wird als
Stokes-Verschiebung bezeichnet.
[0017] Errechnen lässt sich die Stokes-Verschiebung gemäß folgender Formel:

[0018] Schreibt man diese Gleichung nach der Wellenlänge λ unter Ausnutzung der Beziehung,
dass die Lichtgeschwindigkeit c gleich dem Produkt der Wellenlänge λ und der Frequenz
v ist,

um, so ergibt sich:

wobei λ die Wellenlänge im Medium und c die Lichtgeschwindigkeit im Medium ist und
c = c
0 · n, wobei c
0 die Lichtgeschwindigkeit im Vakuum und n der Brechungsindex des Mediums ist. Für
Luft kann in erster Näherung n = 1 angenommen werden.
[0019] Für eine Anregungsstrahlung mit einer Strahlungsleistung WA lässt sich eine äquivalente
Strahlungsleistung unter einer Annahme einer hundertprozentigen Umwandlung in Lumineszenzphotonen
errechnen. Für die äquivalente Strahlungsleistung WÄ gilt dann,

[0020] Als Dynamik einer Messeinrichtung wird die Fähigkeit bezeichnet, Eingangssignale
unterschiedlicher Signalstärke messen zu können.
[0021] Kann eine Messeinrichtung Eingangssignale, die sich um fünf Größenordnungen unterscheiden,
jeweils linear eine vorgegebene Verstärkung verstärken, so wird ein solcher Verstärker
als linear in fünf Größenordnungen bezeichnet. Die Verstärkung selber kann hiervon
abweichen.
[0022] Ein Messgerät mit einer Messdynamik von mehreren Größenordnungen ist eine Messvorrichtung,
welche ein Eingangssignal, dessen Wertebereich über die mehreren Größenordnungen variieren
kann, mit einer nahezu konstanten, relativen Messgenauigkeit vermessen kann.
[0023] Die erfindungsgemäßen Verfahren können mit einer Photolumineszenzmessvorrichtung
zur Vermessung ebener Proben durchgeführt werden, welche umfasst: ein Gehäuse, welches
im Innern eine Messkammer aufweist, wobei das Gehäuse die Messkammer gegen Umgebungslicht
abschirmt, jedoch eine flächig ausgedehnte ebene Probenöffnung als Zugang zur Messkammer
aufweist, die eine Prüfebene der Messkammer definiert, eine UV-Beleuchtungseinrichtung,
die an oder in der Messkammer angeordnet ist, um mit monochromatischer UV-Anregungsstrahlung
(UV-Licht) durch die Messkammer hindurch einen Ausleuchtbereich der Prüfebene in der
Probenöffnung zu beleuchten, eine Messeinrichtung, welche in einem vorgegebenen Wellenlängenbereich,
vorzugsweise zwischen 400 nm und etwa 1100 nm, empfindlich ist, sowie eine Ausgabeeinrichtung
zum Ausgeben eines Photolumineszenzmessergebnisses, wobei vorgesehen ist, dass die
Messeinrichtung relativ zu der UV-Beleuchtungseinrichtung an oder in der Messkammer
so angeordnet ist, dass für jeden Punkt des Ausleuchtbereichs in der Prüfebene, der
mit der UV-Beleuchtungseinrichtung bei deren Betrieb ausgeleuchtet wird, gilt, dass
von Lichtstrahlung im vorgegebenen Wellenlängenbereich, welche in die Messkammer mit
einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik von diesem Punkt ausgeht, ein Teil
der Strahlung von der Messeinrichtung erfasst wird, und die Beleuchtungseinrichtung
eine UV-Lichtquelle aufweist, die ausgebildet ist, bei vorgegebenen Betriebsparametern
eine bestimmte UV-Strahlungsleistung auf den Ausleuchtbereich zu strahlen, und wobei
zwischen der Messeinrichtung und der Ausgabeeinrichtung eine Auswerteeinrichtung angeordnet
ist, welche mit einer Speichereinrichtung mit einem darin gespeicherten Kalibrierwert
gekoppelt ist, wobei die Auswerteeinrichtung ausgebildet ist, ein Messsignal der Messeinrichtung
in eine Photolumineszenzeffizienz einer Probe anhand des gespeicherten Kalibrierwertes
umzurechnen. Eine solche Photolumineszenzmessvorrichtung lässt sich mittels einfacher
Komponenten realisieren und ermöglicht es dennoch eine zuverlässige absolute Photolumineszenzeffizienzbestimmung
an Proben vorzunehmen. Hierbei wird ausgenutzt, dass die Messeinrichtung die Photolumineszenzstrahlung
spektral integriert vermisst und eine von der Wellenlänge der Photonen unabhängige
Quantenausbeute aufweist. Dies bedeutet, dass jedes emittierte Lumineszenzphoton,
welches von der Messeinrichtung erfasst wird, mit derselben Wahrscheinlichkeit ein
Messsignal in der Messeinrichtung erzeugt und die erzeugte Signalintensität unabhängig
von der Wellenlänge des erfassten Photons ist.
[0024] Erfindungsgemäß wird ein Verfahren gemäß Anspruch 1 zum Kalibrieren einer solchen
Photolumineszenzmessvorrichtung vorschlagen, welche eine UV-Beleuchtungseinrichtung,
sowie eine im vorgegebenen Wellenlängenbereich empfindliche Messeinrichtung sowie
eine Ausgabeeinrichtung zum Ausgeben eines Photolumineszenzmessergebnisses aufweist,
wobei die UV-Beleuchtungseinrichtung und die Messeinrichtung an oder in einem Gehäuse
mit einer Messkammer angeordnet sind, wobei das Gehäuse die Messkammer gegen Strahlung
aus der Umgebung abschirmt, jedoch eine Probenöffnung aufweist, die eine Prüfebene
definiert und einen Zugang zu der Messkammer darstellt, und wobei die UV-Beleuchtungseinrichtung
so angeordnet ist, dass UV-Anregungslicht (UV-Licht) der Beleuchtungseinrichtung durch
die Messkammer einen Ausleuchtbereich der Probenöffnung beleuchtet und die Messeinrichtung
so in der Messkammer angeordnet ist, dass der gesamte Ausleuchtbereich der Prüfebene
in einem Erfassungsbereich der Messeinrichtung liegt, sodass die Messeinrichtung von
jedem beliebigen Punkt des Ausleuchtbereichs in der Messkammer mit einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik
eingestrahlter diffuser Lichtstrahlung im vorgegebenen Wellenlängenbereich zumindest
einen Teil der Lichtstrahlung erfasst, wobei das Verfahren die Schritte umfasst:
Betreiben der UV-Beleuchtungseinrichtung mit vorgegebenen Betriebsparametern zum Erzeugen
von monochromatischem UV-Anregungslicht mit einer Anregungswellenlänge λ1, welches
den Ausleuchtbereich der Prüfebene ausleuchtet; Anordnen der Probenöffnung auf einer
Einlassöffnung eines Strahlungsmessgeräts und Messen einer Anregungsstrahlungsleistung
WA des durch den Ausleuchtbereich der Prüfebene tretenden UV-Anregungslichts; Anordnen
der Probenöffnung vor einem monochromatischen Lambert-Strahler, der monochromatisches
Licht mit bekannter Strahlungsleistung mit einer Kalibrationswellenlänge λ2 im vorgegebenen,
vorzugsweise sichtbaren, Wellenlängenbereich mit einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik
abstrahlt, wobei eine Abstrahlfläche des Lambert-Strahlers einer Ausdehnung der Ausleuchtfläche
entspricht und das Anordnen der Photolumineszenzmessvorrichtung relativ zu dem Lambert-Strahler
so erfolgt, dass die Ausleuchtfläche und die Abstrahlfläche des Lambert-Strahlers
in der Prüfebene zusammenfallen und kein Umgebungslicht in die Messkammer eindringt,
Messen der Strahlungsleistung des Lambert-Strahlers mit der Messeinrichtung und Erfassen
eines Strahlungsleistungskalibrationsmesswerts MK, während die UV-Beleuchtungseinrichtung
nicht im Betrieb ist und Errechnen einer äquivalenten Anregungsstrahlungsleistung
WÄ anhand der gemessenen Anregungsstrahlungsleistung, indem eine mit der Stokes-Verschiebung
der UV-Anregungswellenlänge λ1 zu der Kalibrationswellenlänge λ2 einhergehende Leistungsänderung
berücksichtigt wird, wobei sich die äquivalente Anregungsstrahlungsleistung WÄ gemäß
folgender Formel ergibt:

und Ermitteln eines Kalibrationswertes K aus einem Verhältnis der bekannten Strahlungsleistung
WB des Lambert-Strahlers und einem Produkt der errechneten äquivalenten UV-Anregungsstrahlungsleistung
WÄ und dem Strahlungsleistungskalibrationsmesswert MK

und Ablegen des Kalibrierwertes K, sodass nachfolgende Messwerte MMj der Messeinrichtung, die bei einer Beleuchtung des Ausleuchtbereichs der Prüfebene
mittels der UV-Beleuchtungseinrichtung bei den vorgegebenen Betriebsparametern für
vor der Probenöffnung angeordnete flache Proben gemessen sind, in eine Photolumineszenzeffizienz
FEj der Probe umrechenbar sind gemäß der Formel:

[0025] Dieses Kalibrierverfahren zeichnet sich dadurch aus, dass lediglich eine radiometrische
Messeinrichtung bzw. ein kalibrierter oder geeichter Lambert-Strahler notwendig sind,
um die Messeinrichtungen zu kalibrieren, sodass anschließend für die Proben eine Photolumineszenzeffizienz
angegeben werden kann, welche eine absolute Photolumineszenzeffizienz ist.
[0026] Ein erfindungsgemäßes Messverfahren zum Bestimmen einer absoluten Photolumineszenzeffizienz
einer ebenen Probe, wie in Anspruch 2 definiert, umfasst daher die Schritte:
Anordnen der Probe vor einer Probenöffnung eines Gehäuses, die einen Zugang zu einer
im Inneren des Gehäuse befindlichen Messkammer darstellt sowie eine Prüfebene definiert,
wobei die Probe vor die Probenöffnung so angeordnet wird, dass die Probe an die Prüfebene
angrenzt oder mit dieser zusammenfällt (und die Probenöffnung gegen Umgebungslicht
verschließt); Erzeugen von monochromatischer UV-Anregungsstrahlung mit einer UV-Beleuchtungseinrichtung
bei vorgegebenen Betriebsparametern, um mit einer vorermittelten UV-Anregungsstrahlungsleistung
durch die Messkammer hindurch einen Ausleuchtbereich der Prüfebenen mit der bereitgestellten
monochromatischen UV-Anregungsstrahlung auszuleuchten; zeitgleiches Messen einer im
vorgegebenen Wellenlängenbereich spektral integrierten Lumineszenzintensität der an
der Probe erzeugten und in die Messekammer abgestrahlten Lumineszenzstrahlung mit
einer Messeinrichtung, deren Erfassungsbereich so ausgebildet ist, dass für jeden
Punkt des Ausleuchtbereichs der Prüfebene gilt, dass von diffus in die Messkammer
mit einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik von diesem Punkt abgestrahlter
Lichtstrahlung zumindest ein Teil der Lichtintensität (unabhängig von der konkreten
Wellenlänge) von der Messeinrichtung erfasst wird; Erfassen eines Kalibrierwertes
oder Auslesen des Kalibrierwertes aus einer Speichereinrichtung und Errechnen einer
Photolumineszenzeffizienz anhand der gemessenen Lumineszenzintensität und dem Kalibrierwert,
wobei der Kalibrierwert die vorermittelte Anregungsstrahlungsleistung mit einem Intensitätsmesswert
für einen monochromatischen Lambert-Strahler mit bekannter Strahlungsleistung und
einer Abstrahlfläche, die der des Ausleuchtbereichs entspricht, in Beziehung setzt;
und Ausgeben und/oder Bereitstellen der errechneten Photolumineszenzeffizienz. Die
Erfindung macht von der Erkenntnis Gebrauch, dass UV-Beleuchtungseinrichtungen herstellbar
sind, die bei vorgegebenen Betriebsparametern reproduzierbar eine Anregungsstrahlungsleistung
im UV-Bereich erzeugen. Kombiniert man eine solche UV-Beleuchtungseinrichtung mit
einer Messeinrichtung, welche im vorgegebenen Wellenlängenbereich integrierend die
erfasste Lumineszenzintensität erfasst und so ausgebildet ist, dass das erzeugte Messsignal
für ein erfasstes Lumineszenzphoton unabhängig von dessen Wellenlänge ist, so kann
über eine einmal vorgenommenen Kalibrierung, die anhand eines hinsichtlich seiner
Strahlungsleistung bekannten Lambert-Strahlers ausgeführt ist, eine Bestimmung einer
absoluten Photolumineszenzeffizienz vorgenommen werden.
[0027] Als geeignete UV-Lichtquelle die reproduzierbar dieselbe Strahlungsleistung bei vorgegebenen
Betriebsparametern erzeugen, eignen sich besonders Leuchtdioden oder Laserdioden.
Somit sieht eine Ausführungsform der Erfindung vor, dass die UV-Beleuchtungseinrichtung
als UV-Lichtquelle mindestens eine Leuchtdiode oder Laserdiode umfasst. Um eine erwünschte
Anregungsstrahlungsleistung zu erhalten, ist es jedoch möglich, auch mehrere Leuchtdioden
oder Laserdioden der UV-Beleuchtungseinrichtung zu kombinieren. Eine konstante Strahlungsleistung
erhält man, indem der Treiberstrom von einer Konstantstromquelle geliefert wird. Ein
Betriebsparameter der eingehalten werden muss, ist somit der Betriebsstrom einer LED.
Ferner muss die Temperatur einen vorgegebenen Wert aufweisen.
[0028] Da zumindest Leuchtdioden und auch einige andere UV-Lichtquellen, beispielsweise
Hochdruckgasentladungslampen, nicht nur Licht einer UV-Spektrallinie emittieren, ist
zum Erzeugen einer monochromatischen UV-Anregungsstrahlung bei einer Ausführungsform
vorgesehen, dass die UV-Beleuchtungseinrichtung eine Einrichtung zur Eingrenzung der
Anregungslichtwellenlänge umfasst, um das in die Messkammer eingestrahlte UV-Licht,
d.h. die UV-Anregungsstrahlung, auf eine Wellenlänge oder einen begrenzten Wellenlängenbereich
einzugrenzen. Als Einrichtung zur Eingrenzung kommen absorbierende, beugende oder
brechende Strukturen, insbesondere Filter, Gitter oder Prismen in Frage. Filter sind
bevorzugt.
[0029] Als geeignete Photodetektoren für eine Messeinrichtung kommen Photodioden in Betracht.
Aus dem Stand der Technik sind Photodioden bekannt, welche eine gewünschte Quanteneffizienz
aufweisen, welche zumindest in einem bestimmten Spektralbereich nahezu unabhängig
von der Wellenlänge des nachgewiesenen Photons ist. Dies bedeutet, dass ein erzeugtes
Messsignal proportional zu der Anzahl der erfassten Photonen ist, unabhängig davon,
welche Wellenlänge diese Photonen konkret aufweisen. Daher sieht eine Ausführungsform
der Erfindung vor, dass die Messeinrichtung als Photodetektor mindestens eine Photodiode
umfasst. Als Photodiode eignen sich z.B. Si-Photodioden, deren Messempfindlichkeit,
angegeben in Stromstärke pro Strahlungsleistung, abhängig von der Wellenlänge, mit
dieser Wellenlänge nahezu linear über den optischen Spektralbereich zunimmt. Diese
Zunahme der Messempfindlichkeit mit der Wellenlänge wird jedoch dadurch kompensiert,
dass die Strahlungsleistung des Lumineszenzlichts (bei konstanter Lumineszenzeffizienz
und konstanter Anregung) aufgrund der Stokes-Verschiebung mit der Wellenlänge abnimmt.
Die Quanteneffizienz der Photodiode ist somit deutlich unabhängiger von der Wellenlänge
als die spektrale Messempfindlichkeit, welche in Stromstärke pro Strahlungsleistung
angegeben wird oder in SI-Einheiten in A/W, wobei A für Ampere und W für Watt steht..
Wird eine besonders große Genauigkeit beim Vergleich verschiedener lumineszenzeierender
Proben oder Stoffe mit deutlich unterschiedlichen Emissionsspektren benötigt, so kann
ein weiterer zusätzlicher Korrekturfilter (vor dem Detektor bzw. im Detektionsstrahlengang)
eingefügt werden, der die reale spektral abhängige Quanteneffizienz (QE) des Detektors
korrigiert, wodurch in der Kombination des Korrekturfilters und des Detektors eine
konstante Quantenausbeute oder Quanteneffizienz im gewünschten Detektionsspektralbereich,
dem vorgegebenen Wellenlängenbereich, erreicht wird.
[0030] Ferner ist auch alternativ oder zusätzlich eine mathematische Korrektur möglich,
wenn das Emissionsspektrum der zu vermessenden Lumineszenzprobe bekannt ist. Die spektral
abhängige Quantenausbeite der Messeinrichtung muss für diesen Fall natürlich auch
bekannt sein.
[0031] Um sicherzustellen, dass von der Messeinrichtung keine UV-Anregungsstrahlung wahrgenommen
wird, welche an der Probe oder unbeabsichtigt an Wänden der Messkammer reflektiert
wird, ist bei einer bevorzugten Ausführungsform vorgesehen, dass die Messeinrichtung
einen Langpassfilter umfasst, der das UV-Licht blockiert, sodass das zur Anregung
verwendete von der UV-Beleuchtungseinrichtung eingestrahlte UV-Anregungsstrahlung
nicht zu einem Photodetektor der Messeinrichtung gelangt.
[0032] Um praxistaugliche Messergebnisse erzielen zu können, ist es notwendig, dass die
Messeinrichtung eine hohe Dynamik aufweist und Lumineszenzintensitäten nachweisen
kann, die sich idealerweise um bis zu vier- oder fünf Größenordnungen unterscheiden.
Hierfür kann in der Messeinrichtung ein Verstärker vorgesehen sein, der ein Eingangssignal
linear um fünf oder sechs Größenordnungen verstärken kann. Ebenso ist es möglich,
dass die Verstärkung des Verstärkers angepasst an die ermittelte Lumineszenzintensität
angepasst werden kann, die von der Messeinrichtung bereitgestellten Messergebnisse
jedoch über den gesamten Messbereich einen linearen Zusammenhang zu der erfassten
Lumineszenzintensität aufweisen. Ebenso ist es alternativ möglich, einen Verstärker
und eine Messeinrichtung mit geringerer Auflösung z.B. 3 Größenordnungen zu verwenden,
wenn dieser in Kombination mit einer einstellbaren oder umschaltbaren UV-Beleuchtungseinrichtung
eingesetzt wird. Kann die UV-Beleuchtungseinrichtung beispielsweise bei weiteren Arbeitspunkten
mit einem zehntel (1/10) und einem hundertstel (1/100) Ausgangsstrahlungsleistung
betrieben werden, so kann das gesamte System wiederum Photolumineszenzintensitäten
über einen Bereich von 5 bis 6 Größenordnungen messen. Die Ausgangsstrahlungsleistungen
dieser weiteren Arbeitspunkte müssen ebenfalls bekannt sein und/oder kalibriert werden.
In einer weiteren Ausführungsvariante wird ein logarithmischer Verstärker eingesetzt,
in den der Photostrom bzw. das vorverstärkte Messsignal einer Messeinrichtung eingespeist
wird und der statt einer linearen Verstärkercharakteristik eine logarithmische Verstärkercharakteristik
aufweist. Beispielhaft sei hier eine Ausgangsspannung von 1,0 V pro Dekade genannt,
so würde beispielsweise eine Ausgangsspannung von 1,0 V beispielsweise einem 10-fachen
Signal, eine Ausgangsspannung von 2,0V einem 100-fachen Signal usw. und ein Ausgangssignal
von 5,0V einem 100.000-fachen Signal entsprechen. Das logarithmierte Signal muss natürlich
wiederum in einen linearen Ausgabewert umgerechnet werden. Ebenso muss bei einem Kalibrierverfahren
ein besonderes Augenmerk auf die Linearisierung bzw. Linearität der Messeinrichtung
und des Verstärkers gesetzt werden. Das Gehäuse der Vorrichtung ist bevorzugt als
Metallblock ausgebildet. In diesem sind die UV-Anregungsquelle sowie der Photodetektor
und ggfs. benötigte Anregungsfilter der UV-Beleuchtungseinrichtung sowie ein Langpassfilter
der Messeinrichtung integriert. Die Filter sind hierbei vorzugsweise eingeschraubt
oder eingeklebt und der Photodetektor sowie die UV-Lichtquelle vorzugsweise eingegossen,
um eine stabile mechanische Anordnung zu gewährleisten. Hierdurch kann sichergestellt
werden, dass die Anregungs- und Nachweisgeometrie sich zwischen der ausgeführten Kalibrierung
und der tatsächlichen Messung nicht verändern kann.
[0033] Bei einer Weiterbildung der Vorrichtung ist durch das Gehäuse in die Messkammer eine
Lichtleitfaser, die gegebenenfalls eine Kollimator-Linse umfasst, geführt und dort
so angeordnet, dass ein Teil von aus der Prüfebene in die Messkammer abgestrahlten
Lichts erfasst wird, um dieses erfasste Licht zu einer optischen Auswerteeinrichtung,
insbesondere einem Spektrometer, zu führen. Dies ermöglicht es, die integral erfasste
Lumineszenzeffizienz einer Probe mit einer spektralen Auswertung des Lumineszenzspektrums
zu verknüpfen. Eine konkrete Zuordnung einer Lumineszenzintensität zu einer bestimmten
Spektrallinie ist jedoch nur dann möglich, wenn das Lumineszenzspektrum lediglich
eine Spektrallinie aufweist.
[0034] Bei einer bevorzugten Bauform weist das Gehäuse eine flache Unterseite auf, in der
die Probenöffnung ausgebildet ist. Bei einer solchen Ausführungsform kann das Gehäuse
auf eine flächige Probe aufgesetzt werden, um eine Messung auszuführen.
[0035] Innenwände der Messkammer sind vorzugsweise absorbierend ausgebildet, um eine Reflektion
von Lumineszenzstrahlung und/oder von UV-Licht der Anregungsstrahlung zu verhindern.
So werden Verfälschungen der Messergebnisse vermieden.
[0036] Um zu überprüfen, dass die UV-Beleuchtungseinrichtung auch tatsächlich UV-Anregungsstrahlung
mit der vorermittelten, bei der Kalibration bestimmten Strahlungsleistung bereitstellt,
ist bei einer Ausführungsform vorgesehen, dass ein Teil der UV-Anregungsstrahlung
(des UV-Lichts) der UV-Beleuchtungseinrichtung auf einen Kontrolldetektor geführt
ist, welcher eine UV-Lichtintensität erfasst, und der Kontrolldetektor mit einer Überwachungseinrichtung
gekoppelt ist, die eine gemessene UV-Lichtintensität mit einer vorgegebenen UV-Lichtintensität
vergleicht und ein Kontrollsignal ausgibt, wenn eine Abweichung zwischen der gemessenen
UV-Lichtintensität und der vorgegebenen UV-Lichtintensität oberhalb einer Toleranzschwelle
erfasst ist. Das Kontrollsignal kann verwendet werden, um auf die Beleuchtungseinrichtung
rückzuwirken, um eine Angleichung der erfassten UV-Lichtintensität mit der vorgegebenen
UV-Lichtintensität zu erreichen. Das Kontrollsignal kann jedoch auch nur verwendet
werden, um darauf aufmerksam machen, dass die Messeinrichtung nicht wie spezifiziert
arbeitet. Ebenso ist eine lediglich rechnerische Korrektur des Messergebnisses anhand
des Kontrollsignals möglich, ohne jedoch in regelnder Weise auf die UV-Beleuchtungseinrichtung
einzuwirken.
[0037] Bei einer weiteren Ausführungsform ist vorgesehen, dass zusätzlich oder alternativ
Betriebsparameter, insbesondere die Temperatur der UV-Lichtquelle und/oder des Photodetektors
überwacht werden. Insbesondere für die UV-Lichtquelle in Form einer Leuchtdiode gilt,
dass die abgestrahlte Strahlungsleistung abhängig von der Temperatur der Leuchtdiode
ist. Ist das Gehäuse als Metallblock ausgebildet, so kann eine stabile Temperatur
für eine in einer Bohrung des Metallblocks angeordnete und vergossene Leuchtdiode
erreicht werden, die mit einem Konstantstrom betrieben wird. Möglich ist es, unterschiedliche
Kalibrierwerte für einen Gelegenheitsbetrieb, bei dem die Beleuchtungseinrichtung
nur für eine kurze Zeitspanne eingeschaltet ist und für eine Zeitspanne, die ein oder
zwei Größenordnungen größer ist, ausgeschaltet ist, und für einen Betriebszustand
ausgeführt werden, bei dem die UV-Beleuchtungseinrichtung über einen längeren Zeitraum,
der die Zeitdauer zum Ausführen einer Messung deutlich überschreitet, konstant betrieben
wird. Ebenso ist es möglich, ein oder mehrere Heizelemente und/oder Kühlelement in
dem Gehäuse vorzusehen, um dieses auf eine konstante Betriebstemperatur zu heizen
und/oder zu kühlen, sodass unabhängig von einer Betriebsdauer der UV-Beleuchtungseinrichtung
in dem Gehäuse stets eine konstante Temperatur herrscht und somit immer dieselbe UV-Anregungsstrahlungsleistung
von der Beleuchtungseinrichtung zur Verfügung gestellt wird.
[0038] Vorzugsweise sind die Messeinrichtung und die UV-Anregungsquelle so relativ zueinander
angeordnet, dass eine Einstrahlrichtung der UV-Anregungsstrahlung und eine Erfassungsrichtung
der Messeinrichtung einen Winkel im Bereich von 5° bis 70° einschließen. Der Winkel
kann auch in einem Bereich von 10° bis 50° gewählt werden. Noch bevorzugter liegt
der Winkel im Bereich zwischen 20° und 40°. Er sollte möglichst klein gewählt werden.
Zusätzlich ist jedoch auch ein Abstand zwischen Messeinrichtung und Prüfebene und
UV-Anregungsquelle und Prüfebene vorzugsweise möglichst gering gewählt. Es ist somit
ein Kompromiss im Hinblick auf die Abmessungen der einzelnen benötigten Komponenten
der Messeinrichtung und der UV-Anregungsquelle und gegebenenfalls weiteren optischen
Komponenten in den jeweiligen Strahlengängen zu finden. Bei einer besoners bevorzugten
Ausführungsform wird daher der Winkel im Bereich zwischen 25° und 35°gewählt. Die
Erfassungsrichtung ist die mittlere Erfassungsrichtung und die Einstrahlrichtung die
mittlere Ausbreitungsrichtung der UV-Anregungsstrahlung.
[0039] Das Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Photolumineszenzeffizienz, wird vorzugsweise
mit der oben beschriebenen Vorrichtung ausgeführt.
[0040] Das Verfahren zum Kalibrieren einer Photolumineszenzmessvorrichtung wird ebenfalls
vorzugsweise an einer Ausführungsform der oben beschriebenen Photolumineszenzmessvorrichtung
und mithilfe einer solchen beschriebenen Ausführungsform der Photolumineszenzmessvorrichtung
ausgeführt.
[0041] Nachfolgend wird die Erfindung unter Bezugnahme auf eine Zeichnung näher erläutert:
[0042] Hierbei zeigt
- Fig. 1
- eine schematische Darstellung einer Photolumineszenzmessvorrichtung;
- Fig. 2a, 2b
- schematische Darstellungen zur Messung der Anregungsstrahlungsleistung und zum Bestimmen
eines Strahlungsleistungskalibrationsmesswertes für einen Lambert-Strahler bekannter
Strahlungsleistung;
- Fig.3
- eine Messkurve, die eine Empfindlichkeit normiert auf die Strahlungsleistung in Abhängigkeit
von der Wellenlänge grafisch darstellt.
[0043] In Figur 1 ist schematisch eine Photolumineszenzmessvorrichtung 1 zur absoluten Bestimmung
einer Photolumineszenzeffizienz von einer ebenen Probe 3 dargestellt. Die ebene Probe
3 ist beispielsweise ein Substrat 5 auf dessen Oberseite 7 ein flächig ausgedehnter
Aufdruck 9 angebracht ist, der mittels einer Photolumineszenztinte gedruckt ist.
[0044] Die Photolumineszenzmessvorrichtung 1 umfasst ein Gehäuse 11, welches beispielsweise
als ein Metallblock ausgebildet ist. Das Gehäuse 11 umschließt eine Messkammer 13,
deren Innenwände 15 lichtabsorbierend ausgebildet sind. Bei dem Gehäuse 11 kann es
sich beispielsweise um einen Aluminiumblock handeln, in den die Messkammer 13 mittels
eines spanabhebenden Bearbeitungsverfahrens eingearbeitet ist. Die Innenwände 15 sind
beispielsweise schwarz eloxiert.
[0045] Das Gehäuse 11 weist eine Probenöffnung 17 auf, die zugleich eine Prüfebene 19 definiert.
Die Prüfebene ist jene Ebene, welche durch die Ebene der Probenöffnung 17 vorgegeben
ist. Bei der dargestellten Ausführungsform schließt eine Unterseite 21 des Gehäuses
11 bündig mit der Probenöffnung 17 ab, sodass die Unterseite 21 und die Prüfebene
19 in einer gemeinsamen Ebene liegen. Für eine Messung wird das Gehäuse 11 so vor
einer Probe 5 angeordnet, dass die Probe 5 bündig an die Prüfebene 19 der Photolumineszenzmessvorrichtung
1 angrenzt.
[0046] In einer Bohrung 31, deren Zentralachse 33 gegenüber einer Oberflächennormale 35
der Prüfebene 19 einen Winkel von etwa 20°- 40° einschließt, ist eine UV-Beleuchtungseinrichtung
41 angeordnet. Es sind auch größere Winkel oder kleiner Winkel möglich. Bevorzugt
werden kleine Winkel. Die Beleuchtungseinrichtung 41 umfasst in der dargestellten
Ausführungsform zwei auf einer Platine 43 angeordnete Leuchtdioden 45, 47, welche
mit einer Abbildungslinse 49 gekoppelt sind, um erzeugte UV-Anregungsstrahlung 51
auf die Prüfebene 19 zu strahlen, sodass ein Ausleuchtbereich 53 der Prüfebene 19
mit der UV-Anregungsstrahlung 51 ausgeleuchtet wird. An Stelle der einen Abbildungslinse
49 könnten auch zwei Abbildungslinsen oder Abbildungslinsensysteme genutzt werden,
die jeweils mit den entsprechenden Leuchtdioden 45, 47 gekoppelt sind. Es kann auch
nur eine Leuchtdiode vorgesehen sein. Andere Ausführungsformen können mehr als zwei
Leuchtdioden umfassen.
[0047] Um sicherzustellen, dass nur UV-Licht einer Spektrallinie im UV-Anregungslicht 51
enthalten ist, welches auf die Prüfebene 19 trifft, ist in der Bohrung 31 zusätzlich
ein Kurzpass- oder Bandpassfilter 55, beispielsweise ein UG1- , UG-5 oder UG11-Filter
der Firma Schott, Mainz, oder ein vergleichbarer Filter der Firma Hoya angeordnet.
Alternativ können auch dielektrische Interferenzfilter verwendet werden. Ein Vorteil
solcher Filter besteht darin, dass diese eine größere Flexibilität bei einer Wahl
der Filter-Parameter wie Kanten-Wellenlänge oder Kantenwellenlängen, Steilheit der
Kanten, optischer Dichte etc. ermöglichen. Dieser Bandpassfilter 55 wird auch als
Anregungsfilter bezeichnet, da er die Anregungsstrahlung 51 filtert. Der Bandpassfilter
55 liegt mit einer Seite 57 gegen einen Flansch 59 an, der über eine Verjüngung der
Bohrung 31 zur Messkammer 13 hin ausgebildet ist. An einer gegenüberliegenden Seite
61 des Bandpassfilters 55 ist in die Bohrung ein Halterungsring 63, welcher ein Außengewinde
hat, in ein entsprechendes Innengewinde der Bohrung 31 eingeschraubt und fixiert hierüber
das Bandpassfilter 55. Zwischen dem Flansch 59 und dem Bandpassfilter 55 und zwischen
dem Halterungsring 63 und dem Bandpassfilter 55 können Federelemente oder Abstandselemente
angeordnet sein, welche hier nicht dargestellt sind. Bei einer alternativen Ausführungsform
kann der Bandpassfilter 55 auch eingeklebt sein.
[0048] Die Platine 43 mit den beiden LED's 45, 47 und der daran befestigten Abbildungslinse
49 sind mit einer Füllmasse 65 in der Bohrung 31 vergossen. Hierüber wird eine gute
mechanische Fixierung der durch die Leuchtdioden 45, 47 gebildeten UV-Lichtquelle
67 realisiert. Die Leuchtdioden 45, 47 werden mit einer Konstantstromquelle 71 betrieben,
sodass eine festgelegt Lichtmenge, d.h. Anregungsstrahlungsleistung auf den Ausleuchtbereich
53 der Prüfebene 19 gestrahlt wird. Eine leichte Abhängigkeit der erzeugten Strahlungsleistung
kann es von der Temperatur geben, sodass bei der dargestellten Ausführungsform zum
einen ein Temperaturmessfühler 73, beispielsweise in Form eines PT100-Widerstands,
mit einer Temperaturmessvorrichtung 73', und ein Heiz-/Kühlelement 75 mit einer Regeleinheit
75' angeordnet sind, um eine konstante, ggf. geregelte Temperatur des Gehäuses im
Bereich der Leuchtdioden 45, 47 zu gewährleisten.
[0049] Um einen Ausfall und/oder eine Alterung einer der Leuchtdioden 45, 47 zuverlässig
erkennen zu können, ist bei manchen Ausführungsformen, wie beispielsweise der dargestellten
Ausführungsform, im Strahlengang der UV-Anregungsstrahlung 51 eine Quarzglasplatte
81 als Strahlteiler angeordnet, welcher an einer Vorderseite 83 und einer Rückseite
85 jeweils etwa 4 % der Strahlungsleistung auskoppelt und in eine Kontrollmesseinrichtung
91 reflektiert. Die Kontrollmesseinrichtung 91 ist beispielsweise eine Photodiode.
Diese ist vorzugsweise in einer weiteren Bohrung 101 des Gehäuses 11 angeordnet. Eine
Kontrolleinrichtung 93 kann eine gemessene Strahlungsintensität der UV-Anregungsstrahlung
51 mit einer erwarteten Intensität vergleichen und für den Fall einer Abweichung oberhalb
einer Toleranzschwelle ein Kontrollsignal ausgeben.
In einer weiteren Ausführungsvariante können auch die parasitären Reflexionen des
Anregungsfilters (z.B. des bereits erwähnten Schott UG-1-Filters) gleichzeitig zur
Strahlauskopplung genutzt werden. Ein extra Strahlteiler-Element kann dann entfallen.
[0050] Die auf die Probe 5 auftreffende UV-Anregungsstrahlung 51 verursacht in dem Aufdruck
9, welcher photolumineszierende (z.B. fluoreszierende) Stoffe enthält, eine Anregung
einer Photolumineszenz. Der Aufdruck 9 emittiert somit Photolumineszenzstrahlung 121
im Bereich des Ausleuchtbereichs 53. Die Abstrahlcharakteristik des Lumineszenzlichts
bzw. Fluoreszenzlichts 121 entspricht der eines Lambert-Strahlers. Das Photolumineszenzlicht
121 gelangt zumindest teilweise in eine Messeinrichtung 131, welche sensitiv im vorgegebenen
Spektralbereich ist. Die Messeinrichtung 131 umfasst als Photodetektor 133, in der
dargestellten Ausführungsform eine Photodiode 135, die auf einer Platine in noch einer
weiteren Bohrung 171 angeordnet ist. Eine Mittelachse 173 der noch weiteren Bohrung
171 ist kollinear zur Oberflächennormale 35 der Prüfebene 19 und verläuft vorzugsweise
mittig durch den Ausleuchtbereich 53. Um sicherzustellen, dass von der UV-Anregungsstrahlung
51 keine Anteile in der Messeinrichtung 131 nachgewiesen werden, umfasst die Messeinrichtung
131 eine Langpassfilter 151, der ein Passieren von UV-Strahlung blockiert.
[0051] Mit einer Seite 143 liegt der Langpassfilter 151 in der dargestellten Ausführungsform
gegen einen Flansch 175 der noch weiteren Bohrung 171 an, welcher über eine Verjüngung
der noch weiteren Bohrung 171 ausgebildet ist. Eine gegenüberliegende Seite 145 des
Langpassfilters 151 wird mittels eines weiteren Halterings 147 in der noch weiteren
Bohrung 171 fixiert. Dieser weitere Haltering 147 weist ein Außengewinde auf, welches
mit einem Innengewinde in der noch weiteren Bohrung 171 korrespondiert.
[0052] Die Photodiode 135 ist ähnlich wie die Leuchtdioden 45, 47 mittels einer weiteren
Füllmasse 137 eingegossen und fixiert.
[0053] Auch im Bereich der Messeinrichtung 131 können ein weiterer Temperaturmessfühler
181 sowie ggf. ein Heiz-/Kühlelement 183 angeordnet sein, welche mit einer weiteren
Temperaturmesseinrichtung 181' und einer weiteren Regeleinheit 183' zusammenwirken.
Ein rohes Messsignal der Photodiode 135 ist vorzugsweise auf einen Verstärker 191
geführt und anschließend auf eine Messsignalerzeugungseinrichtung 193, welches beispielsweise
ein AD-Wandler sein kann. Über den Verstärker 191, dessen Verstärkungsfaktor gezielt
wählbar ist oder alternativ einen festgelegten Verstärkungsfaktor, z.B. in der Größenordnung
10
5 bis 10
6, aufweist, kann im Zusammenspiel mit einem AD-Wandler ein Messsignal erzeugt werden,
welches die erfasste, integrierte Strahlungsleistung der Lumineszenzstrahlung repräsentiert.
[0054] Wie in Figur 3 dargestellt ist, steigt die Empfindlichkeit einer Photodiode, die
in Form einer Kennlinie 501 dargestellt ist, mit zunehmender Wellenlänge. Dies bedeutet,
dass die Signalstärke, ein Stromsignal, pro Strahlungsleistung mit der Wellenlänge
zunimmt. Da jedoch gleichzeitig mit der Zunahme der Wellenlänge die mit der Photolumineszenzumwandlung
des Anregungslichts in Lumineszenzlicht einhergehende Stokes-Verschiebung dazu führt,
dass die Strahlungsleistung bei gleicher Umwandlungseffizienz, d.h. gleicher Photolumineszenzeffizienz
der Probe abnimmt, wird die gemessene Strahlungsleistung der Lumineszenzstrahlung
nahezu unabhängig von der spektralen Verteilung der Lumineszenzphotonen ist. Die Empfindlichkeit
wird auch Messempfindlichkeit genannt.
[0055] Eine gestrichelte Gerade 503 gibt eine erwartete Kennlinie für den Fall einer 100%igen
Quantenausbeute (QE) an.
[0056] Über einen in einem Speicher 201 abgelegten Kalibrierwert, kann eine Auswerteeinrichtung
211 eine absolute Photolumineszenzeffizienz der Probe ermitteln (siehe Figur 1). Der
Kalibrierwert K stellt eine Beziehung zwischen der zuvor ermittelten, bekannten UV-Anregungsstrahlungsleistung
WA der UV-Anregungsstrahlung 51 und einem Kalibrationsmesswert MK her, der für eine
vorbekannte Strahlungsleistung WB eines Lambert-Strahlers ermittelt ist. Da das Messsignal
des Photodetektors 133 nahezu linear mit der erfassten Lumineszenzstrahlung zu- bzw.
abnimmt, kann unter Annahme dieser Linearität der für die vorbekannte Strahlungsleistung
des Lambert-Strahlers gemessene (Strahlungsleistungs-)Kalibrationsmesswert MK mit
einer äquivalenten Anregungsstrahlungsleistung WÄ in Beziehung gesetzt werden, die
bei Annahme einer 100 prozentigen Photolumineszenzeffizienz FE und einer Stokes-Verschiebung
der UV-Anregungswellenlängen zu der Kalibrationswellenlänge, bei der der Lambert-Strahler
strahlt, errechnet ist. Die Auswerteeinrichtung 211 errechnet aus dem Kalibrierwert
K und einem Messwert MM der Probe 3 die Photolumineszenzeffizienz FE. Dieser wird
über eine Ausgabeeinrichtung 221 ausgegeben. Die Ausgabeeinrichtung kann als analoge
oder digitale Anzeige und/oder als Kommunikationsschnittstelle ausgebildet sein.
[0057] Die Ausgabeeinrichtung 221, die Auswerteeinrichtung des Speichers 201, die Messsignalerzeugungseinrichtung
133 sowie nicht dargestellte Ansteuerungselektronik für die Messeinrichtung 131 ebenso
wie die weitere Temperaturmesseinrichtung 181' für den Temperaturfühler 181 und die
weitere Regeleinheit 183', das Heiz-/Kühlelement 183 können in einem Steuergerät 231
zusammengefasst sein. Auch die Konstantstromquelle 69 sowie die Temperaturmesseinrichtung
73' für den Temperaturmessfühler 73 und die Regeleinheit 75' für das Heiz-/Kühlelement
75 können in das Steuergerät 231 integriert sein oder einem weiteren Steuergerät 241
zusammengefasst sein. Gleiches gilt für die Kontrolleinrichtung 93 sowie die Ansteuerungselektronik
der Kontrollmesseinrichtung.
[0058] In dem Gehäuse ist ferner in einer zusätzlichen Bohrung 250 ausgebildet, in der eine
Lichtleitfaser 251 angeordnet ist, die einen Teil der der Lumineszenzstrahlung zu
einer optischen Auswerteeinrichtung 261, beispielsweise einem Spektrometer oder einem
Spektrographen, für eine weitere Auswertung der Lumineszenzstrahlung führt. Die Lichtleitfaser
251 ist ebenso wie die Kontrollmesseinrichtung 91 mit einer Füllmasse 270 vergossen.
[0059] Eine entsprechende Kalibration soll anhand von Figuren 2a und 2b erläutert werden.
Die einzelnen Merkmale und Vorrichtungen sind nur schematisch und vereinfacht dargestellt.
Nur die wesentlichen Komponenten sind dargestellt. Zunächst wird die Photolumineszenzmessvorrichtung
1 auf einer Strahlungsmesseinrichtung 301 so angeordnet, dass die durch den Ausleuchtbereich
53 tretende Strahlungsleistung der UV-Anregungsstrahlung 51 vollständig von der Strahlungsmesseinrichtung
301 erfasst wird. Diese bestimmt die Strahlungsleistung des UV-Anregungslichts 51
in absoluten Messeinheiten, wobei die UV-Beleuchtungseinrichtung bei vorgegebenen
Betriebsparametern, insbesondere einem vorgegebenem konstantem Betriebsstrom der Konstantstromquelle
71 und einer vorgegebenen Temperatur betrieben wird. Wiederholungen der Messung und
Messung bei anderen abweichenden Temperaturen bzw. leicht variierenden Betriebsströmen
können ausgeführt werden, um Fehlergrenzen für die UV-Anregungsstrahlungsleistung
zu ermitteln. Darüber hinaus kann ein erwartetes Messsignal für die Kontrollmesseinrichtung
91 ermittelt werden.
Nach diesem Kalibrierschritt, ist die Strahlungsleistung WA der UV-Anregungsstrahlung,
welche durch den Ausleuchtbereich 53 der Prüfebene trifft oder auf diese auftrifft,
bekannt.
[0060] In einem weiteren Kalibrierschritt, dargestellt in Fig. 2b, wird ein Lambert-Strahler
herangezogen, d.h. ein Strahler, der Licht mit einer Lambert-Strahler-Strahlcharakteristik
abstrahlt. Dies bedeutet, dass von jedem Punkt einer flächigen Abstrahlfläche 403
eine Intensität des abgestrahlten Lichts 405 gegeben ist durch I = I
0 * cosα, wobei α den Winkel der Abstrahlrichtung 407 gemessen gegen eine durch den
entsprechenden Punkt 411 verlaufende Oberflächennormale 409 der Abstrahlfläche 403
angibt. Der Lambert-Strahler 401 wird so gewählt, dass dieser Licht bei einer Spektrallinie
im vorgegebenen Wellenlängenbereich, beispielsweise im roten Wellenlängenbereich mit
vorbekannter Strahlungsleistung WB erzeugt. Diese Wellenlänge wird als Kalibrationswellenlänge
bezeichnet. Beispielsweise kann das Licht eines Helium-Neon-Lasers oder einer Laserdiode
auf eine diffuse Streuscheibe geführt werden und ein Abstrahlbereich durch eine aufgebrachte
Blende entsprechender Größe festgelegt sein. Die Strahlungsleistung WB des Lambert-Strahlers
wird als vorbekannt vorausgesetzt, kann jedoch selbstverständlich mit einem entsprechenden
Strahlungsmessgerät in absoluten physikalischen Größen gemessen werden.
[0061] Für einen zweiten Kalibrierschritt der Photolumineszenzmessvorrichtung 1 wird der
Lambert-Strahler so relativ zu dem Gehäuse 11 angeordnet, dass die Abstrahlfläche
403 des Lambert-Strahler 401 mit dem Ausleuchtbereich 53 der Prüfebene 19 zusammenfällt
und zusätzlich die Probenöffnung 17 vollständig gegen Umgebungslicht abgedichtet ist.
Mit der Messeinrichtung 131 wird nun, ohne dass die Beleuchtungseinrichtung 41 im
Betrieb ist, die Strahlungsleistung des Lambert-Strahlers 401 ermittelt. Der ermittelte
Messwert wird als Strahlungsleistungskalibrationsmesswert MK bezeichnet. Anhand der
Strahlungsleistung WB des Lambert-Strahlers, die beispielsweise 60 % der ermittelten
Strahlungsleistung der UV-Anregungsstrahlung 51 entspricht, und der gemessenen UV-Anregungsstrahlungsleistung
WA kann nun ein Kalibrierwert ermittelt werden. Hierfür wird zunächst eine äquivalente
Anregungsstrahlungsleistung WÄ ermittelt, die der Strahlungsleistung entsprechen würde,
die aufgrund einer Stokes-Verschiebung der UV-Anregungsphotonen in Lumineszenzphotonen
der Kalibrationswellenlänge ergeben würde. Hierfür gilt:

Der Kalibrationsfaktor, Kalibrierwert oder Kalibrationswert K ergibt sich dann aus
dem Verhältnis der bekannten Strahlungsleistung WB des Lambert-Strahlers geteilt durch
das Produkt der äquivalenten Strahlungsleistung WÄ der Anregungsstrahlung und dem
Strahlungsleistungskalibrationsmesswert MK:

Dieser Kalibrationswert K wird dann in dem Speicher 201 abgelegt (siehe Figur 1).
Bei einer nachfolgenden Messung, so wie im Zusammenhang mit der Beschreibung von Figur
1 erläutert wurde, wird nun der ermittelte Strahlungsleistungsmesswert MM mit dem
Kalibrationswert K multipliziert, und das Ergebnis liefert dann eine Photolumineszenzeffizienz
in absoluten Größeneinheiten:

Entscheidend ist, dass zur Kalibration der Photolumineszenzmessvorrichtung und beim
Ausführen des Kalibrationsverfahrens kein Photolumineszenzstandard notwendig ist,
um die Kalibration auszuführen. Es sind lediglich radiometrische Messeinrichtung notwendig,
um die Kalibration auszuführen bzw. das Schaffen eines Lambert-Strahlers mit vorbekannter
Strahlungsleistung. Die Erfindung bietet somit der Vorteil, dass ohne die Notwendigkeit
der Verwendung einer ansonsten notwendigen Ulbrichtkugel zur Vermessung der absoluten
Lumineszenz einer flächigen Probe eine recht einfache und ohne die Verwendung eines
Lumineszenzstrahlers kalibrierte Photolumineszenzmesseinrichtung verwendet werden
kann, um absolute Photolumineszenzeffizienzen zu ermitteln.
Bezugszeichenliste
[0062]
- 1
- Photolumineszenzmessvorrichtung
- 3
- ebene Probe
- 5
- Substrat
- 7
- Oberseite
- 9
- Aufdruck
- 11
- Gehäuse
- 13
- Messkammer
- 15
- Innenwände
- 17
- Probenöffnung
- 19
- Prüfebene
- 21
- Unterseite Gehäuse
- 31
- Bohrung
- 33
- Zentralachse
- 35
- Oberflächennormale (der Prüfebene)
- 41
- UV-Beleuchtungseinrichtung
- 43
- Platine
- 45, 47
- LED
- 49
- Abbildungslinse
- 51
- UV-Anregungsstrahlung
- 53
- Ausleuchtbereich
- 55
- Bandpassfilter
- 57
- eine Seite (Bandpassfilter)
- 59
- Flansch
- 61
- gegenüberliegende Seite (Bandpassfilter)
- 63
- Halterungsring
- 65
- Füllmasse
- 67
- UV-Lichtquelle
- 71
- Konstantstromquelle
- 73
- Temperaturmessfühler
- 73'
- Temperaturmesseinrichtung
- 75
- Heiz-/Kühlelement
- 75'
- Regeleinheit
- 81
- Quarzglasplatte
- 83
- Vorderseite
- 85
- Rückseite
- 91
- Kontrollmesseinrichtung
- 93
- Kontrolleinrichtung
- 95
- Kontrollsignal
- 101
- weitere Bohrung
- 121
- Photolumineszenzstrahlung
- 131
- Messeinrichtung
- 133
- Photodetektor
- 135
- Photodiode
- 137
- weitere Füllmasse
- 141
- Langpassfilter
- 143
- eine Seite (Langpassfilter)
- 145
- gegenüberliegende Seite Bandpassfilter
- 147
- weiterer Haltering
- 171
- noch weitere Bohrung
- 173
- Mittelachse
- 175
- Flansch
- 181
- Temperaturmessfühler
- 181'
- weitere Temperaturmesseinrichtung
- 183
- Kühl-/Heizelement
- 183'
- weitere Regeleinheit
- 191
- Verstärker
- 193
- Messsignalerzeugungseinrichtung (AD-Wandler)
- 201
- Speicher
- 211
- Auswerteeinrichtung
- 221
- Ausgabeeinrichtung
- 231
- Steuereinrichtung
- 241
- Steuereinrichtung
- 250
- zusätzliche Bohrung
- 251
- Lichtleitfaser
- 261
- optische Auswerteeinrichtung
- 270
- Füllmasse
- 301
- Strahlungsmesseinrichtung
- 401
- Lambert-Strahler
- 403
- Abstrahlfläche
- 405
- abgestrahltes Licht
- 407
- Abstrahlrichtung
- 409
- Oberflächennormale
- 411
- Punkt
- 501
- Kennlinie
- 503
- gestrichelte Gerade
1. Verfahren zum Kalibrieren einer Photolumineszenzmessvorrichtung (1), welche eine UV-Beleuchtungseinrichtung
(41),
sowie eine im vorgegebenen Wellenlängenbereich empfindliche Messeinrichtung (131),
die Photolumineszenzstrahlung spektral integriert vermisst und eine von der Wellenlänge
der Photonen unabhängige Quantenausbeute aufweist,
sowie eine Ausgabeeinrichtung (221) zum Ausgeben eines Photolumineszenzmessergebnisses
aufweist, wobei die UV-Beleuchtungseinrichtung (41) und die Messeinrichtung (131)
an oder in einem Gehäuse (11) mit einer Messkammer (13) angeordnet sind, wobei das
Gehäuse (11) die Messkammer (13) gegen Strahlung aus der Umgebung abschirmt, jedoch
eine Probenöffnung (17) aufweist, die eine Prüfebene (19) definiert, und wobei die
UV-Beleuchtungseinrichtung (131) so angeordnet ist, dass UV-Anregungsstrahlung (51)
der UV-Beleuchtungseinrichtung (131) durch die Messkammer (13) hindurch einen Ausleuchtbereich
(53) der Probenöffnung (19) beleuchtet und die Messeinrichtung (131) so in der Messkammer
(13) angeordnet ist, dass der gesamte Ausleuchtbereich (53) der Prüfebene (19) in
einem Erfassungsbereich der Messeinrichtung (131) liegt, so dass die Messeinrichtung
(131) von jedem beliebigen Punkt des Ausleuchtbereichs (53) zumindest einen Teil von
in die Messkammer (13) mit einer Lambert-Strahlung-Strahlungscharakteristik eingestrahlter
diffuser Lichtstrahlung im vorgegebenen Wellenlängenbereich erfasst,
wobei das Verfahren die Schritte umfasst:
Betreiben der UV-Beleuchtungseinrichtung (41) mit vorgegebenen Betriebsparametern
zum Erzeugen von monochromatischer UV-Anregungsstrahlung (51) mit einer Anregungswellenlänge
λ1, welche den Ausleuchtbereich (53) der Prüfebene (19) ausleuchtet;
Anordnen der Probenöffnung (17) auf einer Einlassöffnung eines Strahlungsmessgerätes
(301) und Messen einer Anregungsstrahlungsleistung WA der durch den Ausleuchtbereich
(53) der Prüfebene (19) tretenden UV-Anregungsstrahlung (51),
Anordnen der Probenöffnung (17) vor einem monochromatischen Lambert-Strahler (401),
der monochromatisches Licht (405) mit bekannter Strahlungsleistung WB bei einer Kalibrationswellenlänge
λ2 im vorgegebenenen Wellenlängenbereich mit einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik
abstrahlt, wobei eine Abstrahlfläche (403) des Lambert-Strahlers (401) einer Ausdehnung
der Ausleuchtfläche (53) entspricht, und das Anordnen der Photolumineszenzmessvorrichtung
(1) relativ zu dem Lambert-Strahler (401) so erfolgt, dass die Ausleuchtfläche (53)
und die Abstrahlfläche (403) des Lambert-Strahlers (401) in der Prüfebene (19) zusammenfallen
und kein Umgebungslicht in die Messkammer (13) eindringt;
Messen der Strahlungsleistung des Lambert-Strahlers (401) mit der Messeinrichtung
(131) und Erfassen eines Strahlungsleistungskalibrationsmesswerts MK, während die
UV-Beleuchtungseinrichtung (41) nicht in Betrieb ist; und
Errechnen einer äquivalenten Anregungsstrahlungsleistung WÄ anhand der gemessenen
Anregungsstrahlungsleistung WA, indem eine mit einer Stokesverschiebung der UV-Anregungswellenlänge
λ1 zu der Kalibrationswellenlänge λ2 einhergehende Leistungsänderung berücksichtigt
wird, wobei sich die äquivalente Anregungsstrahlungsleistung WÄ gemäß folgender Formel
ergibt: WÄ = WA * (1-(λ1-λ2)/λ1), und
Ermitteln eines Kalibrierwerts K aus einem Verhältnis der bekannten Strahlungsleistung
WB des Lambert-Strahlers (301) und einem Produkt der errechneten äquivalenten UV-Anregungsstrahlungsleistung
WÄ und dem Strahlungsleistungskalibrationsmesswert MK gemäß der Formel K = WB / (WA
* MK), und Ablegen des Kalibrierwertes K, so dass nachfolgende Messwerte MMj der Messeinrichtung, die bei einer Beleuchtung des Ausleuchtbereichs (53) der Prüfebene
(19) mittels der UV-Beleuchtungseinrichtung (141) bei den vorgegebenen Betriebsparametern
für vor der Probenöffnung (17) angeordnete flache Proben (3) gemessen sind, in eine
Photolumineszenzeffizienz FEj der Probe (3) gemäß der Formel FEj = MMj * K umrechenbar sind.
2. Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Photolumineszenzeffizienz FE einer ebenen
Probe (3) umfassend die Schritte:
Anordnen der Probe (3) vor einer Probenöffnung (17) eines Gehäuses (11), die einen
Zugang zu einer im Inneren des Gehäuses (11) befindlichen Messkammer (13) darstellt,
wobei die Probenöffnung (17) eine Prüfebene (19) definiert und wobei die Probe (3)
vor der Probenöffnung (17) so angeordnet wird, dass die Probe (3) an die Prüfebene
(19) angrenzt oder mit dieser zusammenfällt;
Erzeugen von monochromatischer UV-Anregungsstrahlung (51) mit einer Beleuchtungseinrichtung
(41) bei vorgegebenen Betriebsparametern, um mit einer vorermittelten UV-Anregungsstrahlungsleistung
durch die Messkammer (13) hindurch einen Ausleuchtbereich (53) der Prüfebene (19)
mit der bereitgestellten monochromatischen UV-Anregungsstrahlung (51) auszuleuchten;
zeitgleiches Messen einer im vorgegebenen Wellenlängenbereich spektral integrierten
Lumineszenzintensität der an der Probe (3) erzeugten und in die Messkammer (13) abgestrahlten
Photolumineszenzstrahlung (121) mit einer Messeinrichtung (131), die Photolumineszenzstrahlung
spektral integriert vermisst und ein von der Wellenlänge der Photonen unabhängige
Quantenausbeute aufweist und deren Erfassungsbereich so ausgebildet ist, dass für
jeden Punkt des Ausleuchtbereichs (53) der Prüfebene (19) gilt, dass von diffus in
die Messkammer (13) mit einer Lambert-Strahler-Strahlungscharakteristik von diesem
Punkt abgestrahlter Lichtstrahlung zumindest ein Teil der Lichtintensität erfasst
wird;
Erfassen eines Kalibrierwertes K mit einem Verfahren gemäß Anspruch 1 oder Auslesen
des Kalibrierwertes K, der nach einem Verfahren gemäß Anspruch 1 ermittelt wurde,
aus einer Speichereinrichtung (201) und Errechnen einer Photolumineszenzeffizienz
FE anhand der gemessenen Lumineszenzintensität (MM) und dem Kalibrierwert K gemäß
der Formel FE = MM * K; und Ausgeben und/oder Bereitstellen der errechneten Photolumineszenzeffizienz
FE.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass mittels einer weiteren photoempfindlichen Kontrollmesseinrichtung (91) eine Intensität
eines Anteils der erzeugten UV-Anregungsstrahlung (51) der UV-Beleuchtungseinrichtung
(41) ermittelt wird und mit einer erwarteten Intensität verglichen wird und bei einer
erfassten Abweichung oberhalb einer Toleranzschwelle zwischen der ermittelten und
der erwarteten Intensität ein Kontrollsignal erzeugt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Kontrollsignal ausgewertet wird und eine Beeinflussung der UV-Beleuchtungseinrichtung
(41) vorgenommen wird, um die in der weiteren Messeinrichtung (91) gemessene Intensität
der erwarteten Intensität anzugleichen.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die UV-Anregungsstrahlung (51) mit einer UV-Beleuchtungseinrichtung (41) erzeugt
wird, die als die UV-Lichtquelle (67) mindestens eine Leuchtdiode (45, 47) umfasst.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass in der UV-Beleuchtungseinrichtung (41) ein Filter (55) eingesetzt wird, um die in
die Messkammer (13) eingestrahlte UV-Anregungsstrahlung auf eine Wellenlänge oder
einen begrenzten Wellenlängenbereich einzugrenzen.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass in der Messeinrichtung (131) ein Langpassfilter (141) eingesetzt wird, der UV-Licht
blockiert, sodass die zur Anregung verwendete von der UV-Beleuchtungseinrichtung (131)
eingestrahlte UV-Anregungsstrahlung (51) nicht zu einem Photodetektor (133) der Messeinrichtung
(131) gelangt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Lumineszenzintensität mit der Messeinrichtung (131) gemessen wird, die im vorgegebenen
Wellenlängenbereich eine Strahlungsintensität integrierend über diesen vorgegebenen
Wellenlängenbereich erfasst.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass als die Messeinrichtung (131) eine solche verwendet wird, deren Quanteneffizienz
der Messeinrichtung (133) im vorgegebenen Wellenlängenbereich im Rahmen einer vorfestgelegten
Toleranz wellenlängenunabhängig ist.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass als Photodetektor (133) eine Photodiode verwendet wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (131) für Rohmesssignale des Photodetektors (133), deren Wert
um mindestens vier Größenordnungen verschieden sein kann, einen Messwert erzeugt,
der linear zu dem Rohmesssignal ist.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die UV-Lichtquelle (67) und/oder der Photodetektor (133) verwendet werden, die in
dem Gehäuse (11) mittels einer Füllmasse (65,137) vergossen sind.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass über eine durch das Gehäuse (11) in die Messkammer (13) geführte und dort angeordnete
Lichtleitfaser (251) ein Teil des von aus der Prüfebene (19) in die Messkammer (13)
abgestrahlten Lichts erfasst wird, und dieses erfasste Licht einer optischen Auswerteeinrichtung
(261), insbesondere einem Spektrometer, zugeführt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass ein Teil der UV-Anregungsstrahlung (51) der UV-Beleuchtungseinrichtung (41) auf eine
Kontrollmesseinrichtung (91) geführt wird, welche eine UV-Lichtintensität misst, und
die Kontrollmesseinrichtung (91) mit einer Kontrolleinrichtung (93) gekoppelt ist,
die eine gemessene UV-Lichtintensität mit einer vorgegebenen UV-Lichtintensität vergleicht
und ein Kontrollsignal ausgibt, wenn eine Abweichung zwischen der gemessenen UV-Lichtintensität
und der vorgegebenen UV-Lichtintensität oberhalb einer Toleranzschwelle erfasst ist.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass der vorgegebene Wellenlängenbereich Wellenlängen zwischen 190 nm und 1100nm, bevorzugter
Wellenlängen zwischen 350 nm und 1100 nm und am bevorzugtesten Wellenlängen zwischen
400 nm und 1100 nm, umfasst.
1. Method for calibration of a photoluminescence measuring apparatus (1), which comprises
a UV illumination device (41) and a measuring device (131) which is sensitive in the
predefined wavelength range, which integrally measures the photoluminescence radiation
and quantum efficiency independently of the wavelength of the photons, as well as
an output device (221) for outputting a photoluminescence measurement result, wherein
the UV illumination device (41) and the measuring device (131) are arranged at or
in a housing (11) with a measuring chamber (13), wherein the housing (11) screens
the measuring chamber (13) against radiation from the surrounding environment, but
comprises a sample opening (17), which defines a test plane (19), and wherein the
UV illumination device (41) is arranged in such a way that UV excitation radiation
(51) from the UV illumination device (41) illuminates through the measuring chamber
(13) an illumination region (53) of the sample opening (17) and the measuring device
(131) is arranged in the measuring chamber (13) in such a way that the entire illumination
region (53) of the test plane (19) lies in a detection range of the measuring device
(131), such that the measuring device (131) detects from any desired point of the
illumination region (53) at least a part of diffuse light radiation emitted into the
measuring chamber (13) with a Lambertian emitter radiation characteristic in the predefined
wavelength range, wherein the method comprises the steps:
operation of the UV illumination device (41) with predefined operating parameters
for producing monochromatic UV excitation radiation (51) with an excitation wavelength
λ1, which illuminates the illumination region (53) of the test plane (19);
arrangement of the sample opening (17) on an inlet opening of a radiation measuring
device (301) and measurement of an excitation radiation power WB of the UV excitation
radiation (51) passing through the illumination region (53) of the test plane (19);
arrangement of the sample opening (17) in front of a monochromatic Lambert radiator
(401), which emits monochromatic light (405) with a known radiation power WB at a
calibration wavelength λ2 in the predefined wavelength range with a Lambertian emitter
radiation characteristic, wherein an emission surface (403) of the Lambert radiator
(401) corresponds to an extension of the illumination region (53), and the arrangement
of the photoluminescence device (1) relative to the Lambert radiator (401) is such
that an illumination region (53) and the emission surface (403) of the Lambert radiator
(401) coincide in the test plane (19) and no ambient light penetrates into the measuring
chamber (13);
measuring of the radiation power of the Lambert radiator (401) with the measuring
device (131) and detection of a radiation power calibration measurement value MK while
the UV illumination device (41) is not in operation; and
calculation of an equivalent excitation radiation power WÄ on the basis of the measured
excitation radiation power WA, in that account is taken of a power change inherent
with a Stokes displacement of the UV excitation wavelength λ1 to the calibration wavelength
λ2, wherein the equivalent excitation radiation power WÄ is derived according to the
following formula:

and
determination of a calibration value K from a ratio of the known radiation power WB
of the Lambert radiator (301) and a product of the equivalent UV excitation radiation
power WÄ and the radiation power calibration measurement value MK, according to the
formula K = WB / (WA * MK) and the storing of the calibration value K, such that subsequent
measured values MMj of the measuring device, which are measured during an illumination of the illumination
region (53) of the test plane (19) by means of the UV lighting device (141) with the
predefined operating parameters for flat samples (3) arranged in front of the sample
opening (17), can be converted by calculation into a photoluminescence efficiency
FEj of the sample (3), according to the formula FEj = MMj * K.
2. Method for determining an absolute photoluminescence efficiency of a flat sample (3),
comprising the steps:
arrangement of the sample (3) in front of a sample opening (17) of a housing (11),
which represents an access to a measuring chamber (13) located in the interior of
the housing (11), wherein the sample opening (17) defines a test plane (19) and wherein
the sample (3) is arranged in front of the sample opening (17) in such a way that
the sample (3) abuts the test plane (19) or coincides with it;
production of monochromatic UV excitation radiation (51) with an illumination device
(41) under predefined operational parameters, in order, with a predefined UV excitation
radiation output, through the measuring chamber (13) to illuminate an illumination
region (53) of the test plane (19) with the monochromatic UV excitation radiation
(51) provided;
simultaneous measurement of a luminescence intensity, spectrally integrated in the
predetermined wavelength range, of the photoluminescence radiation (121) produced
at the sample (3) and radiated into the measuring chamber (13) with a measuring device
(131), measureing the spectrally integrated photoluminescence radiation, and exhibiting
a quantum efficiency which is independent of the wavelength of the photons, and of
which the detection range is configured in such a way that, for each point of the
illumination range (53) of the test plane (19), it holds true that, of the light radiation
emitted from this point and irradiated diffusely into the measuring chamber (13) with
a Lambertian emitter radiation characteristic, at least a part of the light intensity
is detected;
acquisition of a calibration value K, using a method according to claim 1, or reading
out of the calibration value K which was determined in accordance with a method according
to claim 1, from a storage device (201) and calculation of a photoluminescence efficiency
FE on the basis of the measured luminescence intensity (MM) and the calibration value
K in accordance with the formula FE = MM * K, and output and/or provision of the calculated
photoluminescence efficiency FE.
3. Method according to claim 2, characterised in that, by means of a further photosensitive control measuring device (91), an intensity
of a portion of the UV excitation radiation (51) from the UV lighting device (41)
is determined and compared with an anticipated intensity, and, in the event of a deviation
being detected which is above a tolerance threshold between the determined and anticipated
intensity, a control signal is produced.
4. Method according to claim 2 or 3, characterised in that the control signal is evaluated and an influencing of the UV lighting device (41)
is carried out in order to equal the intensity measured in the further measuring device
(91) to the anticipated intensity.
5. Method according to any one of claims 2 to 4, characterised in that the UV excitation radiation (51) is produced with a UV lighting device (41), which
comprises as the UV light source (67) at least one light-emitting diode (45, 47).
6. Method according to any one of claims 2 to 5, characterised in that a filter (55) is inserted into the UV lighting device (41) in order for the UV excitation
radiation emitted into the measuring chamber (13) to be limited to a wavelength or
a limited wavelength range.
7. Method according to any one of claims 2 to 6, characterised in that a long-pass filter (141) is inserted into the measuring device (131) which blocks
UV light, such that the UV excitation radiation (51) emitted by the UV lighting device
(131) and used for the excitation does not pass to a photodetector (133) of the measuring
device (131).
8. Method according to any one of claims 2 to 7, characterised in that the luminescence intensity is measured with the measuring device (131), which in
the predefined wavelength range detects a radiation intensity, and integrating over
this predefined wavelength range.
9. Method according to any one of claims 2 to 8, characterised in that, as the measuring device (131), such a device is used of which the quantum efficiency
of the measuring device (131) in the predefined wavelength range is wavelength-independent
within the framework of a predefined tolerance.
10. Method according to any one of claims 7 to 9, characterised in that, as the photodetector (133), a photodiode is used.
11. Method according to any one of claims 7 to 10, characterised in that the measuring device (131) produces a measured value for raw measuring signals from
the photodetector (133), the value of which can differ by at least four orders of
magnitude, which is linear to the raw measuring signal.
12. Method according to any one of claims 5 to 11, characterised in that the UV light source (67) and/or the photodetector (133) are used which are cast in
the housing (11) by means of a filler compound (65, 137).
13. Method according to any one of claims 2 to 12, characterised in that, by means of a light-conducting fibre (251) which is guided through the housing (11)
into the measuring chamber (13) and is arranged there, a part of the light emitted
from the test plane (19) into the measuring chamber (13) is detected, and this detected
light is conducted to an optical evaluation device (261), in particular to a spectrometer.
14. Method according to any one of claims 2 to 13, characterised in that a part of the UV excitation radiation (51) from the UV lighting device (41) is conducted
to a control measuring device (91), which measures a UV light intensity, and the control
measuring device (91) is coupled to a control device (93), which compares a measured
UV light intensity with a predefined UV light intensity and issues a control signal
if a deviation is detected between the measured UV light intensity and the predefined
UV light intensity above a tolerance threshold.
15. Method according to any one of claims 2 to 14, characterised in that the predefined wavelength range comprises wavelengths between 190 nm and 1100 nm,
as preferred wavelengths between 350 nm and 1100 nm, and as most preferred wavelengths
between 400 nm and 1100 nm.
1. Procédé servant à étalonner un dispositif de mesure de photoluminescence (1), qui
présente un système d'éclairage UV (41), ainsi qu'un système de mesure (131) sensible
dans la plage de longueurs d'onde spécifiée, lequel mesure de manière intégrée spectralement
le rayonnement de photoluminescence, et un rendement quantique indépendant de la longueur
d'onde des photons, et qui présente également un système de sortie (221) servant à
sortir un résultat de mesure de photoluminescence, dans lequel le système d'éclairage
UV (41) et le système de mesure (131) sont disposés au niveau ou dans un boîtier (11)
avec une chambre de mesure (13), dans lequel le boîtier (11) protège la chambre de
mesure (13) contre le rayonnement provenant de l'extérieur, présente toutefois une
ouverture pour échantillon (17), qui définit un plan d'essai (19), et dans lequel
le système d'éclairage UV (131) est disposé de telle sorte que le rayonnement d'excitation
UV (51) du système d'éclairage UV (131) éclaire, à travers la chambre de mesure (13),
une zone d'illumination (53) de l'ouverture pour échantillon (19) et le système de
mesure (131) est disposé de telle sorte dans la chambre de mesure (13) que l'ensemble
de la zone d'illumination (53) du plan d'essai (19) se trouve dans une zone de détection
du système de mesure (131) de sorte que le système de mesure (131) détecte, par chaque
point quelconque de la zone d'illumination (53), au moins une partie du rayonnement
lumineux diffus, incident dans la chambre de mesure (13) avec une caractéristique
de rayonnement de rayonnement de Lambert, dans la plage de longueurs d'onde spécifiée,
dans lequel le procédé comprend les étapes consistant à :
faire fonctionner le système d'éclairage UV (41) avec des paramètres spécifiés afin
de générer un rayonnement d'excitation UV (51) monochromatique présentant une longueur
d'onde d'excitation λ1, qui illumine la zone d'illumination (53) du plan d'essai (19),
disposer l'ouverture pour échantillon (17) sur une ouverture d'entrée d'un appareil
de mesure de rayonnement (301) et mesurer une puissance de rayonnement d'excitation
WA du rayonnement d'excitation UV (51) traversant la zone d'illumination (53) du plan
d'essai (19) ;
disposer l'ouverture pour échantillon (17) devant un émetteur de Lambert (401) monochromatique,
qui émet de la lumière (405) monochromatique présentant une puissance de rayonnement
WB connue pour une longueur d'onde d'étalonnage λ2 dans la plage de longueurs d'onde
spécifiée, avec une caractéristique de rayonnement d'émetteur de Lambert, dans lequel
une surface d'émission (403) de l'émetteur de Lambert (401) correspond à une extension
de la surface d'illumination (53), et la disposition du dispositif de mesure de photoluminescence
(1) par rapport à l'émetteur de Lambert (401) est effectuée de telle sorte que la
surface d'illumination (53) et la surface d'émission (403) de l'émetteur de Lambert
(401) coïncident dans le plan d'essai (19) et qu'aucune lumière ambiante ne pénètre
la chambre de mesure (13) ;
mesurer la puissance de rayonnement de l'émetteur de Lambert (401) avec le système
de mesure (131) et détecter une valeur de mesure d'étalonnage de puissance de rayonnement
MK, alors que le système d'éclairage UV (41) est hors service ; et
calculer une puissance de rayonnement d'excitation équivalente WÄ à l'aide de la puissance
de rayonnement d'excitation WA mesurée, en ce qu'une variation de puissance allant
de pair avec un décalage Stokes de la longueur d'onde d'excitation UV λ1 par rapport
à la longueur d'onde d'étalonnage λ2 est prise en compte, dans lequel résulte la puissance
de rayonnement d'excitation équivalente WÄ selon la formule qui suit : WÄ = WA * (1-(λ1
- λ2)/ λ1), et
déterminer une valeur d'étalonnage K à partir d'un rapport entre la puissance de rayonnement
WB connue de l'émetteur de Lambert (301) et d'un produit de la puissance de rayonnement
d'excitation UV équivalente WÄ calculée et de la valeur de mesure d'étalonnage de
puissance de rayonnement MK selon la formule K = WB / (WA * MK), et archiver la valeur
d'étalonnage K de sorte que des valeurs de mesure MMj qui suivent du système de mesure, qui sont mesurées lors d'un éclairage de la zone
d'illumination (53) du plan d'essai (19) au moyen du système d'éclairage UV (141)
en présence de paramètres de fonctionnement spécifiés pour des échantillons (3) plats
disposés devant l'ouverture pour échantillon (17), puissent être converties en une
efficacité de la photoluminescence FEj de l'échantillon (3) selon la formule FEj = MMj * K.
2. Procédé servant à définir une efficacité de photoluminescence FE absolue d'un échantillon
(3) plan, comprenant les étapes consistant à :
disposer l'échantillon (3) devant une ouverture pour échantillon (17) d'un boîtier
(11), laquelle constitue un accès à une chambre de mesure (13) se trouvant à l'intérieur
du boîtier (11), dans lequel l'ouverture pour échantillon (17) définit un plan d'essai
(19) et dans lequel l'échantillon (3) est disposé devant l'ouverture pour échantillon
(17) de telle sorte que l'échantillon (3) est adjacent au plan d'essai (19) ou coïncide
avec ce dernier ;
générer un rayonnement d'excitation UV (51) monochromatique avec un système d'éclairage
(41) en présence de paramètres de fonctionnement spécifiés afin d'illuminer, avec
une puissance de rayonnement d'excitation UV préalablement déterminée, au travers
de la chambre de mesure (13), une zone d'illumination (53) du plan d'essai (19) avec
le rayonnement d'excitation UV (51) monochromatique fourni ;
mesurer dans le même temps une intensité de luminescence, intégrée spectralement dans
la plage de longueurs d'onde spécifiée, du rayonnement de photoluminescence (121)
généré au niveau de l'échantillon (3) et émis dans la chambre de mesure (13) avec
un système de mesure (131), qui mesure de manière intégrée spectralement le rayonnement
de photoluminescence et qui présente un rendement quantique indépendant de la longueur
d'onde des photons et dont la zone de détection est réalisée de telle sorte que pour
chaque point de la zone d'illumination (53) du plan d'essai (19) s'applique le fait
qu'au moins une partie de l'intensité lumineuse d'un rayonnement lumineux émis de
manière diffuse dans la chambre de mesure (13) avec une caractéristique de rayonnement
d'émetteur de Lambert par ledit point est détectée ;
détecter une valeur d'étalonnage K avec un procédé selon la revendication 1 ou lire
la valeur d'étalonnage K, qui a été déterminée selon un procédé selon la revendication
1, depuis un système de mémoire (201) et calculer une efficacité de photoluminescence
FE à l'aide de l'intensité de luminescence (MM) mesurée et de la valeur d'étalonnage
K selon la formule FE = MM * K ; et sortir et/ou fournir l'efficacité de photoluminescence
FE calculée.
3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'une intensité d'une proportion du rayonnement d'excitation UV (51) généré du système
d'éclairage UV (41) est déterminée au moyen d'un autre système de mesure de contrôle
(91) photosensible et est comparée à une intensité attendue, et en ce qu'un signal de contrôle est généré en présence d'un écart détecté supérieur à un seuil
de tolérance entre l'intensité déterminée et l'intensité attendue.
4. Procédé selon la revendication 2 ou 3, caractérisé en ce que le signal de contrôle est évalué, et en ce qu'une influence du système d'éclairage UV (41) est entreprise afin d'ajuster l'intensité
mesurée dans l'autre système de mesure (91) à l'intensité attendue.
5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que le rayonnement d'excitation UV (51) est généré avec un système d'éclairage UV (41),
qui comprend en tant que la source de lumière UV (67) au moins une diode électroluminescente
(45, 47).
6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 5, caractérisé en ce qu'un filtre (55) est employé dans le système d'éclairage UV (41) afin de restreindre
le rayonnement d'excitation UV incident dans la chambre de mesure (13) à une longueur
d'onde ou à une plage de longueurs d'onde limitée.
7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, caractérisé en ce qu'est employé, dans le système de mesure (131), un filtre passe-haut (141), qui bloque
la lumière UV de sorte que le rayonnement d'excitation UV (51) incident émis par le
système d'éclairage UV (131) utilisé pour l'excitation ne parvienne pas à un photodétecteur
(133) du système de mesure (131).
8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 7, caractérisé en ce que l'intensité de luminescence est mesurée avec le système de mesure (131), qui détecte,
dans la plage de longueurs d'onde spécifiée, une intensité de rayonnement par intégration
sur ladite plage de longueurs d'onde spécifiée.
9. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 8, caractérisé en ce qu'est utilisé en tant que système de mesure (131) un système de mesure du type, dont
le rendement quantique du système de mesure (133) dépend de la longueur d'onde dans
la plage de longueurs d'onde spécifiée dans le cadre d'une tolérance préalablement
fixée.
10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 7 à 9, caractérisé en ce qu'une photodiode est utilisée en tant que photodétecteur (133).
11. Procédé selon l'une quelconque des revendications 7 à 10, caractérisé en ce que le système de mesure (131) génère une valeur de mesure qui est linéaire par rapport
au signal de mesure brute pour des signaux de mesure brute du photodétecteur (133),
dont la valeur peut être différente d'au moins quatre ordres de grandeur.
12. Procédé selon l'une quelconque des revendications 5 à 11, caractérisé en ce que la source de lumière UV (67) et/ou le photodétecteur (133) sont utilisés, lesquels
sont scellés dans le boîtier (11) au moyen d'une masse de remplissage (65, 137).
13. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 12, caractérisé en ce qu'une partie de la lumière émise à partir du plan d'essai (19) dans la chambre de mesure
(13) est détectée par l'intermédiaire d'une fibre optique (251) guidée à travers le
boîtier (11) dans la chambre de mesure (13) et disposée à cet endroit, et en ce que ladite lumière détectée est amenée à un système d'évaluation (261) optique, en particulier
à un spectromètre.
14. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 13, caractérisé en ce qu'une partie du rayonnement d'excitation UV (51) du système d'éclairage UV (41) est
guidée sur un système de mesure de contrôle (91), qui mesure une intensité lumineuse
UV, et en ce que le système de mesure de contrôle (91) est couplé à un système de contrôle (93), qui
compare une intensité lumineuse UV mesurée à une intensité lumineuse UV spécifiée
et qui émet un signal de contrôle quand un écart entre l'intensité lumineuse UV mesurée
et l'intensité lumineuse UV spécifiée supérieure à un seuil de tolérance est détecté.
15. Procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 14, caractérisé en ce que la plage de longueurs d'onde spécifiée comprend des longueurs d'onde comprises entre
190 nm et 1 100 nm, de manière préférée des longueurs d'onde comprises entre 350 nm
et 1 100 nm et idéalement des longueurs d'onde comprises entre 400 nm et 1 100 nm.