| (84) |
Benannte Vertragsstaaten: |
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AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL
NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR |
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Benannte Erstreckungsstaaten: |
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BA ME |
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Benannte Validierungsstaaten: |
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MA MD |
| (30) |
Priorität: |
07.09.2016 DE 102016116765
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| (71) |
Anmelder: SPECS Surface Nano Analysis GmbH |
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13355 Berlin (DE) |
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| (72) |
Erfinder: |
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- BREITSCHAFT, Martin
13086 Berlin (DE)
- JOHANSSON, Martin
10407 Berlin (DE)
- FUNNEMANN, Dietmar
13187 Berlin (DE)
- KUNZE, Kai
10115 Berlin (DE)
- HAGEN, Sebastian
16515 Oranienburg (DE)
- SCHAFF, Oliver
10439 Berlin (DE)
- KAMPEN, Thorsten
12161 Berlin (DE)
- THISSEN, Andreas
12161 Berlin (DE)
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| (74) |
Vertreter: PATERIS Patentanwälte PartmbB |
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Markgrafenstrasse 22
10117 Berlin
10117 Berlin (DE) |
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