(19)
(11) EP 3 875 990 B8

(12) KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFT
Hinweis: Bibliographie entspricht dem neuesten Stand

(15) Korrekturinformation:
Korrigierte Fassung Nr.  1 (W1 B1)

(48) Corrigendum ausgegeben am:
27.09.2023  Patentblatt  2023/39

(45) Hinweis auf die Patenterteilung:
16.08.2023  Patentblatt  2023/33

(21) Anmeldenummer: 21159835.4

(22) Anmeldetag:  01.03.2021
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01S 17/89(2020.01)
 B66F 9/075(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
B66F 9/0755; G01S 17/89; G01S 17/931; G01S 17/88; G01S 17/42; B66F 9/127; B66F 9/149

(54)

SYSTEM ZUR INSPEKTION EINES LAGERS

WAREHOUSE INSPECTION SYSTEM

SYSTÈME D'INSPECTION D'UN DÉPÔT

(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

(30) Priorität: 04.03.2020 DE 102020105804

(43) Veröffentlichungstag der Anmeldung:
08.09.2021  Patentblatt  2021/36

(73) Patentinhaber: Jungheinrich Aktiengesellschaft
22047 Hamburg (DE)

(72) Erfinder:
  • Bistry, Hannes
    25421 Pinneberg (DE)
  • Wetegrove, Ralf
    22850 Norderstedt (DE)
  • Richter, Maximilian
    22417 Hamburg (DE)

(74) Vertreter: Weickmann & Weickmann PartmbB 
Postfach 860 820
81635 München
81635 München (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
WO-A1-2019/141929
US-B2- 8 655 588
 US-A1- 2018 155 169
   
  • DANIEL HUBER ET AL: "Using laser scanners for modeling and analysis in architecture, engineering, and construction", INFORMATION SCIENCES AND SYSTEMS (CISS), 2010 44TH ANNUAL CONFERENCE ON, IEEE, PISCATAWAY, NJ, USA, 17. März 2010 (2010-03-17), Seiten 1-6, XP031676435, ISBN: 978-1-4244-7416-5
   
Anmerkung: Innerhalb von neun Monaten nach der Bekanntmachung des Hinweises auf die Erteilung des europäischen Patents kann jedermann beim Europäischen Patentamt gegen das erteilte europäischen Patent Einspruch einlegen. Der Einspruch ist schriftlich einzureichen und zu begründen. Er gilt erst als eingelegt, wenn die Einspruchsgebühr entrichtet worden ist. (Art. 99(1) Europäisches Patentübereinkommen).