(19)
(11) EP 4 384 773 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
19.06.2024  Patentblatt  2024/25

(21) Anmeldenummer: 23729951.6

(22) Anmeldetag:  11.05.2023
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01B 11/02(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G01B 11/02
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE2023/200093
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2024/012636 (18.01.2024 Gazette  2024/03)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC ME MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 11.07.2022 DE 102022207032

(71) Anmelder: Micro-Epsilon Optronic GmbH
01465 Langebrück (DE)

(72) Erfinder:
  • OTTO, Tobias
    01109 Dresden (DE)
  • GRUEBER, Christoph
    01127 Dresden (DE)

(74) Vertreter: Ullrich & Naumann PartG mbB 
Schneidmühlstrasse 21
69115 Heidelberg
69115 Heidelberg (DE)

   


(54) EINRICHTUNG, VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR KONFOKAL-CHROMATISCHEN ABSTANDS- UND/ODER DICKENMESSUNG