[0001] La présente invention concerne un circuit de régulation de tension destinée à réguler
une tension perturbée par un phénomène dit "latch-up".
[0002] On désigne communément par phénomène "latch-up" tout phénomène se produisant dans
un circuit intégré suite à des perturbations externes telles que la fourniture d'une
tension, d'un courant ou d'un rayonnement.
[0003] Il existe de nombreux dispositifs pour détecter le phénomène "latch-up" dans un substrat
et, en particulier, des dispositifs analysant un courant susceptible d'être perturbé
par ledit phénomène.
[0004] A titre illustratif, la demande de brevet japonais publiée sous le No 5 326 825 au
nom de FUNAI ELECTRIC CO LTD décrit un tel dispositif représenté en figure 1. Ce dispositif
comprend un circuit intégré IC1 à une première borne duquel est fournie une tension
d'alimentation Vdd, par l'intermédiaire d'un transistor T1 bipolaire, et à la seconde
borne duquel est connecté un circuit résonant constitué d'une résistance R3 et d'un
condensateur C3. Un circuit intégré IC2 de détection comprend une borne de masse,
une première borne sur laquelle est fournie la tension d'alimentation Vdd, et une
seconde borne connectée audit circuit résonnant ainsi qu'à la borne de base d'un transistor
T2 bipolaire par une résistance R2. La borne de base du transistor T1 est connectée
à la borne de collecteur du transistor T2 par une résistance R1, et la borne d'émetteur
du transistor T2 est mise à la masse.
[0005] Dans le dispositif décrit ci-dessus en relation avec la figure 1, s'il se produit
un phénomène "latch-up", une chute notable de la tension d'alimentation Vdd est détectée
par le circuit intégré IC2. Dans ce cas, les transistors T1 et T2 sont bloqués, et
la tension alimentant le circuit intégré IC1 est interrompue, ce qui initialise ce
circuit. Par suite, le circuit intégré IC1 fonctionne à nouveau normalement.
[0006] Toutefois, ces dispositifs ont des structures complexes, et nécessitent un grand
nombre de composants électroniques pour réaliser les fonctions de détection et de
régulation.
[0007] Un objet de la présente invention est de prévoir un circuit de régulation de tension
destiné à supprimer un phénomène "latch-up" inopportun.
[0008] Un autre objet de la présente invention est de prévoir un tel circuit répondant aux
critères de coût et de simplicité.
[0009] Ces objets, ainsi que d'autres, sont atteints par le circuit de régulation de tension
selon la revendication 1.
[0010] En effet, suite à de nombreuses expérimentations, la demanderesse de la présente
invention a constaté qu'une des solutions les plus efficaces pour supprimer un phénomène
"latch-up" dans un circuit intégré consiste à amener au potentiel de masse le niveau
de la tension d'alimentation du circuit intégré perturbé par ledit phénomène, pendant
une durée suffisante pour que ce circuit chute en-dessous d'un certain seuil de tension.
[0011] A cet effet, le circuit de régulation de tension selon la présente invention comprend
des moyens de détection de tension qui, suite à une perturbation de type "latch-up",
amènent au potentiel de masse la tension régulée, ce qui a pour effet de supprimer
cette perturbation.
[0012] Un avantage de la présente invention est de fournir un tel circuit de régulation
de tension ayant une structure peu complexe, ce qui le rend bon marché.
[0013] Un autre avantage de la présente invention est de fournir un tel circuit comprenant
des moyens de comparaison de tension à l'entrée desquels est fournie la tension régulée,
ces moyens étant agencés de manière à définir deux seuils de tension susceptibles
d'être prédéterminés pour répondre aux exigences de l'utilisateur.
[0014] Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, de la présente invention
apparaîtront plus clairement à la lecture de la description détaillée d'un mode de
réalisation préféré de l'invention, donné à titre d'exemple uniquement, en relation
avec les figures jointes, parmi lesquelles :
- la figure 1 déjà citée représente un circuit de régulation de tension destiné à supprimer
un phénomène "latch-up", selon l'art antérieur;
- la figure 2 représente un mode de réalisation préféré d'un circuit de régulation de
tension selon la présente invention;
- la figure 3 représente de façon détaillée le mode de réalisation préféré des moyens
de détection du circuit de la figure 2;
- la figure 4 représente la relation entre trois tensions présentes dans le circuit
de régulation de tension selon le mode de réalisation préféré de la présente invention;
et
- les figures 5A et 5B représentent les chronogrammes de la tension régulée et du signal
fourni par le circuit de régulation de tension selon le mode de réalisation préféré
de la présente invention.
[0015] La figure 2 représente un mode de réalisation préféré d'un circuit 1 selon la présente
invention.
[0016] Le circuit 1 comprend une borne d'entrée I et une borne de sortie O de laquelle une
tension régulée Vreg doit être fournie, la tension Vreg étant fournie de manière à
être sensiblement égale à un niveau de tension Vo. Le circuit 1 comprend en outre
un transistor bipolaire 2, deux condensateurs 3 et 9, une résistance 5, une diode
Zener 6, et des moyens de détection de tension 11.
[0017] Le transistor bipolaire 2 comprend typiquement une borne de collecteur C, une borne
d'émetteur E et une borne de base B, les bornes C et E étant connectées respectivement
aux bornes I et O. La résistance 5 est connectée entre la borne B et la borne C du
transistor 2.
[0018] La diode Zener 6 est agencée de sorte qu'elle fournit une tension ayant une valeur
choisie de manière à former le niveau de tension Vo sur la borne de sortie O.
[0019] Les condensateurs 3 et 9 sont connectés entre la borne d'entrée I et la masse, et
entre la borne de sortie O et la masse, respectivement. L'homme de l'art notera que
le condensateur 3 est classiquement utilisé en tant que condensateur de déparasitage,
et que le condensateur 9 est classiquement utilisé en tant que condensateur de lissage
et/ou de déparasitage. Le condensateur 3 n'est utilisé qu'à titre de perfectionnement
dans la présente invention, et ne présente donc pas de caractère limitatif pour la
présente invention.
[0020] Les moyens 11 comprennent une borne d'entrée connectée à la borne O, de façon à recevoir
en entrée la tension Vreg, une borne de masse, et une borne de sortie connectée à
la borne B, de façon à fournir en sortie une tension de commande Vres pour commander
le transistor 2. Les moyens 11 sont agencés de sorte qu'ils détectent si la tension
Vreg est perturbée par un phénomène "latch-up" et, le cas échéant, commandent une
initialisation de cette tension à son niveau de tension initial Vo, comme cela est
expliqué de façon plus détaillée ci-après.
[0021] La figure 3 représente de façon détaillée le mode de réalisation préféré des moyens
11, selon la présente invention.
[0022] Les moyens 11 comprennent des moyens de fourniture de tension de référence 20 pour
fournir une tension de référence Vref à partir de la tension Vreg, un diviseur de
tension 21 destiné à fournir deux tensions régulées corrigées Vreg' et Vreg'' à partir
de la tension régulée Vreg, deux comparateurs de tension 23 et 22 pour comparer la
tension Vref aux tensions Vreg' et Vreg'', respectivement, et des moyens de commande
24 pour fournir, le cas échéant, la tension Vres susceptible de commander le transistor
2, et de réguler la tension Vreg.
[0023] Les moyens 20 comprennent une borne d'entrée connectée à la borne d'entrée des moyens
11 (c'est-à-dire à la borne O), de sorte que les moyens 20 reçoivent en entrée la
tension Vreg, une borne de masse connectée à la masse, et une borne de sortie connectée
aux comparateurs 22 et 23, de sorte que les moyens 20 fournissent en sortie la tension
Vref. Les moyens 20 sont connus dans la technique, voir par exemple les articles "CMOS
Analog Integrated Circuits Based on Weak Inversion Operation", de E. Vittoz et al,
IEEE Journal of Solid States Circuits, vol. SC-12, No. 3, Juin 1977, et "CMOS Voltage
References Using Lateral Bipolar Transistors", de M. Degrauwe et al, IEEE Journal
of Solid States Circuits, vol. SC-20, No 6, décembre 1985.
[0024] On rappelle brièvement le fonctionnement de moyens en se référant à la figure 4.
La figure 4 représente une courbe 31 correspondant à la relation entre la tension
Vref et la tension Vreg. Dans cet exemple, les moyens 20 sont agencés de sorte que,
pour une valeur de la tension d'entrée Vreg supérieure à 1,5 V, la tension de sortie
Vref est sensiblement égale à un seuil de tension Vr' de l'ordre de 1,2 V, et qu'il
existe un palier de tension sur lequel la tension Vref est sensiblement égale à un
seuil de tension Vr'', pour de faibles valeurs de la tension Vreg.
[0025] On définit un premier niveau de tension A'Vr' comme le niveau de tension au-dessous
duquel un phénomène "latch-up" est supposé se produire. Autrement dit, quand la tension
Vreg chute notablement, un phénomène "latch-up" est supposé responsable de cette chute,
dès que la tension Vreg devient inférieure à A'Vr'. On définit également un second
niveau de tension A''Vr'' comme le niveau de tension au-dessous duquel un phénomène
"latch-up" est supprimé. Autrement dit, lors d'une chute de la tension Vreg, comme
cela est le cas quand il se produit un phénomène "latch-up", cette perturbation est
supprimée, dès que la tension Vreg devient inférieure à A''Vr''. Les niveaux de tension
A'Vr' et A''Vr'' sont des valeurs prédéterminées selon des spécificités propres aux
exigences de l'utilisateur.
[0026] Dans le mode de réalisation préféré représenté en figure 3, le diviseur de tension
21 est formé par un pont résistif constitué de trois résistances 25, 26 et 27 montées
en série entre la borne de sortie O et la masse. Le point de raccordement entre les
deux résistances 26 et 27 est connecté à une première entrée du comparateur 23, de
façon à fournir en entrée la tension Vreg'. Cette tension est, par définition, proportionnelle
à la tension Vreg, le rapport de proportionnalité, référencé par A', étant prédéterminé
et dépendant des valeurs des résistances 27, 26 et 25. A titre illustratif, la figure
4 représente une courbe 32 correspondant à la relation entre la tension Vreg' et la
tension Vreg. Le point de raccordement entre les deux résistances 25 et 26 est connecté
à une première entrée du comparateur 22, de façon à fournir en entrée la tension Vreg''.
Cette tension est, par définition, proportionnelle à la tension Vreg, le rapport de
proportionnalité, référencé par A'', étant prédéterminé et dépendant des valeurs des
résistances 25, 26 et 27. A titre illustratif, la figure 4 représente une courbe 33
correspondant à la relation entre la tension Vreg'' et la tension Vreg.
[0027] Chaque comparateur 23, 22 comprend une première borne d'entrée sur laquelle est fournie
une tension régulée corrigée Vreg', Vreg'', respectivement, comme cela est décrit
ci-dessus, et une seconde borne d'entrée sur laquelle est fournie la tension Vref,
comme cela est également décrit ci-dessus. Ainsi, le comparateur 23 compare la tension
Vreg' à la tension Vref, tandis que le comparateur 22 compare la tension Vreg'' à
la tension Vref. Chaque comparateur 22, 23 comprend en outre une borne de sortie connectée
à une borne d'entrée respective des moyens de commande 24.
[0028] Les moyens de commande 24 comprennent en outre une borne de sortie servant de borne
de sortie des moyens 11, de façon à commuter la tension Vres, quand l'un des comparateurs
22, 23 commute, ce qui commande la régulation de la tension Vreg, comme cela va être
décrit de façon plus détaillée. Les moyens 24 peuvent être formés par une bascule
connue en soi de l'homme de l'art, et agencée de sorte qu'elle commute pour fournir
en sortie un niveau logique de tension suffisamment bas pour amener le transistor
2 dans un état bloqué, ou un niveau logique de tension suffisamment élevé pour amener
le transistor 2 dans un état conducteur, ces deux niveaux logiques étant désignés
"0L" et "1L", respectivement.
[0029] Le fonctionnement du circuit 1 selon la présente invention va être expliqué en se
référant aux figures 5A et 5B.
[0030] Les figures 5A et 5B représentent de façon schématique des chronogrammes des tensions
Vreg et Vres présentes dans le circuit 1, respectivement.
[0031] Quand le circuit 1 fonctionne normalement, c'est-à-dire quand il n'est pas perturbé
par un phénomène "latch-up", la tension Vreg est sensiblement égale au niveau de tension
Vo, et les moyens de détection de tension 11 fournissent en sortie un niveau logique
"1L" comme tension Vres. En conséquence, le transistor 2 est maintenu dans un état
conducteur, de sorte que la tension entre ses bornes de base et d'émetteur soustraite
à la tension aux bornes de la diode Zener 6 est égale au niveau de tension Vo.
[0032] Considérons, à un instant t1, qu'une perturbation apparaît de telle sorte que la
tension Vreg commence a chuter notablement au-dessous du niveau de tension Vo. Cette
chute se poursuit jusqu'à un instant t2 où la tension Vreg atteint le niveau de tension
A'Vr', puis devient inférieure à ce niveau.
[0033] Un phénomène "latch-up" est dès lors déclaré responsable de la perte de contrôle
sur la tension Vreg. Comme cela est représenté en figure 4, quand la tension Vreg
devient inférieure au niveau de tension A'Vr', la tension Vreg' (courbe 32) devient
inférieure au seuil de tension Vr' (courbe 31), ce qui entraîne la commutation du
comparateur 23. Comme le comparateur 23 commute, les moyens 24 amènent avantageusement
la tension Vres à "0L", ce niveau logique étant suffisant pour bloquer le transistor
2. Le circuit intégré sous l'emprise du phénomène "latch-up" n'est donc plus alimenté
sous le niveau de tension Vo. Ceci a pour effet de faire chuter notablement la tension
Vreg et, par conséquent, la tension Vref.
[0034] Cette chute se poursuit jusqu'à un instant t3 où la tension Vreg atteint le niveau
de tension A''Vr'', puis devient inférieure à ce niveau. Le phénomène "latch-up" responsable
de la perturbation de la tension Vreg en dessous du niveau de tension Vo à l'instant
t2 est dès lors supprime. Comme cela est représenté en figure 4, quand la tension
Vreg devient inférieure au niveau de tension A''Vr'', la tension Vreg'' (courbe 33)
devient inférieure au seuil de tension Vr'' (courbe 31), ce qui entraîne la commutation
du comparateur 22. Comme le comparateur 22 commute, les moyens 24 amènent avantageusement
la tension Vres au niveau logique "1L". Comme ce niveau logique est suffisant pour
rendre conducteur le transistor 2, la tension entre ses bornes de base et d'émetteur
augmentée de la tension aux bornes de la diode Zener 6 est à nouveau égale, à un instant
t4, au niveau de tension Vo. Le fonctionnement du circuit 1 redevient donc normal,
jusqu'à ce qu'un phénomène "latch-up" perturbe à nouveau le circuit 1, et que la situation
semblable à celle de l'instant t1 se répète.
[0035] Il va de soi pour l'homme de l'art que la description détaillée ci-dessus peut subir
diverses modifications sans sortir du cadre de la présente invention. Comme variante
de réalisation, on peut utiliser d'autres moyens de fourniture de tension constante
que la diode Zener.
1. Circuit de régulation de tension (1) pour fournir une tension régulée ayant un niveau
prédéterminé, et destiné à supprimer un phénomène "latch-up" susceptible de perturber
ladite tension, ce circuit comportant une borne d'entrée (I) et une borne de sortie
(O) de laquelle est fournie la tension régulée (Vreg), ce circuit comprenant un transistor
(2) bipolaire comportant une borne de collecteur (C) connectée à ladite borne d'entrée
(I), une borne de base (B), et une borne d'émetteur (E) connectée à ladite borne de
sortie (O); une résistance (5) connectée entre la borne de collecteur (C) et la borne
de base (B) dudit transistor (2); et des moyens de fourniture de tension (6) pour
fournir une tension sensiblement constante sur la borne de base dudit transistor (2),
ces moyens (6) étant connectés entre la borne de base dudit transistor (2) et la masse
de sorte que la tension sensiblement constante de laquelle est soustraite la tension
entre les bornes de base et d'émetteur dudit transistor (2) est égale audit niveau
prédéterminé de la tension régulée;
caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de détection de tension (11)
comportant une borne d'entrée connectée à ladite borne de sortie (O), une borne de
masse connectée à la masse, et une borne de sortie connectée à ladite borne de base
(B) dudit transistor (2), ces moyens (11) étant agencés pour recevoir en entrée la
tension régulée (Vreg) et pour fournir en sortie une tension de commande audit transistor
(2) pour commander sa commutation entre un état conducteur et un état bloqué, de sorte
que le transistor (2) est dans l'état bloqué quand une perturbation amène ladite tension
régulée à chuter en-dessous d'un premier niveau de tension prédéterminé, niveau en-dessous
duquel un phénomène latch-up" est défini responsable de cette perturbation, la commutation
dudit transistor (2) à l'état bloqué amenant ladite tension régulée vers le potentiel
de masse, et que le transistor (2) est dans l'état conducteur, quand ladite tension
régulée est sensiblement égale au niveau prédéterminé, c'est-à-dire supérieure au
premier niveau de tension, ou quand elle est inférieure à un second niveau de tension
prédéterminé, niveau en-dessous duquel le phénomène "latch-up" est supprime.
2. Circuit de régulation de tension (1) selon la revendication 1, caractérisé en que
les moyens de détection de tension (11) comprennent :
- des moyens de fourniture de tension de référence (20) destinés à fournir une tension
de référence à partir de la tension régulée, ces moyens comportant une borne d'entrée
connectée à la borne d'entrée desdits moyens de détection de tension (11), une borne
de masse connectée à la borne de masse desdits moyens de détection de tension (11),
et une borne de sortie de laquelle est fournie la tension de référence susceptible
d'être sensiblement égale à des premier et second seuils de tension, en fonction de
la valeur de la tension régulée, ces premier et second seuils correspondant auxdits
premier et second niveaux de tension prédéterminés, respectivement;
- un diviseur de tension (21) pour fournir des première et seconde tensions régulées
corrigées en fonction de ladite tension régulée, ce diviseur comportant une borne
d'entrée connectée à la borne d'entrée desdits moyens de détection de tension (11),
une borne de masse connectée à la borne de masse desdits moyens de détection de tension
(11), et des première et seconde bornes de sortie desquelles sont fournies les première
et seconde tensions régulées corrigées, respectivement;
- un premier comparateur de tension (23) destiné à comparer la première tension régulée
corrigée au premier seuil de la tension de référence, ce comparateur (23) comportant
une première borne d'entrée connectée à la borne de sortie des moyens de fourniture
de tension de référence (20), une seconde borne d'entrée connectée à la première borne
de sortie dudit diviseur de tension (21), et une borne de sortie; ce comparateur (23)
étant agencé de sorte qu'il commute quand la première tension régulée corrigée devient
inférieure audit premier seuil de la tension de référence;
- un second comparateur de tension (22) destiné à comparer la seconde tension régulée
corrigée au second seuil de la tension de référence, ce comparateur (22) comportant
une première borne d'entrée connectée à la borne de sortie des moyens de fourniture
de tension de référence (20), une seconde borne d'entrée connectée à la seconde borne
de sortie dudit diviseur de tension (21), et une borne de sortie; ce comparateur (22)
étant agencé de sorte qu'il commute quand la seconde tension régulée corrigée devient
inférieure audit second seuil de la tension de référence;
- des moyens de commande (24) pour commander la commutation dudit transistor (2) à
l'état bloqué ou à l'état conducteur, ces moyens (24) comprenant des première et seconde
bornes d'entrée connectées aux bornes de sortie des premier et second comparateurs
de tension (23, 22), respectivement, et une borne de sortie connectée à ladite borne
de sortie des moyens de détection de tension (11), ces moyens de commande (24) étant
agencés de sorte qu'ils fournissent en sortie un niveau logique de tension ("0L")
suffisamment bas pour entraîner ledit transistor (2) dans l'état bloqué, quand ils
reçoivent en entrée un signal de commutation du premier comparateur de tension (23),
et un niveau logique de tension ("1L") suffisamment élevé pour entraîner ledit transistor
(2) dans l'état conducteur, quand ils reçoivent en entrée un signal de commutation
du second comparateur de tension (22).
3. Circuit de détection et de régulation de tension (1) selon la revendication 2, caractérisé
en ce que ledit diviseur de tension (21) comprend en outre trois résistances (25,
26, 27) connectées en série, de sorte qu'elles réalisent un pont résistif fournissant
en sortie les première et seconde tensions régulées corrigées.
4. Circuit de détection et de régulation de tension (1) selon la revendication 1, caractérisé
en ce que les moyens de fourniture de tension (6) sont constitués d'une diode Zener.
5. Circuit de régulation de tension (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes,
caractérisé en ce qu'il comprend en outre un premier condensateur (3) connecté entre
ladite borne d'entrée (I) dudit circuit (1) et la masse, ce condensateur étant agencé
en tant que condensateur de déparasitage.
6. Circuit de régulation de tension (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes,
caractérisé en ce qu'il comprend en outre un second condensateur (9) connecté entre
ladite borne de sortie (O) dudit circuit (1) et la masse, ce condensateur étant agencé
en tant que condensateur de déparasitage et de lissage.