(19)
(11) EP 0 370 478 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
08.05.1991  Patentblatt  1991/19

(43) Veröffentlichungstag A2:
30.05.1990  Patentblatt  1990/22

(21) Anmeldenummer: 89121543.6

(22) Anmeldetag:  21.11.1989
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)5H01C 7/00
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT DE FR SE

(30) Priorität: 22.11.1988 DD 322038

(71) Anmelder: microtech GmbH electronic
D-14513 Teltow (DE)

(72) Erfinder:
  • Riede, Volker, Dr. rer. nat.
    DDR-7010 Leipzig (DD)
  • Sobe, Gerhard, Dr. rer. nat.
    DDR-8036 Dresden (DD)
  • Schreiber, Hartmut, Dr. rer. nat.
    DDR-8010 Dresden (DD)
  • Weise, Günter, Dr.-Ing.
    DDR-8027 Dresden (DD)
  • Heinrich, Armin, Dr. sc. nat.
    DDR-8051 Dresden (DD)
  • Vinzelberg, Hartmut, Dr. rer. nat.
    DDR-8053 Dresden (DD)
  • Brückner, Winfried, Dr. sc. nat.
    DDR-8019 Dresden (DD)
  • Bierbrauer, Lutz
    DDR-1530 Teltow (DD)
  • Müller, Albrecht
    DDR-1532 Kleinmachnow (DD)

(74) Vertreter: Wablat, Wolfgang, Dr.Dr. 
Patentanwalt, Dr. Dr. W. Wablat, Potsdamer Chaussee 48
D-14129 Berlin
D-14129 Berlin (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
   
       


    (54) Präzisions-Widerstands-Dünnschicht


    (57) Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Elektronik/­Mikroelektronik und betrifft Präzisions-Widerstands-Dünn­schichten, wie sie z.B. in Hybridschaltkreisen, Sensoren oder integrierten Schaltungen Anwendung finden.
    Die Aufgabe der Erfindung, die Zusammensetzung der Schichten und ihre Struktur bezüglich der Heterogenität zu verändern, wird durch Präzisions-Widerstands-Dünnschichten auf der Basis von CrSiO mit 10 bis 50 Stoffmengenanteilen Sauer­stoff und einem Atomverhältnis Si:Cr zwischen 1 und 10 sowie mit einem oder mehreren hochschmelzenden Metallen (x) von 0 bis 10 Stoffmengenanteilen und 0 bis 50 Stoffmengen­anteilen Al bezogen auf das Gesamtsystem CrSiXAl erfindungs­gemäß dadurch gelöst, daß die Schicht zwischen 2 und 20 Stoffmengenanteile Wasserstoff, bezogen auf das Gesamt­system CrSiCAlOH, enthält, daß ein Teil des Wasserstoffs in Form von OH-Gruppen abgebunden ist, und daß die Schicht eine Entmischung in O-reiche und O-arme Cluster aufweist, die mit einer Säulenstruktur gekoppelt ist.
    Durch die Erfindung ist es möglich, Widerstands-Dünnschich­ten mit Präzisionseigenschaften anzugeben.





    Recherchenbericht