[0001] Die Erfindung betrifft Detektoren für Flugzeit-Massenspektrometer nach dem Oberbegriff
des Anspruchs 1.
[0002] Detektoren für Flugzeit-Massenspektrometer sollen dem einfallenden Ionenstrahl eine
möglichst große Fläche entgegenstellen, und dennoch kleine Flugzeitfehler aufweisen.
[0003] Jeder Detektor verfügt über eine Ionen-Elektronen-Konversionsfläche, an welcher zum
Zeitpunkt des Auftreffens eines Ions mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit ein oder
mehrere Elektronen erzeugt werden, die in einem oder mehreren nachgeschalteten Elektronenvervielfachern
verstärkt werden. Dies ergibt einen elektrischen Impuls, welcher mit dem Auftreffen
des Ions auf der Konversionsfläche in zeitlichem Zusammenhang steht.
[0004] Alternativ zu Elektronenvervielfachern ist es auch möglich, die Elektronen durch
Szintillatoren mit Photomultipliern nachzuweisen.
[0005] Unter der ionenoptischen Achse eines Detektors versteht man eine ausgewählte Bahn
in oder nahe der Mitte des einfallenden Ionenstrahls. Falls der Detektor zylindersymmetrisch
aufgebaut ist, wählt man üblicherweise die Symmetrieachse.
[0006] Man kann die ionenoptische Achse rückwärts von der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche
aus dem Detektor hinaus bis zu einem geeignet gewählten Punkt verfolgen, und an diesem
normal zu der ionenoptischen Achse eine Referenzebene definieren. Die Flugzeit entlang
der ionenoptischen Achse von der Referenzebene bis zur Ionen-Elektronen-Konversionsfläche
kann man als Referenz-Flugzeit wählen. Werden Ionen von anderen Punkten als dem Achsenpunkt
der Referenzebene, aber mit derselben Richtung und Geschwindigkeit, in den Detektor
hinein gestartet, so benötigen sie möglicherweise andere Flugzeiten als ein Ion auf
der Achse. Die Differenz dieser Flugzeiten zur Referenz-Flugzeit auf der ionenoptischen
Achse bezeichnet man als Flugzeitfehler.
[0007] Die Flugzeitfehler kann man angeben als Funktion des Startortes auf der Referenzebene.
Im allgemeinsten Fall sind die Flugzeitfehler abhängig von den zwei Variablen, welche
die Referenzebene parametrisieren. Ist der Detektor zylindersymmetrisch aufgebaut,
so sind die Flugzeitfehler eine Funktion des Abstandes der betreffenden Bahn von der
ionenoptischen Achse in der Referenzebene.
[0008] Ionen können innerhalb eines Detektors mit inhomogenem elektrischen Feld auf eine
kleinere oder größere Fläche fokussiert oder zerstreut werden. Aus diesem Grunde eignet
sich der nutzbare Flächeninhalt auf der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche nicht als
Maß für die Empfindlichkeit des Detektors. Als Maß für die Empfindlichkeit des Detektors
bietet sich der Inhalt derjenigen Fläche auf der Referenzebene an, von welcher aus
Ionen mit akzeptabel kleinen Flugzeitfehlern in den Detektor hinein gestartet werden
können.
[0009] Durch Definition einer Referenzebene und dem ausschließlichen Betrachten der Bahnen
von der Referenzebene bis auf die Konversionsfläche kann man gedanklich den Detektor
und seine Flugzeitfehler vom Rest des Flugzeit-Massenspektrometers abtrennen. Es ist
aber auch möglich, die Flugzeitfehler auf der gesamten Flugstrecke von der Ionenquelle
bis auf die Konversionsfläche zu bestimmen. Zusätzlich zu den unmittelbar mit dem
Detektoraufbau zusammenhängenden Flugzeitfehlern treten hier oft auf der Bahn durch
Ionenquelle und Reflektor Flugzeitfehler auf, welche zum Teil durch Verkippen der
Ionen-Elektronen-Konversionsfläche kompensierbar sind. Aus diesem Grunde ist die Konversionsfläche
oft beweglich gelagert.
[0010] Zur Zeit sind vor allem zwei Arten von Konversionsflächen gebräuchlich:
- eine Metalloberfläche auf welcher die Ionen auftreffen, und mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit
Elektronen auslösen. Die Metalloberfläche kann auch speziell beschichtet sein, damit
die auftreffenden Ionen mit größerer Wahrscheinlichkeit Elektronen auslösen.
- die Vorderseite einer Mikrokanalplatte. Die Ionen dringen zwar einige 10 µm tief in
die Kanälchen der Mikrokanalplatte ein, bevor sie Elektronen auslösen, und so hat
die Konversionsfläche eigentlich eine sehr komplexe Form. Für die folgende Diskussion
soll dennoch als Konversionsfläche die glatte Vorderseite der Mikrokanalplatte gelten.
Das Eindringen der Ionen in die Kanälchen muß im folgenden nicht mehr berücksichtigt
werden, da es sich nur um einige 10 µm handelt, was im Vergleich zu den anderen hier
zu behandelnden Fehlern als vernachlässigbare Ungenauigkeit erkennbar ist.
[0011] Die Wahrscheinlichkeit, mit welcher beim Aufprall eines Ions auf der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche
Elektronen ausgelöst werden, d.h. die Elektronenausbeute, hängt sehr stark von der
Geschwindigkeit beim Aufprall ab. Da die Geschwindigkeit der Ionen umgekehrt proportional
zu der Quadratwurzel ihrer Masse ist, nimmt die Nachweiswahrscheinlichkeit bei Ionen
großer Masse stark ab.
[0012] Soll ein Detektor Ionen größerer Masse nachweisen, so müssen die Ionen daher nachbeschleunigt
werden, bevor sie auf der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche auftreffen, um mit ausreichender
Wahrscheinlichkeit beim Auftreffen Elektronen aus der Konversionsfläche auszulösen.
Der Detektor muß also so aufgebaut sein, daß ein starkes, beschleunigendes elektrisches
Feld vor der Konversionsfläche anliegt. Durch dieses Nachbeschleunigungsfeld können
Flugzeitfehler entstehen.
[0013] Üblicherweise werden die Flugzeitfehler klein gehalten, indem man das Nachbeschleunigungsfeld
homogen hält. Ein homogenes Feld hat eine ortsunabhängige Richtung und Stärke des
elektrischen Feldes, wodurch in einem Detektor mit homogenen Feldern die Flugzeit
von Referenzebene bis auf die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche unabhängig vom Startort
auf Referenzebene bzw. unabhängig vom Eintrittsort in das Nachbeschleunigungsfeld
ist.
[0014] Ein solches elektrisches Feld läßt sich nur erzeugen, wenn man das Nachbeschleunigungsfeld
gegenüber der Driftstrecke des Flugzeit-Massenspektrometers mit einem Gitter abgrenzt.
Ein Beispiel eines solcherart aufgebauten Detektors ist in Fig. 5 der Veröffentlichung
von de Heer et al. (Review of Scientific Instruments, Band 62(3), Seite 670-677, 1991)
zu sehen.
[0015] Die nachzuweisenden Ionen können dabei auch auf die Gitterstäbe auftreffen. Sofern
die betreffenden Ionen dadurch nur aus dem Ionenstrahl entfernt werden, geht damit
eine, meist nur geringfügige, Verringerung des Detektor-Signals einher. Es gibt aber
auch mehrere Möglichkeiten, wie Ionen, die auf Gitterstäbe auftreffen, ein Detektor-Signal
zu falschen Zeiten hervorrufen können:
- Ionen können an Gitterstäben inelastisch gestreut werden, mit falschen Geschwindigkeiten
weiter in Richtung Konversionsfläche fliegen, und so zu falschen Zeiten ankommen,
- Ionen können an Gitterstäben in großem Winkel gestreut werden, was ebenfalls die Geschwindigkeitskomponente
in Richtung der Konversionsfläche ändert,
- Ionen können auf Gitterstäben auftreffen, zerplatzen, und die Bruchstücke können zu
falschen Zeiten auf die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche gelangen.
[0016] Soll auf Gitter wegen der oben genannten Probleme verzichtet werden, so ist das Nachbeschleunigungsfeld
notwendigerweise inhomogen, wodurch Ionen auf unterschiedlichen Bahnen mit voneinander
verschiedenen Flugzeiten auf die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche gelangen.
[0017] Wie bereits erwähnt, ist die Größe der Flugzeitfehler eine Funktion des Abstandes
der Flugbahn von der ionenoptischen Achse. Dabei ist als Variable in dieser Funktion
der Abstand zur ionenoptischen Achse auf der Referenzebene, nicht auf der Konversionsfläche
zu nehmen. Im günstigsten Fall, d.h. wenn die Konversionsfläche beweglich aufgehängt
ist, ist die Größe dieser Flugzeitfehler proportional zum Quadrat des Abstandes von
der ionenoptischen Achse.
[0018] Um die Flugzeitfehler klein zu halten, ist es in diesem Fall geboten, den Detektor
nur nah der ionenoptischen Achse mit Ionen zu beschicken. Hier bedeutet das, daß Ionen
aus der Referenzebene heraus nur nah der ionenoptischen Achse in den Detektor hinein
gestartet werden können. Es spielt keine Rolle, ob die Ionenbahnen innerhalb des Detektors
auf eine kleinere oder größere Fläche fokussiert bzw. defokussiert werden. Das Maß
für die Empfindlichkeit des Detektors ist der Inhalt derjenigen Fläche auf der Referenzebene,
von welcher aus Ionenbahnen mit akzeptabel kleinen Flugzeitfehlern in den Detektor
hinein gestartet werden können.
[0019] Diese Lösungsmöglichkeit kann man z.B. in Fig. 1 der Veröffentlichung von Steffens
et al. (Journal of Vacuum Science and Technology, Band A3(3), Seite 1322-1325, 1985)
erkennen. Fig. 4 der PCT-Anmeldung WO 92/19367 zeigt diese Lösungsmöglichkeit ebenfalls
auf. Der Nachteil dieser Lösungen besteht darin, daß nur ein vergleichsweise kleines
Volumen des Detektors nutzbar ist, bzw. nur ein vergleichsweise kleiner Flächeninhalt
auf der Referenzebene dem einfallenden Ionenstrahl entgegengestellt werden kann. Dies
hat eine verringerte Empfindlichkeit des Detektors zur Folge.
[0020] Der Erfindung liegt dementsprechend die Aufgabe zugrunde, einen Detektor für Flugzeit-Massenspektrometer
anzugeben, welcher gleichermaßen eine hohe Empfindlichkeit und eine hohe Massenauflösung
gewährleistet.
[0021] Insbesondere ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Detektor für Flugzeit-Massenspektrometer
anzugeben, bei welchem trotz großem, dem einfallenden Strahl entgegengestellten nutzbaren
Flächeninhalt auf der Referenzebene, die Flugzeitfehler klein gehalten werden.
[0022] Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
[0023] Erfindungsgemäß werden die durch das im Detektor herrschende inhomogene elektrische
Feld erzeugten bzw. schon vor dem Detektor auftretenden Flugzeitfehler zwischen Ionen
mit unterschiedlichen Flugbahnen durch den Detektor selbst kompensiert. Dies geschieht
dadurch, daß im Detektor eine gekrümmte Ionen-Elektronen-Konversionsfläche eingesetzt
wird. Die Krümmung bewirkt, daß die in jeder Flugbahn auftretende Flugzeit in Abhängigkeit
von der lateralen Position auf dem Ionenstrahl derart variiert, d.h. entweder verlängert
oder verkürzt wird, daß die durch das inhomogene Feld bewirkten bzw. die vor dem Detektor
auftretenden Flugzeitfehler kompensiert oder zumindest minimiert werden. Für eine
Flugbahn z.B., deren Flugzeit bei Verwendung einer ebenen Konversionsfläche durch
das elektrische Feld gegenüber der der anderen Flugbahnen verlängert worden wäre,
bewirkt die Krümmung der Konversionsfläche nunmehr eine entsprechende Verkürzung,
so daß im Ergebnis die Flugzeiten aneinander angeglichen werden.
[0024] Um die konkrete Form der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche zu ermitteln, kann man
nach Verfahrensanspruch 9 beispielsweise folgendermaßen vorgehen:
1. Man lege sich auf einen Entwurf der Nachbeschleunigungsoptik fest: Ein Beispiel
dafür zeigt Fig. 1. Dabei nehme man zuerst, wie in Fig. 1 gezeigt, eine ebene Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) an.
2. Man lege die Spannungen der Elektroden fest: Entlang der Nachbeschleunigungsstrecke
befinde sich hier nur eine einzige Ringelektrode(1), welche sich auf dem Potential
der Driftstrecke des Flugzeit-Massenspektrometers befinde. Die Halterung(2) für die
Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) befinde sich auf dem Nachbeschleunigungspotential
U, wodurch ein inhomogenes Nachbeschleunigungsfeld vor der Konversionsfläche erzeugt
wird.
3. Man bestimme eine Reihe von Ionenbahnen(11) mit folgenden Bedingungen:
- Alle Bahnen starten von einer Startfläche(12) senkrecht zur Detektorachse.
- Alle Bahnen starten parallel zur Detektorachse mit der gleichen Geschwindigkeit in
den Detektor hinein.
- Alle Bahnen werden für die gleiche Flugzeit bestimmt. Als Flugzeit soll die Zeit gewählt werden, welche ein Ion auf
der Achse benötigt um von der Startfläche(12) bis auf die Konversionsfläche(3) zu
gelangen.
4. Der Endpunkt der Achsenbahn liegt dann auf der Mitte der Konversionsfläche. Die
Endpunkte der außeraxialen Bahnen beschreiben dann die notwendige Form(20) der Konversionsfläche.
Dies ist vergrößert in Fig. 2 gezeigt.
5. Man ändere nun in dem Entwurf entsprechend dem vorherigen Schritt die Form der
Konversionsfläche und fahre fort mit Schritt 3.
Da eine Änderung der Form der Konversionsfläche eine Änderung des elektrischen Feldes
und damit eine Änderung der Flugzeitfehler mit sich zieht, sollte die obige Prozedur
so oft wiederholt werden, bis der verbleibende Flugzeitfehler eine vorher gewählte
Grenze unterschreitet.
[0025] Es ist auch möglich, die Form der Konversionsfläche als Potenzreihe endlicher Ordnung
anzugeben. Dies würde bedeuten, daß man nicht die exakte Form der in Schritt 5 bestimmten
Fläche übernimmt, sondern diese Fläche mit einer Potenzreihe optimal annähert, und
mit dieser Fläche dann bei Schritt 3 fortfährt.
[0026] Statt der in Schritt 3 bestimmten Bahnen(11) kann man auch Bahnen verwenden, die
mit Anfangsbedingungen entsprechend dem tatsächlichen Betrieb des Flugzeit-Massenspektrometers
aus der Ionenquelle heraus gestartet werden. Das bedeutet, daß im Prinzip auch solche
Flugzeitfehler, wie sie in der Ionenquelle und in den übrigen Teilen des Flugzeit-Massenspektrometers
entstehen, in die Bestimmung der Krümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche mit
einbezogen werden können. Bei der Bestimmung der Endfläche(20) muß man dabei berücksichtigen,
daß der Raum der Anfangsbedingungen in diesem Fall 6 Koordinaten, also 3 für Anfangsgeschwindigkeiten
und 3 für Anfangskoordinaten, aufweist. Da die Endfläche eine 2-parametrige Fläche
im 3-dimensionalen Raum ist, muß die Endläche(20) den Endpunkten der Bahnen(11) solcherart
angepaßt werden, daß der durchschnittliche Abstand der Bahn-Endpunkte zur Endfläche(20)
minimal ist.
[0027] Alternativ kann das Verfahren auch derart gestaltet sein, daß man sich zuerst auf
einen Entwurf der Detektorelektroden einschließlich einer bestimmten Krümmung der
Ionen-Elektronen-Konversionsfläche festlegt, und anschließend die Spannungen so lange
variiert, bis die Flugzeitfehler eine vorgegebene Grenze unterschreiten. Dieses Vorgehen
entspricht Verfahrensanspruch 10.
[0028] Bezugnehmend auf die Zeichnungen werden nun bevorzugte Ausführungsformen näher erläutert:
Fig. 3 zeigt die einfachste Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Detektors. Bei dieser
Ausführungsform werden die Flugzeitfehler außeraxialer Bahnen durch eine gekrümmte
Konversionsfläche(3) kompensiert. Wie in
Fig. 1 befindet sich hier die einzige Ringelektrode(1) auf dem Potential der Driftstrecke.
[0029] Ist die Halterung(2) der Konversionsfläche(3) beweglich gelagert, so entspricht diese
Ausführungsform auch Anspruch 7. Durch Verkippung einer beweglich gelagerten Halterung
ist es möglich, im Detektor gewisse Flugzeitfehler der Ionenquelle, des Reflektors
und/oder der Driftstrecke des Flugzeit-Massenspektrometers zu kompensieren.
[0030] Fig. 4 zeigt einen Detektorentwurf, bei dem das Feld der Nachbeschleunigungsstrecke durch
zusätzliche Ringelektroden(4) eingestellt werden kann. Auf diese Weise kann die notwendige
Krümmung der Konversionsfläche(3) bei einer bestimmten Spannung kleiner gehalten werden
als bei dem Entwurf von
Fig. 3. Alternativ läßt sich eine höhere Nachbeschleunigungsspannung bei gleicher Krümmung
der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) einstellen.
[0031] Die zusätzlichen Ringelektroden(4) verringern die Flugzeitfehler außeraxialer Bahnen,
indem durch sie die Bereiche größerer Feldkrümmung in Bereiche gelegt werden, in denen
die Geschwindigkeit der Ionen schon größer ist. Die Ringelektroden werden auf Potentiale
gelegt, deren Werte sich zwischen dem Driftstreckenpotential und dem Potential der
Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) liegen. Anstatt zwei oder auch mehrerer Ringelektroden(4)
wäre auch eine einzige zusätzliche Ringelektrode denkbar.
[0032] Mit größerem Nachbeschleunigungspotential werden die Flugzeitfehler von außeraxialen
Bahnen größer. Zusätzlich werden die Ionenbahnen auch stärker zur ionenoptischen Achse
hingebogen. Beides erfordert, daß die Krümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche
mit größerem Nachbeschleunigungspotential ansteigen muß. Wenn die Ionenbahnen so stark
zur ionenoptischen Achse hingebogen werden, daß sie alle auf einem Punkt der Konversionsfläche
auftreffen, so ist es nicht mehr möglich, die Flugzeitfehler durch Krümmung der Konversionsfläche
zu kompensieren. Dies ist erst wieder bei noch größeren Nachbeschleunigungspotentialen
möglich, wenn die Ionenbahnen sich vor der Konversionsfläche kreuzen.
[0033] Soll ein Detektor mit großem Nachbeschleunigungspotential betrieben werden, so ist
es günstig, wie in
Fig. 5 gezeigt, ihn nach Verfahrensanspruch 8 zu betreiben. Bei dieser Betriebsart lassen
sich beliebig hohe Nachbeschleunigungsspannungen bei vergleichsweise kleiner Krümmung
der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) erzielen, indem man durch geeignete Anordnung
der Elektroden und geeignete Einstellung der Spannungen dafür sorgt, daß sich die
Ionenbahnen(11) vor der Konversionsfläche kreuzen. Da eine Reihe von Möglichkeiten
bekannt sind, Elektroden so anzuordnen bzw. Spannungen so einzustellen, daß sich ein
elektrisches Feld mit den geforderten Eigenschaften ergibt, wurde hier auf die Darstellung
der Elektroden verzichtet.
[0034] Fig. 6 zeigt einen Detektorentwurf nach Anspruch 6, bei welchem die an der gekrümmten Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3)
erzeugten Elektronen durch ein dem Nachbeschleunigungsfeld überlagertes Feld quer
zur Detektorachse abgezogen werden. Die Elektronenbahnen(15) sind gestrichelt gezeigt.
[0035] Die Ionenbahnen(11) sind im mittleren Teil der Nachbeschleunigungsstrecke doppelt
gezeigt, da es hier, ähnlich wie bei
Fig. 5, möglich ist, sich kreuzende(11a) Ionenbahnen zu bewirken, oder die Ionenbahnen im
Wesentlichen parallel(11b) bis zur Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) zu führen.
[0036] Da durch das Abzugsfeld für die Elektronen die Rotationssymmetrie der Anordnung gebrochen
wird, ist die optimale Krümmung der Konversionsfläche möglicherweise nicht mehr rotationssymmetrisch.
Der Nachweis der erzeugten Elektronen kann mittels Vielkanalplatte, Szintillator o.ä.
bewirkt werden.
1. Detektor für Flugzeit-Massenspektrometer,
- mit einer oder mehreren Elektroden(1,2,4) für die Nachbeschleunigung der Ionen,
und
- einer Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3),
wobei die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) nicht eben ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
- die Krümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) Flugzeit-Fehler reduziert.
2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) aus Metall geformt ist.
3. Detektor nach Anspruch 1,
- mit einer Mikrokanalplatte als Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3).
4. Detektor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden(1,2,4) für die Nachbeschleunigung der Ionen und die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3)
zylindersymmetrisch aufgebaut sind.
5. Detektor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden(1,2,4) für die Nachbeschleunigung der Ionen und/oder die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3)
nicht zylindersymmetrisch aufgebaut sind.
6. Detektor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß dem Nachbeschleunigungsfeld für die Ionen ein Abzugsfeld für die an der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3)
erzeugten Elektronen überlagert ist.
7. Detektor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) um eine oder mehrere Achsen verkippt
werden kann.
8. Flugzeit-Massenspektrometer mit einem Detektor nach einem oder mehreren der vorhergehenden
Ansprüche.
9. Verfahren zum Betrieb eines Detektors für Flugzeit-Massenspektrometer,
- mit einer oder mehreren Elektroden(1,2,4) für die Nachbeschleunigung der Ionen,
und
- einer Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3),
wobei die Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) nicht eben ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
- die Krümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) Flugzeit-Fehler reduziert,
und
- mittels der Elektroden(1,2,4) und der an ihnen angelegten Spannungen außeraxiale
Ionenbahnen(11) so stark zur ionenoptischen Achse hingebogen werden, daß sie auf der
gegenüberliegenden Seite der Achse auf die Konversionsfläche(3) treffen.
10. Verfahren zur Bestimmung der Krümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) eines
Detektors, der eine Anzahl von Elektroden(1,2,4) aufweist,
dadurch gekennzeichnet, daß
a) mit Ausnahme der Oberflächenkrümmung der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3),
sämtliche Formen der Elektroden(1,2,4) vorher festgelegt werden,
b) eine beliebige Form der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) angenommen wird,
c) die Spannungen sämtlicher Elektroden(1,2,4) festgelegt werden,
d) das Potential aus den gegebenen Elektrodenformen und Elektrodenspannungen bestimmt
wird,
e) eine Gruppe von Bahnen(11) bestimmt wird, entweder
- ausgehend von einer Normalfläche(12) zur ionenoptischen Achse des Detektors in den
Detektor hinein, parallel zur ionenoptischen Achse mit gleicher Anfangsgeschwindigkeit,
oder
- ausgehend von der Ionenquelle des Flugzeit-Massenspektrometers, wobei Bahnen mit
Anfangsorten, -geschwindigkeiten und -richtungen entsprechend dem normalen Gebrauch
des Flugzeit-Massenspektrometers gewählt werden,
wobei für alle Bahnen die gleiche Flugzeit gewählt wird, welche eine Bahn auf der
ionenoptischen Achse von der Normalfläche(12) bzw. der Ionenquelle des Flugzeit-Massenspektrometers
bis zur Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) benötigt,
f) die Fläche(20), welche
- im Falle zweidimensionaler Anfangsbedingungen durch die Endpunkte der so bestimmten
Bahnen(11) definiert wird, bzw.
- im Falle höherdimensionaler Anfangsbedingungen die Endpunkte der so bestimmten Bahnen(11)
optimal annähert
die notwendige Form der Ionen-Elektronen-Konversionsfläche ergibt,
g) die in Schritt f) bestimmte Fläche entweder
- unmittelbar als neue Form der Konversionsfläche(3) übernommen wird, oder
- durch eine endlich-parametrige Fläche optimal angepaßt wird,
und mit Schritt d) fortgefahren wird, wobei das Verfahren solange von Schritt d) bis Schritt g) wiederholt werden soll,
bis der Unterschied von der in Schritt f) bestimmten Fläche(20) zur tatsächlichen
Konversionsfläche(3) eine vorgegebene Grenze unterschreitet; wobei wenn in Schritt
g) eine endlich-parametrige Fläche verwendet wird, so muß wenigstens diejenige minimale
Anzahl der Parameter für die Festlegung der Konversionsfläche(3) gewählt wird, welche
es noch erlaubt, daß der Unterschied von der in f) bestimmten Fläche(20) zur tatsächlichen
Konversionsfläche(3) eine vorher gewählte Grenze unterschreitet.
11. Verfahren zur Bestimmung der Elektrodenspannungen eines Detektors mit einer gekümmten
Ionen-Elektronen-Konversionsfläche,
dadurch gekennzeichnet, daß
a) sämtliche Formen der Elektroden(1,2,3,4) vorher festgelegt werden,
b) ein Satz von Spannungen für sämtliche Elektroden gewählt wird,
c) das Potential aus den gegebenen Elektrodenformen und Elektrodenspannungen berechnet
wird,
d) eine Gruppe von Bahnen(11) bestimmt wird, entweder
- ausgehend von einer Normalfläche(12) zur ionenoptischen Achse des Detektors in den
Detektor hinein, parallel zur ionenoptischen Achse mit gleicher Anfangsgeschwindigkeit,
oder
- ausgehend von der Ionenquelle des Flugzeit-Massenspektrometers, wobei Bahnen mit
Anfangsorten, -geschwindigkeiten und -richtungen entsprechend dem normalen Gebrauch
des Flugzeit-Massenspektrometers gewählt werden,
wobei für alle Bahnen die gleiche Flugzeit gewählt wird, welche eine Bahn auf der
ionenoptischen Achse von der Normalfläche(12) bzw. der Ionenquelle des Flugzeit-Massenspektrometers
bis zur Ionen-Elektronen-Konversionsfläche(3) benötigt,
e) die Spannungen sämtlicher Elektroden solange variiert werden, bis eine minimale
durchschnittliche Abweichung der in Schritt d) bestimmten Endpunkte der Ionenbahnen(11)
zur Oberfläche der Ionen-Elektronen Konversionsfläche(3) erzielt worden ist.
1. A detector for time-of-flight mass-spectrometers,
- with one or several electrodes(1,2,4) for postaccelerating ions, and
- with an ion-electron conversion surface(3),
characterized by
- an ion-electron conversion surface(3), which is not flat,
- the curvature of the ion-electron conversion surface(3) reducing flight-time errors
of the ions.
2. A detector according to claim 1, characterized by an ion-electron conversion surface(3), that is manufactured from metal.
3. A detector according to claim 1, with a microchannel plate as ion-electron conversion
surface(3).
4. A detector according to one of the previous claims, characterized by electrodes(1,2,4) for the postacceleration of ions that have rotational symmetry
and an ion-electron conversion surface(3) that has rotational symmetry.
5. A detector according to one of the claims 1 through 3, characterized by electrodes(1,2,4) for postacceleration of ions that are not rotationally symmetric
and/or an ion-electron conversion surface(3) that is not rotationally symmetric.
6. A detector according to one of the previous claims, characterized by an electric field for drawing out the electrons which are created at the ion-electron
conversion surface(3) and that said field is superposed over the postacceleration
field.
7. A detector according to one of the previous claims, characterized by an ion-electron conversion surface(3) that can be tilted.
8. Time-of-Flight Mass-Spectrometer with a detector according to one or several of the
previous claims.
9. A method of operating a detector of a time-of-flight mass-spectrometer, that
- has a number of electrodes(1,2,4) for postaccelerating ions, and
- an ion-electron conversion surface(3) that is not flat,
characterized by
- an ion-electron conversion surface(3), which is not flat,
- the curvature of the ion-electron conversion surface(3) reducing flight-time errors
of the ions, and
- the fact that the off-axis ion paths(11) are so strongly bent toward the ion optical
axis by the electrodes(1,2,4) and their potentials, such that said ions hit the ion-electron
conversion surface on the opposite side of the axis.
10. A method of determining the curvature of the ion-electron conversion surface(3) of
a detector having a number of electrodes(1,2,4), comprising the steps of:
a) fixing all forms of the electrodes(1,2,4), except the curvature of the ion-electrode
conversion surface(3),
b) to start with, fixing the ion-electron conversion surface(3) to some convenient
form,
c) fixing the voltages of all electrodes(1,2,4)
d) determining the potential from the given electrode-forms and -voltages,
e) determining a number of paths(11) into the detector, either
- starting from a reference plane(12) normal to the ion optical axis, parallel to
the ion optical axis with the same initial velocity, or
- starting from the ion source of the time-of-flight mass spectrometer, choosing paths
with initial conditions corresponding to normal operation of the mass spectrometer,
taking for all paths the same flight time, which is the time that an ion needs from
the reference plane(12) i.e. the ion source of the time-of-flight mass spectrometer
to the conversion surface(3), said ion flying on the ion optical axis,
f) the surface(20),
- in case of two dimensional initial conditions for the determined paths, being defined
the endpoints of the previously determined paths(11),
- in case of more than two dimensional initial conditions for the determined paths,
being defined by a plane most closely approximating all the the endpoints of the previously
determined paths(11),
being the necessary form of the ion-electron conversion surface,
g) taking the surface(20) determined in step f) either
- exactly as the new form for the conversion surface(3), or
- approximate this surface by an expansion defined by a finite number of parameters,
and continue at step d), repeating step d) through f) until the difference between the surface(20) determined
in step f) and the actual conversion surface(3) falls below some predetermined limit,
whereas if a finite expansion is used to define the new converion surface in step
(g, then at least that number of parameters for the determination of the conversion
surface(3) should be used that allows the difference between the surface(20) determined
in step f) and the actual conversion surface(3) to fall below some predetermined limit.
11. Method for determining the electrode voltages of a detector, comprising the steps
of:
a) fixing all forms of the electrodes(1,2,4),
b) selecting a set of voltages for the electrodes,
c) determining the potential from the electrode-forms and -voltages given,
d) determining a number of paths(11) into the detector, either
- starting from a reference plane(12 normal to the ion optical axis, parallel to the
ion optical axis with the same initial velocity, or
- starting from the ion source of the time-of-flight mass spectrometer, choosing paths
with initial conditions corresponding to normal operation of the mass spectrometer,
taking for all paths the same flight time, which is the time that an ion needs from
the reference plane(12) i.e. the ion source of the time-of-flight mass spectrometer
to the conversion surface(3), said ion flying on the ion optical axis,
e) and modifying the electrode voltages such as to minimize the difference between
surface defined by the endpoints of the ion paths(11) determined in step d) and the
ion-electron conversion surface(3).
1. Détecteur pour spectromètre de masse à durée de vol, comportant
- une ou plusieurs électrodes (1, 2, 4) pour la post-accéleration des ions, et
- une surface de conversion (3) ions-électrons,
la surface de conversion (3) ions-électrons n'etant pas plan et la courbure de la
surface de conversion (3) ions-électrons servant à réduir les erreurs de la durée
de vol.
2. Détecteur suivant la revendication 1 caractérisé en ce que la surface de conversion
(3) ions-électrons est formée en métal.
3. Détecteur suivant la revendication 1 comportant une galette de microcanaux servant
comme surface de conversion (3) ions-électrons.
4. Détecteur suivant l'une quelconque des revendications précédentes caractérisé en ce
que les électrodes (1, 2, 4) pour la post-accéleration des ions et la surface de conversion
(3) ions-électrons sont en forme cylindrosymétrique.
5. Détecteur suivant l'une quelconque des revendications 1 à 3 caractérisé en ce que
les électrodes (1, 2, 4) pour la post-accéleration des ions et/ou la surface de conversion
(3) ions-électrons ne sont pas en forme cylindrosymétrique.
6. Détecteur suivant l'une quelconque des revendications précédentes caractérisé en ce
que le champ de post-accélération des ions est superposé par un champ extracteur des
ions produits à la surface de conversion (3) ions-électrons.
7. Détecteur suivant l'une quelconque des revendications précédentes caractérisé en ce
qu'il est possible d'incliner la surface de conversion (3) ions-électrons autour un
ou plusieurs axes.
8. Spectromètre de masse à durée de vol comportant un détecteur suivant l'une quelconque
des revendications précédentes.
9. Procédé d'opération d'un détecteur pour un spectromètre de masse à durée de vol comportant
- une ou plusieurs électrodes (1, 2, 4) pour la post-accéleration des ions, et
- une surface de conversion (3) ions-électrons,
- la surface de conversion (3) ions-électrons n'etant pas plan
- la courbure de la surface de conversion (3) ions-élections servant à réduir les
erreurs de durée de vol, et
- les électrodes (1, 2, 4) et les tensions appliquées à ceux-ci ayant l'effect de
courber des trajectoires extraaxiales (11) à un tel degrée qu'ils sont incidentes
sur le côté opposé de l'axe.
10. Procédé de détermination de la courbure de la surface de conversion (3) ions-électrons
d'un détecteur comportant plusieurs électrodes (1, 2, 4) caractérisé en ce que
a) on destine toutes les formes des électrodes (1, 2, 4) à l'avance, à l'exception
de la courbure de la surface de conversion (3) ions-électrons,
b) on choisit une forme arbitraire pour la surface de conversion (3) ions-électrons.
c) on détermine les tensions de toutes les électrodes (1, 2, 4),
d) on détermine le potentiel des formes et des tensions données des électrodes,
e) on détermine une groupe de trajectoires (11), soit
- à partir d'une surface (12) verticale à l'axe optique des ions du détecteur, étant
orientées vers l'intérieur du détecteur, parallèles à l'axe optique des ions et possédant
la même vitesse initiale, ou soit
- à partir de la source des ions du spectromètre de masse à durée de vol, les trajéctoires
étant choisies tel qu'elles possedent des lieux, des vitesses et des directions initials
qui correspondent aux conditions normales d'utilisation du spectromètre de masse à
durée de vol,
la même durée de vol étant choisi pour toutes les trajectoires, c'est à dire le temps
necessaire pour un ion de parvenir, longeant une trajectoire sur l'axe optique des
ions et venant respectivement de la surface verticale (12) ou de la source de ions,
à la surface de conversion (3) ions-électrons,
f) la surface (20), laquelle
- en cas de conditions initiales à deux dimensions, est definie par les points d'extremité
des trajectoires ainsi déterminées, ou respectivement
- en cas de conditions initiales à plus de deux dimensions, est une approximation
optimalisée des points d'extremité des trajectoires ainsi déterminées
fournit la forme necessaire de la surface de conversion ions-électrons,
g) la surface détermine au pas f) est. soit
- prise directement comme nouvelle forme de la surface de conversion (3) ions-électrons,
ou soit
- adaptée optimal par une surface à nombre fini de paramètres,
et on continue avec pas d) le procédé etant répété de pas d) à pas g) jusqu'à ce
que l'écart entre la surface (20) déterminée au pas f) et la surface de conversion
(3) réelle descend au-dessous d'une limite prédéfinie, étant necessaire, si l'on utilise
une surface à nombre fini de paramètres au pas g), d'utiliser au moins ce nombre minimale
de paramètres pour la détermination de la surface de conversion (3) ions-électrons
lequelle rend justement posssible que l'ecart entre la surface (20) détermine au pas
f) et la surface de conversion (3) réelle descend au-dessous d'une limite prédéfinie.
11. Procédé de détermination des tensions des électrodes d'un détecteur comportant une
surface de conversion (3) ions-électrons courbée caractérisé en ce que
a) on détermine toutes les formes des électrodes (1, 2, 3, 4) à l'avance,
b) on choisit un jeu de tensions pour toutes les électrodes,
c) on calcule le potentiel à partir des formes et tensions données des électrodes,
d) on détermine une groupe de trajectoires (11), soit
- à partir d'une surface (12) verticale à l'axe optique des ions du détecteur, étant
orientées vers l'intérieur du étecteur, parallèles à l'axe optique des ions et possédant
la même vitesse initiale, ou soit
- à partir de la source des ions du spectromètre de masse à durée de vol, les trajéctoires
étant choisies tel qu'elles possedent des lieux, des vitesses et des directions initials
qui correspondent aux conditions normales d'utilisation du spectromètre de masse à
durée de vol,
la même durée de vol étant choisi pour toutes les trajectoires, c'est à dire le temps
necessaire pour un ion de parvenir, longeant une trajectoire sur l'axe optique des
ions et venant respectivement de la surface verticale (12) ou de la source de ions,
à la surface de conversion (3) ions-électrons.
e) on varie les tensions de toutes les électrodes jusqu'à ce que l'écart moyen entre
les points d'extremité déterminés des trajectoires (1 1) des ions au pas d) et la
surface de conversion (3) ions-électrons atteint un minimum.