| (19) |
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(11) |
EP 0 370 478 A3 |
| (12) |
EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG |
| (88) |
Veröffentlichungstag A3: |
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08.05.1991 Patentblatt 1991/19 |
| (43) |
Veröffentlichungstag A2: |
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30.05.1990 Patentblatt 1990/22 |
| (22) |
Anmeldetag: 21.11.1989 |
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| (51) |
Internationale Patentklassifikation (IPC)5: H01C 7/00 |
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| (84) |
Benannte Vertragsstaaten: |
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AT DE FR SE |
| (30) |
Priorität: |
22.11.1988 DD 322038
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| (71) |
Anmelder: microtech GmbH electronic |
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D-14513 Teltow (DE) |
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| (72) |
Erfinder: |
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- Riede, Volker, Dr. rer. nat.
DDR-7010 Leipzig (DD)
- Sobe, Gerhard, Dr. rer. nat.
DDR-8036 Dresden (DD)
- Schreiber, Hartmut, Dr. rer. nat.
DDR-8010 Dresden (DD)
- Weise, Günter, Dr.-Ing.
DDR-8027 Dresden (DD)
- Heinrich, Armin, Dr. sc. nat.
DDR-8051 Dresden (DD)
- Vinzelberg, Hartmut, Dr. rer. nat.
DDR-8053 Dresden (DD)
- Brückner, Winfried, Dr. sc. nat.
DDR-8019 Dresden (DD)
- Bierbrauer, Lutz
DDR-1530 Teltow (DD)
- Müller, Albrecht
DDR-1532 Kleinmachnow (DD)
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| (74) |
Vertreter: Wablat, Wolfgang, Dr.Dr. |
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Patentanwalt,
Dr. Dr. W. Wablat,
Potsdamer Chaussee 48 D-14129 Berlin D-14129 Berlin (DE) |
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Entgegenhaltungen: :
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| (54) |
Präzisions-Widerstands-Dünnschicht |
(57) Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Elektronik/Mikroelektronik und betrifft
Präzisions-Widerstands-Dünnschichten, wie sie z.B. in Hybridschaltkreisen, Sensoren
oder integrierten Schaltungen Anwendung finden.
Die Aufgabe der Erfindung, die Zusammensetzung der Schichten und ihre Struktur bezüglich
der Heterogenität zu verändern, wird durch Präzisions-Widerstands-Dünnschichten auf
der Basis von CrSiO mit 10 bis 50 Stoffmengenanteilen Sauerstoff und einem Atomverhältnis
Si:Cr zwischen 1 und 10 sowie mit einem oder mehreren hochschmelzenden Metallen (x)
von 0 bis 10 Stoffmengenanteilen und 0 bis 50 Stoffmengenanteilen Al bezogen auf
das Gesamtsystem CrSiXAl erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Schicht zwischen
2 und 20 Stoffmengenanteile Wasserstoff, bezogen auf das Gesamtsystem CrSiCAlOH,
enthält, daß ein Teil des Wasserstoffs in Form von OH-Gruppen abgebunden ist, und
daß die Schicht eine Entmischung in O-reiche und O-arme Cluster aufweist, die mit
einer Säulenstruktur gekoppelt ist.
Durch die Erfindung ist es möglich, Widerstands-Dünnschichten mit Präzisionseigenschaften
anzugeben.
