(19)
(11) EP 3 204 810 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
16.08.2017  Patentblatt  2017/33

(21) Anmeldenummer: 15771601.0

(22) Anmeldetag:  01.10.2015
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/02(2006.01)
G02B 26/02(2006.01)
G02B 21/18(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2015/072658
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2016/055336 (14.04.2016 Gazette  2016/15)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
MA

(30) Priorität: 06.10.2014 DE 102014114468

(71) Anmelder: Leica Microsystems (Schweiz) AG
9435 Heerbrugg (CH)

(72) Erfinder:
  • SCHNITZLER, Harald
    CH-9450 Lüchingen (CH)
  • ZUEST, Reto
    CH-9444 Diepoldsau (CH)

(74) Vertreter: Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB 
Postfach 86 07 48
81634 München
81634 München (DE)

   


(54) MIKROSKOP MIT APERTURBEGRENZER