Technisches Gebiet
[0001] Die Erfindung betrifft einen Quecksilberniederdruckstrahler, der ein Entladungsgefäß
mit einer Wandung aus Quarzglas aufweist, in dem ein Füllgas, mindestens zwei Elektroden
und eine Quecksilberquelle eingeschlossen sind.
[0002] Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Betreiben eines Quecksilberniederdruckstrahlers
mit einem Entladungsgefäß mit einer Wandung aus Quarzglas, in dem ein Füllgas, mindestens
zwei Elektroden und eine Quecksilberquelle eingeschlossen sind, und in dem durch Anlegen
einer Lampenspannung eine Gasentladung erzeugt wird.
[0003] Außerdem geht es in der Erfindung um eine Verwendung von Quecksilber-Halogenid im
Entladungsgefäß eines Quecksilberniederdruckstrahlers.
[0004] Quecksilberniederdruckstrahler werden beispielsweise zum Härten, Modifizieren, Beschichten
und Reinigen von Oberflächen, zur Entkeimung von Gasen, Flüssigkeiten, Oberflächen
und Verpackungen, für die UV-Messtechnik, die industrielle Photochemie, die Trocknung
und Härtung von Druckfarben, Lacken, Klebstoffen und Vergussmassen, die Lacktrocknung
und die Analysetechnik eingesetzt.
Stand der Technik
[0005] Quecksilberdampflampen können nach dem typischen Innendruck des Füllgases im Betrieb
in Niederdruck-, Mitteldruck-, Hochdruck und Höchstdrucklampen eingeteilt werden.
Bei Niederdrucklampen (auch als Niederdruckstrahler bezeichnet) liegt der Innendruck
im Betrieb bei weniger als 10 mbar (1000 Pa); bei den anderen Lampentypen liegen die
typischen Innendrücke im Betrieb oberhalb von Atmosphärendruck bis zu 200 bar (etwa
1 bis 20 MPa).
[0006] Eine andere Einteilung richtet sich nach der elektrischen Leistungsaufnahme. Bei
sogenannten "Hochleistungs-Niederdruckstrahlern" beginnt der Bereich der elektrischen
Leistungsaufnahme pro Längeneinheit der Entladungslänge (=Elektrodenabstand) oberhalb
von etwa 0,5 W/cm ("spezifische Leistung").
[0007] Die vorliegende Erfindung betrifft Hochleistungs-Quecksilberdampfniederdruckstrahler.
Ein derartiger Strahler ist beispielsweise in der
DE 100 37 032 A1 beschrieben. Er umfasst einen eine Quecksilberquelle enthaltenden Entladungsraum,
der von einem zylindrischen Kolben aus Quarzglas umschlossen ist, und der an beiden
Enden durch Quetschungen verschlossenen ist. Im Entladungsraum liegen sich Elektroden
gegenüber, deren elektrische Anschlüsse über die Quetschungen aus den Kolbenenden
herausgeführt sind.
[0008] Infolge ihrer hohen Betriebsleistung erreichen die Hochleistungs-Amalgam-Niederdruckstrahler
gegenüber herkömmlichen Quecksilber-Niederdruckstrahlern relativ hohe Betriebstemperaturen
(>100°C), die wiederum zu einem hohen Quecksilberdampfdruck führen. Der für die maximale
Umsetzung der elektrischen Leistung in Ultraviolettstrahlung optimale Dampfdruck liegt
bei etwa 0,8 Pa (für UV-C-Strahlung der Wellenlänge von 254 nm). Eine Quecksilberquelle
aus reinem Quecksilber bewirkt diesen Dampfdruck bereits bei einer Betriebstemperatur
(Oberflächentemperatur des Entladungsgefäßes) von etwa 40 °C. Diese Temperatur stellt
sich ohne Kühlungsmaßnahmen typischerweise bereits bei einer elektrischen Leistungsaufnahme
pro Strahlerlängeneinheit ("spezifische Leistung") von etwa 0,5 W/cm ein.
[0009] Um höhere spezifische Leistungen in einem Quecksilberniederdruckstrahler umsetzen
zu können, muss der Quecksilber-Dampfdruck begrenzt werden. Dafür wird bei bekannten
Typen von Hochleistungsstrahlern mindestens ein Teil des vom Füllgas zugänglichen
Raums auf eine Temperatur gekühlt, die niedriger ist als die Temperatur im eigentlichen
Entladungsraum, so dass dort ein Teil des Quecksilberdampfes kondensiert. Bei einem
anderen Typ von Hochleistungsstrahlern wird alternativ oder ergänzend zur Kühlung
anstelle von reinem Quecksilber eine bei Raumtemperatur feste Quecksilberlegierung
(Amalgam) in den vom Füllgas zugänglichen Raum eingebracht, das typischerweise metallisches
Indium als Legierungsbestandteil enthält. Das feste Quecksilber-Amalgam steht mit
dem Füllgas im thermodynamischen Gleichgewicht und ermöglicht durch seinen im Vergleich
zu reinem Quecksilber niedrigeren Dampfdruck eine Kontrolle des Quecksilber-Dampfdrucks
innerhalb des Entladungsraums, so dass auch bei höheren Temperaturen eine maximale
Strahlungsausbeute erreichbar ist. Damit lassen sich Oberflächentemperaturen von etwa
120°C des Entladungsgefäßes tolerieren, was einen spezifischen Leistungsumsatz von
typischerweise 5 W/cm und mehr ermöglicht.
Technische Aufgabenstellung
[0010] Der Einsatz von Quecksilber-Amalgamen bringt Nachteile mit sich. Amalgamdepots müssen
in der Regel an einer vorgegebenen Stelle im Strahler-Innenraum fixiert werden, der
für das Füllgas zugänglich ist und der auf einer vorgegebenen Temperatur gehalten
werden kann. Diese Stelle wird auch als "cold spot" oder "Goldpunkt" bezeichnet und
es ist auch bekannt, das Amalgamdepot in einer eigens dafür herzustellenden vom Füllgas
zugänglichen Quarzglastasche des Entladungsgefäßes zu fixeren.
[0011] Das Einbringen und Fixieren des Amalgams erfordert einen hohen Zeitaufwand, birgt
die Gefahr von Beschädigungen des Entladungsgefäßes und erhöht die Herstellkosten.
Durch Sauerstoff, der beispielsweise aus oxidischen Verbindungen der Emitterpaste
in den Entladungsraum entweichen kann, werden Komponenten des Amalgams, insbesondere
Indium, im Betrieb oxidiert, so dass sich das Temperaturverhalten des Strahlers allmählich
verändert.
[0012] Um die UV-Emission auf konstantem Niveau zu halten, muss das Amalgamdepot auf einer
vorgegebenen Temperatur gehalten; insbesondere gekühlt werden. Je nach Position des
Amalgamdepots ("cold spot", "Goldpunkt" oder in einer separaten, vom Füllgas zugänglichen
Quarzglastasche) kann sich die Kühlung des Hochleistungsstrahlers aufwändig gestalten.
[0013] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler
bereitzustellen, bei dem der Aufwand für das Einbringen und Positionieren des Amalgamdepots
und andere mit dem Amalgamdepots einhergehende Nachteile zumindest verringert sind
oder sogar ganz entfallen.
[0014] Außerdem liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Betreiben eines
Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahlers anzugeben, bei dem auf das Einbringen
eines Amalgamdepots in den Strahler-Innenraum verzichtet werden kann.
[0015] Außerdem liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine besondere Verwendung von
Quecksilber-Halogenid anzugeben.
Zusammenfassung der Erfindung
[0016] Hinsichtlich des Quecksilberniederdruckstrahlers wird diese Aufgabe ausgehend von
einem Strahler der eingangs genannten Gattung erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass
die Quecksilberquelle ein Quecksilber-Halogenid umfasst.
[0017] In dem Entladungsgefäß befindet sich mindestens ein als Quecksilberquelle dienendes
Quecksilber-Halogenid, insbesondere ionische Verbindungen von zweiwertigem Quecksilber
mit Brom und/oder Jod sowie Mischverbindungen aus Quecksilber mit diesen Halogenen
oder anderen chemischen Elementen, die bei Standardbedingungen (Temperatur: 25 °C;
Druck: 1013 mbar) als Feststoff vorliegen.
[0018] Es hat sich überraschend gezeigt, dass das Temperaturverhalten eines Quecksilber-Amalgam-Niederdruckstrahlers
durch einen Ersatz des Quecksilber-Amalgams durch Quecksilber-Halogenid nur unwesentlich
beeinflusst wird. Das Quecksilber-Halogenid kann daher das ansonsten übliche reine
Quecksilber oder das Quecksilber-Amalgam mindestens zum Teil, vorzugsweise zu mindestens
80 %, bevorzugt zu mindestens 90 % und besonders bevorzugt vollständig substituieren.
Im letztgenannten und besonders bevorzugten Fall enthält das Entladungsgefäß somit
kein Quecksilber-Amalgam, so dass alle damit einhergehenden Nachteile vollständig
entfallen.
[0019] Diese Wirkung kann darauf zurückgeführt werden, dass das Quecksilber-Halogenid in
der Entladungszone in gasförmiges Quecksilber und das Halogen dissoziiert und damit
der Dampfdruck des Halogenids die wirksame Quecksilber-Konzentration in der Entladungszone
beeinflusst. Quecksilber-Halogenid hat aber einen im Vergleich zu reinem Quecksilber
geringeren Dampfdruck, so dass sich selbst bei relativ hoher Temperatur am kältesten
Punkt des Strahlerinnenraums eine geringe Quecksilber-Konzentration einstellt. Insoweit
verhält sich das Quecksilber-Halogenid wie ein Amalgam und ist wie dieses zur temperaturgesteuerten
Einstellung und Kontrolle des Quecksilberdampfdrucks im Entladungsraum geeignet. Das
in der Entladung dissoziierte Quecksilberhalogenid bildet sich erneut an der Wand
oder außerhalb der Entladungssäule an der kühlsten Stelle.
[0020] Andererseits hat Quecksilber-Halogenid im Vergleich zu den Quecksilber-Legierungspartnern
im Amalgam (insbesondere im Vergleich Indium) einen höheren Dampfdruck, so dass es
bei geringer Temperaturerhöhung rasch wieder in die Gasphase gelangt. Dadurch entfällt
die Notwendigkeit, das Quecksilber-Halogenid an einem vorgegebenen Depot örtlich zu
fixieren und zu sammeln, wie dies beim Amalgam der Fall ist, wie etwa am sogenannten
"cold spot" oder "Goldpunkt" beziehungsweise in einer Quarzglastasche.
[0021] Insoweit zeigt das Quecksilber-Halogenid im Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler
qualitativ die gleiche Wirkung wie ein Quecksilberamalgam (temperaturgesteuerte Einstellung
und Kontrolle des Quecksilberdampfdrucks im Entladungsraum), jedoch ohne dessen Nachteile
zu haben.
[0022] Durch den Ersatz von Quecksilber-Amalgam durch Quecksilber-Halogenid ergeben sich
mehrere Wirkungen und Vorteile:
- Die Gefahr der Oxidation von Komponenten aus dem Amalgam entfällt.
- Die Herstellkosten verringern sich, da der Aufwand für das Einbringen und Fixieren
des Amalgams entfällt.
- Im Unterschied zu einem Amalgamdepot erfordert das Quecksilber-Halogenid als Quecksilberquelle
keine feste Position innerhalb des Strahlerinnenraums. Es destilliert an der kältesten
Stelle und destilliert um, falls sich diese Stelle ändert. Der kälteste Punkt im Strahler
kann insoweit frei und variabel gewählt werden, was den Aufwand für eine etwaige Kühlung
verringert.
- Die Menge an Quecksilber im Entladungsgefäß kann in geringer Dosierung mittels vorgefertigter,
handelsüblicher Quecksilber-Halogenid-Pellets eingestellt werden.
[0023] Diese Vorteile stellen sich insbesondere bei einer bevorzugten Ausführungsform ein,
bei der die Quecksilberquelle vollständig aus dem Quecksilber-Halogenid oder aus mehreren
Quecksilber-Halogeniden besteht.
[0024] Besonders bewährt als Quecksilber-Halogenid haben sich Quecksilberjodid und/oder
Quecksilberbromid.
[0025] Quecksilberhalogenide in Form von HgI
2 oder HgBr
2 werden in Quecksilber-Mitteldruck-, -Hochdruck- und -Höchstdruckstrahlern seit langem
eingesetzt. In diesen Strahlertypen, ebenso wie in den sogenannten "Metallhalogenidstrahlern"
und "Halogenstrahlern", ermöglichen diese Halogenide den sogenannten "Wolfram-Halogen-Kreisprozess".
Wolfram ist üblicher Bestandteil der Elektroden der genannten Strahlertypen (beziehungsweise
der Glühwendel von Halogenstrahlern). Die im Betrieb von den heißen Elektroden abdampfenden
Wolframmoleküle schlagen sich an kühleren Stellen des Entladungsgefäßes nieder und
führen zu einer Schwärzung, welche die Lebensdauer des Strahlers begrenzt. Das im
Füllgas enthaltene Halogen kann (zusammen mit Restsauerstoff) mit den verdampften
Wolframatomen reagieren und diese in Gasform stabilisieren. Da die Reaktion reversibel
ist, zerfällt die Verbindung bei einer Temperaturänderung wieder in ihre Elemente,
so dass sich die Wolframatome wieder auf der Elektrode niederschlagen. Der Zusatz
von Halogeniden hat hierbei somit den Zweck, die Schwärzung des Entladungsgefäßes
zu vermindern und dadurch die Lebensdauer der Strahler zu erhöhen.
[0026] Der "Wolfram-Halogen-Kreisprozess" erfordert jedoch hohe Oberflächentemperaturen
des Entladungsgefäßes von mindestens 800°C, die nur bei den genannten Mittel-, Hoch-
und Höchstdruck-Strahlern aber nicht beim bestimmungsgemäßen Einsatz von Niederdruckstrahlern
erreicht werden.
[0027] Das Entladungsgefäß des Quecksilberniederdruckstrahlers der Erfindung besteht aus
Quarzglas. Darunter wird hier ein Glas mit einem SiO
2-Gehalt von mindestens 97 Gew.-%, vorzugsweise von mindestens 99 Gew.-% und besonders
bevorzugt von mindestens 99,9 Gew.-% verstanden. Der Alkali-Anteil des Quarzglases
ist sehr gering und beträgt weniger als 500 Gew.-ppm. Quarzglas ist vergleichsweise
teuer, so dass auch Entladungsgefäße aus anderen Glasarten eingesetzt werden, beispielsweise
solche aus "Borosilikatglas". Diese Glasart enthält typischerweise einen Alkaligehalt
im Prozentbereich. Allerdings können die Alkalien im Betrieb des Strahlers zu einer
schnellen Alterung der Glasoberfläche und in Verbindung mit Quecksilber zu schwärzlichen
Ablagerungen führen. Durch Zugabe von Quecksilber-Halogeniden in Form von HgI
2 beziehungsweise HgBr
2 können an der Oberfläche des Entladungsgefäßes anliegende Alkali-Ionen durch eine
Reaktion mit Halogenen passiviert und dadurch der Degradationsprozess beim Entladungsgefäß
aus Borosilikatglas verlangsamt werden. Die Zugabe der Halogenide hat hierbei somit
den Zweck, zu einer Verlangsamung der Alterung und Schwärzung der Glasoberfläche beizutragen
und dadurch die Lebensdauer von Quecksilberdampflampen mit einem Entladungsgefäß aus
Borosilikatglas zu erhöhen.
[0028] Bei einem Quecksilber-Dampfdruck (p
Hg) von etwa 0,8 Pa ergibt sich ein Maximum der Effizienz (η) für Strahlung mit der
Wellenlänge von 254nm (η =100%). Im Druckbereich zwischen 3 Pa >= p
Hg >= 0,3 Pa ergibt sich eine relative Effizienz η
rel von mindestens 90%.
[0029] Im Hinblick darauf ist die Quecksilbermenge im Entladungsraum des Quecksilberniederdruckstrahlers
daher vorzugsweise so bemessen, dass sich im Betrieb ein Quecksilberdampfdruck im
Bereich von 0,3 Pa bis 3 Pa einstellt.
[0030] Beispielsweise zeigt Quecksilber(II)-Jodid (HgI
2) einen Dampfdruck von 0,8 Pa bei 77°C und HgBr
2 hat diesen Dampfdruck bei 63°C. Der Temperaturbereich, in dem die relative Effizienz
η
rel für Strahlung mit der Wellenlänge von 254nm mindestens 90 % beträgt, liegt im Fall
von HgI
2 zwischen 65°C und 95°C und im Fall von HgBr
2 zwischen 29°C und 79°C.
[0031] Ein Dampfdruck im Druckbereich zwischen 3 Pa >= p
Hg >= 0,3 Pa stellt sich beispielsweise im Fall von Quecksilberjodid ein, wenn die HgI
2-Konzentration in der Gasphase im Bereich von 0,21x10
-4 bis 1,97x10
-4 mg/cm
3 liegt.
[0032] In der Regel liegt im Betrieb des Quecksilberniederdruckstrahlers ein Teil des Quecksilber-Halogenids
in Dampfform und ein anderer Teil liegt als Feststoff vor. Bei einer besonders bevorzugten
Ausführungsform des Quecksilberniederdruckstrahlers weist das Entladungsgefäß ein
Strahlerinnenraum-Volumen auf, wobei das Quecksilber-Halogenid, insbesondere Quecksilberjodid,
im Strahlerinnenraum bezogen auf das Strahlerinnenraum-Volumen in einer Menge zwischen
0,0001 bis 0,003 mg/cm
3, vorzugsweise zwischen 0,0005 bis 0,001 mg/cm
3 enthalten ist.
[0033] Bei einer Menge von weniger als 0,0001 mg/cm
3 kann die verdampfbare Quecksilbermenge so gering sein, dass sich ein Quecksilber-Dampfdruck
im bevorzugten Druckbereich von 3 Pa >= p
Hg >= 0,3 Pa und insbesondere von 0,8 Pa nicht einstellt, beziehungsweise es ist ergänzend
eine weitere Quecksilberquelle erforderlich, um einen hinreichend hohen Quecksilber-Parteiladruck
in der Entladung zu erzeugen. Und bei einer Menge von mehr als 0,001 mg/cm
3 ist die Menge an umweltschädlichem Quecksilber im Entladungsgefäß unnötig hoch.
[0034] Hinsichtlich des Verfahrens zum Betreiben eines Quecksilberniederdruckstrahlers wird
die oben angegebene Aufgabe ausgehend von einem Verfahren der eingangs genannten Gattung
erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass als Quecksilberquelle ein Quecksilber-Halogenid,
insbesondere Quecksilberjodid, eingesetzt wird.
[0035] Das erfindungsgemäße Verfahren ist unter Einsatz des erfindungsgemäßen Quecksilberniederdruckstrahlers
durchführbar. Die diesbezüglichen obigen Erläuterungen gelten auch für das Verfahren
unter Einsatz des Quecksilberniederdruckstrahlers.
[0036] Das als Quecksilberquelle dienende Quecksilber-Halogenid ersetzt das Amalgam im Entladungsgefäß
des Quecksilberniederdruckstrahlers teilweise und vorzugsweise vollständig. Denn es
hat sich überraschend gezeigt, dass das Temperaturverhalten eines Quecksilber-Amalgam-Niederdruckstrahlers
durch einen Ersatz des Quecksilber-Amalgams durch Quecksilber-Halogenid nur unwesentlich
beeinflusst wird. Das Quecksilber-Halogenid kann daher das ansonsten übliche reine
Quecksilber oder das Quecksilber-Amalgam mindestens zum Teil, vorzugsweise zu mindestens
80 %, bevorzugt zu mindestens 90 % und besonders bevorzugt vollständig substituieren.
Im letztgenannten und besonders bevorzugten Fall enthält das Entladungsgefäß somit
kein Quecksilber-Amalgam, so dass alle damit einhergehenden Nachteile vollständig
entfallen.
[0037] Diese Wirkung kann darauf zurückgeführt werden, dass das Quecksilber-Halogenid in
der Entladungszone in gasförmiges Quecksilber und das Halogen dissoziiert und damit
der Dampfdruck des Halogenids die wirksame Quecksilber-Konzentration in der Entladungszone
beeinflusst. Quecksilber-Halogenid hat aber einen im Vergleich zu reinem Quecksilber
geringeren Dampfdruck, so dass sich selbst bei relativ hoher Temperatur am kältesten
Punkt des Strahlerinnenraums eine geringe Quecksilber-Konzentration einstellt. Insoweit
verhält sich Quecksilber-Halogenid wie ein Amalgam und ist wie dieses zur temperaturgesteuerten
Einstellung und Kontrolle des Quecksilberdampfdrucks im Entladungsraum geeignet. Das
in der Entladung dissoziierte Quecksilberhalogenid bildet sich erneut an der Wand
oder außerhalb der Entladungssäule an der kühlsten Stelle.
[0038] Andererseits hat Quecksilber-Halogenid im Vergleich zu den Quecksilber-Legierungspartnern
im Amalgam (insbesondere im Vergleich Indium) einen höheren Dampfdruck, so dass es
bei geringer Temperaturerhöhung rasch wieder in die Gasphase gelangt. Dadurch entfällt
die Notwendigkeit, das Quecksilber-Halogenid an einem vorgegebenen Depot örtlich zu
fixieren und zu sammeln, wie dies beim Amalgam der Fall ist, wie etwa am sogenannten
"cold spot" oder "Goldpunkt" beziehungsweise in einer Quarzglastasche.
[0039] Insoweit zeigt das Quecksilber-Halogenid im Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler
qualitativ die gleiche Wirkung wie ein Quecksilberamalgam (temperaturgesteuerte Einstellung
und Kontrolle des Quecksilberdampfdrucks im Entladungsraum), jedoch ohne dessen Nachteile
zu haben.
[0040] Durch den Ersatz von Quecksilber-Amalgam durch Quecksilber-Halogenid ergeben sich
mehrere Wirkungen und Vorteile:
- Die Gefahr der Oxidation von Komponenten aus dem Amalgam entfällt.
- Die Herstellkosten verringern sich, da der Aufwand für das Einbringen und Fixieren
des Amalgams entfällt.
- Im Unterschied zu einem Amalgamdepot erfordert das Quecksilber-Halogenid als Quecksilberquelle
keine feste Position innerhalb des Strahlerinnenraums. Es destilliert an der kältesten
Stelle und destilliert um, falls sich diese Stelle ändert. Der kälteste Punkt im Strahler
kann insoweit frei und variabel gewählt werden, was den Aufwand für eine etwaige Kühlung
verringert.
- Die Menge an Quecksilber im Entladungsgefäß kann in geringer Dosierung mittels vorgefertigter,
handelsüblicher Quecksilber-Halogenid-Pellets eingestellt werden.
[0041] Diese Vorteile stellen sich insbesondere bei einer bevorzugten Verfahrensweise ein,
bei der die Quecksilberquelle vollständig aus dem Quecksilber-Halogenid oder aus mehreren
Quecksilber-Halogeniden besteht. Besonders bevorzug werden Quecksilberjodid und/oder
Quecksilberbromid als Quecksilber-Halogenid eingesetzt.
[0042] Bei einem Quecksilber-Dampfdruck (p
Hg) von etwa 0,8 Pa ergibt sich ein Maximum der Effizienz (η) für Strahlung mit der
Wellenlänge von 254nm (η =100%). Im Druckbereich zwischen 3 Pa >= p
Hg >= 0,3 Pa ergibt sich eine relative Effizienz η
rel von mindestens 90%.
[0043] Im Hinblick darauf ist die Quecksilbermenge im Entladungsraum des Quecksilberniederdruckstrahlers
daher vorzugsweise so bemessen, dass sich im Betrieb ein Quecksilberdampfdruck im
Bereich von 0,3 Pa bis 3 Pa einstellt.
[0044] Der sich einstellende Quecksilber-Dampfdruck hängt vom Dampfdruck des Halogenids
und der Temperatur an der kühlsten Stelle des Entladungsgefäßes ab. Beispielsweise
zeigt Quecksilber(II)-Jodid (HgI
2) einen Dampfdruck von 0,8 Pa bei 77°C und HgBr
2 hat diesen Dampfdruck bei 63°C. Der Temperaturbereich, in dem die relative Effizienz
η
rel für Strahlung mit der Wellenlänge von 254nm mindestens 90 % beträgt, liegt im Fall
von Hgl
2 zwischen 65°C und 95°C und im Fall von HgBr
2 zwischen 29°C und 79°C.
[0045] Wird Quecksilberjodid (HgI
2) als Quecksilberquelle eingesetzt, so hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn
ein Oberflächenbereich des Entladungsgefäßes im Betrieb auf einer Temperatur von maximal
95°C, vorzugsweise maximal 77°C gehalten wird.
[0046] Wird Quecksilberbromid (HgBr
2) als Quecksilberquelle eingesetzt wird, so hat es sich als vorteilhaft erwiesen,
wenn ein Oberflächenbereich des Entladungsgefäßes im Betrieb auf einer Temperatur
von maximal 79°C, vorzugsweise maximal 63°C gehalten wird.
[0047] Der Oberflächenbereich entspricht der kühlsten Stelle im Entladungsgefäß. Zur Einhaltung
der vorteilhaften Temperatur im Oberflächenbereich kann eine Kühlung vorgesehen sein.
Durch die Einhaltung der vorgegebenen Temperatur ist die Quecksilber-Konzentration
in der Entladungszone auf einen vorgegebenen Wert kontrolliert einstellbar, bei dem
sich ein maximale UV-Emission ergibt.
[0048] In der Regel liegt im Betrieb des Quecksilberniederdruckstrahlers ein Teil des Quecksilber-Halogenids
in Dampfform, und ein anderer Teil liegt als Feststoff vor. Bei einer besonders bevorzugten
Ausführungsform des Quecksilberniederdruckstrahlers weist das Entladungsgefäß ein
Strahlerinnenraum-Volumen auf, wobei das Quecksilber-Halogenid, insbesondere Quecksilberjodid,
im Strahlerinnenraum bezogen auf das Strahlerinnenraum-Volumen in einer Menge zwischen
0,0001 bis 0,003 mg/cm
3, vorzugsweise zwischen 0,0005 bis 0,001 mg/cm
3 enthalten ist.
[0049] Bei einer Menge von weniger als 0,0001 mg/cm
3 kann die verdampfbare Quecksilbermenge so gering sein, dass sich ein Quecksilber-Dampfdruck
im bevorzugten Druckbereich von 3 Pa >= p
Hg >= 0,3 Pa und insbesondere von 0,8 Pa nicht einstellt, beziehungsweise es ist ergänzend
eine weitere Quecksilberquelle erforderlich, um einen hinreichend hohen Quecksilber-Parteiladruck
in der Entladung zu erzeugen. Und bei einer Menge von mehr als 0,001 mg/cm
3 ist die Menge an umweltschädlichem Quecksilber im Entladungsgefäß unnötig hoch.
[0050] Hinsichtlich der Verwendung von Quecksilber-Halogenid ist erfindungsgemäß vorgesehen,
dass es als Quecksilberquelle in einem Entladungsgefäß eines Quecksilberniederdruckstrahlers
zum Zweck der Kontrolle des Quecksilber-Dampfdrucks im Entladungsgefäß eingesetzt
wird.
[0051] In der von den Elektroden bestimmten Entladungszone dissoziiert das Quecksilber-Halogenid
in gasförmiges Quecksilber und Halogen und bestimmt maßgeblich die für den Dampfdruck
des Halogenids wirksame Quecksilber-Konzentration in der Entladungszone. Da das Quecksilber-Halogenid
einen im Vergleich zu reinem Quecksilber geringen Dampfdruck hat, ist es zur temperaturgesteuerten
Einstellung und Kontrolle des Quecksilberdampfdrucks geeignet. Insoweit zeigt das
Quecksilber-Halogenid im Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler qualitativ die
gleiche Wirkung wie ein Quecksilberamalgam, jedoch ohne dessen Nachteile zu haben.
[0052] Das Quecksilber-Halogenid ist daher zur teilweisen, vorzugsweise vollständigen Substitution
von Quecksilber-Amalgam geeignet. Es hat sich insbesondere gezeigt, dass das Temperaturverhalten
eines Quecksilber-Amalgam-Niederdruckstrahlers durch einen teilweisen und insbesondere
vollständigen Ersatz des Quecksilber-Amalgams durch Quecksilber-Halogenid nur unwesentlich
beeinflusst wird.
[0053] Die Wirkung als Quecksilber-Quelle zur Einstellung des Quecksilberdampfdrucks im
Entladungsgefäß von Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahlern ist bisher nicht
bekannt. Bisher werden Quecksilber-Halogenide in Form von HgI
2 oder HgBr
2 in Quecksilber-Mitteldruck-, -Hochdruck- und -Höchstdruckstrahlern zugesetzt, um
den sogenannten "Wolfram-Halogen-Kreisprozess" zu ermöglichen, indem die Halogene
mit den im Betrieb von den heißen Elektroden abdampfenden Wolframmolekülen reagieren
und diese in Gasform stabilisieren. Der Zusatz von Halogeniden hat hierbei somit den
Zweck, die Schwärzung des Entladungsgefäßes zu vermindern und dadurch die Lebensdauer
der Strahler zu erhöhen. Ein ähnlicher Zweck wird auch durch den Zusatz von Quecksilber-Halogenid
zum Füllgas von Quecksilberdampflampen mit einem Entladungsgefäß aus Borosilikatglas
verfolgt. Das Halogen hat hier die Wirkung, dass es die in diesem Glas enthaltenen
Alkalien passiviert, die ansonsten in Verbindung mit Quecksilber zu schwärzlichen
Ablagerungen und zu einer Begrenzung der Lebensdauer der Strahler führen würden.
[0054] Quecksilber-Halogenide sind insbesondere ionische Verbindungen von zweiwertigem Quecksilber
mit Brom und/oder Jod sowie Mischverbindungen aus Quecksilber mit diesen Halogenen
oder anderen chemischen Elementen, die bei Standardbedingungen (Temperatur: 25 °C;
Druck: 1013 mbar) als Feststoff vorliegen.
Definitionen
[0055] Einzelne Begriffe der obigen Beschreibung werden im Folgenden ergänzend definiert.
Die Definitionen sind Bestandteil der Beschreibung der Erfindung. Bei einem Widerspruch
zwischen einer der folgenden Definitionen und der übrigen Beschreibung ist das in
der Beschreibung Gesagte maßgeblich.
Hochleistungs-Quecksilberdampfniederdruckstrahler
[0056] Bei Quecksilberniederdruckstrahlern beträgt der Innendruck im Entladungsgefäß im
Betrieb weniger als 10 mbar. Bei Hochleistungsstrahlern beginnt der Bereich der "spezifischen
Leistung" oberhalb von etwa 0,5 W/cm. Die spezifische Leistung ergibt sich als Quotient
aus der elektrischen Leistungsaufnahme und der Entladungslänge. Die Entladungslänge
entspricht dem Elektrodenabstand.
Entladungsraum
[0057] Als Entladungsraum wird ein Raum zwischen den Elektroden verstanden, in dem im Betrieb
die elektrische Gasentladung abläuft.
Strahlerinnenraum
[0058] Als Strahlerinnenraum wird das gesamte vom Entladungsgefäß umschlossene Volumen verstanden,
das dem Füllgas des Quecksilberniederdruckstrahlers zugänglich ist.
Ausführungsbeispiel
[0059] Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels und einer Zeichnung
näher erläutert. Im Einzelnen zeigt
- Figur 1
- eine Ausführungsform eines Quecksilberniederdruckstrahlers in schematischer Darstellung,
- Figur 2
- ein Diagramm zur Temperaturabhängigkeit des Dampfdrucks von gasförmigem Quecksilber
über flüssigem Quecksilber, von gasförmigem Quecksilberjodid (HgI2) über festem Quecksilberjodid, und von gasförmigem Quecksilberbromid (HgBr2) über festem Quecksilberbromid, und
- Figur 3
- ein Diagramm zum Verlauf der UVC-Emission in Abhängigkeit von der Intensität einer
Kühlung Entladungsgefäß-Oberfläche.
[0060] Der in
Figur 1 schematisch gezeigte Quecksilberniederdruckstrahler 1 besteht aus einem Leuchtrohr
2 aus Quarzglas, das an seinen Enden mit Quetschungen 3 verschlossen ist, in die Molybdänfolien
4 sowie die Enden von Anschlussdrähten zu wendelförmigen Elektroden 5 eingeschmolzen
sind. Die Elektroden 5 weisen hierzu "Beinchen" 6 auf, die mit der Molybdänfolie 4
verbunden sind. Zwischen den Elektroden 5 wird im Betrieb ein Lichtbogen im Strahlerinnenraum
7 erzeugt.
[0061] Im Strahlerinnenraum 7 befindet sich ein Pellet 8 aus Quecksilberjodid (HgI
2) mit einem Gewicht von 0,5 mg (entsprechend 0,22 mg Hg) und Neon mit einem Druck
von 3 mbar als Füllgas. Das Leuchtrohr 2 ermöglicht eine Entladungslänge von 57 cm
und hat einen Innendurchmesser von 35 mm. Das dem Füllgas zugängliche Innenvolumen
beträgt 600 cm
3. Pro Kubikzentimeter an Strahlerinnenraum-Volumen beträgt die Masse an Quecksilberjodid
im Strahlerinnenraum 7 somit etwa 0,0008 mg.
[0062] Die Stromversorgung des Quecksilberniederdruckstrahlers 1 umfasst einen ersten Stromkreis
A, der zum Anlegen des Lampenstroms dient (Lampenstromkreis) und einen zweiten Stromkreis
B, der zum Beheizen der Elektroden 5 dient ("Heizstromstromkreis"). Die Nominal-Leistung
des Quecksilberniederdruckstrahlers 1 beträgt 400 W (bei einem Lampenstrom von 9,7
A), so dass der Quecksilberniederdruckstrahler 1 eine maximale Leistungsdichte von
etwa 7 W/cm erreicht.
[0063] Im Diagramm von
Figur 2 ist der Verlauf des sich einstellenden Hg-Partialdrucks p (in Pa) über einer flüssigen
Hg-Oberfläche, der HgI
2-Partialdruck über einer festen HgI
2-Oberfläche und der HgBr
2-Partialdruck über einer festen HgBr
2-Oberfläche in Abhängigkeit von der absoluten Temperatur T (in K) (T[K]=273,15+T[°C])
dargestellt.
[0064] Im Lichtbogen dissoziiert das gasförmige HgI
2(g) in Quecksilber und Jod. Der HgI
2-Dampfdruck definiert somit die erreichbare Hg-Konzentration im Lichtbogen. Bei einer
Temperatur von etwa 350°K (etwa 77°C) stellt sich über dem festen HgJ
2 in der Entladungszone ein Quecksilberdampfdruck von etwa 0,8 Pa ein, der zu einem
Maximum der UV-Emission bei der Wellenlänge von 254 nm führt (Effizienz η =100%).
Bei einer Temperatur von etwa 368°K (etwa 95°C) stellt sich in der Entladungszone
ein Quecksilberdampfdruck von etwa 3 Pa ein, bei dem sich immer noch eine relative
Effizienz η
rel von 90% ergibt.
[0065] Daher wird ein Oberflächenbereich 9 des Entladungsgefäßes 2 im Betrieb auf einer
Oberflächentemperatur um 77°C gehalten. Der Oberflächenbereich 9 repräsentiert beliebige
Oberflächen des Entladungsgefäßes 2 mit Kontakt zum Füllgas. Aufgrund des geringen
Dampfdrucks für Temperaturen bis 95°C, insbesondere bis 77° kann HgI
2 anstelle von Hochtemperatur-Amalgam ohne signifikanten UV-C-Verlust eingesetzt werden.
[0066] Zur Messung der vom Quecksilberniederdruckstrahler 1 emittierten UV-C-Strahlungsintensität
in Abhängigkeit von der Temperatur des Leuchtrohres 2 wird der Strahler in eine von
einem Kühlluftstrom durchströmbare Kammer eingesetzt, die ein Strahlungsaustrittsfenster
aufweist. Die Kühlluft dient zur Kühlung und Temperierung des Strahlers. Die Geschwindigkeit
des Kühlluftstroms ist ein Maß für die Oberflächentemperatur des Leuchtrohres 2 im
Bereich 9.
[0067] Im Diagramm von
Figur 3 ist die am Strahlungsaustrittsfenster gemessene Intensität I (in beliebiger Einheit
"a.u.") der vom Quecksilberniederdruckstrahler 1 emittierten UV-C-Strahlung (bei 254
nm) gegen die Strömungsgeschwindigkeit v der Kühlluft (in m/s) im Vergleich zu einem
handelsüblichen Amalgamstrahler gleicher Geometrie aufgetragen. Dieser enthält Neon
mit einem Druck von 3 mbar als Füllgas und ein Amalgamdepot mit einem Gewicht von
200 mg, bestehend aus einer Quecksilber-Indium-Legierung mit einem Gewichtsverhältnis
von Hg:ln von 1:10. Die Quecksilbermasse im Amalgamdepot beträgt somit 18,18 mg. Das
ist das 82,6-fache der Quecksilbermasse im HgI
2-Pellet des erfindungsgemäßen Strahlers.
[0068] Bei beiden Strahlertypen nimmt die Intensität der UV-C-Emission mit der Geschwindigkeit
der Kühlluftströmung zu. Der erfindungsgemäße Quecksilberniederdruckstrahler zeigt
eine etwas geringere Temperatur-Abhängigkeit der UV-C-Intensität als der handelsübliche
amalgamhaltige Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler; die Kurvenverläufe sind
aber im Großen und Ganzen vergleichbar. Daher kann HgI
2 anstelle von Hochtemperatur-Amalgam als Quecksilberquelle ohne signifikanten UV-C-Verlust
eingesetzt werden.
[0069] Bei einem anderen Ausführungsbeispiel des Quecksilberniederdruckstrahlers ist anstelle
von Hochtemperatur-Amalgam als Quecksilberquelle eine HgBr
2-Dosierung vorgesehen. In Tabelle 1 sind die wesentlichen Angaben zu den beiden genannten
Ausführungsbeispielen im Vergleich zu dem oben beschriebenen, handelsüblichen Amalgamstrahler
zusammengefasst.
Tabelle 1
| |
HgI2 |
HgBr2 |
Amalgam |
| Oberflächen-Temperatur des Entladungsgefäßes [°C] |
77 |
63 |
120 |
| Quecksilberpartialdruck [Pa] |
0,8 |
0,8 |
0,8 |
| Gewicht von Pellet / Depot [mg] |
0,5 |
0,5 |
200 |
| davon Quecksilber [mg] |
0,22 |
0,28 |
18,2 |
| Pelletgewicht pro Strahlerinnenraumvolumen [mg/cm3] |
0,00083 |
0,00083 |
0,33 |
| Quecksilbergewicht pro Strahlerinnenraumvolumen [mg/cm3] |
0,00037 |
0,00047 |
0,03 |
| Spezifische Leistung [W/cm] |
7 |
7 |
7 |
| Füllgasdruck (Neon) [mbar] |
3 |
3 |
3 |
1. Quecksilberniederdruckstrahler, der ein Entladungsgefäß (2) mit einer Wandung aus
Quarzglas aufweist, in dem ein Füllgas, mindestens zwei Elektroden (5) und eine Quecksilberquelle
(8) eingeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Quecksilberquelle ein Quecksilber-Halogenid (8) umfasst.
2. Quecksilberniederdruckstrahler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Quecksilber-Halogenid (8) Quecksilberjodid und/oder Quecksilberbromid ist.
3. Quecksilberniederdruckstrahler nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Quecksilberquelle aus dem Quecksilber-Halogenid (8) oder aus mehreren Quecksilber-Halogeniden
besteht.
4. Quecksilberniederdruckstrahler nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Quecksilberquelle aus metallischem Quecksilber und dem Quecksilber-Halogenid
(8) oder aus mehreren Quecksilber-Halogeniden besteht.
5. Quecksilberniederdruckstrahler nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Quecksilbermenge im Entladungsgefäß so bemessen ist, dass sich im Betrieb ein
Quecksilberdampfdruck im Bereich von 0,3 bis 3 Pa einstellt.
6. Quecksilberniederdruckstrahler nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Entladungsgefäß (2) ein Strahlerinnenraum-Volumen aufweist, und dass das Quecksilber-Halogenid
(8) bezogen auf das Strahlerinnenraum-Volumen in einer Menge zwischen 0,0001 bis 0,003
mg/cm3, vorzugsweise zwischen 0,0005 bis 0,001 mg/cm3 enthalten ist.
7. Verfahren zum Betreiben eines Quecksilberniederdruckstrahlers mit einem Entladungsgefäß
(2) mit einer Wandung aus Quarzglas, in dem ein Füllgas, mindestens zwei Elektroden
(5) und eine Quecksilberquelle (8) eingeschlossen sind, und in dem durch Anlegen einer
Lampenspannung eine Gasentladung erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass als Quecksilberquelle ein Quecksilber-Halogenid (8) eingesetzt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass als Quecksilber-Halogenid (8) Quecksilberjodid und/oder Quecksilberbromid eingesetzt
wird.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass sich im Betrieb ein Quecksilberdampfdruck im Bereich von 0,3 Pa bis 3 Pa einstellt.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass Quecksilberjodid (HgI2) als Quecksilberquelle eingesetzt wird, und dass ein Oberflächenbereich (9) des Entladungsgefäßes
(2) im Betrieb auf einer Temperatur von maximal 95°C, vorzugsweise maximal 77°C gehalten
wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass Quecksilberbromid (HgBr2) als Quecksilberquelle eingesetzt wird, und dass ein Oberflächenbereich (9) des Entladungsgefäßes
(2) im Betrieb auf einer Temperatur von maximal 79°C, vorzugsweise maximal 63°C gehalten
wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Entladungsgefäß (2) ein Strahlerinnenraum-Volumen aufweist, und dass das Quecksilber-Halogenid
(8) bezogen auf das Strahlerinnenraum-Volumen in einer Menge zwischen 0,0001 bis 0,003
mg/cm3, vorzugsweise zwischen 0,0005 bis 0,001 mg/cm3 im Entladungsgefäß (2) enthalten ist.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektroden (5) eine Entladungslänge definieren und dass die Lampenspannung so
eingestellt wird, dass sich eine auf die Entladungslänge bezogene spezifische Leistung
von mindestens 5 W/cm einstellt.
14. Verwendung von Quecksilber-Halogenid (8) als Quecksilberquelle in einem Entladungsgefäß
(2) eines Quecksilberniederdruckstrahlers (1) zum Zweck der Kontrolle des Quecksilber-Dampfdrucks
im Entladungsgefäß (2).
15. Verwendung des Quecksilber-Halogenids (8) nach Anspruch 14 als Substitut für ein Quecksilberamalgamdepot
in einem Hochleistungs-Quecksilberniederdruckstrahler (1).