(19)
(11) EP 3 953 684 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
16.02.2022  Patentblatt  2022/07

(21) Anmeldenummer: 20719335.0

(22) Anmeldetag:  25.03.2020
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01N 21/41(2006.01)
G02B 21/36(2006.01)
G02B 21/10(2006.01)
G02B 21/34(2006.01)
 G01N 21/55(2014.01)
G01M 11/02(2006.01)
G02B 21/24(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G02B 21/10; G02B 21/245; G02B 21/34; G02B 21/365
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2020/058256
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2020/207795 (15.10.2020 Gazette  2020/42)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 12.04.2019 DE 102019109832

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • WEISS, Alexander
    35440 Linden (DE)
  • SCHUMANN, Christian
    35423 Lich (DE)
  • CAPELLMANN, Ronja
    35578 Wetzlar (DE)

(74) Vertreter: Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB 
Postfach 86 07 48
81634 München
81634 München (DE)

   


(54) LICHTBLATTMIKROSKOP UND VERFAHREN ZUUR BESTIMMUNG DER BRECHUNGSINDICES VON OBJEKTEN IM PROBENRAUM