(19)
(11) EP 3 347 912 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
18.07.2018  Patentblatt  2018/29

(21) Anmeldenummer: 16762828.8

(22) Anmeldetag:  08.09.2016
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
H01J 49/00(2006.01)
H01J 49/14(2006.01)
H01J 49/10(2006.01)
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2016/071225
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2017/042293 (16.03.2017 Gazette  2017/11)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
MA MD

(30) Priorität: 11.09.2015 DE 102015217433

(71) Anmelder: ION-TOF Technologies GmbH
48149 Münster (DE)

(72) Erfinder:
  • MÖLLERS, Dr. Rudolf
    48149 Münster (DE)
  • NIEHUIS, Dr. Ewald
    48149 Münster (DE)

(74) Vertreter: Pfenning, Meinig & Partner mbB 
Patent- und Rechtsanwälte Theresienhöhe 11a
80339 München
80339 München (DE)

   


(54) SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROMETER UND SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROMETRISCHES VERFAHREN