(19)
(11) EP 4 402 429 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
24.07.2024  Patentblatt  2024/30

(21) Anmeldenummer: 22790460.4

(22) Anmeldetag:  16.09.2022
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01B 11/25(2006.01)
G02B 26/08(2006.01)
 G06T 7/521(2017.01)
G02B 26/10(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G01B 11/2518; G02B 26/0833; G02B 26/101; G01B 11/2513; G06T 7/521; G06T 2207/10024; G09G 3/025
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2022/075763
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2023/041706 (23.03.2023 Gazette  2023/12)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA ME
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 17.09.2021 DE 102021124134

(71) Anmelder: Oqmented GmbH
25524 Itzehoe (DE)

(72) Erfinder:
  • ZORLUBAS, Berkan
    22523 Hamburg (DE)
  • BLICHARSKI, Peter
    45134 Essen (DE)
  • KLEMKE, Nicolai
    22763 Hamburg (DE)
  • HOFMANN, Ulrich
    25524 Itzehoe (DE)
  • VON WANTOCH, Thomas
    24159 Kiel (DE)

(74) Vertreter: Platzöder, Michael Christian 
Wallinger Ricker Schlotter Tostmann Patent- und Rechtsanwälte Partnerschaft mbB Zweibrückenstrasse 5-7
80331 München
80331 München (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON TIEFENINFORMATIONEN EINER SZENE ANHAND VON MITTELS ZUMINDEST EINER PARALLELSTRAHLUNGSQUELLE GENERIERTEM STRUKTURIERTEN LICHT