(19)
(11) EP 4 133 322 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
15.02.2023  Patentblatt  2023/07

(21) Anmeldenummer: 21718825.9

(22) Anmeldetag:  08.04.2021
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G02B 21/00(1968.09)
G02B 21/36(1968.09)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G02B 21/0032; G02B 21/367; G02B 21/0076
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2021/059204
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2021/204956 (14.10.2021 Gazette  2021/41)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 09.04.2020 DE 102020204615

(71) Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH
35578 Wetzlar (DE)

(72) Erfinder:
  • FAHRBACH, Florian
    68167 Mannheim (DE)

(74) Vertreter: Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB 
Leopoldstraße 4
80802 München
80802 München (DE)

   


(54) SCHIEFEEBENEMIKROSKOP MIT VERBESSERTER SAMMELEFFIZIENZ