(19)
(11) EP 3 175 612 A1

(12)

(43) Date de publication:
07.06.2017  Bulletin  2017/23

(21) Numéro de dépôt: 15742012.6

(22) Date de dépôt:  23.07.2015
(51) Int. Cl.: 
H04N 5/335(2011.01)
H04N 5/374(2011.01)
 H04N 5/372(2011.01)
H04N 5/217(2011.01)
(86) Numéro de dépôt:
PCT/EP2015/066929
(87) Numéro de publication internationale:
WO 2016/016103 (04.02.2016 Gazette  2016/05)
(84) Etats contractants désignés:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Etats d'extension désignés:
BA ME
Etats de validation désignés:
MA

(30) Priorité: 28.07.2014 FR 1457300

(71) Demandeur: E2V Semiconductors
38120 Saint Egrève (FR)

(72) Inventeurs:
  • FEREYRE, Pierre
    F-38340 Voreppe (FR)
  • MOENNE-LOCCOZ, Philippe
    F-38100 Grenoble (FR)

(74) Mandataire: Desvignes, Agnès et al
Marks & Clerk France Immeuble Visium 22, avenue Aristide Briand
94117 Arcueil Cedex
94117 Arcueil Cedex (FR)

   


(54) PROCEDE DE CAPTURE D'IMAGE, A DEFILEMENT ET INTEGRATION DE SIGNAL, CORRIGEANT DES DEFAUTS D'IMAGE DUS A DES PARTICULES COSMIQUES