(19)
(11) EP 3 234 680 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
25.10.2017  Patentblatt  2017/43

(21) Anmeldenummer: 15817826.9

(22) Anmeldetag:  21.12.2015
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/00(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2015/080724
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2016/097399 (23.06.2016 Gazette  2016/25)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
MA MD

(30) Priorität: 19.12.2014 LU 92620

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • FÖLLING, Jonas
    69115 Heidelberg (DE)

(74) Vertreter: Bradl, Joachim 
Leica Microsystems GmbH Corporate Patents + Trademarks Department Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar
35578 Wetzlar (DE)

   


(54) RASTERMIKROSKOP