(19)
(11) EP 4 483 130 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
01.01.2025  Patentblatt  2025/01

(21) Anmeldenummer: 23702256.1

(22) Anmeldetag:  25.01.2023
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01B 9/02091(2022.01)
G01B 11/30(2006.01)
G01B 9/02055(2022.01)
H01L 21/66(2006.01)
G02B 26/10(2006.01)
G01B 11/06(2006.01)
G02B 7/182(2021.01)
G01B 21/04(2006.01)
G02B 26/08(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G01B 9/02091; G01B 11/06; G01B 11/306; G01B 9/02072; G01B 21/045; H01L 22/12; G02B 26/101
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2023/051736
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2023/160928 (31.08.2023 Gazette  2023/35)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC ME MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 24.02.2022 DE 102022104416

(71) Anmelder: Precitec Optronik GmbH
63263 Neu-Isenburg (DE)

(72) Erfinder:
  • WEISS, Stephan
    63110 Rodgau (DE)
  • MIETH, Simon
    60599 Frankfurt am Main (DE)
  • WEIGELT, Corinna
    63225 Langen (DE)
  • BECK, Tobias
    63150 Heusenstamm (DE)

(74) Vertreter: Ostertag & Partner Patentanwälte mbB 
Azenbergstraße 35
70174 Stuttgart
70174 Stuttgart (DE)

   


(54) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM VERMESSEN VON WAFERN