(19)
(11) EP 3 881 119 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
22.09.2021  Patentblatt  2021/38

(21) Anmeldenummer: 19813416.5

(22) Anmeldetag:  12.11.2019
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/26(2006.01)
G02B 21/36(2006.01)
 G02B 21/00(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G02B 21/0088; G02B 21/26; G02B 21/365
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2019/080926
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2020/099353 (22.05.2020 Gazette  2020/21)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 12.11.2018 DE 102018128281

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • BRAUN, Jan
    35305 Grünberg (DE)

(74) Vertreter: Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB 
Postfach 86 07 48
81634 München
81634 München (DE)

   


(54) MIKROSKOPSYSTEM UND VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE