(19)
(11) EP 1 008 858 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
12.07.2000  Patentblatt  2000/28

(43) Veröffentlichungstag A2:
14.06.2000  Patentblatt  2000/24

(21) Anmeldenummer: 99122485.8

(22) Anmeldetag:  11.11.1999
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01R 31/30, G11C 29/00, G01R 31/316
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 13.11.1998 DE 19852430

(71) Anmelder: Infineon Technologies AG
81541 München (DE)

(72) Erfinder:
  • McConnell, Roderick, Dr.
    81541 München (DE)
  • Richter, Detlev
    81825 München (DE)

(74) Vertreter: Zedlitz, Peter, Dipl.-Inf. et al
Patentanwalt, Postfach 22 13 17
80503 München
80503 München (DE)

   


(54) Schaltungsanordnung mit temperaturabhängiger Halbleiterbauelement-Test- und Reparaturlogik


(57) Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit temperaturabhängiger Halbleiterbauelement-Test- und Reparaturlogik, bei der in einem Halbleiterchip (1) des Halbleiterbauelements (2) wenigstens ein Temperatursensor (3) vorgesehen ist. Zusätzlich sind in dem Halbleiterchip (1) das Halbleiterbauelement (2) mit dem Temperatursensor (3) und eine Selbsttest- und Reparaturlogik (4) miteinander verbunden.






Recherchenbericht