VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM MESSEN VON ABLAGERUNGEN IM INNEREN EINES APPARATS UNTER VERWENDUNG VON MIKROWELLENSTRAHLUNG - Patent 2989450

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EP 2 989 450 A1

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(43)	Veröffentlichungstag:
	02.03.2016 Patentblatt 2016/09

(21)	Anmeldenummer: 14720545.4

(22)	Anmeldetag: 22.04.2014

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

G01N 22/00^(2006.01)

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/EP2014/058127

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 2014/173889 (30.10.2014 Gazette 2014/44)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
	Benannte Erstreckungsstaaten:
	BA ME

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Priorität:

23.04.2013 EP 13164853
24.06.2013 EP 13173399

(71)	Anmelder: BASF SE
	67056 Ludwigshafen (DE)

(72)	Erfinder:
	WAGLÖHNER, Steffen 76669 Bad Schönborn (DE) HENNIG, Ingolf 68809 Neulußheim (DE)

(74)	Vertreter: Kudla, Karsten
	Isenbruck Bösl Hörschler LLP Patentanwälte Eastsite One Seckenheimer Landstrasse 4 68163 Mannheim 68163 Mannheim (DE)

(54)	VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM MESSEN VON ABLAGERUNGEN IM INNEREN EINES APPARATS UNTER VERWENDUNG VON MIKROWELLENSTRAHLUNG