[0001] Die vorliegende Erfindung betrifft ein Kontaktelement, SMD-Bauelement und Verfahren
zur Herstellung dieses SMD-Bauelements.
[0002] Die Montage von Bauelementen an Leiterplatten kann mittels zweier verschiedener Techniken
erfolgen, einerseits in der sogenannten Durchstecktechnik oder THT (THT für "through-hole
technique"), in der Anschlussdrähte durch Bestückungslöcher in einer Leiterplatte
von einer Vorderseite der Leiterplatte zu einer Rückseite der Leiterplatte hindurchgesteckt
werden, um dann auf der Rückseite der Leiterplatte verlötet zu werden, und andererseits
in der Oberflächenmontagetechnik oder SMT (SMT für "surface mounted technique"), in
der ein Bauteil auf lediglich einer Seite einer Leiterplatte mittels lötfähiger Anschlussflächen
direkt verlötet wird, ohne dass bei der Verbindung ein Anschlussdraht erforderlich
ist. Eine Bestückung mittels Oberflächenmontage bietet gegenüber einer Bestückung
mittels Durchsteckmontage die Möglichkeit einer sehr dichten Bestückung, da in SMT
eine Leiterplatte auf beiden Seiten bestückt werden kann, während dies bei THT nur
auf einer Seite möglich ist.
[0003] Weiterhin ist eine Bestückung in SMT gegenüber THT dahingehend einfacher, dass keine
Anschlussdrähte durch Bestückungslöcher hindurch zu fädeln sind, obgleich in SMT wiederrum
eine exakte Ausrichtung eines SMD-Bauelements (SMD für "surface mounted device"),
d.h. eines zur Oberflächenmontage vorgesehenen Bauteils, zu Anschlussflächen auf einer
zu bestückenden Leiterplatte sicherzustellen ist. Diese exakte Ausrichtung ist bei
der SMT für eine hohe Qualität einer in der SMT hergestellten Schaltung auf einer
Leiterplatte von großer Bedeutung, so dass einer einwandfreien Verlötung von SMD-Bauteilen
eine große Bedeutung zukommt, da dies die Zuverlässigkeit von Vorrichtungen mit entsprechend
bestückten Leiterplatten bedingt. Bei fortschreitend miniaturisierten SMD-Bauteilen
ist es zunehmend schwieriger, diese Ausrichtung bei Leiterplatten mit den miniaturisierten
SMD-Bauteilen mit dem bloßen Auge oder mit Hilfe eines Mikroskops zu kontrollieren.
Allgemein werden in SMT auch zusätzlich Bildverarbeitungsanlagen, sogenannte AOI-Systeme
(AOI für "automated optical inspection"), eingesetzt, die mit großer Präzision und
hoher Geschwindigkeit die vorgeschriebenen wichtigen Parameter überprüfen.
[0004] Weiterhin ist bei SMD-Bauteilen auch eine Kontaktierung der am SMD-Bauteil bereitgestellten
zu verlötenden Kontakte zu internen Anschlussdrähten im SMD-Bauteil bereitzustellen.
Beispielsweise sind im Falle einer als SMD-Bauteil bereitgestellten Drossel im Gehäuse
der Drossel SMD-Kontakte bereitzustellen, die häufig im Gehäuse verspritzte Kontakte
darstellen. Diese Kontakte sind mit Anschlussdrähten von Wicklungen der Drossel durch
Entfernen des Mantels der Anschlussdrähte an Anschlussenden der Anschlussdrähte abzuisolieren
und die freigelegten Anschlussenden werden meist durch Löten oder Schweißen mit den
Kontakten der Drossel verbunden. Beim Löten oder Schweißen erfolgt jedoch eine thermische
Beanspruchung des Gehäuses und des zu verlötenden oder verschweißenden Anschlussdrahts,
da beim Löten oder Schweißen am Verbindungspunkt eine Erwärmung auftritt. Durch diese
Erwärmung kann die Zuverlässigkeit von elektrischen und mechanischen Verbindungen
am Verbindungspunkt beeinträchtigen, wodurch die Zuverlässigkeit des gesamten Bauteils
beeinträchtigt sein kann. Außerdem stellen Löten oder Schweißen an dieser Stelle im
Herstellungsprozess an sich energiereiche Prozesse dar, die zu den Herstellungskosten
nicht unwesentlich beitragen können. Weiterhin können im Anschluss an einen Löt- oder
Schweißvorgang zusätzliche Reinigungsprozesse erforderlich sein, um durch ein Löten
oder Schweißen verursachte Schmutzrückstände am Bauteil zu entfernen, da diese das
elektrische und/oder mechanische Leistungsvermögen negativ beeinflussen können. Diese
zusätzlichen Reinigungsprozesse haben aber wiederrum Auswirkungen auf die Produktionsdauer
und die Herstellungskosten.
[0005] Darüber hinaus besteht eine Problematik bei der SMT darin, dass im Gehäusedesign
die im Gehäuse zu verspritzenden SMD-Kontakte zu berücksichtigen sind, welche im Spritzgussprozess
im Formwerkzeug anzuordnen sind. Hierbei kann es bei einer ungenauen Anordnung der
SMD-Kontakte im Formwerkzeug zu Schwierigkeiten bei der SMT kommen, wenn der SMD-Kontakt
am SMD-Bauteil nicht genau genug zu Anschlussflächen einer Leiterplatte ausgerichtet
sind. Insgesamt tragen diese Prozesse zu den Herausforderungen und Kosten in der SMT
bei.
[0006] Ein weiterer Punkt, der bei der Herstellung von Bauteilen zu berücksichtigen ist,
besteht darin, dass elektromechanische Verbindungen in vielen Anwendungen, vor allem
in Anwendungen im Automobilbereich, Erschütterungen ausgesetzt sind, die die mechanische
Stabilität einer elektromechanischen Verbindung, beispielweise einer Löt- oder Schweißverbindung,
negativ beeinflussen können. Beispielsweise können sich elektrische Verbindungen mit
der Zeit verschlechtern, was im Endeffekt zur Beeinträchtigung eines gesamten Bauteils
mit dieser elektromechanischen Verbindung unter diesen Bedingungen führt.
[0007] Angesichts der oben beschriebenen Anforderungen besteht daher eine Aufgabe, Kontaktelemente
und SMD-Bauteile zur Oberflächenmontage mit einem derartigen Kontaktelement, sowie
ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen SMD-Bauteils bereitzustellen, die die
oben beschriebenen Probleme vermeiden.
[0008] In einem ersten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung ein Kontaktelement bereit.
In anschaulichen Ausführungsformen hierin umfasst das Kontaktelement wenigstens eine
Schneidklemme und eine Kontaktfläche, die zur SM D-Montage ausgebildet ist, wobei
die wenigstens eine Schneidklemme und die Kontaktfläche bezüglich einer Einsteckrichtung
eines zu kontaktierenden elektrischen Leiters in die Schneidklemme zur IDC-Kontaktierung
an einander gegenüberliegenden Enden des Kontaktelements ausgebildet sind. Dies bedeutet,
dass das Kontaktelement derart ausgebildet ist, dass die zur SMD-Montage ausgebildete
Kontaktfläche dazu geeignet ist, einem SMT-Prozess, insbesondere einem Löt- oder Schweißprozess
und damit den mit einem solchen Prozess einhergehenden Bedingungen ausgesetzt zu werden,
ohne dass elektrische und mechanische Eigenschaften an der Schneidklemme beeinträchtigt
werden und umgekehrt. Mit anderen Worten bedeutet dies, dass die Kontaktfläche mindestens
durch eine aus einer strukturellen Ausgestaltung in der Form der Kontaktfläche und
einem Material der Kontaktfläche und einem Vorhandensein von wenigstens einem Lötkontaktpunkt
an der Kontaktfläche und dergleichen dazu ausgebildet ist, als ein SMD-Kontakt zu
fungieren, während gleichzeitig die Schneidklemme eine Funktion als Schneidkontakt
implementiert.
[0009] In einer speziellen Ausgestaltung des ersten Aspekts kann die Kontaktfläche durch
eine Kante des Kontaktelements gebildet sein, die sich quer zur Einsteckrichtung erstreckt.
[0010] In anderen speziellen Ausgestaltung können wenigstens zwei Schneidklemmen bereitgestellt
sein und ferner kann die Kontaktfläche durch einen Abschnitt des Kontaktelements gebildet
sein, der in eine Richtung quer zur Einsteckrichtung von den wenigstens zwei Schneidklemmen
weg umgebogen ist und sich von den wenigstens zwei Schneidklemmen wegerstreckt. Beide
Möglichkeiten von Ausgestaltungen stellen für sich eine Lösung des oben beschriebenen
Problems der Verschlechterung von elektrischen Verbindung bereit.
[0011] Das Kontaktelement gemäß dem ersten Aspekt stellt ein Kontaktelement mit einer Kontaktschnittstelle
als SMD-Kontaktfläche und einer Kontaktschnittstelle als Schneidkontakt in einem Kontaktelement
bereit. Damit lässt sich dieses Kontaktelement sowohl zur Oberflächenmontage, als
auch als Schneidkontakt verwenden. Dies bietet für SMD-Bauteile mit einem derartigen
Kontaktelement die Möglichkeit, interne Anschlussdrähte mittels der Schneidklemme
zu kontaktieren, während gleichzeitig die Kontaktschnittstelle zur Oberflächenmontage
an einer Leiterplatte bereitgestellt wird. Dabei bietet ein Schneidkontakt den Vorteil
eines rüttelsicheren und gasdichten Kontakts, bei dem zum Beispiel an der Kontaktfläche
zwischen den Schneidklemmen und einem zu kontaktierenden Anschlussdraht durch Kaltverschweißen
eine Verbindung entsteht. Durch die Schneidklemme erfolgt nicht nur eine zuverlässige
Verbindung, das Kontaktelement kann auch auf einfache Weise an einem SMD-Bauteil bereitgestellt
werden, ohne dass thermische Verbindungsprozesse oder ein Umspritzen bei der Herstellung
eines Gehäuses notwendig sind. Das Kontaktelement vermeidet somit, dass sich die Koplanarität
von SMD-Flächen am Kontaktelement während des Produktionsprozesses verändert, da keine
thermische Belastung durch Löten oder Schweißen auftritt. Weiterhin bietet der Schneidkontakt
die Möglichkeit einer sauberen Kontaktierung eines stromführenden Anschlussdrahts
innerhalb eines SMD-Bauteils zum SMD-Kontakt des SMD-Bauteils, so dass zusätzliche
Reinigungsprozesse nicht mehr erforderlich sind. Ferner ist in Herstellungsprozessen
mit derartigen Kontaktelementen kein Umspritzen des Kontaktelements, Abmanteln eines
Anschlussdrahts und Löten oder Schweißen erforderlich, so dass das Kontaktelement
gemäß diesem Aspekt die Möglichkeit bietet, Produktionsprozesse zu reduzieren (d.h.
kein Einlegen eines SMD-Kontakts in eine Spritzgussform, ein Schweißen/Löten, ein
Reinigen, Abisolieren usw.), wodurch eine Bauteilkomplexität reduziert wird. Als Ergebnis
können Bauteilkosten und Prozesskosten reduziert werden. Zusammenfassend erlaubt das
Kontaktelement gemäß dem ersten Aspekt eine Verbesserung einer Kontaktqualität (da
kein Restschmutz, Schmauch, Abweichungen in der Koplanarität, Lunker usw.) und durch
die Vermeidung von Löten oder Schweißen bei einer internen Kontaktierung im SMD-Bauteil
wird die Energieaufwendung bei der Herstellung reduziert, unter anderem auch da keine
Absaugung von Dämpfen/Schmauch erforderlich ist.
[0012] Das Kontaktelement gemäß dem ersten Aspekt stellt eine Schneidkontaktschnittstelle
als Kontaktübergang zwischen dem Anschlussdraht zu einer Bauteilkomponente eines SMD-Bauelements
dar, während die Kontaktfläche eine SMD-Kontaktschnittstelle als Kontaktübergang zwischen
SDM-Bauelement und Leiterplatte darstellt. Im Allgemeinen ist ein Kontaktübergang
einer der wichtigsten Punkte bei der Entwicklung und Herstellung von Bauelementen,
da die Qualität eines Kontaktpunkts das elektrische Leistungsvermögen beeinflusst.
Beispielhafte Parameter, die die Qualität eines Kontaktpunkts bestimmen, hängen vom
elektrischen Widerstand am Kontaktpunkt und dem Kontaktwiderstand ab. Dieser setzt
sich aus dem Enge- und dem Fremdschicht-Widerstand zusammen. Der Engewiderstand entsteht
durch Unebenheiten der Kontaktfläche, infolge dessen sich elektrische Kontakte am
Kontaktpunkt nicht schlüssig auf der gesamten Fläche berühren, sondern an einer Vielzahl
von erhabenen Mikroflächen. Bei Strombelastung kommt es dann an diese Stellen zu einer
Einschnürung von Strombahnen. Der Fremdschicht-Widerstand berücksichtigt Widerstandsanteile,
die durch hauchdünne Oberflächenschichten, z.B. Oxid- oder Korrosionshäute, verursacht
werden. Um dies zu vermeiden werden Verzinnungen sowie Edelmetall-Beschichtungen aus
Gold, Silber, Palladium oder Platin verwendet. Beide Widerstände sind abhängig von
der Kontaktkraft mit der die Berührungsflächen gegeneinander verpresst sind. Mit steigender
Kraft vergrößert sich durch elastische oder plastische Verformung die Summe der Mikroflächen,
und Fremdschichten können teilweise zerstört werden, wodurch sich der Gesamtwiderstand
verringert.
[0013] Hierbei kann einerseits ein Kontaktelement mit einer großen Kontaktfläche bereitgestellt
werden, die als Kontaktfederabschnitt eine vorteilhafte Einstellung einer Koplanarität
ermöglich. Andererseits können mehrere Anschlussdrähte mittels einem Kontaktelement
kontaktiert werden, so dass eine SMD-fähige Kontaktierung einer Mehrzahl von Anschlussdrähten
durch ein Kontaktelement erreicht ermöglich wird. Dies erlaubt eine Skalierung von
SMD-Kontakten ohne Toleranzen bei Anordnungen von SMD-Kontakten zu vergrößern.
[0014] In einer anschaulichen Ausführungsform des ersten Aspekts kann das Kontaktelement
aus einem einzigen Metall ausgebildet sein. Damit kann das Kontaktelement vorteilhafte
elektrische und mechanische Eigenschaften aufweisen und auch leicht herstellbar sein.
Beispielsweise kann auf diese Weise eine ausreichende Elastizität an den Schneidklemmen
bei vorteilhaften elektrischen Leitfähigkeitseigenschaften und eine gute Lötbarkeit
in einer SMD-Bestückung sichergestellt werden. In einer vorteilhaften Ausgestaltung
hierin kann das Metall aus Messing (beispielsweise CuZn mit einem Zn-Anteil von 20%
bis 40%, wie etwa CuZn30), Bronze (z.B. CuSnX, wie etwa CuSn6) oder einer Kupfer-Nickel-Legierung
(z.B. eine CuNi-Legierung mit wengistens einem von Si und Mg, wie etwa CuNi3Si1Mg)
ausgewählt sein. Diese Metalle sind vorteilhaft, wobei sich Bronze und eine Kupfer-Nickel-Legierung
als besonders vorteilhaft erwiesen haben, im Hinblick auf Engewiderstand und Fremdschicht-Widerstand,
da diese Materialien vorteilhafte Eigenschaften bezüglich möglicher Beschichtungen,
der Kontaktgeometrie, des mechanischen Kontaktverschleiß, von Gleiteigenschaften sowie
eventueller Verriegelungsmechanismen und Abdichtungen bereitstellen. Als Material
für das Kontaktelement sind eine Kupfer-Nickel-Legierung und Bronze gegenüber Messing
weiterhin vorteilhaft, da sie eine vergleichsweise geringe thermische Spannungsrelaxation
und eine mechanische Restspannung nach einer thermischen Beanspruchung, beispielweise
durch ein Löten oder Schweißen, aufweisen. Zum Beispiel weisen Kontaktelemente gebildet
aus Bronze oder einer Kupfer-Nickel-Legierung eine mechanische Restspannung nach einer
thermischen Beanspruchung, wie sie bei Löten oder Schweißen auftritt, von mindestens
80% auf, während Messing eine mechanische Restspannung zwischen 40% und 50% aufweist.
Somit kann durch eine Cu-Ni-Legierung und/oder Bronze eine ausreichende Restspannung
an der Schneidklemme des Kontaktelements sichergestellt werden.
[0015] In einer anderen anschaulichen Ausführungsform des ersten Aspekts kann ein Kontaktelement
bereitgestellt sein, bei dem wenigstens zwei Schneidklemmen vorgesehen sind, die entlang
eines Verbindungsabschnitts voneinander beabstandet sind. Die Kontaktfläche kann dabei
an der den Schneidklemmen gegenüberliegenden Seite des Verbindungsabschnitts gebildet
sein und der Verbindungsabschnitt kann ferner Anschlagabschnitte aufweisen, die Abschnitte
des Verbindungsabschnitts darstellen, die sich über die Schneidklemmen quer zur Einsteckrichtung
hinaus erstrecken. Dadurch können Kontaktelemente mit vorgegebener Einstecktiefe auf
einfache Weise bereitgestellt werden. Beispielsweise können in einigen speziellen
anschaulichen Beispielen hierin die Anschlagabschnitte seitlich zur Kontaktfläche
versetzt und vertieft ausgebildet sein, was eine einfache strukturelle Ausgestaltung
für Kontaktelemente mit Anschlagabschnitten darstellt.
[0016] In einer anderen anschaulichen Ausführungsform des ersten Aspekts, vorzugsweise hinsichtlich
eines Kontaktelements mit lediglich einer Schneidklemme, kann das Kontaktelement ferner
einen Verbindungsabschnitt aufweisen, der zwischen der Schneidklemme und der Kontaktfläche
angeordnet ist und sich senkrecht zur Einsteckrichtung erstreckende Abschnitte als
Anschlagflächen aufweist.
[0017] In einem zweiten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung ein SMD-Bauelement mit einer
induktiven Komponente bereit, die einen Magnetkern und eine darüber angeordnete Wicklung
umfasst, und ein Gehäuse bereit, zur Aufnahme der induktiven Komponente und einer
oder mehrerer Schneidklemmen ausgebildet ist und jede Schneidklemme in eine in einer
Oberfläche des Gehäuses gebildeten Nut entlang der Einsteckrichtung eingesteckt ist
und jede Schneidklemme in einer sich von der Oberfläche entlang seiner Normalenrichtung
wegerstreckenden Seitenwand durch einen Schlitz wenigstens teilweise freigelegt ist.
Hierbei kann das SMD-Bauelement ferner in einigen Ausgestaltungen wenigstens ein Kontaktelement
gemäß dem ersten Aspekt umfassen oder das SMD-Bauelement kann ferner in einigen dazu
alternativen Ausgestaltungen wenigstens ein Kontaktelement umfassen, das genau eine
Schneidklemme und eine Kontaktfläche aufweist, die zur SMD-Montage ausgebildet ist,
wobei die Schneidklemme und die Kontaktfläche bezüglich einer Einsteckrichtung eines
zu kontaktierenden elektrischen Leiters in die Schneidklemme zur IDC-Kontaktierung
an einander gegenüberliegenden Enden des Kontaktelements ausgebildet sind. In anschaulichen
Beispielen hierin kann die Kontaktfläche durch einen Abschnitt des Kontaktelements
gebildet sein, der in eine Richtung quer zur Einsteckrichtung von der Schneidklemme
weg umgebogen ist.
[0018] Im zweiten Aspekt wird damit das SMD-Bauelement ein Gehäusedesign für ein induktives
SMD-Bauelement ohne eingelegten und umspritzten SMD-Kontakt bereitgestellt. Das Kontaktelement
vermeidet eine Veränderung einer Koplanarität von SMD-Flächen am Kontaktelement während
des Produktionsprozesses, da eine thermische Belastung durch Löten oder Schweißen
vermieden wird. Weiterhin bietet der Schneidkontakt eine saubere Kontaktierungsmethode
eines stromführenden Anschlussdrahts innerhalb des SMD-Bauelements zum SMD-Kontakt
des SMD-Bauelements durch eine rüttelsichere und gasdichte Kontaktierung. Da nunmehr
kein Umspritzen eines Kontakts bei der Herstellung des Gehäuses, Abmanteln eines Anschlussdrahts
und Löten oder Schweißen erforderlich ist, werden durch das Kontaktelement gemäß dem
ersten Aspekt nun Produktionsprozesse bei der Herstellung des SMD-Bauelements reduziert
(d.h. kein Einlegen eines SMD-Kontakts in eine Spritzgussform, ein Schweißen/Löten,
ein Reinigen, Abisolieren usw.), wodurch eine Bauteilkomplexität reduziert wird. Dies
erlaubt eine Reduzierung von Bauteilkosten und somit eine Reduzierung von Prozesskosten.
Das Kontaktelement gemäß dem ersten Aspekt erlaubt eine Verbesserung einer Kontaktqualität
(da kein Restschmutz, Schmauch, Abweichungen in der Koplanarität, Lunker usw. auftritt).
Ferner wird durch die Vermeidung von Löten oder Schweißen bei einer internen Kontaktierung
im SMD-Bauelement die Energieaufwendung bei der Herstellung reduziert, unter anderem
auch da keine Absaugung von Dämpfen/Schmauch erforderlich ist. In beispielhaften Ausgestaltungen
des SMD-Bauelements umfasst das Gehäusedesign ein trog- oder topfförmig ausgebildetes
Gehäuse, in das der Magnetkern mit der darüber angeordneten Wicklung eingelegt ist.
Vorzugsweise wird der Magnetkern, beispielsweise ein magnetischer Ringkern, ein eine
oberseitige Öffnung des Gehäuses eingesetzt, wobei an einer gegenüberliegenden Unterseite
des Gehäuses das wenigstens eine Kontaktelement derart angeordnet ist, dass die Unterseite
zur SMD-Montage auf einem weiteren Bauteil, beispielsweise einer Leiterplatte, angeordnet
wird und das wenigstens eine Kontaktelement mit einem SMD-Kontakt des weiteren Bauteils
in Kontakt gebracht wird. Mit anderen Worten, es kann ein SMD-Bauelement bereitgestellt
sein, bei dem das Gehäuse als trog- oder topfförmiges Gehäuse mit einer oberseitigen
Öffnung ausgebildet sein kann, in die der Magnetkern eingesetzt ist, wobei an einer
gegenüberliegenden Unterseite des Gehäuses das wenigstens Kontaktelement angeordnet
ist.
[0019] In einer anschaulichen Ausführungsform des zweiten Aspekts kann jeder Schlitz die
Seitenwand entlang einer Richtung senkrecht zur Einsteckrichtung vollständig durchsetzen.
Damit kann ein Anschlussende eines Anschlussdrahts in jeweils einem Schlitz eingesetzt
sein, was eine einfache Kontaktierung erlaubt.
[0020] In einer weiteren anschaulichen Ausführungsform des zweiten Aspekts, in der wenigstens
zwei Schneidklemmen bereitgestellt sind, kann jede Seitenwand zwischen jeweils zwei
darin gebildeten Schlitzen eine Vertiefung aufweisen, so dass diese Seitenwand in
einer Ansicht entlang der Einsteckrichtung jeweils zwischen diesen zwei Schlitzen
einen sich verjüngenden Abschnitt aufweist. Zwischen den jeweils zwei Schlitzen kann
sich eine Nut durchgehend erstreckt, wobei der Verbindungabschnitt zwischen den Schneidklemmen
im sich verjüngenden Abschnitt in die darin verlaufende Nut formschlüssig aufgenommen
ist. Die Vertiefung erlaubt eine optische Überwachung der Kontaktelemente während
einer Oberflächenmontage des SMD-Bauelements auf einer Leiterplatte. Durch die formschlüssige
Aufnahme von Kontaktelementen in Nuten wird der Verbindungsabschnitt zwischen den
Schlitzen mechanisch stabilisiert.
[0021] In einem dritten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Herstellung
des SMD-Bauelements gemäß dem zweiten Aspekt bereit. In anschaulichen Ausführungsformen
hierin umfasst das Verfahren ein Bereitstellen des Gehäuses, ein Bestücken des Gehäuses
mit der induktiven Komponente, wobei die Wicklung wenigstens einen elektrischen Leiter
umfasst, wobei wenigstens ein Anschlussende des wenigstens einen elektrischen Leiters
in einen Schlitz eingesetzt ist, und ein Einstecken von einem Kontaktelement in eine
Nut, die mit dem Schlitz in Verbindung steht, in die das wenigstens eine Anschlussende
eingesetzt ist, entlang der Einsteckrichtung, wobei dabei eine IDC-Kontaktierung des
wenigstens einen Anschlussendes mit dem Kontaktelement durchgeführt wird. Damit werden
Prozesse im Verfahren vermieden, die eine Veränderung einer Koplanarität von SMD-Flächen
am Kontaktelement während des Produktionsprozesses bewirken können, da im Verfahren
eine thermische Belastung durch Löten oder Schweißen vermieden wird. Weiterhin bietet
der Schneidkontakt eine saubere Kontaktierungsmethode eines stromführenden Anschlussdrahts
innerhalb des SMD-Bauelement zum SMD-Kontakt des SMD-Bauelement durch eine rüttelsichere
und gasdichte Verbindung. Da nunmehr kein Abmanteln eines Anschlussdrahts und Löten
oder Schweißen erforderlich ist, werden nun Produktionsprozesse im Verfahren reduziert
(d.h. kein Einlegen eines SMD-Kontakts in eine Spritzgussform, ein Schweißen/Löten,
ein Reinigen, Abisolieren usw.), wodurch eine Bauteilkomplexität reduziert wird. Dies
erlaubt eine Reduzierung von Bauteilkosten und somit eine Reduzierung von Prozesskosten
bei der Herstellung des SMD-Bauelements. Durch die Vermeidung von Löten oder Schweißen
bei einer internen Kontaktierung im SMD-Bauelement kann die Energieaufwendung bei
der Herstellung reduziert werden, wobei auch keine Absaugung für Dämpfe / Schmauch
erforderlich ist.
[0022] Weitere Vorteile und anschauliche Ausführungsformen der oben dargestellten Aspekte
der Erfindung sind nachfolgend mit Bezug auf die beiliegenden Figuren beschrieben,
die nicht maßstabsgetreu gezeichnet sind und in denen:
- Fig. 1
- schematisch eine auseinandergenommene Darstellung eines SMD-Bauelements gemäß einigen
anschaulichen Ausführungsformen darstellt;
- Fig. 2
- schematisch eine Ansicht einer Unterseite des in Fig. 1 gezeigten SMD-Bauelements
darstellt;
- Fig. 3
- schematisch eine Seitenansicht des in Fig. 2 gezeigten SMD-Bauelement dar-stellt;
- Fig. 4
- schematisch eine Aufsicht des in Fig. 2 gezeigten SMD-Bauelements darstellt;
- Fig. 5
- schematisch eine perspektivische Darstellung eines Kontaktelements für das SMD-Bauelement
gemäß den Fig. 1 bis 4 darstellt;
- Fig. 6
- schematisch eine Seitenansicht des Kontaktelements aus Fig. 5 darstellt;
- Fig. 7
- schematisch eine Darstellung eines SMD-Bauelements gemäß einigen anderen anschaulichen
Ausführungsformen darstellt;
- Fig. 8
- schematisch eine auseinandergenommene Darstellung des in Fig. 7 gezeigten SMD-Bauelements
darstellt; und
- Fig. 9
- schematisch eine Seitenansicht eines Kontaktelements für das SMD-Bauelement gemäß
den Fig. 7 und 8 darstellt;
[0023] Mit Bezug auf Fig. 1 bis 4 werden nun mittels eines induktiven SMD-Bauelements 100
verschiedene anschauliche Ausführungsformen beschrieben.
[0024] Fig. 1 zeigt in einer auseinandergenommenen perspektivischen Ansicht das SMD-Bauelement
100 gemäß verschiedenen anschaulichen Ausführungsformen. Das SMD-Bauelement 100 umfasst
ein Gehäuse 10 mit Kontaktelementen 32, 34, 36 und 38, die ins Gehäuse 10 eingesteckt
sind. Das Gehäuse kann eine Bauteilkomponente 20 aufnehmen, beispielsweise wie dargestellt
eine magnetische Komponente in Form einer induktiven Komponente mit einem Magnetkern
22 und einer darüber angeordneten Wicklung 24. Dies stellt keine Beschränkung der
vorliegenden Beschreibung dar und anstelle der dargestellten induktiven Komponente
20 kann eine elektrische Komponente wie eine kapazitive Komponente (nicht dargestellt),
ein Widerstand usw. vorgesehen sein. Zusätzlich oder alternativ können weitere Komponenten
in Form von elektromechanischen Komponenten, thermoelektrischen Komponenten, elektrooptischen
Komponenten usw. oder eine Kombination verschiedener Bauteilkomponenten vorgesehen
sein, wie beispielsweise wenigstens ein Kondensator und/oder wenigstens eine Induktivität,
die zur Integration in das Gehäuse 10 vorgesehen sind, wobei das Gehäuse 10 zur Aufnahme
entsprechender Bauteilkomponenten ausgebildet ist.
[0025] Mit Bezug auf Fig. 1 weist die Bauteilkomponente 20 Anschlussdrähte mit Anschlussenden
25, 26, 27, 28 auf, die mit den Kontaktelementen 32, 34, 36, 38 entsprechend elektrisch
und mechanisch im SMD-Bauelement 100 verbunden sind. In der in Fig. 1 dargestellten
anschaulichen Ausführungsform, in der das SMD-Bauelement 100 die dargestellte induktive
Komponente 20 aufweist, sind Wicklungen 24 bereitgestellt, die die Anschlussenden
25, 26, 27, 28 umfassen. In dem dargestellten SMD-Bauelement 100 sind Nuten 11, 12
und 13 und eine weitere nicht dargestellte Nut (in Fig. 2 ist eine weitere Nut 14
dargestellt, die in der auseinandergenommenen Ansicht von Fig. 1 nicht sichtbar ist)
in Seitenwänden SW1 und SW2 des Gehäuses 10 zur Aufnahme der Kontaktelemente 32, 34,
36 und 38, sowie Schlitze 16, 17 und 18 (ein weiterer Schlitz ist in der Darstellung
von Fig. 1 nicht sichtbar, wäre jedoch entsprechend den anderen Schlitzen an der Nut
14 von Fig. 2 auch in Fig. 1 entsprechend vorzusehen) vorhanden. Gemäß der Darstellung
in Fig. 1 sind die Seitenwände SW1 und SW2 als einander am Gehäuse 10 gegenüberliegende
Seitenwände dargestellt. Dies stellt keine Beschränkung der Beschreibung dar und alternativ
können Nuten und Schlitze in einander benachbarten Seitenwänden oder in allen Seitenwänden
des Gehäuses 10 ausgebildet sein. In der Darstellung von Fig. 1 ist jede Nut der Nuten
11, 12 und 13 senkrecht zu einem der Schlitze 16, 17 und 18 orientiert, jedoch kann
allgemein jeder der Schlitze 16, 17 und 18 zu der zugehörigen Nut 11, 12 und 13 quer
orientiert sein.
[0026] Mit Bezug auf die Fig. 5 und 6 ist ein anschauliches Kontaktelement 40 dargestellt.
In beispielhaften Ausführungsformen kann das anschauliche Kontaktelement 40 repräsentativ
ein jedes der Kontaktelemente 32, 34, 36 und 38 in den Fig. 1 bis 4 darstellen. Fig.
5 zeigt eine perspektivische Ansicht des Kontaktelements 40, während Fig. 6 eine Seitenansicht
des Kontaktelements 40 zeigt. Gemäß der Darstellung des Kontaktelements 40 in den
Fig. 5 und 6 weist das Kontaktelement 40 eine Schneidklemme 42 und eine Kontaktfläche
44 auf. Die Kontaktfläche 44 ist zur SMD-Montage ausgebildet, während die Schneidklemme
42 als Schneidkontakt fungiert, so dass das Kontaktelement 40 eine Kontaktschnittstelle
zur Schneidkontaktierung und gleichzeitig zur Oberflächenmontage bereitstellt. Speziell
stellt die Schneidklemme 42 eine Schneidklemme gemäß der IDC-Schneidklemmtechnik (IDC
steht für "insulation displacement connector") dar, bei der durch die Schneidklemmen
gleichsam eine Öffnung bzw. Verdrängung des isolierenden Mantels eines Anschlussdrahtes
erfolgt, der in die Schneidklemmen eingesetzt wird. Mit anderen Worten schneiden sich
die Schneidklemmen 42 beim Einsetzen eines Anschlussdrahts (in Fig. 5 und 6 nicht
dargestellt) in die Schneidklemme 42 entlang einer Einsteckrichtung E1 in einen Mantel
des Anschlussdrahts (nicht dargestellt) ein, wobei die Innenseiten der Schneidklemme
42 mit einem Drahtkern (nicht dargestellt) des Anschlussdrahts (nicht dargestellt),
der entlang der Einsteckrichtung E1 in die Schneidklemme 42 eingesteckt ist, eine
gasdichte Verbindung bildet. Die als SMD-Kontaktschnittstelle fungierende Kontaktfläche
44 kann sich gemäß beispielhafter, jedoch nicht beschränkender Ausführungsformen an
einem der Schneidklemme 42 gegenüberliegenden Abschnitt des Kontaktelements 40 bezüglich
der Einsteckrichtung E1 befinden.
[0027] Die Schneidklemme 42 stellt eine Kontaktschnittstelle aus der IDC-Schneidklemmtechnik
dar, bei der es sich um eine Verbindungslösung handelt, die ohne Löten, Schrauben
und Abisolieren mit dem einfachen Beschaltungsprinzip von IDC auskommt. Dabei wird
eine Ader (nicht dargestellt) eines zu kontaktierenden elektrischen Leiters (nicht
dargestellt) mitsamt Isolierung in einen V-förmigen Klemmkontakt, der durch die Schneidklemme
42 bereitgestellt wird, gedrückt. Beim Eindrücken des zu kontaktierenden elektrischen
Leiters (nicht dargestellt) durchschneiden scharfe Flanken der Schneidklemme 42 eine
am elektrischen Leiter (nicht dargestellt) vorgesehene Isolierung (nicht dargestellt)
und es entsteht eine elektrisch leitfähige Verbindung, ein Kontaktübergang, zwischen
der Ader (nicht dargestellt) und der Schneidklemme 42. So erreicht man eine gasdichte
und korrosionsbeständige Verbindung am Kontaktübergang. Die Klemmwirkung der Schneidklemme
42 wird durch eine für die Schneidklemme 42 vorgegebene Schneidengeometrie erzielt.
Hierbei bestimmen eine hohe Kontaktkraft, gute Leitfähigkeit und die richtige Form
eines Grundmaterials für die Schneidklemme 42 die Übertragungsqualität und Langzeit-Zuverlässigkeit
einer IDC-Kontaktierung. Für das Kontaktelement 40 wird durch die durch die IDC-Kontaktierung
bereitgestellten elektrischen und mechanischen Eigenschaften eine zuverlässige Verbindung
zwischen einem zu kontaktierenden elektrischen Leiter (nicht dargestellt) und dem
Kontaktelement 40 realisiert.
[0028] Gemäß nichtbeschränkender Ausführungsformen und wie in der Darstellung von Fig. 5
veranschaulicht ist, kann die Kontaktfläche 44 des Kontaktelements 40 durch einen
gebogenen Abschnitt gebildet sein, der sich entlang einer Richtung quer zur Einsteckrichtung
E1 erstreckt. Auf diese Weise kann mittels des gebogenen Abschnitts eine ausreichende
Kontaktfläche zur SMD-Kontaktierung bereitgestellt werden, die von einer Kantendicke
des Kontaktelements 40 unabhängig ist. In einigen anschaulichen Ausführungsformen
kann das Kontaktelement 40 weiterhin einen Verbindungsabschnitt 46 aufweisen, der
zwischen der Schneidklemme 42 und der Kontaktfläche 44 angeordnet ist und sich senkrecht
zur Einsteckrichtung E1 erstreckende Abschnitte aufweist, die als Anschlagflächen
beim Einstecken des Kontaktelements 40 in eine der Nuten 11, 12 und 13 in Fig. 1 dienen.
Der Verbindungsabschnitt 46 erlaubt mit den Anschlagflächen eine Einstellung einer
Höhe der Kontaktfläche 44 bezüglich einer Unterseite des Gehäuses 10 in Fig. 1, wenn
das Kontaktelement 40 in eine der Nuten 11 bis 13 aus Fig. 1 eingesteckt wird, unabhängig
von einer Tiefe der Nut bezogen auf eine Länge der Schneidklemmen, so dass eine ausreichende
Koplanarität von Kontaktflächen mehrerer Kontaktelemente in einem SMD-Bauelement (wie
das SMD-Bauelement 100 in Fig. 1) bereitgestellt werden kann.
[0029] Mit erneutem Bezug auf Fig. 1 wird nun eine Herstellung des SMD-Bauelements 100 anhand
der in Fig. 1 dargestellten auseinandergenommenen Darstellung beschrieben. Hierzu
wird das Gehäuse 10 entsprechend einem gewünschten Gehäusedesign für ein SMD-Bauelement
mit der Bauteilkomponente 20 bereitgestellt. Im Hinblick auf Fig. 1, wobei in der
dargestellten Ausführungsform die Komponente 24 als induktive Komponente mit Magnetkern
22 und Wicklung 24 vorgesehen ist, wird die elektrische Komponente an der Unterseite
des Gehäuses 10 montiert und die Anschlussenden 25 bis 28 werden in die entsprechenden
Schlitze 16 bis 18 eingelegt. Dies stellt jedoch keine Beschränkung dar und alternativ
kann ein stehend auf der Oberseite des Gehäuses 10 montierter und bewickelter Magnetkern
(nicht dargestellt) vorhanden sein, wobei Anschlussdrähte der Wicklung(en) zur Unterseite
des Gehäuses 10 geführt sind.
[0030] Gemäß der Darstellung in Fig. 1 sind die Anschlussenden 25 bis 28 dabei in die Schlitze
16 bis 18 derart eingelegt, dass sich z.B. das Anschlussende 25 vollständig durch
die Nut 11 hindurcherstreckt, sich das Anschlussende 26 z.B. vollständig durch die
Nut 12 hindurcherstreckt und sich z.B. das Anschlussende 28 vollständig durch die
Nut 13 im Schlitz 18 hindurcherstreckt. Entsprechendes gilt auch für das Anschlussende
27 bezüglich der in Fig. 1 nicht dargestellten Nut und dem in Fig. 1 nicht dargestellten
Schlitz. Anschließend erfolgt eine Kontaktierung des Anschlussendes 25 durch Einstecken
des Kontaktelements 32 in die Nut 11, wobei die Schneidklemme des Kontaktelements
32 das Anschlussende 25 elektrisch und mechanisch kontaktiert. Obgleich in der auseinandergenommenen
Darstellung in Fig. 1 die Kontaktelemente 34, 36 und 38 als auf die entsprechenden
Anschlussenden 26, 27 und 28 aufgesteckt gezeigt sind, dient dies nur zum Zwecke der
in Fig. 1 dargestellten auseinandergenommenen Darstellung. Eine Kontaktierung eines
Anschlussendes durch ein Kontaktelement erfolgt erst, nachdem ein Anschlussende in
einen Schlitz eingelegt wurde, wie mittels gestrichelter Pfeile 1 und 2 in Fig. 1
zwischen demjenigen Kontaktelement 32 und dem Anschlussende 25 veranschaulicht ist.
Dabei stellt der gestrichelte Pfeil 1 einen Prozess eines Einsetzens des Anschlussendes
25 in den Schlitz 16 dar, während der gestrichelte Pfeil 2 ein nachfolgendes Einstecken
des Kontaktelements 32 in den Schlitz und auf den Anschlussdraht 25 veranschaulicht.
[0031] Mit Bezug auf Fig. 2 ist eine Ansicht der Unterseite des Gehäuses 10 im montierten
Zustand des SMD-Bauelements gezeigt. Wie aus der Darstellung in Fig. 2 hervorgeht
erstrecken sich Kontaktflächen der Kontaktelemente 32, 34, 36 und 38 von den Nuten
11, 12, 13 und 14 zu den jeweiligen Seitenwänden SW1 und SW2 hin und sogar darüber
hinaus. So lässt sich optisch eine Oberflächenmontage des SMD-Bauelements auf einer
Leiterplatte überwachen. Dies bedeutet, dass es für eine Überwachung des SMD-Bauelements
100 bei der Oberflächenmontage vorteilhaft ist, wenn die Kontaktflächen der Kontaktelemente
32, 34, 36 und 38 von einer entsprechenden Größe derart ausgebildet sind, dass die
Kontaktflächen eine Dimension entlang einer Erstreckungsrichtung der Anschlussenden
aufweisen, die größer ist als eine Wanddicke der Seitenwände SW1 und SW2 zwischen
jeder Nut 11, 12, 13 und 14 und der zugehörigen Seitenwand SW1 und SW2. Nur in diesem
Fall ragt die Kontaktfläche jedes Kontaktelements 32, 34, 36 und 38 über die zugehörige
Seitenwand SW1, SW2 hinaus und die Kontaktelemente 32, 34, 36, 38 lassen sich bei
einer Oberflächenmontage auf eine Leiterplatte (nicht dargestellt) in einer exakten
oder ungefähren Aufsicht optisch überwachen.
[0032] Mit Bezug auf Fig. 3 ist eine Aufsicht auf das SMD-Bauelement 100 dargestellt. Aus
der Aufsicht ist ersichtlich, dass bei Kontaktelementen 32, 34, 36 und 38 mit ausreichend
großen Kontaktflächen eine Ausrichtung der Kontaktelemente 32, 34, 36 und 38 zu lötfähigen
Kontaktflächen (nicht dargestellt) einer Leiterplatte (nicht dargestellt), auf der
das SMD-Bauelement zu montieren ist, in Aufsicht optisch überwacht werden kann.
[0033] Mit Bezug auf Fig. 4 ist eine Seitenansicht des SMD-Bauelements dargestellt, aus
der eine Kontaktierung der Anschlussenden 25 und 26 durch die zugeordneten Kontaktelemente
32 und 34 in den Schlitzen 16 und 17 ersichtlich ist. Hierzu kann es vorteilhaft sein,
dass die Schlitze 16 und 17 bezüglich einer Tiefe der Nut (vgl. Nuten 11 und 12 in
Fig. 1) weniger tief sind, so dass eine ausreichende Aufstecktiefe des Anschlussendes
25 bzw. 26 auf die Schneidklemme des zugeordneten Kontaktelements 32 bzw. 34 erreicht
wird. Dadurch wird eine sehr sichere Verbindung zwischen den Kontaktelementen 32 bis
38 einerseits und den zugehörigen Anschlussdrähten 25 bis 28 andererseits sichergestellt.
[0034] Im Hinblick auf die Fig. 5 und 6 ist das Kontaktelement 40 mit genau einer Schneidklemme
42 und einer Kontaktfläche 44 beschrieben, die zur SMD-Montage ausgebildet ist, wobei
die Schneidklemme 42 und die Kontaktfläche 44 bezüglich der Einsteckrichtung E1 eines
zu kontaktierenden elektrischen Leiters (vgl. eines der Anschlussenden 25 bis 28 in
Fig. 1) in die Schneidklemme 42 zur IDC-Kontaktierung an einander gegenüberliegenden
Enden des Kontaktelements 40 ausgebildet sind. Dies stellt jedoch keine Beschränkung
dieser im Zusammenhang mit den Figuren 1 bis 6 beschriebenen Ausführungsformen dar
und anstelle von einer einzigen Schneidklemme 42 je Kontaktelement kann wenigstens
ein Kontaktelement auch mehr als eine Schneidklemme aufweisen, wie aus der nachfolgenden
Beschreibung im Hinblick auf die unten beschriebenen Figuren 7 bis 9 weiter ausgeführt
wird.
[0035] In einigen speziellen, nicht beschränkenden anschaulichen Beispielen kann das Kontaktelement
40 aus einem einzigen Metall. z.B. Messing oder Bronze oder einer Kupfer-Nickel-Legierung
ausgebildet sein. Gemäß der Darstellung in Fig. 5 kann die Kontaktfläche 44 des Kontaktelements
40 durch einen Abschnitt des Kontaktelements 40 gebildet sein, der sich entlang einer
Richtung quer zur Einsteckrichtung E1 von der wenigstens einen Schneidklemme 42 wegerstreckt.
Weiterhin kann die Kontaktfläche 44 an dem Kontaktelement 40 gemäß der Darstellung
in Fig. 5 als ein SMD-Kontaktfederabschnitt 47 ausgebildet sein, der bezüglich der
Schneidklemme 42 in eine Richtung quer zur Einsteckrichtung E1 umgebogen ist.
[0036] Mit Bezug auf die Fig. 1 bis 4 ist zusammenfassend das SMD-Bauelement 100 mit dem
Gehäuse 10 und den Kontaktelementen 32, 34, 36, 38, 40 gemäß anschaulicher Ausführungsformen
gezeigt, wobei jede Schneidklemme (vgl. z. B. Schneidklemme 42 von Kontaktelement
40 in Fig. 5, 6) in eine entsprechende der in einer Oberfläche des Gehäuses 10 gebildeten
Nuten 11, 12, 13, 14 entlang der Einsteckrichtung E1 eingesteckt ist. Jede Schneidklemme
ist in einer sich von der Oberfläche entlang seiner Normalenrichtung wegerstreckenden
Seitenwand SW1 oder SW2 durch den entsprechenden Schlitz 16, 17, 18, 19 wenigstens
teilweise freigelegt, wobei die Kontaktfläche jedes Kontaktelements 32, 34, 36, 38
aus der Oberfläche des Gehäuses 10 als SMD-Kontaktfläche hervorragt. Gemäß der Darstellung
in Fig. 1 bis 4 kann jeder Schlitz 16, 17, 18, 19 die Seitenwand SW1 oder SW2 entlang
einer Richtung senkrecht zur Einsteckrichtung E1 vollständig durchsetzen.
[0037] Im Zusammenhang mit den Fig. 1 bis 6 wurde oben auch ein Verfahren zur Herstellung
des SMD-Bauelements 100 beschrieben mit einem Bereitstellen des Gehäuses 10, einem
Bestücken des Gehäuses 10 mit wenigstens einem elektrischen Leiter entsprechende der
Wicklung 24 des Bauteilelements 20, wobei jedes Anschlussende 25, 26, 27, 28 des elektrischen
Leiters in einen entsprechenden der Schlitze 16, 17, 18, 19 eingesetzt ist, und einem
Einstecken von jedem der Kontaktelemente 32, 34, 36, 38 in eine entsprechende der
Nuten 11, 12, 13, 14, die mit dem entsprechenden der Schlitze 16, 17, 18, 19 in Verbindung
steht, in die das entsprechende Anschlussende eingesetzt ist (vgl. z.B. Pfeil 1 in
Fig. 1), entlang der Einsteckrichtung E1 (vgl. z.B. Pfeil 2 in Fig. 1), wobei dabei
eine IDC-Kontaktierung von jedem der Anschlussenden 25, 26, 27, 28 mit dem entsprechenden
der Kontaktelemente 32, 34, 36, 38 durchgeführt wird.
[0038] Mit Bezug auf die Fig. 7 und 8 sind andere anschauliche Ausführungsformen hinsichtlich
eines SMD-Bauelements 200 dargestellt und nachfolgend beschrieben. Fig. 7 zeigt eine
perspektivische Ansicht einer Unterseite des SMD-Bauelements 200, während eine auseinandergenommene
perspektivische Ansicht des SMD-Bauelements 200 in Fig. 8 dargestellt ist. Fig. 9
veranschaulicht eine Seitenansicht von Kontaktelementen gemäß diesen anschaulichen
Ausführungsformen.
[0039] Mit Bezug auf Fig. 7 ist das SMD-Bauelement 200 mit einem Gehäuse 210 und einer in
das Gehäuse aufgenommenen Komponente 220 gezeigt. Die Komponente 220 kann z.B. als
induktive Komponente mit einem Magnetkern 222 und einer über dem Magnetkern 222 vorgesehenen
Wicklung 224 realisiert sein. Alternativ kann die elektrische Komponente 220 auch
als eine kapazitive Komponente (nicht dargestellt) oder eine andere passive Komponente
oder durch eine Mehrzahl von Komponenten realisiert sein. Dies stellt keine Beschränkung
dar und die Komponente 220 kann als eine allgemeine Bauteilkomponente realisiert sein,
wie oben mit Bezug auf die in Fig. 1 dargestellte Bauteilkomponente 20 beschrieben
ist.
[0040] In der Darstellung von Fig. 7 weist das SMD-Bauelement 200 ferner Kontaktelemente
231 und 233 auf, die an einander gegenüberliegenden Kontaktleisten 215a und 215b vorgesehen
sind. Jedes der Kontaktelemente 231, 233 ist in die zugeordnete Kontaktleiste 215a,
215b eingesetzt.
[0041] Mit Bezug auf Fig. 8 ist dargestellt, dass jede der Kontaktleisten 215a und 215b
eine Nut und eine Mehrzahl von Schlitzen aufweist. Gemäß der dargestellten Ausführungsform
weist die Kontaktleiste 215a eine Nut 211 und sich quer zur Nut 211 erstreckende Schlitze
216 und 217 auf, die entlang einer Erstreckungsrichtung der Nut 211 voneinander beabstandet
sind. In einer Seitenwand SW3 der Kontaktleiste 215a sind die Schlitze 216 und 217
derart ausgebildet, dass sie quer zur Erstreckungsrichtung der Nut 211 lediglich teilweise
entlang der Seitenwand SW3 verlaufend gebildet sind. Entsprechend sind an der Kontaktleiste
215a eine durchgehende Nut 213 und sich quer zur Nut 213 erstreckende Schlitze 218
und 219 ausgebildet, wobei die Schlitze 218 und 219 entlang einer Erstreckungsrichtung
der Nut 213 voneinander beabstandet sind und in einer zur Seitenwand SW3 gegenüberliegenden
Seitenwand SW4 an der Kontaktleiste 215b als teilweise entlang der Seitenwand SW4
verlaufende Schlitze gebildet sind. Ein jeder der Schlitze 216 und 218 durchsetzt
vollständig die zugehörige Seitenwand der Seitenwände SW3, SW4 entlang einer Dickenrichtung
der Seitenwand. Somit können Anschlussenden 225, 226, 227 und 228 der Wicklung 224
der elektrischen Komponente 220 in die Schlitze 216 bis 218 eingelegt werden. Zur
Kontaktierung werden dann die Kontaktelemente 231 und 233 in die jeweiligen Nuten
211 und 213 eingesetzt. Entsprechend der Darstellung in den Fig. 7 und 8 erfolgt mittels
der Kontaktelemente 231 und 233 eine elektrische und mechanische Kontaktierung der
Anschlussenden 225 bis 228. Anstelle der Kontaktelemente 231 und 233 kann an jedem
der Schlitze 216, 217, 218, 219 ein Kontaktelement entsprechend dem Kontaktelement
40 in den Fig. 5 und 6 eingesetzt werden.
[0042] Mit Bezug auf Fig. 9 ist eine Seitenansicht eines Kontaktelements 240 als beispielhafte
Darstellung der Kontaktelemente 231 und 233 dargestellt. Das Kontaktelement 240 weist
zwei Schneidklemmen 241 und 243 auf, die entlang eines Verbindungsabschnitts 245 voneinander
beabstandet sind. Auf einer zu den Schneidklemmen 241 und 243 gegenüberliegenden Seite
des Verbindungsabschnitts 245 ist eine Kontaktfläche 244 zur SMD-Montage ausgebildet.
Die Schneidklemmen 241 und 243 liegen der Kontaktfläche 244 bezüglich einer Einsteckrichtung
E2 von Anschlussenden entsprechend den Anschlussenden 225 bis 228 in die Schneidklemmen
241 und 243 gegenüber. In anschaulichen Beispielen kann der Verbindungsabschnitt 245
Anschlagabschnitte 246 aufweisen, die Abschnitte des Verbindungsabschnitts 245 darstellen,
die sich über die Schneidklemmen 241 und 243 quer zur Einsteckrichtung E2 hinaus erstrecken.
Diese Anschlagabschnitte 246 können seitlich zur Kontaktfläche 244 versetzt und vertieft
ausgebildet sein. Die Anzahl von Schneidklemmen und die Anzahl von Schlitze an einer
Kontaktleiste im Gehäuse (in Fig. 9 nicht dargestellt) des dem Kontaktelement 240
zugeordneten SMD-Bauelements (in Fig. 9 nicht dargestellt) ist aufeinander derart
abgestimmt, dass es gleich viele Schlitze entlang einer Nut gibt, wie das in die Nut
einzusteckende Kontaktelement Schneidklemmen hat.
[0043] Eine jede der Schneidklemmen 241, 243 stellt eine Kontaktschnittstelle aus der IDC-Schneidklemmtechnik
dar. Bei dieser handelt es sich um eine Verbindungslösung, die ohne Löten, Schrauben
und Abisolieren auskommt und weiterhin ein einfaches Beschaltungsprinzip realisiert.
Dabei wird eine Ader (nicht dargestellt) eines durch eine der Schneidklemmen 241,
243 zu kontaktierenden elektrischen Leiters (nicht dargestellt) mitsamt Isolierung
in einen V-förmigen Klemmkontakt (der durch die Schneidklemme 42 gebildet wird) gedrückt.
Beim Eindrücken des zu kontaktierenden elektrischen Leiters (nicht dargestellt) durchschneiden
scharfe Flanken der Schneidklemme 42 eine am elektrischen Leiter (nicht dargestellt)
vorgesehene Isolierung (nicht dargestellt) und es entsteht eine elektrisch leitfähige
Verbindung, ein Kontaktübergang, zwischen der Ader (nicht dargestellt) und der entsprechenden
Schneidklemme 241, 243. So erreicht man eine gasdichte und korrosionsbeständige Verbindung
am Kontaktübergang. Die Klemmwirkung der entsprechenden Schneidklemme 241, 243 wird
durch eine für diese Schneidklemme 241 oder 243 vorgegebene Schneidengeometrie erzielt.
Hierbei bestimmen eine hohe Kontaktkraft, gute Leitfähigkeit und die richtige Form
eines Grundmaterials für diese Schneidklemme 241 oder 243 die Übertragungsqualität
und Langzeit-Zuverlässigkeit einer IDC-Kontaktierung. Für das Kontaktelement 240 wird
durch die durch die IDC-Kontaktierung bereitgestellten elektrischen und mechanischen
Eigenschaften eine zuverlässige Verbindung zwischen einem zu kontaktierenden elektrischen
Leiter (nicht dargestellt) und dem Kontaktelement 240 realisiert.
[0044] Mit Bezug auf Fig. 8 wird nun eine Herstellung des SMD-Bauelements beschrieben. Dazu
ist das Gehäuse 210 bereitgestellt und in das Gehäuse 210 wird die elektrische Komponente
220 aufgenommen. Dabei werden die Anschlussenden 225 bis 228 in entsprechende Schlitze
216 bis 218 eingelegt, so dass die Anschlussenden 225 in den Schlitzen 216 und 217
jeweils sich komplett durch die Nut 211 hindurcherstrecken, bzw. Anschlussenden 227
und 228 in den Schlitzen 218 und 219 vollständig quer zur Nut 213 verlaufen. Nachfolgend
werden die Kontaktelemente 231 und 233 in die jeweiligen Nuten 211 und 213 eingesetzt,
wobei die Anschlussenden 225 bis 228 in die Schneidklemmen der Kontaktelemente 231
und 233 eingedrückt werden. Dabei entsteht eine Kontaktierung der Anschlussenden mit
den Schneidklemmen der Kontaktelemente 231 und 233.
[0045] Eine jede der Nuten 211 und 213 weist entlang einer Erstreckungsrichtung der Nuten
211 und 213 unterschiedliche Tiefen auf. Insbesondere weist die Nut 211 an den Schlitzen
216 und 217 entsprechend den Schneidklemmen des Kontaktelements 231 eine Tiefe auf,
die einer Tiefe der Schneidklemmen des Kontaktelements 231 entspricht. Neben den Schlitzen
216 und 217, insbesondere an einem Abschnitt zwischen den Schlitzen 216 und 217, weist
die Seitenwand SW3 eine Dicke auf, die kleiner ist als außerhalb der Schlitze 216
und 217. Damit wird zwischen den Schlitzen 216 und 217 ein sich verjüngender Abschnitt
250 der Seitenwand SW3 bereitgestellt, bei dem die Seitenwand SW3 zwischen den Schlitzen
216 und 217 relativ zum Rest der Seitenwand SW3 außerhalb der Schlitze 216 und 217
vertieft ist. Dies stellt eine Vertiefung am Gehäuse 210 bereit, mittels der die Kontaktfläche
des Kontaktelements 231 bei einer Oberflächenmontage beobachtet werden kann. Entsprechendes
gilt auch für die Seitenwand SW4. Weiterhin weist die Nut 211 außerhalb der Schlitze
216 und 217 und am sich verjüngenden Abschnitt 250 eine Tiefe auf, die kleiner ist
als eine Tiefe der Nut 211 an den Schlitzen 216 und 217. Damit dient der Verbindungsabschnitt
245 zwischen den Schneidklemmen in der Darstellung von Fig. 9 als Anschlagfläche zusammen
mit den Abschnitten 246 in Fig. 9. Somit kann eine ausreichende Koplanarität der Kontaktelemente
231 und 233 sichergestellt werden.
[0046] Zusammenfassend ist mit Bezug auf Fig. 9 das Kontaktelement 240 mit einer Mehrzahl
von Schneidklemmen, beispielsweise den zwei explizit dargestellten Schneidklemmen
241, 243, und der Kontaktfläche 244 dargestellt, die zur SMD-Montage ausgebildet ist,
wobei die Schneidklemmen 241, 243 und die Kontaktfläche 244 bezüglich der Einsteckrichtung
E2 eines zu kontaktierenden elektrischen Leiters (vgl. den elektrischen Leiter der
Wicklung 224 in der Darstellung von Fig. 7 und 8) in je eine der Schneidklemmen 241,
243 zur IDC-Kontaktierung an einander gegenüberliegenden Enden des Kontaktelements
240 ausgebildet sind. In anschaulichen Beispielen kann das Kontaktelement 240 aus
einem einzigen Metall, z.B. Messing oder Bronze oder einer Kupfer-Nickel-Legierung,
ausgebildet sein. In Fig. 9 ist das Kontaktelement 240 mit der Kontaktfläche 244 dahingehend
ausgestattet, dass die Kontaktfläche 244 durch eine Kante des Kontaktelements 240
gebildet wird, die entlang der Einsteckrichtung E2 an einem zu den Schneidklemmen
241, 243 gegenüberliegenden Ende des Kontaktelements 240 angeordnet ist. Dies stellt
keine Beschränkung dar und alternativ, obgleich dies in Fig. 9 nicht gezeigt ist,
kann die Kontaktfläche 244 durch einen Abschnitt des Kontaktelements 240 gebildet
sein, der sich entlang einer Richtung quer zur Einsteckrichtung E2 von den Schneidklemmen
241, 243 dieses Kontaktelements 240 wegerstreckt, beispielsweise bezüglich den Schneidklemmen
241, 243 in eine Richtung quer zur Einsteckrichtung E2 umgebogen ist. Gemäß der Darstellung
in Fig. 9 sind an dem Kontaktelement 240 genau zwei Schneidklemmen 241, 243 ausgebildet,
die durch einen sich quer zur Einsteckrichtung E2 erstreckenden Verbindungsabschnitt
245 verbunden sind, und die Kontaktfläche 244 erstreckt sich an dem Verbindungsabschnitt
245 quer zur Einsteckrichtung E2. Alternativ zu den dargestellten zwei Schneidklemmen
241, 243 kann auch nur eine mit einer bezüglich dem Verbindungsabschnitt entlang einer
Richtung quer zur Einsteckrichtung zentrierten Schneidklemme (nicht dargestellt) bereitgestellt
sein oder es können drei oder mehr Schneidklemmen vorhanden sein.
[0047] Mit Bezug auf die Fig. 7 und 8 ist zusammenfassend das SMD-Bauelement 200 mit dem
Gehäuse 210 und den Kontaktelementen 231, 233 gezeigt, wobei jede Schneidklemme von
jedem Kontaktelement 241, 243 in eine entsprechende der in einer Oberfläche des Gehäuses
210 gebildeten Nuten 211; 213 entlang der Einsteckrichtung E2 eingesteckt ist. Die
Schneidklemmen von jedem Kontaktelement 241, 243 sind in einer der sich von der Oberfläche
entlang seiner Normalenrichtung wegerstreckenden Seitenwände SW3, SW4 durch jeweils
einen der Schlitze 217, 218, 219 wenigstens teilweise freigelegt, wobei die Kontaktfläche
des entsprechenden der Kontaktelemente 231, 233 aus der Oberfläche des Gehäuses 210
als SMD-Kontaktfläche hervorragt. Dabei kann jeder der Schlitze 217, 218, 219 die
jeweilige Seitenwand SW3 oder SW4 entlang einer Richtung senkrecht zur Einsteckrichtung
E2 vollständig durchsetzen. In anschaulichen Beispielen und wie in Fig. 7 und 8 dargestellt
ist, kann jede Seitenwand SW3, SW4 zwischen den jeweils darin gebildeten Schlitzen
216, 217 oder 218, 219 eine Vertiefung aufweisen, so dass diese Seitenwand SW3 oder
SW4 in einer Ansicht entlang der Einsteckrichtung E2 jeweils zwischen diesen zwei
Schlitzen 216, 217 oder 218, 219 den sich verjüngenden Abschnitt 250 aufweist. Dabei
kann sich zwischen den jeweils zwei Schlitzen 216, 217 oder 218, 219 eine der Nuten
211, 213 durchgehend erstrecken, wobei der Verbindungabschnitt 244 zwischen den Schneidklemmen
des entsprechenden Kontaktelements 231 oder 233 im sich verjüngenden Abschnitt 250
in die darin verlaufende Nut 211 oder 213 formschlüssig aufgenommen ist.
[0048] Im Zusammenhang mit den Fig. 7 bis 9 wurde oben auch ein Verfahren zur Herstellung
des SMD-Bauelements 200 beschrieben mit einem Bereitstellen des Gehäuses 210, einem
Bestücken des Gehäuses 210 mit wenigstens einem elektrischen Leiter der Bauteilkomponente
220, wobei wenigstens jeweils ein Anschlussende 225, 226, 227 oder 228 des elektrischen
Leiters in einen der Schlitze 216, 217, 218, 219 eingesetzt ist, und einem Einstecken
von jeweils einem der Kontaktelemente 231, 233 in eine entsprechende der Nuten 211,
213, die mit dem jeweiligen Schlitz 216, 217, 218 oder 219 in Verbindung steht, in
die das wenigstens eine Anschlussende eingesetzt ist, entlang der Einsteckrichtung
E2, wobei dabei eine IDC-Kontaktierung dieses Anschlussendes 225, 226, 227 oder 228
mit dem entsprechenden der Kontaktelemente 231, 233 durchgeführt wird.
1. Kontaktelement (40; 240), umfassend:
wenigstens eine Schneidklemme (42; 241, 243), und
eine Kontaktfläche (44; 244), die zur SMD-Montage ausgebildet ist, wobei die wenigstens
eine Schneidklemme (42; 241, 243) und die Kontaktfläche (44; 244) bezüglich einer
Einsteckrichtung (E1; E2) eines zu kontaktierenden elektrischen Leiters in die Schneidklemme
(42; 241, 243) zur IDC-Kontaktierung an einander gegenüberliegenden Enden des Kontaktelements
(40; 240) ausgebildet sind,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Kontaktfläche (244) durch eine Kante des Kontaktelements (240) gebildet ist,
die sich quer zur Einsteckrichtung (E2) erstreckt,
oder
dass wenigstens zwei Schneidklemmen (241, 243) bereitgestellt sind und ferner die Kontaktfläche
(244) durch einen Abschnitt des Kontaktelements (240) gebildet ist, der in eine Richtung
quer zur Einsteckrichtung (E2) von den wenigstens zwei Schneidklemmen (241, 243) weg
umgebogen ist und sich von den wenigstens zwei Schneidklemmen (241, 243) wegerstreckt.
2. Kontaktelement (40;240) nach Anspruch 1, wobei das Kontaktelement (40; 240) aus einem
einzigen Metall ausgebildet ist.
3. Kontaktelement (40; 240) nach Anspruch 2, wobei das Metall aus Messing, Bronze oder
einer Kupfer-Nickel-Legierung ausgewählt ist.
4. Kontaktelement (240) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei wenigstens zwei Schneidklemmen
(241, 243) bereitgestellt sind, die entlang eines Verbindungsabschnitts (245) voneinander
beabstandet sind, wobei die Kontaktfläche (244) an der den Schneidklemmen (241, 243)
gegenüberliegenden Seite des Verbindungsabschnitts gebildet ist, und wobei der Verbindungsabschnitt
ferner Anschlagabschnitte (246) aufweist, die Abschnitte des Verbindungsabschnitts
(245) darstellen, die sich über die Schneidklemmen (241, 243) quer zur Einsteckrichtung
(E2) hinaus erstrecken.
5. Kontaktelement (240) nach Anspruch 4, wobei die Anschlagabschnitte (246) seitlich
zur Kontaktfläche (244) versetzt und vertieft ausgebildet sind.
6. Kontaktelement (40) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei das Kontaktelement (40)
ferner einen Verbindungsabschnitt (46) aufweist, der zwischen der Schneidklemme (42)
und der Kontaktfläche (44) angeordnet ist und sich senkrecht zur Einsteckrichtung
(E1) erstreckende Abschnitte als Anschlagflächen aufweist.
7. SMD-Bauelement (100; 200) mit einer induktiven Komponente (20; 220), die einen Magnetkern
(22; 222) und eine darüber angeordneten Wicklung (24; 224) umfasst, und einem Gehäuse
(10; 210), wobei das Gehäuse (10; 210) zur Aufnahme der induktiven Komponente (20;
220) und jeder Schneidklemme (42; 241; 243) ausgebildet ist und jede Schneidklemme
(42; 241; 243) in eine in einer Oberfläche des Gehäuses (10; 210) gebildeten Nut (11;
12; 13; 14; 211; 213) entlang der Einsteckrichtung (E1; E2) eingesteckt ist, und wobei
jede Schneidklemme (42; 241; 243) in einer sich von der Oberfläche entlang seiner
Normalenrichtung wegerstreckenden Seitenwand (SW1; SW2; SW3; SW4) durch einen Schlitz
(16; 17; 18; 19; 216; 217; 218; 219) wenigstens teilweise freigelegt ist, wobei das
SMD-Bauelement ferner wenigstens ein Kontaktelement (32; 34; 36; 38; 40; 231; 233;
240) nach einem der Ansprüche 1 bis 6 oder wenigstens ein Kontaktelement (32; 34;
36; 38; 40) umfasst, das genau eine Schneidklemme (42) und eine Kontaktfläche (44)
aufweist, die zur SMD-Montage ausgebildet ist, wobei die Schneidklemme (42) und die
Kontaktfläche (44) bezüglich einer Einsteckrichtung (E1) eines zu kontaktierenden
elektrischen Leiters in die Schneidklemme (42) zur IDC-Kontaktierung an einander gegenüberliegenden
Enden des Kontaktelements (40) ausgebildet sind.
8. SMD-Bauelement (100; 200) nach Anspruch 7, wobei jeder Schlitz (16; 17; 18; 19; 216;
217; 218; 219) die Seitenwand (SW1; SW2; SW3; SW4) entlang einer Richtung senkrecht
zur Einsteckrichtung (E1; E2) vollständig durchsetzt.
9. SMD-Bauelement (200) nach Anspruch 8 oder 7, wobei wenigstens zwei Schneidklemmen
(241, 243) bereitgestellt sind, wobei jede Seitenwand (SW3; SW4) zwischen jeweils
zwei darin gebildeten Schlitzen (216, 217; 218, 219) eine Vertiefung aufweist, so
dass diese Seitenwand (SW3; SW4) in einer Ansicht entlang der Einsteckrichtung (E2)
jeweils zwischen diesen zwei Schlitzen (216, 217; 218, 219) einen sich verjüngenden
Abschnitt (250) aufweist, und sich zwischen den jeweils zwei Schlitzen (216, 217;
218, 219) eine Nut (211; 213) durchgehend erstreckt, und wobei der Verbindungabschnitt
(244) zwischen den Schneidklemmen (241, 243) im sich verjüngenden Abschnitt (250)
in die darin verlaufende Nut (211; 213) formschlüssig aufgenommen ist.
10. SMD-Bauelement (100; 200) nach einem der Ansprüche 7 bis 9, wobei das Gehäuse (10;
210) als trog- oder topfförmiges Gehäuse mit einer oberseitigen Öffnung ausgebildet
ist, in die der Magnetkern (22; 222) eingesetzt ist, wobei an einer gegenüberliegenden
Unterseite des Gehäuses (10; 210) das wenigstens Kontaktelement (32; 34; 36; 38; 40;
231; 233; 240) angeordnet ist.
11. Verfahren zur Herstellung des SMD-Bauelements (100; 200) nach einem der Ansprüche
7 bis 10, umfassend:
ein Bereitstellen des Gehäuses (10; 210);
ein Bestücken des Gehäuses (10; 210) mit der induktiven Komponente (20; 220), wobei
die Wicklung (24; 224) wenigstens einen elektrischen Leiter (24; 224) umfasst, wobei
wenigstens ein Anschlussende (25; 26; 27; 28; 225; 226; 227; 228) des wenigstens einen
elektrischen Leiters (24; 224) in einen Schlitz (16; 17; 18; 19; 216; 217; 218; 219)
eingesetzt ist; und
ein Einstecken von einem Kontaktelement (32; 34; 36; 38; 40; 231; 233; 240) in eine
Nut (11; 12; 13; 14; 211; 213), die mit dem Schlitz (16; 17; 18; 19; 216; 217; 218;
219) in Verbindung steht, in die das wenigstens eine Anschlussende eingesetzt ist,
entlang der Einsteckrichtung (E1; E2), wobei dabei eine IDC-Kontaktierung des wenigstens
einen Anschlussendes (25; 26; 27; 28; 225; 226; 227; 228) mit dem Kontaktelement (32;
34; 36; 38; 40; 231; 233; 240) durchgeführt wird.