(19)
(11) EP 4 500 139 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
05.02.2025  Patentblatt  2025/06

(21) Anmeldenummer: 23716199.7

(22) Anmeldetag:  27.03.2023
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01M 11/02(2006.01)
(52) Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) :
G01M 11/0257
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP2023/057833
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 2023/186801 (05.10.2023 Gazette  2023/40)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC ME MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
Benannte Erstreckungsstaaten:
BA
Benannte Validierungsstaaten:
KH MA MD TN

(30) Priorität: 31.03.2022 DE 102022107686

(71) Anmelder: Trioptics GmbH
22880 Wedel (DE)

(72) Erfinder:
  • RUPRECHT, Aiko
    22880 Wedel (DE)
  • STAUSS, Benjamin
    22880 Wedel (DE)
  • ERICHSEN, Patrik
    22880 Wedel (DE)
  • WINTERS, Daniel
    22880 Wedel (DE)
  • SCHROEDTER, Lasse
    22880 Wedel (DE)

(74) Vertreter: Waldauf, Alexander 
Jenoptik AG Carl-Zeiß-Straße 1
07743 Jena
07743 Jena (DE)

   


(54) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN EINER ABBILDUNGSQUALITÄT EINES ZU PRÜFENDEN OPTISCHEN SYSTEMS