(19)
(11) EP 4 315 280 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
07.02.2024  Patentblatt  2024/06

(21) Anmeldenummer: 22703881.7

(22) Anmeldetag:  10.01.2022
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G06V 30/422(2022.01)
G06F 30/12(2020.01)
G06F 30/10(2020.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G06V 30/422; G06F 2111/12; G06F 30/30; G06F 30/31
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2022/100004
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2022/207027 (06.10.2022 Gazette  2022/40)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 31.03.2021 DE 102021108281

(71) Anmelder: EPLAN GmbH & Co. KG
40789 Monheim am Rhein (DE)

(72) Erfinder:
  • GRUBER, Thiemo
    40880 Ratingen (DE)
  • LAYES, Vincent
    45896 Gelsenkirchen (DE)
  • PETERS, Alexander
    40764 Langenfeld (DE)
  • REITZ, Marcus
    65719 Hofheim/Taunus (DE)

(74) Vertreter: Angerhausen, Christoph 
Boehmert & Boehmert Anwaltspartnerschaft mbB Pettenkoferstrasse 22
80336 München
80336 München (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR AUTOMATISCHEN ANALYSE EINES SCHALTBILDES