[0001] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Aufschneiden von Lebensmittelprodukten,
insbesondere einen Hochleistungs-Slicer, mit einem Arbeitsbereich, der einen Schneidbereich
sowie einen Transportbereich mit einer Produktzufuhr umfasst, wobei die Produktzufuhr
aufzuschneidende Produkte dem Schneidbereich einspurig oder mehrspurig zuführt und
am Ende des Schneidbereichs sich in einer Schneidebene ein Schneidmesser, insbesondere
rotierend und/oder umlaufend, bewegt.
[0002] Derartige Aufschneidevorrichtungen, die auch einfach als Slicer bezeichnet werden,
sind grundsätzlich bekannt. Beispielsweise mit planetenartig umlaufenden und zusätzlich
rotierenden Kreismessern oder mit lediglich rotierenden Sichelmessern, die im Betrieb
Drehzahlen von mehreren 100 bis einige 1000 Umdrehungen pro Minute aufweisen, werden
bei konstanter Schneidfrequenz von den Lebensmittelprodukten Scheiben abgetrennt.
In der Praxis ist es in vielen Anwendungen wünschenswert, dass entweder die einzelnen
Scheiben oder aus einer Mehrzahl von Scheiben gebildete Portionen ein vorgegebenes
Gewicht aufweisen. Da die Schneidfrequenz konstant ist, wird vorzugsweise auf das
Gewicht der einzelnen Scheiben dadurch Einfluss genommen, dass die Dicke der Scheiben
variiert wird. Dies erfolgt durch eine entsprechende Steuerung der Produktzufuhr:
je weiter das Produkt zwischen zwei aufeinanderfolgenden Schnitten des Messers über
die Schneidebene hinaus vorgeschoben wird, desto größer ist die Dicke der anschließend
abgetrennten Produktscheibe. Dabei ist die Scheibendicke nur ein Parameter, der das
Gewicht der betreffenden Scheibe bestimmt. Das Scheibengewicht ist durch das Scheibenvolumen
und durch die durchschnittliche Dichte der Scheibe bestimmt, wobei sich das Scheibenvolumen
aus der Scheibendicke und der Außenflächenkontur der Scheibe ergibt. Aus dem vor dem
Aufschneiden mittels einer Waage bestimmten Gesamtgewicht des Produktes und aus dem
durch die Außenflächenkontur des gesamten Produktes bestimmten Gesamtvolumen des Produktes
kann dessen durchschnittliche Dichte bestimmt werden.
[0003] Wenn gewichtskonstante Produktscheiben oder Portionen von Produktscheiben erhalten
werden sollen, sind hierfür also Kenntnisse über die äußere Kontur der aufzuschneidenden
Produkte erforderlich. Die Kontur wird auch als Profil bezeichnet.
[0004] Die vorstehend erläuterten Zusammenhänge sowie sogenannte Produktscanner, die zum
Erfassen der äußeren Kontur von aufzuschneidenden Lebensmittelprodukten dienen, sind
dem Fachmann grundsätzlich bekannt. Rein beispielhaft wird hierzu auf
DE 196 04 254 A,
WO 2000/062983 A,
EP 2 644 337 A sowie
DE 10 2009 036 682 A verwiesen.
[0005] In der Praxis handelt es sich bei den Produktscannern in der Regel um separate Maschinen,
die jeweils als Bestandteil einer gesamten Produktionslinie dem Slicer vorgelagert
sind. Die Produkte durchlaufen dabei ein tunnelartiges Scan-Gehäuse, in welchem die
äußere Produktkontur durch Abtasten erfasst wird. Die für die Abtastung verwendeten
elektrischen und elektronischen bzw. optoelektronischen Einrichtungen sind dabei innerhalb
des Scan-Gehäuses vergleichsweise offen und ungeschützt angeordnet. Dies ist möglich,
da aufgrund des umgebenden Scan-Gehäuses auch Laserstrahlung einer höheren Schutzklasse
zum Einsatz kommen kann. Zudem ist es nicht erforderlich, das Innere des Scan-Gehäuses
einer Hochdruck- bzw. Dampfstrahlreinigung zu unterziehen, weshalb die elektrischen
bzw. elektronischen Geräte keinen besonders hohen Anforderungen an die Schutzart bzw.
Schutzklasse genügen müssen.
[0006] Nachteilig an den bislang in der Praxis eingesetzten Produktscannern sind die hohen
Zusatzkosten sowie der erhöhte Platzbedarf, da ein als separate Maschine ausgebildeter
Produktscanner vergleichsweise viel Platz benötigt und insbesondere die Länge einer
Produktionsanlage deutlich vergrößert.
[0007] Je nach Produkt ist zudem eine längere Transport- und Handhabungsstrecke zwischen
einem separaten, stromaufwärtigen Produktscanner und dem Schneidbereich ungünstig,
da das Produkt auf seinem Weg zum Schneidbereich ungewollt hinichtlich seiner äußeren
Abmessungen, d.h. seiner Außenkontur, verändert werden kann. Dies kann z.B. durch
mechanische Beeinflussung erfolgen oder dadurch, dass Temperatureinflüsse Wirkung
zeigen.
[0008] Aufgabe der Erfindung ist es, eine einfache, zuverlässige, kostengünstige und Platz
sparende Möglichkeit zu schaffen, die äußere Kontur von aufzuschneidenden Lebensmittelprodukten
zu bestimmen.
[0009] Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt durch die Merkmale des Anspruchs 1.
[0010] Erfindungsgemäß umfasst die Aufschneidevorrichtung eine berührungslos arbeitende
Abtasteinrichtung zum Erfassen zumindest eines Teils der äußeren Kontur der aufzuschneidenden
Produkte, wobei die Abtasteinrichtung zur Konturerfassung wenigstens einen im Arbeitsbereich
angeordneten Kompaktsensor umfasst.
[0011] Die Erfindung bedeutet eine fundamentale Abkehr von der bisherigen Vorgehensweise,
die darin besteht, für die Konturerfassung große und teure Produktscanner in Form
von separaten Maschinen einzusetzen und der Aufschneidevorrichtung vorzulagern. Die
Erfindung macht sich die Erkenntnis zunutze, dass eine Konturerfassung mit kompakten
Sensoren möglich ist, die im Arbeitsbereich der Aufschneidevorrichtung selbst, also
innerhalb des Slicers, angeordnet werden können. Damit wird das im Stand der Technik
vorherrschende Vorurteil überwunden, wonach eine berührungslose Konturerfassung von
aufzuschneidenden Lebensmittelprodukten nicht unter den Bedingungen möglich ist, die
im Transportbereich und im Schneidbereich eines Hochgeschwindigkeits-Lebensmittelslicers
gegeben sind, also unter Bedingungen, die sich insbesondere durch das Vorhandensein
von Schmutz, Wärme und Feuchtigkeit auszeichnen. Dies liegt daran, dass im Bereich
eines Lebensmittelslicers Schneidreste sowie Schneidstaub und Schneidmehl vorhanden
sind und alle Komponenten eines Lebensmittelslicers regelmäßig einer Reinigung mit
Wasser bzw. Dampf unter hohem Druck und bei hohen Temperaturen unterzogen werden müssen.
Zudem spielt eine Rolle, dass im Falle der Verwendung von Laserstrahlung zur Konturerfassung
darauf geachtet werden muss, dass Sicherheitsbestimmungen eingehalten werden und insbesondere
die Augensicherheit für das Bedienpersonal gewährleistet ist.
[0012] Es wurde überraschend gefunden, dass im Vergleich zu den Abmessungen eines typischen
Lebensmittelslicers sehr kleine, kompakte Sensoren bereitgestellt werden können, die
eine zuverlässige Konturerfassung mit ausreichend hoher Genauigkeit ermöglichen und
gleichzeitig robust genug ausgeführt werden können, um gegen die für elektrische bzw.
optoelektronische Geräte widrigen Bedingungen innerhalb des Arbeitsbereiches eines
Lebensmittelslicers bestehen zu können.
[0013] Mögliche Ausgestaltungen der erfindungsgemäß eingesetzten Kompaktsensoren sowie vorteilhafte
Eigenschaften dieser Kompaktsensoren sind nachstehend erläutert sowie in den abhängigen
Ansprüchen angegeben.
[0014] Ein solcher Kompaktsensor kann in einem gemeinsamen Gehäuse als Lichtquelle einen
Laser zur Aussendung von Laserstrahlung in einer Abtastebene sowie eine Kamera umfassen,
die das Bild einer Linie aufnehmen kann, welche durch die ausgesandte Strahlung in
der Abtastebene auf einem abzutastenden Produkt erzeugt wird. Derartige Sensoren können
ein integriertes Elektroniksystem ohne die Notwendigkeit für einen zusätzlichen Controller
aufweisen. Ferner können derartige Sensoren gegenüber Fremdlicht bzw. Streulicht unempfindlich
sein. Es sind darüber hinaus sehr hohe Auflösungen im Bereich von einigen Hundertstel
Millimeter sowie sehr hohe Daten- bzw. Signalausgaberaten bis zu 6 kHz möglich. Die
Sensoren können mit einem integrierten Gigabit-LAN-Port versehen sein.
[0015] Derartige Kompaktsensoren bilden folglich quasi autarke Einheiten, die lediglich
an eine Stromversorgung sowie eine Datenerfassung angeschlossen werden müssen.
[0016] In einer möglichen Ausgestaltung besitzt ein solcher Kompaktsensor eine Breite von
etwa 300 mm, eine maximale Höhe von etwa 100 mm sowie eine Dicke von etwa 40 mm. Derartige
Sensoren sind beispielsweise von der Firma wenglorMEL GmbH erhältlich.
[0017] Das Gehäuse dieser Sensoren kann derart verbessert werden, dass die Sensoren hohen
Geräteschutzklassen genügen und gegenüber Staub sowie einer Reinigung mit Wasser und
Dampf unter hohem Druck und bei hohen Temperaturen absolut unempfindlich sind.
[0018] Ein weiterer Vorteil derartiger Sensoren ist, dass sie mit Laserstrahlung einer niedrigen
Schutzklasse betrieben werden können und somit für das menschliche Auge ungefährlich
sind.
[0019] Derartige Kompaktsensoren können folglich frei und offen im Arbeitsbereich eines
Lebensmittelslicers an jeder beliebigen Stelle positioniert werden. Aufgrund ihrer
geringen Baugröße benötigen die Kompaktsensoren wenig Platz und können somit in Abhängigkeit
von den jeweiligen baulichen Gegebenheiten des Slicers sowie von der abzutastenden
Kontur der Produkte variabel platziert werden. Mehrere Kompaktsensoren können unabhängig
voneinander im Slicer angeordnet werden.
[0020] Die Erfassungsdaten mehrerer Sensoren können im Rahmen der Datenauswertung rechnerisch
zusammengefasst werden.
[0021] Erfindungsgemäß arbeiten die Kompaktsensoren bevorzugt nach dem sogenannten Lichtschnittverfahren,
um eine Kontur oder ein Profil zu erfassen. Dieses Messprinzip ist dem Fachmann grundsätzlich
bekannt. Hierzu wird auch auf die eingangs genannte Patentliteratur zum Stand der
Technik verwiesen. Grundsätzlich können erfindungsgemäß aber auch andere Abtastprinzipien
wie beispielsweise Lichtlaufzeitmessungen zum Einsatz kommen. Bei Verwendung des Lichtschnittverfahrens
kann die Erzeugung der durchgehenden oder auch unterbrochenen Linien auf den abzutastenden
Produkten grundsätzlich auf beliebige Art und Weise erfolgen. So kann beispielsweise
mittels eines Linienlasers und gegebenenfalls unter Verwendung einer geeigneten Optik,
wie beispielsweise einer Zylinderlinse, eine Lichtlinie ausgesendet werden. Alternativ
kann ein einzelner Laserstrahl periodisch innerhalb eines Abtastwinkelbereiches mit
hoher Abtastrate abgelenkt werden.
[0022] Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Erfassen zumindest eines Teils
der äußeren Kontur von mittels einer Aufschneidevorrichtung, insbesondere einer Aufschneidevorrichtung
der hierin beschriebenen Art, aufzuschneidenden Lebensmittelprodukten, wobei die Kontur
innerhalb der Aufschneidevorrichtung mittels eines berührungslos arbeitenden Kompaktsensors
einer Abtasteinrichtung erfasst wird.
[0023] Des Weiteren betrifft die Erfindung die Verwendung zumindest eines Kompaktsensors,
der im Arbeitsbereich einer Aufschneidevorrichtung der hierin beschriebenen Art angeordnet
ist, zur Durchführung einer oder mehrerer Zusatzaufgaben durch Erfassen zumindest
einer zu wenigstens einer Funktionseinheit der Vorrichtung gehörenden Kontur.
[0024] Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind vorstehend und nachstehend beschrieben
und ergeben sich auch aus der Zeichnung und der dazugehörigen Beschreibung sowie aus
den Ansprüchen.
[0025] Bevorzugt ist der Kompaktsensor in einem eigenen abgeschlossenen Sensorgehäuse angeordnet,
wobei der Kompaktsensor innerhalb des Arbeitsbereiches der Aufschneidevorrichtung
einen Abtastbereich für die Produkte definiert, der außerhalb des Sensorgehäuses gelegen
ist. Während gemäß der bisherigen Praxis - wie vorstehend bereits erwähnt - die Produkte
durch das Scannergehäuse hindurchlaufen müssen, ist erfindungsgemäß sozusagen vorgesehen,
dass sich der Scanner nach den Produkten und der Art und Weise ihrer Handhabung im
Slicer und insbesondere ihres Transportweges durch den Slicer zu richten hat. Aufgrund
der Kompaktheit und der generellen Unempfindlichkeit der erfindungsgemäßen Sensoren
ist eine solche Integration in den Slicer problemlos möglich.
[0026] Das Sensorgehäuse kann derart ausgebildet sein, dass es einer nationalen oder internationalen,
normierten Schutzklasse genügt, gemäß welcher Staubdichtigkeit, vollständiger Schutz
gegen Berührung sowie Schutz gegen Wasser bei Hochdruck-/Dampfstrahlreinigung gegeben
sind, insbesondere der Schutzklasse IP6K9K oder IP69 nach DIN 40 050 Teil 9 bzw. DIN
EN 60529, oder einer gleichwertigen Schutzklasse.
[0027] Insbesondere kann ein gekapselter Kompaktsensor oder ein Kompaktsensor mit einem
gekapselten Sensorgehäuse vorgesehen sein.
[0028] Bevorzugt umfasst der Kompaktsensor einen Sender zur Aussendung von Abtaststrahlung
in einen Abtastbereich und einen Empfänger zum Empfang von Strahlung aus dem Abtastbereich,
wobei der Sender und der Empfänger in einem gemeinsamen Sensorgehäuse des Kompaktsensors
angeordnet sind. Dabei stellt insbesondere der Abtastbereich jenes Raumvolumen dar,
in welchem sich der Sendebereich des Senders und der Empfangsbereich des Empfängers
überlappen.
[0029] Vorzugsweise ist vorgesehen, dass der Kompaktsensor Laserstrahlung aussendet und
derart ausgebildet ist, dass er einer nationalen oder internationalen, normierten
Laserschutzklasse genügt, gemäß welcher die Laserstrahlung für das menschliche Auge
ungefährlich ist, insbesondere der Laserschutzklasse 1 oder 2 nach DIN EN 60825-1,
oder einer gleichwertigen Laserschutzklasse.
[0030] Insbesondere ist der Kompaktsensor zur Aussendung von Abtaststrahlung in einer Abtastebene
ausgebildet. Diese Abtaststrahlung erzeugt auf einem abzutastenden Produkt eine Linie,
die mittels eines Empfängers erfasst und hinsichtlich ihres Verlaufes zur Bestimmung
der Produktkontur in der Abtastebene ausgewertet werden kann, wobei die optische Achse
des Empfängers gegenüber der Abtastebene geneigt ist, d.h. der Empfänger "blickt"
unter einem Winkel zur Abtastebene auf die auf der Produktoberfläche erzeugte Linie.
[0031] Bevorzugt ist vorgesehen, dass eine Abtastebene des Kompaktsensors zumindest im Wesentlichen
senkrecht oder unter einem Winkel von mehr als etwa 45° zu einer Bewegungsrichtung
der Produkte durch die Abtastebene verläuft.
[0032] Vorzugsweise ist der Kompaktsensor als Laserscanner ausgebildet. Als Scanner werden
hier sowohl solche Sensoren bezeichnet, bei denen eine durchgehende oder unterbrochene
Linie ausgesendet wird, als auch Sensoren, bei denen ein punktförmiger Laserstrahl
ausgesendet und periodisch abgelenkt wird.
[0033] Bevorzugt arbeitet der Kompaktsensor nach dem Lichtschnittverfahren. Wie bereits
erwähnt, ist ein derartiges Abtastprinzip zur Kontur- bzw. Profilerkennung grundsätzlich
bekannt.
[0034] Vorzugsweise ist der Kompaktsensor dazu ausgebildet, mittels einer Lichtquelle, insbesondere
einer Laserquelle, auf einem abzutastenden Produkt eine durchgehende oder unterbrochene
Linie zu erzeugen und mittels einer Kamera ein die Linie enthaltendes Bild aufzunehmen.
Als Kamera kann beispielsweise eine Fotodiode oder eine CCD-Einrichtung dienen.
[0035] Vorzugsweise ist der Kompaktsensor an einem Tragrahmen oder Gestell der Aufschneidevorrichtung
abgestützt oder gehalten, von welchem auch der Schneidbereich und der Transportbereich
der Aufschneidevorrichtung getragen sind. Insbesondere aufgrund seines vergleichsweise
geringen Gewichts kann der erfindungsgemäße Kompaktsensor auf grundsätzlich beliebige
Art und Weise im Arbeitsbereich positioniert werden. Vergleichsweise leichte und filigrane
Halterungen oder Aufhängungen für den Kompaktsensor können zum Einsatz kommen. Der
Kompaktsensor kann zum Beispiel auch an bereits vorhandenen Komponenten der Aufschneidevorrichtung
befestigt werden.
[0036] Der Kompaktsensor kann im oder am Schneidbereich angeordnet sein. Es ist auch möglich,
den Kompaktsensor im Bereich der Produktzufuhr anzuordnen. Insbesondere kann der Kompaktsensor
im Bereich eines vorderen Produktanschlags der Produktzufuhr angeordnet sein. Ein
möglicher Abstand des Kompaktsensors von einer vorderen Anschlagebene des Produktanschlags
beträgt beispielsweise etwa 5 bis 20 mm. In einem möglichen Ausführungsbeispiel befindet
sich der Kompaktsensor - in Zufuhrrichtung der Produkte gesehen - in einem Abstand
von etwa 30 bis 400 mm von der Schneidebene.
[0037] Wenn von der Positionierung oder Orientierung des Kompaktsensors die Rede ist, dann
ist darunter insbesondere auch die Lage bzw. Orientierung einer Abtastebene des Sensors
zu verstehen.
[0038] Alternativ zu den vorgenannten Möglichkeiten kann der Kompaktsensor in einem der
Produktzufuhr vorgelagerten Bereich des Transportbereiches angeordnet sein.
[0039] Der Kompaktsensor kann beispielsweise im Bereich einer Transfereinrichtung angeordnet
sein, mittels welcher die Produkte an die Produktzufuhr übergeben werden. Die Transfereinrichtung
kann eine verschwenkbare Produktauflage aufweisen, wobei der Kompaktsensor - in Transportrichtung
der Produkte gesehen - vor der verschwenkbaren Produktauflage angeordnet ist.
[0040] In einer Ausführungsform kann der Kompaktsensor im Bereich eines Übergangs zwischen
zwei Fördereinrichtungen einer Transportstrecke des Transportbereiches angeordnet
sein. Wenn der Kompaktsensor unterhalb der Transportstrecke angeordnet ist, kann beispielsweise
ein Zwischenraum zwischen zwei aufeinanderfolgenden Bandförderern zur Abtastung der
Produkte von unten genutzt werden.
[0041] Des Weiteren kann vorgesehen sein, dass der Kompaktsensor in einem Produkteintrittsbereich
der Vorrichtung angeordnet ist, insbesondere in einer, unmittelbar vor einer oder
unmittelbar hinter einer durch einen Tragrahmen oder ein Gestell der Vorrichtung definierten
Eintrittsebene.
[0042] Da der Kompaktsensor in der Aufschneidevorrichtung aufgrund seiner geringen Größe
grundsätzlich frei platzierbar ist, kann gemäß einer Ausführungsform dafür gesorgt
werden, dass der Kompaktsensor außerhalb eines Verschmutzungsbereiches des Arbeitsbereiches
angeordnet ist. Eine Reinigung der Aufschneidevorrichtung wird hierdurch nicht unnötig
erschwert. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass der Kompaktsensor beabstandet zum
Produkt und/oder zur Produktzufuhr angeordnet ist.
[0043] Ferner kann erfindungsgemäß vorgesehen sein, dass im Arbeitsbereich unterschiedliche
Abtastpositionen für den Kompaktsensor vorgegeben sind. Damit ist zum einen gemeint,
dass die Konturerfassung der Produkte in der Aufschneidevorrichtung grundsätzlich
an unterschiedlichen Abtaststellen erfolgen kann. Vorstehend sind Beispiele für verschiedene
Abtaststellen genannt worden. Insbesondere kann zum anderen aber auch vorgesehen sein,
dass die unterschiedlichen Abtastpositionen zu einer gemeinsamen Abtaststelle gehören.
Dies bedeutet, dass bei einer Veränderung der Abtastposition des Kompaktsensors nicht
die Abtaststelle geändert wird, an welcher die Konturerfassung an den Produkten innerhalb
der Aufschneidevorrichtung erfolgt, sondern dass lediglich an der Abtaststelle die
Position des Kompaktsensors verändert werden kann. Beispielsweise kann der Kompaktsensor
etwas weiter nach vorne oder etwas weiter nach hinten - in Bewegungsrichtung der Produkte
gesehen - versetzt werden. Alternativ oder zusätzlich kann die Winkelposition des
Kompaktsensors um die Bewegungsrichtung herum verändert werden. Auf diese Weise kann
zum Beispiel insbesondere in Abhängigkeit von dem Typ bzw. der Beschaffenheit der
jeweiligen Produkte die Konturerfassung optimiert werden, indem durch eine andere
Positionierung des Kompaktsensors die geometrischen Verhältnisse der Abtastung optimiert
werden. Auch kann hierdurch die erfindungsgemäße Abtasteinrichtung flexibel auf Umrüstungen
oder Nachrüstungen der Aufschneidevorrichtung reagieren, die dessen baulichen Gegebenheiten
verändern.
[0044] Auch in Fällen, in denen die Aufschneidevorrichtung selbst nicht oder nur unwesentlich
umgerüstet oder verändert wird und zumindest im Wesentlichen nur ein Wechsel der Produktart
oder des Produkttyps erfolgt, kann auf eine solche Veränderung schnell und zuverlässig
durch eine produktabhängige Anpassung bzw. Verstellung bzw. einen produktabhängigen
Umbau des Kompaktsensors reagiert werden.
[0045] Die unterschiedlichen Abtastpositionen sind insbesondere derart eindeutig vorgegeben,
dass der Kompaktsensor nur in einer einzigen Lage und Orientierung platziert werden
kann. Hierdurch sind bei einer Neupositionierung des Kompaktsensors keine Justier-
oder Einlernvorgänge erforderlich.
[0046] Insbesondere kann vorgesehen sein, dass der Kompaktsensor zwischen den Abtastpositionen
verstellbar und/oder umbaubar ist. Der Kompaktsensor kann beispielsweise verschwenkt
oder verschoben werden, wobei hierzu beispielsweise Zwangsführungen und Endanschläge
vorgesehen sein können, um eine vorteilhafte Eindeutigkeit der Positionierung des
Kompaktsensors herzustellen.
[0047] Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist vorgesehen, dass durch einen
oder mehrere Kompaktsensor gleichzeitig mehrere parallele Produktspuren der Aufschneidevorrichtung
abgedeckt sind. Es ist somit nicht notwendig, bei einem mehrspurigen Betrieb der Aufschneidevorrichtung
für jedes Produkt einen separaten Kompaktsensor vorzusehen. Die Anzahl der Kompaktsensoren
kann also kleiner sein als die Anzahl der Spuren, wobei es möglich, aber nicht zwingend
ist, dass alle Spuren von einem einzigen Kompaktsensor erfasst werden. Es wurde gefunden,
dass ein ausreichend großer Abtastbereich des Kompaktsensors bereitgestellt werden
kann, ohne Beeinträchtigungen insbesondere hinsichtlich der Positionierbarkeit des
Kompaktsensors innerhalb der Aufschneidevorrichtung hinnehmen zu müssen. Der Spurbezug
kann dann z.B. durch Ausfiltern des jeweils gewünschten Signals in einer zugeordneten
Steuereinrichtung erfolgen.
[0048] Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist vorgesehen, dass an einer
Abtaststelle mehrere Kompaktsensoren zur gemeinsamen Konturerfassung angeordnet sind.
Es können also an einer Abtaststelle mehrere Kompaktsensoren angeordnet sein, die
bei der Konturerfassung zusammenwirken. In Abhängigkeit von der äußeren Gestalt der
aufzuschneidenden Produkte kann ein einziger Kompaktsensor pro Abtaststelle ausreichend
sein, um die Produktkontur mit für die jeweilige Erfindung ausreichender Genauigkeit
zu erfassen. In anderen Anwendungen kann es vorteilhaft sein, pro Abtaststelle mehrere
Kompaktsensoren einzusetzen. Diese können in Umfangsrichtung um die Bewegungs- bzw.
Transportrichtung der Produkte herum verteilt angeordnet werden. So können beispielsweise
zwei Kompaktsensoren vorgesehen sein, die das Produkt jeweils schräg von oben abtasten.
Alternativ kann oberhalb der Produkte ein einziger Kompaktsensor vorgesehen sein,
der von zwei von schräg unten abtastenden Kompaktsensoren, die unterhalb der Produkte
angeordnet sind, unterstützt wird.
[0049] Wenn die Kompaktsensoren mit Abtastebenen arbeiten, ist es erfindungsgemäß möglich,
aber nicht zwingend erforderlich, dass alle Abtastebenen der Kompaktsensoren in einer
einzigen gemeinsamen Ebene liegen. Vielmehr ist es möglich, dass die Abtastebenen
in Transportrichtung der Produkte geringfügig gegeneinander versetzt sind. Hierdurch
wird die Einrichtung einer Abtaststelle erheblich vereinfacht, da keine aufwendigen
Justierungen der Kompaktsensoren relativ zueinander erforderlich sind. Es wurde im
Zusammenhang mit nach dem Lichtschnittverfahren arbeitenden Kompaktsensoren gefunden,
dass ein Abstand der Abtastlinien auf einem Produkt von nur wenigen Millimetern noch
eine zuverlässige Erfassung und Auswertung der Abtastlinien durch den zugehörigen
Kompaktsensor ermöglicht. Mit anderen Worten wurde gefunden, dass sich die Kompaktsensoren
gegenseitig nicht stören.
[0050] Das vorgenannte Beispiel ist eine Möglichkeit für ein allgemeines bevorzugtes Konzept
der Erfindung, wonach an einer Abtaststelle die Abtastung der Produkte durch zumindest
zwei Kompaktsensoren räumlich versetzt erfolgen kann. Alternativ oder zusätzlich zu
einem räumlichen Versatz ist es möglich, eine zeitlich versetzte Abtastung durchzuführen,
indem die Kompaktsensoren nicht gleichzeitig, sondern abwechselnd aktiv sind. So kann
beispielsweise durch einen gepulsten Betrieb bei nach dem Lichtschnittverfahren arbeitenden
Kompaktsensoren verhindert werden, dass die Kamera des einen Sensors durch die von
dem anderen Sensor auf dem Produkt erzeugte Abtastlinie gestört wird.
[0051] Des Weiteren kann vorgesehen sein, dass an einer Abtaststelle die Abtastung durch
zwei zueinander entgegengesetzt orientierte Kompaktsensoren erfolgt. Auf diese Weise
lässt sich eine Stelle oder ein Bereich auf der Außenseite eines Produktes aus unterschiedlichen
Richtungen erfassen. Bei stark unregelmäßig geformten Produkten ist dies besonders
vorteilhaft, da nicht zu erfassende Bereiche beispielsweise aufgrund von Hinterschneidungen
oder Vertiefungen verhindert werden.
[0052] Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Abtasteinrichtung
zur Durchführung einer oder mehrerer Zusatzaufgaben ausgebildet ist. Dies kann durch
Erfassen zumindest einer Kontur mittels des Kompaktsensors erfolgen, die zu wenigstens
einer Funktionseinheit der Vorrichtung gehört. Hierbei kann der Kompaktsensor zumindest
zeitweise dazu benutzt werden, eine Funktionseinheit der Vorrichtung abzutasten. Wenn
der Kompaktsensor im Bereich der Produktzufuhr angeordnet ist, kann zum Beispiel ein
während des Vorschubs eines Produkts am hinteren Produktende angreifender Produktgreifer
oder eine anders geartete Produkthalterung abgetastet werden, wenn diese die Abtaststelle
des Kompaktsensors während des Produktvorschubs passiert. Hierdurch kann beispielsweise
geprüft werden, ob der Produktgreifer bzw. Produkthalter korrekt ausgerichtet ist
oder ob sich ein im Normalbetrieb abzuwerfendes Produktreststück noch am Produktgreifer
bzw. Produkthalter befindet, wenn dieser zur Vorbereitung des Aufschneidens eines
nachfolgenden Produkts in eine Ausgangsstellung zurückbewegt wird und dabei die Abtaststelle
erneut passiert. Auch könnte z.B. mittels eines Kompaktsensors geprüft werden, ob
zu jeweils am Slicer eingestellten Produktparametern passende Seitenanschläge überhaupt
angebaut bzw. ob vorhandene Seitenanschläge jeweils auf die richtige Position eingestellt
sind.
[0053] Allgemein kann folglich der Kompaktsensor aufgrund des Umstands, dass er innerhalb
der Aufschneidevorrichtung angeordnet ist, zusätzlich dazu benutzt werden, eine ordnungsgemäße
Konfiguration sowie einen ordnungsgemäßen Funktionsablauf einer oder mehrerer Funktionseinheiten
der Aufschneidevorrichtung zu überwachen.
[0054] Wie eingangs bereits erwähnt, dient die Konturerfassung mittels eines oder mehrerer
Kompaktsensoren innerhalb der Aufschneidevorrichtung insbesondere dazu, gewichtskonstante
Produktscheiben oder Portionen von Produktscheiben zu gewinnen.
[0055] Vor diesem Hintergrund kann eine Steuereinrichtung vorgesehen sein, die dazu ausgebildet
ist, unter Verwendung von erfassten Produktkonturen Steuerdaten zu berechnen und unter
Verwendung der Steuerdaten die Vorrichtung, insbesondere die Produktzufuhr, zu betreiben.
[0056] Was das erfindungsgemäße Verfahren anbetrifft, so ermöglicht es der Einsatz eines
oder mehrerer Kompaktsensoren innerhalb der Aufschneidevorrichtung, die Konturerfassung
an ohnehin ablaufende Vorgänge bei der Handhabung der Produkte innerhalb der Aufschneidevorrichtung
anzupassen. So kann beispielsweise eine mögliche Aufschneidevorrichtung derart betrieben
werden, dass ein an die Produktzufuhr übergebenes Produkt dadurch sicher mit einem
am hinteren Produktende angreifenden Produktgreifer gegriffen wird, dass das Produkt
mittels des Produktgreifers gegen einen vorübergehend im Vorschubweg befindlichen
Produktanschlag gedrückt wird. Anschließend wird das Produkt mittels des nunmehr in
bestimmungsgemäßer Weise korrekt greifenden Produktgreifers um eine bestimmte, vergleichsweise
kurze Strecke zurückgezogen, woraufhin der Produktanschlag wegbewegt wird, um den
Vorschubweg zur Schneidebene freizugeben. Daraufhin wird das Produkt mittels des Produktgreifers
zur Schneidebene hin und dann durch die Schneidebene hindurch bewegt. Problematisch
in diesem Zusammenhang kann sein, dass sich das gegen den Produktanschlag gedrückte
Produkt während des Greifvorgangs verformt, beim anschließenden Zurückziehen sich
aber nicht wieder vollständig entspannt. In Abhängigkeit von dem jeweiligen Produkttyp
kann folglich eine plastische Verformung erfolgen und es so zu einer bleibenden Deformation
kommen, wodurch sich die äußere Produktkontur während des Greifens verändert. Dies
kann zu Fehlern bei der Ansteuerung des Produktvorschubs führen, wenn die Steuerung
aufgrund eines vorgelagerten Scanprozesses von einer äußeren Produktkontur ausgeht,
die nach dem Greifvorgang aufgrund einer nicht-elastischen Verformung des vorderen
Produktbereiches überhaupt nicht mehr vorhanden ist.
[0057] In einem solchen Fall kann die Erfindung Fehler vermeiden, indem die Produktkontur
jeweils erst dann und insbesondere erst kurz vor dem Aufschneiden erfasst wird, nachdem
sich das zuvor aufgrund eines Greifvorgangs in der Produktzufuhr komprimierte Produkt
wieder entspannt hat, wobei es ohne Nachteil ist, wenn sich das Produkt nur teilweise
entspannt und eine Restdeformation verbleibt. So ist es beispielsweise erfindungsgemäß
möglich, einen oder mehrere Kompaktsensoren im Bereich des erwähnten Produktanschlags
anzuordnen. Die Konturerfassung kann folglich mit bzw. kurz nach dem Start der eigentlichen
Produktzufuhr und somit des eigentlichen Aufschneidebetriebs erfolgen. Das Abtasten
des Produkts beginnt folglich insbesondere erst dann, wenn das Produkt mittels des
Produkthalters zur Schneidebene hin vorgeschoben wird.
[0058] Es wurde gefunden, dass es in vielen Anwendungen für eine ausreichende Genauigkeit
nicht erforderlich ist, mit dem Aufschneiden eines Produktes erst dann zu beginnen,
nachdem das Produkt vollständig abgetastet worden ist. Es ist also möglich, dass ein
mittlerer und/oder hinterer Abschnitt des Produktes erst dann abgetastet wird, wenn
das Aufschneiden des Produktes bereits begonnen hat.
[0059] Ein solcher Einsatz der erfindungsgemäßen Abtasteinrichtung führt auch nicht zu einer
Beeinträchtigung der Arbeitsgeschwindigkeit der Aufschneidevorrichtung. Es wurde gefunden,
dass die Qualität und insbesondere die Genauigkeit der Konturerfassung nicht beeinträchtigt
wird, wenn das Produkt während des Abtastvorgangs in zwei Abtastphasen mit unterschiedlichen
Vorschubgeschwindigkeiten abgetastet wird, wie es der Fall ist, wenn das Produkt nach
einem Greifvorgang zunächst während einer Schnellvorschubphase zur Schneidebene hin
und anschließend in einer Schneidvorschubphase bei relativ langsamerer Vorschubgeschwindigkeit
durch die Schneidebene hindurch bewegt wird. Es wird dann ein vorderer Produktabschnitt
bei relativ höherer Vorschubgeschwindigkeit und anschließend der verbleibende Produktabschnitt
bei relativ langsamerer Vorschubgeschwindigkeit mittels des Kompaktsensors abgetastet.
Auch hier kann die Konturerfassung folglich mit bzw. kurz nach dem Start der eigentlichen
Produktzufuhr und somit des eigentlichen Aufschneidebetriebs erfolgen.
[0060] Wie eingangs bereits erwähnt, kann gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung
vorgesehen sein, dass unter Verwendung von erfassten Produktkonturen Steuerdaten berechnet
werden und unter Verwendung der Steuerdaten die Aufschneidevorrichtung, insbesondere
die Produktzufuhr, betrieben wird, und zwar insbesondere zu dem Zweck, gewichtskonstante
Produktscheiben oder Portionen von Produktscheiben zu gewinnen.
[0061] Ein mögliches Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens zeichnet sich
dadurch aus, dass mittels der Abtasteinrichtung eine oder mehrere Zusatzaufgaben durchgeführt
werden. Hierzu kann vorgesehen sein, dass mittels des Kompaktsensors zumindest eine
zu wenigstens einer Funktionseinheit der Vorrichtung gehörende Kontur erfasst wird.
[0062] Die Erfindung wird im Folgenden beispielhaft unter Bezugnahme auf die Zeichnung beschrieben.
Es zeigen:
- Fig. 1
- in einer schematischen Seitenansicht einen erfindungsgemäßen Lebensmittelslicer,
- Fig. 2
- zwei Ansichten eines erfindungsgemäßen Kompaktsensors, und
- Fig. 3 bis 5
- jeweils schematisch eine mögliche Anordnung mehrerer erfindungsgemäßer Kompaktsensoren.
[0063] Gemäß Fig. 1 besitzt ein erfindungsgemäßer Lebensmittelslicer 10 in an sich bekannter
Weise als tragende Struktur ein rahmenartiges Gestell 35 mit einer Mehrzahl von tragenden
Stützen und Streben. Der zum größten Teil innerhalb dieses Tragrahmens 35 gelegene
Arbeitsbereich des Slicers 10 umfasst einen vorderen Schneidbereich 11 sowie einen
Transportbereich 13 mit einer Produktzufuhr 15.
[0064] Der Schneidbereich 11 umfasst einen am Rahmengestell 35 getragenen Schneidkopf 22,
in welchem sich insbesondere ein nicht dargestellter Antrieb für ein hier als Kreismesser
ausgebildetes Schneidmesser 21 angeordnet ist. Die von dem Schneidmesser 21 definierte
Schneidebene 19 ist etwa um 45° zur Vertikalen geneigt. Mit einer gestrichelten Linie
ist die Drehachse 20 des Schneidmessers 21 angedeutet. Während des Betriebs rotiert
das Schneidmesser 21 um die eigene Drehachse 20 und läuft zudem um eine durch eine
strichpunktierte Linie angedeutete Antriebsachse 24 um, bezüglich welcher das Schneidmesser
21 exzentrisch angeordnet ist und somit planetarisch umläuft.
[0065] Die Produktauflage umfasst eine senkrecht zur Schneidebene 19 verlaufende und somit
ebenfalls um 45° zur Vertikalen geneigte Auflageebene, entlang welcher aufzuschneidende
Lebensmittelprodukte 17 mit Hilfe eines am hinteren Produktende angreifenden Produkthalters
49 der Schneidebene 19 zugeführt werden.
[0066] Vor dem Schneidbereich 11 unterhalb des Messerkopfes 22 ist ein bewegbarer Produktanschlag
16 vorgesehen. Wie im Einleitungsteil erläutert, wird bei einem Greifvorgang das jeweilige
Produkt 17 mittels des Produkthalters 49 gegen den Produktanschlag 16 gedrückt, um
ein zuverlässiges Ergreifen des Produkts 17 sicherzustellen. Wenn daraufhin der eigentliche
Produktvorschub zur Schneidebene 19 hin beginnt, wird der Produktanschlag 16 aus dem
Bewegungsweg des Produkts 17 herausbewegt, um den Weg zur Schneidebene 19 freizugeben.
[0067] In der Darstellung der Fig. 1 liegt das Produkt 17 auf einer verschwenkbaren Produktauflage
39 der Produktzufuhr 15 auf. Die Produktauflage 39 gehört zu einer Transfereinrichtung
37, auf die nachstehend noch näher eingegangen wird. Die Produktauflage 39 kann z.B.
als frei laufendes Endlosband ausgebildet sein oder eine Gleitfläche für die Produkte
17 aufweisen.
[0068] Im hochgeschwenkten Zustand gemäß Fig. 1 bildet die verschwenkbare Produktauflage
39 zusammen mit einem vorderen Förderer 61, bei dem es sich beispielsweise um ein
Förderband oder um eine passive Gleitauflage handeln kann, eine Produktauflage, auf
welcher das Produkt 17 während des Vorschubs aufliegt.
[0069] An den vorderen Förderer 61 schließt sich eine Schneidkante 63 an, mit der das Schneidmesser
21 beim Abtrennen von Scheiben 53 von den Produkten 17 zusammenwirkt. Auf einem Portionierband
65 werden aus den abgetrennten Scheiben 53 Portionen 55 gebildet, die anschließend
an ein weiteres Förderband 67 übergeben und dann einer Weiterverarbeitung zugeführt
werden, bei der die Portionen 55 insbesondere gewogen werden. Eine Waage kann in den
Förderer 67 integriert sein.
[0070] Eine zentrale Steuereinrichtung 51 ist in Fig. 1 schematisch dargestellt, die unter
anderem mit dem Schneidkopf 22 und dem Produkthalter 49 der Produktzufuhr 15 verbunden
ist. Außerdem kommuniziert die Steuereinrichtung 51 mit den übrigen Funktionseinheiten
des Slicers 10, insbesondere mit einer nachstehend näher erläuterten Abtasteinrichtung,
die mehrere Kompaktsensoren 23 umfasst, für welche zur Veranschaulichung vier unterschiedliche
Abtaststellen A, B, C, D und E innerhalb des Slicers 10 angedeutet sind.
[0071] Der Slicer 10 kann grundsätzlich für einen einspurigen Betrieb oder für ein mehrspuriges
Transportieren, Zuführen und Aufschneiden von Lebensmittelprodukten 17 ausgebildet
sein. Für jede Spur besitzt dann die Produktzufuhr 15 eine verschwenkbare Produktauflage
39 sowie einen Produkthalter 49. Insbesondere kann der Slicer 10 für einen vollständig
spurindividuellen Betrieb ausgebildet sein, bei welchem die Spuren vollständig unabhängig
voneinander betrieben werden können und sich das gemeinsame Schneidmesser 21 teilen.
[0072] Die aufzuschneidenden Produkte 17 werden manuell oder automatisch in einem Beladebereich
69 auf eine weitere Fördereinrichtung 44 gegeben, die zu dem Transportbereich 13 des
Slicers 10 gezählt werden kann und die aufgeladenen Produkte 17 durch einen hinteren
Produkteintrittsbereich 45, der eine Eintrittsebene 47 definiert, weiteren Fördereinrichtungen
41, 43 des Transportbereichs 13 zuführt. Die von den Fördereinrichtungen 41, 43, 44,
bei denen es sich insbesondere um Endlosbandförderer handeln kann, gebildete Transportstrecke
steigt von hinten nach vorne leicht an, damit sich die Produkte 17 vor der Transfereinrichtung
37 bereits in einer bestimmten Höhe innerhalb des Slicers 10 befinden und damit im
Beladebereich 69 die Beladehöhe vergleichsweise niedrig ist, wodurch insbesondere
eine manuelle Beladung erleichtert wird.
[0073] Um zumindest weitgehend gewichtskonstante Portionen 55 zu erzielen, erfolgt der Produktvorschub
in der Produktzufuhr 15 unter anderem auf der Basis der Querschnittsflächen der Produkte
17, die aus der äußeren Produktkontur berechnet werden können. Zur Erfassung der Produktkontur
ist die bereits erwähnte berührungslos arbeitende Abtasteinrichtung vorgesehen, die
an zumindest einer Abtaststelle innerhalb des Slicers 10 eine Anordnung von Kompaktsensoren
23 umfasst.
[0074] Eine mögliche Abtaststelle A befindet sich unmittelbar vor dem Produktanschlag 16
in der zur Vertikalen geneigten und somit senkrecht zur Schneidebene 19 verlaufenden
Produktzufuhr 15. Die Kompaktsensoren 23 sind folglich derart angeordnet, dass ihre
Abtastebenen 33 parallel zur Schneidebene 19 und somit senkrecht zur Produktlängserstreckung
und somit senkrecht zur Produktvorschubrichtung verlaufen. Die Kompaktsensoren 23
sind hier der derart angeordnet, dass ihre Abtastebenen 33 in einer gemeinsamen Ebene
liegen. Alternativ können die Abtastebenen 33 der Kompaktsensoren 23 gegeneinander
versetzt sein.
[0075] Die einzelnen Kompaktsensoren 23 sind derart klein, dass sie im Vergleich zu den
Abmessungen des Slicers 10 als quasi punktförmig betrachtet werden können. Der Slicer
10 besitzt beispielsweise eine Länge von etwa 2,70 m ohne den Beladebereich 69, also
bis zur Eintrittsebene 47, eine Höhe von etwa 2,50 m bis zu den oberen Streben des
Tragrahmens 35, sowie ein Breite von etwa 1 m. Dies bedeutet, dass selbst bei einer
vergleichsweise kompakten Bauweise des Slicers, in welchem eine Vielzahl von Funktionseinheiten
auf vergleichsweise engem Raum integriert sind, nach wie vor genügend Platz für eine
optimale Positionierung der kleinen Kompaktsensoren 23 vorhanden ist. Wie im Einleitungsteil
erwähnt, können die Kompaktsensoren 23 folglich weitgehend frei positioniert und aufgrund
ihres geringen Gewichts mit geringem mechanischem Aufwand direkt an vorhandenen Funktionseinheiten
des Slicers 10 oder über Halterungen an diesen Funktionseinheiten oder am Tragrahmen
35 befestigt werden. Darüber hinaus genügen für die Kompaktsensoren 23 jeweils eine
Stromversorgung sowie eine Signalleitung für eine Übertragung der erfassten Konturdaten
an die zentrale Steuereinrichtung 51. Prinzipiell sind eine drahtlose Datenübertragung
und ein Batterie- bzw. Akkubetrieb der Kompaktsensoren 23 möglich, was deren Integration
in den Slicer 10 weiter vereinfacht.
[0076] Eine weitere mögliche Abtaststelle B befindet sich vor der Transfereinrichtung 37,
die bei heruntergeschwenkter Produktauflage 39, was in Fig. 1 durch gestrichelte Linien
angedeutet ist, die Produkte 17 von der vorderen Fördereinrichtung 41 der die Produkte
17 über das "Heck" des Slicers 10 zuführenden Transporteinrichtung übernimmt. Die
Abtastebenen 33 der Kompaktsensoren 23 liegen im Bereich des Übergangs zwischen der
Fördereinrichtung 41 und der heruntergeschwenkten Produktauflage 39. Folglich können
die Produkte 17 abgetastet werden, während sie an die Transfereinrichtung 37 übergeben
werden.
[0077] Eine alternative Abtaststelle C befindet sich im Bereich des Übergangs zwischen den
beiden aufeinander folgenden Fördereinrichtungen 41, 43 der Transporteinrichtung.
[0078] Eine weitere Möglichkeit zur Positionierung der Kompaktsensoren 23 zeigt die Abtaststelle
D. Die Abtastebenen 33 der Kompaktsensoren 23 befinden sich unmittelbar hinter der
Eintrittsebene 47 des Slicers 10 und wiederum im Übergangsbereich zweier Fördereinrichtungen
43, 44. Die Abtaststelle E zeigt noch eine weitere Positionierungsmöglichkeit. Die
Kompaktsensoren 23 sind unmittelbar vor dem Produkteintrittsbereich 45 angeordnet.
In diesem Fall kann die Förderstrecke an dieser Abtaststelle E erforderlichenfalls
unterbrochen sein und z.B. zwei aufeinanderfolgende Förderer umfassen.
[0079] In Fig. 1 sind die Kompaktsensoren 23 an den jeweiligen Abtaststellen A, B, C, D
bzw. E lediglich schematisch dargestellt. Die vergrößerte Darstellung innerhalb der
Fig. 1 zeigt links eine Seitenansicht und rechts eine demgegenüber um 90° gedrehte
Stirnansicht eines möglichen erfindungsgemäßen Kompaktsensors 23, um zu veranschaulichen,
wie die gemäß dieser Ausführungsform ausgestalteten Kompaktsensoren 23 im Slicer 10
orientiert sein können.
[0080] In diesem Zusammenhang wird auch auf die Fig. 2 verwiesen. Die Kompaktsensoren 23
umfassen jeweils ein abgeschlossenes Sensorgehäuse 25, in welchem jeweils eine Laserquelle
29 als Sender sowie eine Kamera 31 als Empfänger angeordnet sind. Die Laserquelle
29 sendet Abtaststrahlung in einer Abtastebene 33 aus, die im Slicer 10 - wie bereits
erwähnt - senkrecht zur Längserstreckung und somit senkrecht zur jeweiligen Bewegungsrichtung
der Produkte 17 verläuft.
[0081] In einer durch die jeweilige Ausgestaltung des Kompaktsensors 23 vorgegebenen Entfernung
von dem Sensorgehäuse 25 schneidet ein kegelförmiger Erfassungsbereich 59 der Kamera
31 mit einer optischen Achse 57, die geneigt zur Abtastebene 33 verläuft, die V-förmige
Abtastebene 33. Dieser Überlappungsbereich bildet den Abtastbereich 27 (vgl. Fig.
5) des Kompaktsensors 25.
[0082] Wie eingangs bereits erwähnt, kann gemäß einem möglichen Ausführungsbeispiel der
Kompaktsensor 23 eine Breite b von etwa 300 mm, eine kleinere Höhe h von etwa 60 mm,
eine größere Höhe H von etwa 80 mm sowie eine Dicke d von etwa 40 mm aufweisen.
[0083] Der erwähnte Abtastbereich 27 (vgl. Fig. 5) beginnt in diesem Ausführungsbeispiel
etwa in einem entlang der Abtastebene 33 gemessenen Abstand von dem Gehäuse 25 des
Kompaktsensors 23 von etwa 300 mm. Der Abtastbereich 27 endet etwa nach weiteren 700
mm und somit erst in einer Entfernung von etwa 1 m von dem Sensorgehäuse 25. Die Breite
des Arbeitsbereichs beträgt am Anfang, also in einer Entfernung von etwa 300 mm, ungefähr
280 mm und am Ende, also in einer Entfernung von etwa 1.000 mm, ungefähr 830 mm. Die
mittlere räumliche Auflösung beträgt innerhalb des Abtastbereichs - je nach Richtung
- zwischen 45 und 200 µm. Die Laserquelle kann mit einem roten Laser (Wellenlänge
660 nm) oder mit einem blauen Laser (Wellenlänge 405 nm) betrieben werden.
[0084] Mögliche Relativanordnungen mehrerer Kompaktsensoren an einer Abtaststelle zeigen
rein beispielhaft die Fig. 3, 4 und 5.
[0085] Gemäß Fig. 3 sind zwei Kompaktsensoren 23 oberhalb eines Produkts 17 angeordnet,
die jeweils etwa unter 45° von schräg oben das Produkt 17 abtasten. Die Abtastebenen
33 verlaufen jeweils senkrecht zur Bewegungsrichtung des Produkts 17 und liegen somit
in der Zeichenebene der Fig. 3. Die Abtastebenen 33 überlappen sich, so dass die Oberseite
des Produkts 17 gleichzeitig aus unterschiedlichen Richtungen beleuchtet und zudem
die Seitenflanken des Produkts 17 zumindest im Wesentlichen vollständig erfasst werden
können.
[0086] Eine alternative Anordnung zeigt Fig. 4. Etwa mittig oberhalb des Produkts 17 ist
ein Kompaktsensor 23 angeordnet. Zwei weitere Kompaktsensoren 23 befinden sich auf
beiden Seiten unterhalb des Produkts 17 und erfassen die Produktkontur jeweils von
schräg unten.
[0087] Fig. 5 zeigt beispielhaft eine Anordnung, in welcher zwei in Bewegungsrichtung des
Produkts 17 hintereinander angeordnete Kompaktsensoren 23 vorgesehen sind, die einander
entgegengesetzt orientiert sind. Eine solche Anordnung ermöglicht es, solche Bereiche
von insbesondere stark unregelmäßig geformte Oberflächen aufweisenden Produkten 17
auch an solchen Oberflächenbereichen zu erfassen, die mittels eines einzigen Sensors
23 nicht einsehbar wären.
[0088] Mehrere derartige Doppelanordnungen von Kompaktsensoren 23 können in Umfangsrichtung
um das Produkt 17 herum verteilt angeordnet werden.
Bezugszeichenliste
[0089]
- 10
- Aufschneidevorrichtung, Slicer
- 11
- Schneidbereich
- 13
- Transportbereich
- 15
- Produktzufuhr
- 16
- Produktanschlag
- 17
- Produkt
- 19
- Schneidebene
- 20
- Drehachse
- 21
- Schneidmesser
- 22
- Schneidkopf
- 23
- Kompaktsensor
- 24
- Antriebsachse
- 25
- Sensorgehäuse
- 27
- Abtastbereich
- 29
- Sender, Lichtquelle, Laser
- 31
- Empfänger, Kamera
- 33
- Abtastebene
- 35
- Tragrahmen oder Gestell
- 37
- Transfereinrichtung
- 39
- Produktauflage
- 41
- Fördereinrichtung
- 43
- Fördereinrichtung
- 44
- Fördereinrichtung
- 45
- Produkteintrittsbereich
- 47
- Eintrittsebene
- 49
- Produkthalter
- 51
- Steuereinrichtung
- 53
- Produktscheibe
- 55
- Portion
- 57
- optische Achse
- 59
- Erfassungsbereich
- 61
- Förderer
- 63
- Schneidkante
- 65
- Portionierband
- 67
- Förderband
- 69
- Beladebereich
- A
- Abtaststelle
- B
- Abtaststelle
- C
- Abtaststelle
- D
- Abtaststelle
1. Vorrichtung (10) zum Aufschneiden von Lebensmittelprodukten, insbesondere Hochleistungs-Slicer,
mit einem Arbeitsbereich, der einen Schneidbereich (11) sowie einen Transportbereich
(13) mit einer Produktzufuhr (15) umfasst, wobei die Produktzufuhr (15) aufzuschneidende
Produkte (17) dem Schneidbereich (11) einspurig oder mehrspurig zuführt und am Ende
des Schneidbereichs (11) sich in einer Schneidebene (19) ein Schneidmesser (21), insbesondere
rotierend und/oder umlaufend, bewegt, wobei eine Transfereinrichtung (37) vorgesehen
ist, mittels welcher die Produkte (17) an die Produktzufuhr (15) übergeben werden
und welche eine verschwenkbare Produktauflage (39) umfasst, die in einem heruntergeschwenkten
Zustand die aufzuschneidenden Produkte (17) von einer Fördereinrichtung (41) des Transportbereiches
(13) übernimmt und in einem hochgeschwenkten Zustand zusammen mit einem vorderen Förderer
(61), insbesondere einem Förderband oder einer passiven Gleitauflage, eine Produktauflage
bildet, auf welcher die Produkte (17) während der Zufuhr zum Schneidbereich (11) aufliegen,
und
mit einer berührungslos arbeitenden Abtasteinrichtung zum Erfassen zumindest eines
Teils der äußeren Kontur der aufzuschneidenden Produkte (17),
wobei die Abtasteinrichtung zur Konturerfassung wenigstens einen im Arbeitsbereich
(11, 13) angeordneten Kompaktsensor (23) umfasst, der in einem eigenen abgeschlossenen
Sensorgehäuse (25) angeordnet ist und innerhalb des Arbeitsbereiches (11, 13) einen
Abtastbereich (27) für die Produkte (17) definiert, der außerhalb des Sensorgehäuses
(25) gelegen ist,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Kompaktsensor (23) im Bereich der Transfereinrichtung (37) angeordnet ist, mittels
welcher die Produkte (17) an die Produktzufuhr (15) übergeben werden, insbesondere
wobei der Kompaktsensor (23) in Transportrichtung gesehen vor der verschwenkbaren
Produktauflage (39) angeordnet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Sensorgehäuse (25) derart ausgebildet ist, dass es einer nationalen oder internationalen,
normierten Schutzklasse genügt, gemäß welcher Staubdichtigkeit, vollständiger Schutz
gegen Berührung sowie Schutz gegen Wasser bei Hochdruck-/Dampfstrahlreinigung gegeben
sind, insbesondere der Schutzklasse IP6K9K oder IP69 nach DIN 40 050 Teil 9 bzw. DIN
EN 60529, oder einer gleichwertigen Schutzklasse.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Kompaktsensor (23) einen Sender (29) zur Aussendung von Abtaststrahlung in einen
Abtastbereich (27) und einen Empfänger (31) zum Empfang von Strahlung aus dem Abtastbereich
(27) umfasst, wobei der Sender (29) und der Empfänger (31) in einem gemeinsamen Sensorgehäuse
(25) des Kompaktsensors (23) angeordnet sind, und/oder dass der Kompaktsensor (23)
Laserstrahlung aussendet und derart ausgebildet ist, dass er einer nationalen oder
internationalen, normierten Laserschutzklasse genügt, gemäß welcher die Laserstrahlung
für das menschliche Auge ungefährlich ist, insbesondere der Laserschutzklasse 1 oder
2 nach DIN EN 60825-1, oder einer gleichwertigen Laserschutzklasse.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Kompaktsensor (23) zur Aussendung von Abtaststrahlung in einer Abtastebene (33)
ausgebildet ist, und/oder dass eine Abtastebene (33) des Kompaktsensors (23) zumindest
im Wesentlichen senkrecht oder unter einem Winkel von mehr als etwa 45° zu einer Bewegungsrichtung
der Produkte (17) durch die Abtastebene (33) verläuft, und/oder dass der Kompaktsensor
(23) als Laserscanner ausgebildet ist, und/oder dass der Kompaktsensor (23) nach dem
Lichtschnittverfahren arbeitet, und/oder dass der Kompaktsensor (23) dazu ausgebildet
ist, mittels einer Lichtquelle (29) auf einem abzutastenden Produkt (17) eine Linie
zu erzeugen und mittels einer Kamera (31) ein die Linie enthaltendes Bild aufzunehmen.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Kompaktsensor (23) an einem Tragrahmen oder Gestell (35) der Vorrichtung abgestützt
oder gehalten ist, von dem auch der Schneidbereich (11) und der Transportbereich (13)
getragen sind, und/oder dass eine Abtastebene (27) des Kompaktsensors (23) zumindest
im Wesentlichen parallel oder unter einem Winkel von weniger als etwa 45° zur Schneidebene
(19) verläuft.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass der Kompaktsensor (23) im Bereich eines Übergangs zwischen zwei Fördereinrichtungen
(41, 43) des Transportbereiches (13) angeordnet ist, und/oder dass der Kompaktsensor
(23) außerhalb eines Verschmutzungsbereiches des Arbeitsbereiches (11, 13) angeordnet
ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass im Arbeitsbereich (11, 13) unterschiedliche Abtastpositionen für den Kompaktsensor
(23) vorgegeben sind, wobei insbesondere die Abtastpositionen zu einer gemeinsamen
Abtaststelle (A, B, C, D, E) gehören, insbesondere wobei sich die Abtastpositionen
hinsichtlich ihrer Lage in Transportrichtung der Produkte (17) und/oder hinsichtlich
ihrer Lage um die Transportrichtung herum voneinander unterscheiden, und/oder dass
der Kompaktsensor (23) zwischen den Abtastpositionen verstellbar und/oder umbaubar
ist.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass durch den zumindest einen Kompaktsensor (23) gleichzeitig mehrere parallele Produktspuren
der Vorrichtung abgedeckt sind.
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass an einer Abtaststelle (A, B, C, D, E) mehrere Kompaktsensoren (23) zur gemeinsamen
Konturerfassung angeordnet sind, und/oder dass an einer Abtaststelle (A, B, C, D,
E) die Abtastung durch zumindest zwei Kompaktsensoren (23) räumlich und/oder zeitlich
versetzt erfolgt, und/oder dass an einer Abtaststelle (A, B, C, D, E) die Abtastung
durch zwei zueinander entgegengesetzt orientierte Kompaktsensoren (23) erfolgt.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Abtasteinrichtung zur Durchführung einer oder mehrerer Zusatzaufgaben durch Erfassen
zumindest einer zu wenigstens einer Funktionseinheit (49) der Vorrichtung gehörenden
Kontur mittels des Kompaktsensors (23) ausgebildet ist.
11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass eine Steuereinrichtung (51) vorgesehen ist, die dazu ausgebildet ist, unter Verwendung
von erfassten Produktkonturen Steuerdaten zu berechnen und unter Verwendung der Steuerdaten
die Vorrichtung, insbesondere die Produktzufuhr (15), zu betreiben, insbesondere zur
Gewinnung gewichtskonstanter Produktscheiben (53) oder Portionen (55) von Produktscheiben
(53).