[0001] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Beschichten eines Substrates
sowie eine Beschichtung auf einem Substrat nach der Gattung der unabhängigen Ansprüche.
Stand der Technik
[0002] Als reibungsarme Verschleißschutzschichten sind im Stand der Technik vor allem metallhaltige
Kohlenstoffschichten und amorphe, diamantähnliche Kohlenstoffschichten, sogenannte
a-C:H-Schichten, bekannt. Diese werden in der Regel in einem mehrstündigen Hochvakuum-Prozess
hergestellt.
[0003] Eine Alternative zu diesem zeitintensiven Prozess ist die Abscheidung von amorphen,
diamantähnlichen Kohlenstoffschichten mit Plasmastrahlquellen, beispielsweise einer
induktiv gekoppelten Plasmastrahlquelle, was gemäß DE 101 04 614 A1 in einem Grobvakuum
oder im atmosphärennahen Druckbereich erfolgen kann, so dass die Abscheidung nur wenige
Minuten beansprucht. Eine weitere Plasmastrahlquelle zur Oberflächenbearbeitung von
Werkstücken und insbesondere zum Aufbringen von Beschichtungen auf Substraten wird
auch in DE 198 56 307 C1 beschrieben. Schließlich ist aus DE 196 35 669 C1 bekannt,
dass sich zum Aufbringen einer Schicht auf einem Substrat auch ein Gasflusssputtern
mit einer Hohlkathoden-Glimmentladung in einem Inertgasstrom eignet.
[0004] Aus A. Voevodin und J. Zabinski , Diamond and Related Materials, Volume 7, (1998),
Seite 463, ist bekannt, dass der Einbau von nanoskaligen Partikeln, das heißt Partikeln
mit einer typischen Partikelgröße von weniger als 100 nm und insbesondere weniger
als 10 nm, in eine amorphe, diamantähnliche Kohlenstoffschicht, zu einer deutlichen
Verbesserung der Verschleißschutzeigenschaft führen kann. Insbesondere kommt es bei
derart geringen Partikelgrößen in der Matrix aus amorphem, diamantähnlichem Kohlenstoff
bei einer mechanischen Belastung nicht oder nur in deutlich verringertem Ausmaß zu
einer Versetzung von Atomen, so dass eine Formung nur durch Abgleiten an Korngrenzen
möglich ist. In J. Musil, Surface and Coatings Technology, Volume 125, (2000), Seite
322, wird beschrieben, dass es durch geeignete Wahl des Materials der nanokristallinen
Phase und der Matrix möglich ist, harte bis superharte Schichten, das heißt Schichten
mit einer Härte größer 40 GPa, herzustellen.
[0005] Aufgabe der vorliegenden Erfindung war die Bereitstellung einer Vorrichtung und eines
Verfahrens, mit denen eine Beschichtung auf einem Substrat erzeugbar ist, die einerseits
eine obere Funktionsschicht aufweist, die insbesondere als Verschleißschutzschicht
einsetzbar ist, und die andererseits eine zweite Funktionsschicht aufweist, die die
Verbindung der Beschichtung mit dem Substrat gewährleistet. Gleichzeitig sollte ein
möglichst guter Zusammenhalt dieser beiden Funktionsschichten gewährleistet sein.
Insbesondere war es Aufgabe, eine nanodispersive Funktionsschicht, das heißt eine
Schicht mit nanoskaligen Partikeln in einer Matrix, in einem Grobvakuum-Prozess auf
einem beispielsweise metallischen Substrat abzuscheiden, wobei eine möglichst gute
Anbindung und Haftung dieser Funktionsschicht auf dem Substrat erreicht werden sollte.
Vorteile der Erfindung
[0006] Die erfindungsgemäße Vorrichtung und das erfindungsgemäße Verfahren haben den Vorteil,
dass ein Materialeintrag auf das Substrat über die Hohlkathode und ein Materialeintrag
auf das Substrat über die Plasmastrahlquelle zumindest zeitweilig gleichzeitig erfolgen
kann, wobei einerseits die Vorteile beider Quellen erhalten bleiben, und wobei andererseits
neuartige Beschichtungen auf dem Substrat erzeugbar sind, die bei Einsatz nur einer
dieser Quellen nicht abscheidbar sind. Insofern ergibt sich eine vorteilhafte Synergie
beider Methoden im Hinblick auf die Zusammensetzung und die Eigenschaften der erhaltenen
Beschichtung auf dem Substrat, wodurch vor allem neuartige Beschichtungen mit sehr
guten Verschleißschutzeigenschaften effizient und kostengünstig herstellbar sind.
Zudem führt diese Kombination von unterschiedlichen Quellen für einen Materialeintrag
auf das Substrat zu einem verringerten Aufwand bei der Handhabung der zu beschichtenden
Substrate.
[0007] Ein weiterer wesentlicher Vorteil liegt darin, dass durch die Anordnung der Plasmastrahlquelle
und der Hohlkathode innerhalb einer gemeinsamen Beschichtungskammer deutlich verkürzte
Zeiten zur Erzeugung der gewünschten Beschichtung auf dem Substrat realisiert werden
können. Insofern eignet sich die erfindungsgemäße Vorrichtung und das damit durchgeführte
Verfahren besonders gut zur Serienfertigung.
[0008] Daneben ist es nunmehr möglich, auf dem Substrat eine Haftschicht, darauf eine Gradientenschicht
und darauf beispielsweise eine nanodispersive Verschleißschutzschicht innerhalb einer
Beschichtungskammer in einem kontinuierlichen Prozess aufzubringen. Insbesondere kann
die gewünschte Beschichtung dabei aufgrund der kurzen Beschichtungszeit vollständig
in nur einer Fertigungslinie erzeugt werden.
[0009] Weiter kann das erfindungsgemäße Verfahren auch als Durchlaufverfahren oder sogenanntes
"in-line-Verfahren" beispielsweise zur Beschichtung von Schüttgut als Substratmaterial
eingesetzt werden.
[0010] Besonders vorteilhaft ist weiter, dass es nicht erforderlich ist, das erfindungsgemäße
Verfahren bzw. die erfindungsgemäße Vorrichtung im Hochvakuum oder Feinvakuum zu betreiben.
Vielmehr eignet es bzw. sie sich auch zum Betrieb im Grobvakuum oder im atmosphärennahen
Druckbereich. Durch die geringen Anforderungen an das Vakuum bei Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens ist es weiter vorteilhaft möglich, technisch relevantes
Substratmaterial wie beispielsweise Stahl, Edelstahl oder Werkstücke aus stark ausgasenden
oder zur Ausgasung neigenden Materialien wie Sintermaterialien, Kunststoffen oder
Elastomeren, insbesondere Zahnräder, Achsen, Dichtringe oder Profilmaterial, zu beschichten.
[0011] Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den in den Unteransprüchen
genannten Maßnahmen.
[0012] So ist besonders vorteilhaft, wenn die eingesetzte Hohlkathode eine metallische Hohlkathode
ist, mit der eine metallische Haftschicht auf dem Substrat abscheidbar ist. Daneben
ist in diesem Fall die metallische Hohlkathode auch als Metallquelle zur Erzeugung
beispielsweise nanoskaliger Metallcarbid-, Metallnitrid und/oder Metalloxidpartikel
geeignet. Andererseits ist aber auch die Abscheidung oder Erzeugung isolierender oder
halbleitender Materialien mit Hilfe der Hohlkathode möglich.
[0013] Insbesondere ist es nunmehr vorteilhaft möglich, eine metallische Haftschicht und
eine nanodispersive Schicht, beispielsweise nanoskalige Metallcarbidpartikel in einer
amorphen, diamantähnlichen Kohlenstoffschicht oder -matrix, in einem Grobvakuum innerhalb
nur einer Beschichtungskammer abzuscheiden.
[0014] Daneben ist es nun vorteilhaft auch möglich, eine Beschichtung mit einer Zwischenschicht
in Form einer Gradientenschicht innerhalb einer Beschichtungskammer zu erzeugen, das
heißt, es kann nun innerhalb einer Beschichtungskammer zwischen zwei Funktionsschichten
eine Zwischenschicht erzeugt werden, die einen hinsichtlich der Zusammensetzung allmählichen
Übergang zwischen den Funktionsschichten gewährleistet.
[0015] Besonders vorteilhaft ist eine Zwischenschicht, die hinsichtlich ihrer Zusammensetzung
allmählich von einer Metallschicht als zweite Funktionsschicht in eine Schicht mit
nanoskaligen Metallcarbid-Partikeln in einer amorphen, diamantähnlichen Kohlenstoffmatrix
als erste Funktionsschicht übergeht. Eine derartige Gradientenschicht führt zu einer
weiter verbesserten Haftung der zweiten Funktionsschicht auf der ersten Funktionsschicht
und darüber auf dem Substrat, sowie zu einem thermisch und mechanisch besonders stabilen
Schichtaufbau.
[0016] Vorteilhaft ist weiter, wenn als Plasmastrahlquelle eine mit Hochfrequenz beaufschlagte,
induktiv gekoppelte Plasmastrahlquelle verwendet wird. Eine solche Plasmastrahlquelle
kann besonders einfach zur Erzeugung des Plasmastrahls und weiter durch Zugabe reaktiver
Gase wie Methan, C
2H
2 oder Wasserstoff auch zur Abscheidung einer Funktionsschicht, beispielsweise einer
amorphen, diamantartigen Kohlenstoffschicht, eingesetzt werden. Daneben eignet sich
als Plasmastrahlquelle jedoch auch ein mikrowellenangeregte Plasmastrahlquelle oder
auch eine von einem Gas durchströmbare Gleichspannungs- oder Mittelfrequenzentladungseinrichtung,
die bei Betrieb mit einer Gleichspannung, bevorzugt einer gepulsten Gleichspannung,
einer mittelfrequenten Spannung oder einer mittelfrequenten Hochspannung beaufschlagt
wird, um ein Plasma zu erzeugen.
[0017] Daneben ist vorteilhaft, dass die Hohlkathode als Quelle für bevorzugt metallische
Nanopartikel, Atome oder Cluster verwendbar ist. So besteht die Hohlkathode besonders
vorteilhaft aus einem Material aus oder mit einem der Metalle ausgewählt aus der Gruppe
Vanadium, Titan, Niob, Zirkonium, Tantal, Hafnium, Chrom, Molybdän, Wolfram, Nickel,
Kupfer, Bor und/oder Silizium oder deren Legierungen untereinander oder mit einem
weiteren Metall. Zudem kann auch eine Kombination dieser Materialien durch entsprechend
segmentierten Aufbau der Hohlkathode mit Bereichen aus unterschiedlichem Material
über die Hohlkathode freigesetzt bzw. bereitgestellt werden.
[0018] Zudem kann die Hohlkathode vorteilhaft zumindest zeitweilig auch während der Abscheidung
der zweiten Funktionsschicht, die bevorzugt als nanodispersive Schicht mit nanoskaligen
Partikeln in einer Matrix ausgebildet ist, ergänzend zu der Plasmastrahlquelle, unter
Einsatz der Plasmastrahlquelle ohne dieser in dieser Zeit zugeführte reaktiver Zusatzstoffe
oder zeitweilig ausschließlich unter Abschaltung der Plasmastrahlquelle eingesetzt
werden, wobei sie während dieser Zeit bevorzugt die genannten Metalle oder damit gebildete
Metalllegierungen auf das Substrat einträgt.
[0019] Vorteilhaft ist weiter, wenn die Hohlkathode und die Plasmastrahlquelle derart zueinander
angeordnet sind, dass sich ein von der Hohlkathode bei Betrieb zumindest zeitweilig
erzeugter Glimmentladungsbereich und der von der Plasmastrahlquelle bei Betrieb erzeugte
Plasmastrahl zumindest bereichsweise vor dem Einwirken des Plasmastrahls auf das Substrat
überlappen. In diesem Fall bildet sich im Bereich des Überlapps und nachfolgend in
dem Plasmastrahl ein Reaktionsbereich aus, in dem die von der Hohlkathode abgesputterten
Materialien mit in den Plasmastrahl geführten Materialien reagieren können, so dass
sich unter den dort herrschenden Plasmabedingungen neuartige Materialien wie ansonsten
nicht herstellbare Metalllegierungen ausbilden und als Beschichtung auf dem Substrat
abgeschieden werden können.
[0020] Neben einer induktiv gekoppelten Plasmastrahlquelle eignet sich vorteilhaft auch
eine Mikrowellenplasmastrahlquelle, die wie die induktiv gekoppelte Plasmastrahlquelle
ebenfalls im Grobvakuum, das heißt bevorzugt im Druckbereich von 0,1 mbar bis 100
mbar, oder bei einem Druck von mehr als 50 mbar betreibbar ist.
[0021] Die eingesetzte Hohlkathode ist vorteilhaft eine mit einem Gas oder einem Plasma,
beispielsweise mit einem Inertgas oder dem Plasma der Plasmastrahlquelle, beaufschlagte
Hohlkathode, die als Target geschaltet ist, so dass beim Anlegen einer geeigneten
elektrischen Spannung an die Hohlkathode, beispielsweise einer Gleichspannung, einer
hochfrequenten Wechselspannung, einer mittelfrequenten Wechselspannung oder auch einer
gepulsten Gleichspannung, eine Freisetzung des Materials der Hohlkathode erfolgt.
[0022] Hinsichtlich der Anordnung der Hohlkathode relativ zu dem Plasmastrahl bestehen vorteilhaft
eine Vielzahl von Möglichkeiten. So kann die Hohlkathode innerhalb des Plasmastrahls
angeordnet sein oder den Plasmastrahl umgeben. Weiter kann die Hohlkathode auch als
Austrittsdüse der Plasmastrahlquelle ausgebildet sein, oder in Bezug auf die Richtung
des Gasstromes vor der Plasmastrahlquelle, insbesondere in dem Gasstrom vor der Plasmastrahlquelle,
angeordnet sein. Weiter besteht dabei die Möglichkeit, die Hohlkathode vorteilhaft
gleichzeitig auch dazu zu benutzen, dem Plasmastrahl einen Reaktivstoff, insbesondere
in Form eines Gases, einer Flüssigkeit wie einer Lösung oder einer Suspension oder
in Form von Pulverpartikeln oder anderen Precursormaterialien zuzuführen. Dazu ist
die Hohlkathode bevorzugt als Gasduschenhohlkathode ausgebildet.
[0023] Weiterhin kann die Hohlkathode auch neben dem Plasmastrahl zwischen der Plasmastrahlquelle
und dem Substrat angeordnet sein. Auf diese Weise besteht die Möglichkeit, die Hohlkathode
lediglich zeitweilig während der Beaufschlagung des Substrates mit dem Plasmastrahl
einzusetzen, und darüber zeitweilig einen zusätzlichen Materialeintrag in das Substrat
zu bewirken. Schließlich können die Plasmastrahlquelle und die Hohlkathode auch abwechselnd
betrieben werden, oder es kann die Hohlkathode kontinuierlich eingesetzt werden und
die Plasmastrahlquelle lediglich zeitweilig zugeschaltet werden, um so neben dem Materialeintrag
mit Hilfe der Hohlkathode auch einen Materialeintrag oder eine Bearbeitung des Substrates
mit Hilfe der Plasmastrahlquelle zu bewirken.
[0024] Generell ist vorteilhaft, dass sowohl über die Hohlkathode und/oder über die Plasmastrahlquelle
als auch über weitere Zuführungen eine Vielzahl von Möglichkeiten zur Zufuhr von Reaktivstoffen
zu dem Plasmastrahl oder verschiedenen Bereichen des Plasmastrahles gegeben sind.
Besonders vorteilhaft ist dabei, wenn die ohnehin vorhandenen Mittel zur Erzeugung
eines Gasstromes in der Plasmastrahlquelle, die auch zur Ausbildung des Plasmastrahls
beitragen, gleichzeitig zur Einbringung der erwähnten Reaktivstoffe genutzt werden.
Es ist jedoch ebenso möglich, in den Bereich des Plasmastrahls eingreifende Injektoren
vorzusehen.
[0025] Um einen erhöhten Materialeintrag mit Hilfe der Hohlkathode zu erreichen, ist schließlich
vielfach günstig, eine Mehrzahl von Hohlkathoden vorzusehen, die zumindest zum Teil
in dem Plasmastrahl und/oder konzentrisch um den Plasmastrahl herum angeordnet sind,
und/oder die Hohlkathode in Länge und/oder Durchmesser entsprechend zu skalieren.
Zeichnungen
[0026] Die Erfindung wird anhand der Zeichnungen und in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigt Figur 1 den Aufbau einer Beschichtung auf dem Substrat, Figur
2 eine Prinzipskizze zu den Möglichkeiten der Kombination der Plasmastrahlquelle mit
einer Hohlkathode, Figur 3 ein erstes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung mit einer
Plasmastrahlquelle und einer Hohlkathode, Figur 4 ein zweites Ausführungsbeispiel
für eine derartige Vorrichtung, und Figur 5 ein drittes Ausführungsbeispiel für eine
derartige Vorrichtung. Die Figuren 6 und 7 zeigen alternative Ausführungsformen für
eine Hohlkathode, die in den Ausführungsbeispielen gemäß Figur 3 bis Figur 5 einsetzbar
sind. Die Figur 8 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel für eine Vorrichtung mit
einer Plasmastrahlquelle und einer Hohlkathode, wobei die Hohlkathode als Austrittsdüse
der Plasmastrahlquelle ausgebildet ist, die Figur 9 zeigt ein fünftes Ausführungsbeispiel,
wobei die Hohlkathode vor der Plasmastrahlquelle angeordnet ist, die Figur 10 ein
sechstes Ausführungsbeispiel, die Figur 11 ein siebtes Ausführungsbeispiel mit einer
Spule als Hohlkathode, und die Figur 12 ein achtes Ausführungsbeispiel mit einer senkrecht
zum Plasmastrahl orientierten Hohlkathode.
Ausführungsbeispiele
[0027] Die Figur 1 zeigt ein Substrat 10, auf dem eine Beschichtung 5 in Form eines Schichtsystems
aufgebracht ist. Die Beschichtung 5 weist dabei eine zweite Funktionsschicht 11, insbesondere
eine Haftschicht, auf, die beispielsweise aus einem Metall oder Silizium besteht.
Bevorzugt ist die Haftschicht eine Titanschicht, eine Chromschicht oder eine Wolframschicht.
Auf der zweiten Funktionsschicht 11 befindet sich eine Gradientenschicht 12, und auf
der Gradientenschicht 12 eine erste Funktionsschicht 13, die beispielsweise als Verschleißschutzschicht
oder Hartstoffschicht dient. Bevorzugt ist die erste Funktionsschicht 13 eine Matrix-Schicht
mit darin eingebetteten nanoskaligen Partikeln, das heißt Partikeln mit einem mittleren
Teilchendurchmesser von weniger als 100 nm, insbesondere weniger als 10 nm. Besonders
bevorzugt ist die erste Funktionsschicht 13 eine Schicht aus amorphem, diamantähnlichen
Kohlenstoff mit darin eingebetteten nanoskaligen Metalloxidpartikeln und/oder Metallcarbidpartikeln
und/oder Metallnitridpartikeln. Bevorzugt werden nanoskalige Metallcarbidpartikel
wie Titancarbid-, Zirkoniumcarbid-, Wolframcarbid, Chromcarbid, Borcarbid- oder Siliciumcarbid-Partikel
erzeugt und in die Matrix eingebettet. Daneben können die nanoskaligen Partikel auch
Metalloxinitrid-, Metalloxicarbid-, Metallnitrocarbid- oder Metalloxinitrocarbid-Partikel
sein.
[0028] Das Substrat 10 gemäß Figur 1 ist beispielsweise ein Edelstrahlsubstrat, ein Substrat
aus Wälzlagerstahl, einem Elastomer oder einem gesinterten Werkstoff. Insbesondere
ist das Substrat 10 beispielsweise sein Kolben, ein Zylinder, eine Welle, ein Stift,
ein Zahnrad oder ein Profilmaterial. Die Dicke der zweiten Funktionsschicht 11 liegt
bevorzugt im Bereich von 1 nm bis 500 nm, insbesondere 5 nm bis 100 nm, die Dicke
der Gradientenschicht bevorzugt im Bereich von 5 nm bis 500 nm, insbesondere 15 nm
bis 100 nm, und die Dicke der ersten Funktionsschicht 13 bevorzugt im Bereich von
50 nm bis 50 µm, insbesondere 500 nm bis 10 µm. Die zweite Funktionsschicht 11 sorgt
in erster Linie für eine möglichst gute Haftung der ersten Funktionsschicht 13 auf
dem Substrat 10. Die Gradientenschicht 12 vermittelt über ihre sich allmählich sich
verändernde Zusammensetzung einen allmählichen Übergang von der Zusammensetzung der
einseitig benachbarten zweiten Funktionsschicht 11 zu der anderseitig benachbarten
ersten Funktionsschicht 13, und bewirkt so ebenfalls eine verbesserte Haftung der
ersten Funktionsschicht 13 auf dem Substrat 10. Im Übrigen sei noch erwähnt, dass
sowohl die erste Funktionsschicht 13 als auch die zweite Funktionsschicht 11 bei Bedarf
aus einer Vielzahl insbesondere unterschiedlich zusammengesetzter Teilschichten aufgebaut
sein kann.
[0029] Bevorzugt ist die erste Funktionsschicht 13 eine durch Zugabe eines oder mehrerer
reaktiver Gase wie Methan, C
2H
2 oder Wasserstoff zu einem Plasma, insbesondere einem Inertgasplasma, abgeschiedene
Schicht aus amorphem, diamantähnlichem Kohlenstoff, in die die erwähnten, in einem
Plasmastrahl über reaktive Volumenprozesse gebildeten nanoskaligen Metallcarbidpartikel
eingebettet sind, so dass eine nanodispersive MeC/a-C:H-Schicht entsteht. Als Metallquelle
wird dabei bevorzugt eine im Weiteren noch detailliert erläuterte Hohlkathode 23 eingesetzt,
mit der auch die Abscheidung der zweiten Funktionsschicht 11, das heißt beispielsweise
einer metallischen Haftschicht, in einem Gasflusssputterprozess erfolgen kann.
[0030] Als besonders vorteilhaft hat sich herausgestellt, wenn die Abscheidung der Matrix
insbesondere aus amorphem, diamantähnlichem Kohlenstoff und der nanoskaligen Partikel,
vorzugsweise MeC-Partikel, gleichzeitig erfolgt.
[0031] Die Figur 2 erläutert die Möglichkeiten einer Kombination einer Plasmastrahlquelle
20, beispielsweise einer induktiv gekoppelten Plasmastrahlquelle, einer Mikrowellenplasmastrahlquelle
oder einer gasdurchströmten Gleichspannungs- oder Mittelfrequenzentladungseinrichtung,
die ein Plasma 21 erzeugt, mit einer Hohlkathode 23.
[0032] Mit der Plasmastrahlquelle 20 kann zunächst über eine PACVD-Route 22 ("plasma assisted
chemical vapour deposition") ein erstes Abscheidematerial 27 bereitgestellt werden,
das nachfolgend auf dem Substrat 10 abgeschieden wird. Bei diesem an sich bekannten
Abscheideprozess kann auf das Mitwirken oder den Einsatz der Hohlkathode 23 verzichtet
werden.
[0033] Weiterhin kann der Eintrag von Material auf das Substrat 10 auch über eine PVD-Route
24 erfolgen ("physical vapour deposition"). Dabei werden mit der Hohlkathode 23, die
bei Betrieb einen Glimmlichtbereich 33 bzw. einen Hohlkathodenentladungsbereich 33
ausbildet, Partikel 25, beispielsweise Metallpartikel, Metallcluster oder Metallatome,
bereitgestellt. Diese von der Hohlkathode 23 über die PVD-Route 24 bereitgestellten
Partikel 25 werden dann in einem Reaktionsvolumen 26 in das Plasma 21, beispielsweise
ein Inertgasplasma oder ein Plasma, das ein Reaktivgas oder einen Reaktivstoff enthält,
bzw. den entsprechenden von der Plasmastrahlquelle 20 erzeugten Plasmastrahl 40 eingebracht,
so dass sie von diesem weitertransportiert und/oder mit dort vorhandenen Reaktivgasbestandteilen,
Partikeln oder Precursor-Materialien reagieren können. Über die PVD-Route 24 kann
somit ein zweites Abscheidematerial 28 zum Eintrag auf das Substrat 10 bereitgestellt
werden.
[0034] Schließlich erläutert die Figur 2, dass die von der Hohlkathode 23 bereitgestellten
Partikel 25, beispielsweise Metallpartikel, Metallatome oder Metallcluster, auch direkt,
das heißt ohne Wechselwirkung mit dem Plasma 21, als drittes Abscheidematerial 29
bereitgestellt und auf das Substrat 10 eingetragen werden können.
[0035] Zusammenfassend zeigt Figur 2, dass drei verschiedene Wege und damit auch drei potentiell
verschiedene Abscheidematerialien 27, 28, 29 durch Kombination der Plasmastrahlquelle
20 bzw. des von dieser erzeugten Plasmas 21 mit dem von der Hohlkathode 23 emittierten
Material bereitstehen. Diese verschiedenen Wege können zumindest zeitweise gleichzeitig
zum Erzeugen einer Beschichtung insbesondere entsprechend Figur 1 eingesetzt werden,
im Laufe des Erzeugens der Beschichtung jeweils zeitweilig nacheinander zum Einsatz
kommen, oder hinsichtlich ihres zeitlichen Einsatzes als auch hinsichtlich des oder
der jeweils gerade beschrittenen Wege beliebig miteinander kombiniert werden.
[0036] Die Figur 3 erläutert ein erstes Ausführungsbeispiel für eine Beschichtungsvorrichtung
30, mit der das Substrat 10 mit der Beschichtung 5 beschichtbar ist, die zunächst
von einer Plasmastrahlquelle 20 in Form einer induktiv gekoppelten Plasmastrahlquelle
ausgeht. Eine derartige Plasmastrahlquelle 20 ist beispielsweise aus DE 101 04 614
A1 bekannt.
[0037] Aus dieser Plasmastrahlquelle 20 tritt ein Plasma 21 aus, das in einer Beschichtungskammer
als freier Plasmastrahl 40 geführt ist. Der Plasmastrahl 40 trifft weiter in einer
definierten Entfernung von der Plasmastrahlquelle 20, beispielsweise einem Abstand
von 5 cm bis 50 cm, in der Beschichtungskammer auf das Substrat 10 auf, wo er entweder
eine Bearbeitung des Substrates 10 oder die Abscheidung von Material auf dem Substrat
10 bewirkt. Bevorzugt wird der Plasmastrahl 40 zur Abscheidung von Material auf dem
Substrat 10 in Form von Schichten eingesetzt.
[0038] In Figur 3 ist weiter dargestellt, wie eine Hohlkathode 23 in Form eines Hohlzylinders
mit einem Durchmesser von vorzugsweise 0,1 cm bis 5 cm oder mehr, insbesondere 0,25
cm bis 0,6 cm, in den Plasmastrahl 40 bzw. das Plasma 21 eingebracht ist. Die Hohlkathode
23 ist dabei um den von der induktiv gekoppelten Plasmaquelle 20 erzeugten Plasmastrahl
40 in der Beschichtungskammer angeordnet. Bei Beaufschlagung der Hohlkathode 23 mit
einer geeigneten Spannung, beispielsweise einer hochfrequenten Wechselspannung, einer
Gleichspannung oder einer gepulsten Gleichspannung, über eine Spannungseinkopplung
35 und entsprechende elektrische Bauteile, bildet sich zumindest im Innenraum der
Hohlkathode 23 ein Glimmlichtbereich 33 oder ein Hohlkathodenentladungsbereich aus,
der in wesentlichen Teilen mit dem Plasmastrahl 40 überlappt.
[0039] Die Figur 3 zeigt weiter, wie zwischen der Plasmastrahlquelle 20 und der Hohlkathode
23 eine erste Gaszufuhr 31 und zwischen der Hohlkathode 23 und dem Substrat 10 eine
zweite Gaszufuhr 32 vorgesehen ist. Bevorzugt ist lediglich eine dieser Gaszufuhren
31, 32 vorgesehen, besonders bevorzugt die erste Gaszufuhr 31.
[0040] Mit Hilfe der ersten und/oder der zweiten Gaszufuhr 31, 32 kann beispielsweise ein
Reaktivgas wie Methan, Wasserstoff oder C
2H
2 in das Plasma 21 bzw. den Plasmastrahl 40 eingebracht werden, das zumindest in dem
Fall, dass die erste Gaszufuhr 31 gemäß Figur 3 dazu eingesetzt wird, zumindest teilweise
auch in der Glimmlichtbereich 33 gelangt.
[0041] Die Hohlkathode 23 ist im erläuterten Beispiel eine metallische Hohlkathode, beispielsweise
aus Titan, Chrom oder Wolfram. Sie setzt bei Betrieb entsprechende Metallatome oder
Metallcluster frei, die in den Plasmastrahl 40 gelangen und darüber schließlich auf
das Substrat 10 eingetragen werden.
[0042] Durch die Zufuhr von Material aus der Hohlkathode 23 und/oder die Zufuhr eines Reaktivgases
mit Hilfe der Gaszufuhr 31 und/oder 32 bildet sich somit zwischen der Hohlkathode
23 und dem Substrat 10 ein modifiziertes Plasma 34 aus, das sich hinsichtlich seiner
Zusammensetzung von dem Plasma 21 unterscheidet.
[0043] Im Einzelnen ist die Plasmastrahlquelle 20 gemäß Figur 3 eine induktiv gekoppelte
Plasmastrahlquelle, wobei über eine bevorzugt wassergekühlte Kupferspule eine Hochfrequenz
im MHz-Bereich mit einer Leistung im kW-Bereich in ein Gasvolumen eingekoppelt, und
so dort ein Plasmazustand angeregt wird. Weiter sind übliche, in Figur 3 nicht dargestellte
Mittel zur Erzeugung eines Gasstromes durch die Plasmastrahlquelle 20 vorgesehen.
Zu weiteren Einzelheiten hierzu sei auf DE 101 04 614 A1 und die dort beschriebene
Plasmastrahlquelle verwiesen.
[0044] Insbesondere wird mit diesen Mitteln ein Argongasfluss von beispielsweise 20 bis
60 slm (slm = Liter pro Minute bei Normaldruck) in die Plasmastrahlquelle 20 eingeblasen,
so dass das Plasma 21 als freier Plasmastrahl 40 aus der Plasmastrahlquelle austritt
und in die nicht dargestellte Beschichtungskammer, in der sich das Substrat 10 befindet,
gelangt. Innerhalb der Beschichtungskammer herrscht dabei ein Grobvakuum von beispielsweise
10 mbar.
[0045] Die wahlweise mittels der ersten und/oder zweiten Gaszufuhr 31, 32 zugeführten Reaktivstoffe
wie beispielsweise Reaktivgase, Precursormaterialien, Pulver oder entsprechende Suspensionen
oder Lösungen mit Partikeln oder Precursormaterialien werden bevorzugt ebenfalls mit
Flüssen von bis zu einigen slm vor und/oder hinter der Plasmastrahlquelle 20 dem Plasmastrahl
40 zugeführt. Dabei kann die Hohlkathode 23 gleichzeitig auch als Injektor zur Zuführung
dieser Reaktivstoffe in Form einer Gasduschenhohlkathode genutzt werden und in dieser
Hinsicht die erste Gaszufuhr 31 und/oder die zweite Gaszufuhr 32 ersetzen oder ergänzen.
[0046] Die Hohlkathode 23 gemäß Figur 3 kann wahlweise mit Hochfrequenz-, Mittelfrequenzoder
einer konstanten oder gepulsten Gleichspannung betrieben werden, wobei als Arbeitsgas
beispielsweise Argon durch die Hohlkathode 23 strömt, welches entweder aus der Plasmastrahlquelle
20 stammt, das heißt die Hohlkathode 23 ist als offene Hohlkathode ausgeführt, oder
das direkt der Hohlkathode 23 zugeführt wird, das heißt die Hohlkathode 23 ist in
diesem Fall als Gasduschenhohlkathode ausgebildet.
[0047] Durch die angelegte elektrische Spannung werden Elektronen von der Hohlkathode 23
emittiert und im Kathodenfallgebiet beschleunigt. Dabei kommt es zu einer Pendelbewegung
der Elektroden innerhalb der Hohlkathode 23, wobei die Elektroden ihre Energie in
ein Plasma abgeben, und so eine sehr hohe Plasmadichte erzeugen. Gleichzeitig wird
Material von der Hohlkathode 23 abgesputtert und durch die Strömung des Arbeitsgases
der Hohlkathode 23 und/oder die Strömung in dem Plasmastrahl 40 zu dem Substrat 10
hin transportiert und dort auf dieses eingetragen.
[0048] Mit der aus DE 101 04 614 A1 bekannten Plasmastrahlquelle 20 lassen sich besonders
gut amorphe, diamantähnliche Kohlenstoffschichten mit sehr hohen Beschichtungsraten
abscheiden, wobei vor allem eine mit Hochfrequenz beaufschlagte, induktiv gekoppelte
Plasmastrahlquelle aufgrund ihrer sehr hohen Plasmadichte vorteilhaft ist. Gleichzeitig
ist in dem mit dieser Plasmastrahlquelle 20 erzeugten Plasmastrahl 40 bzw. Plasma
21 auch eine hohe Reaktivität gegeben, so dass über ein Einbringen geeigneter Stoffe
in das Plasma 21 die Bildung von nanoskaligen Partikeln über reaktive Volumenprozesse
in dem Plasmastrahl 40 und somit die Abscheidung einer Vielzahl von neuartigen Kompositschichten
mit in einer Matrix eingebetteten nanoskaligen Partikeln besonders einfach und effektiv
möglich ist. Das zur Bildung beispielsweise von Metallcarbid-Nanopartikeln und/oder
einer metallischen Haftschicht als zweite Funktionsschicht 11 benötigte Metall stammt
bevorzugt aus der metallischen Hohlkathode 23. Die zur Bildung von beispielsweise
Metallcarbid-Partikeln weiter erforderlichen Reaktivgase werden der Beschichtungsvorrichtung
30 beispielsweise durch gesonderte Injektoren im Bereich der Plasmastrahlquelle 20,
die erste Gaszufuhr 31 und/oder die zweite Gaszufuhr 32 vor oder hinter der Hohlkathode
23, oder auch durch die Hohlkathode 23 selbst zugeführt.
[0049] Die Figur 4 erläutert ein zu Figur 3 alternatives Ausführungsbeispiel, das sich von
diesem lediglich dadurch unterscheidet, dass die Hohlkathode 23 eine kleinere Dimension
aufweist, so dass sie sich vollständig innerhalb des Plasmastrahls 40 befindet. Insbesondere
weist die Hohlkathode 23, die beispielsweise als Hohlzylinder oder in Form von zwei
sich gegenüber liegenden, insbesondere gewölbten Platten ausgebildet ist, einen Durchmesser
in einem Bereich von 1 cm bis 1 mm auf. Weiter wird die Hohlkathode 23 hier gleichzeitig
auch als Injektor zur Zufuhr eines Reaktivgases in das Plasma 21 bzw. den Plasmastrahl
40 eingesetzt. Alternativ kann die Zufuhr des Reaktivgases jedoch auch über die erste
Gaszufuhr 31 und/oder die zweite Gaszufuhr 32 erfolgen.
[0050] Die Figur 5 erläutert ein weiteres, zu den Figur 3 oder 4 alternatives Ausführungsbeispiel,
wobei diesmal die Hohlkathode 23 als mikroskalige Hohlkathode 23 mit einer Öffnung
kleiner als 5 mm, insbesondere kleiner als 1 mm, ausgeführt ist. Insbesondere sind
in diesem Fall eine Mehrzahl von nebeneinander oder gebündelt angeordneten Hohlkathoden
23 vorgesehen, die jeweils als Hohlzylinder mit einem Durchmesser von weniger als
1 mm ausgebildet sind. Weiter zeigt Figur 5, dass die erste Gaszufuhr 31 mit den Hohlkathoden
23 verbunden ist, so dass über die erste Gaszufuhr 31 den Hohlkathoden 23 ein Arbeitsgas,
beispielsweise Argon, und/oder über die Hohlkathoden 23 dem Plasma 21 bzw. dem Plasmastrahl
40 bei bedarf auch ein Reaktivgas oder einer sonstiger Reaktivstoff zuführbar ist.
Insofern agieren die Hohlkathoden 23 bei dem Ausführungsbeispiel gemäß 5 gleichzeitig
auch als Gasdusche. In Figur 5 ist weiter dargestellt, dass jede der Hohlkathoden
23 einen Hohlkathodenentladungsbereich 33 aufweist, der jeweils innerhalb des Plasmastrahls
40 liegt.
[0051] Die Figur 6 zeigt eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform für eine Hohlkathode
23, wie sie beispielsweise bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 4 oder Figur 5
einsetzbar ist. Insbesondere weist die Hohlkathode 23 gemäß Figur 6 einen metallischen
Zylinder mit einer Vielzahl von parallelen, diesen durchquerenden Bohrungen auf, die
einen Durchmesser von bevorzugt 100 µm bis 3 mm, insbesondere 500 µm bis 1,5 mm, aufweisen.
[0052] Die Figur 7 zeigt eine zur Figur 6 alternative Ausführungsform für eine Hohlkathode
23, die eine Vielzahl von konzentrisch zueinander angeordneten metallischen Hohlzylindern
aufweist, die über Stege miteinander verbunden und zusammengehalten werden.
[0053] Die Figur 8 erläutert ein weiteres Ausführungsbeispiel für eine Beschichtungsvorrichtung
30, mit der ein Substrat 10 mit einer Beschichtung 5, insbesondere gemäß Figur 1,
beschichtbar ist, wobei zusätzlich die in den Figuren 3 bis 5 bereits angedeutete
Plasmastrahlquelle 20 etwas näher erläutert wird. Im Einzelnen ist die Plasmastrahlquelle
20 im Bereich des Austrittes des Plasmas 21 in Form eines Plasmastrahls 40 aus der
Plasmastrahlquelle 20 topfförmig ausgebildet, wobei Windungen einer Spule 36 das Plasma
21 umgeben. Weiter ist in Figur 8 abweichend von den Figuren 3 bis 5 die Hohlkathode
23 nunmehr als Austrittsdüse 41 der Plasmastrahlquelle 20 ausgebildet, die von dieser
über eine Isolierung 37 elektrisch isoliert ist. Insbesondere ist die Hohlkathode
23 als zylindersymmetrische Austrittsdüse 41 ausgebildet, die zu einer leichten Verengung
des Plasmastrahls 40 im Austrittsbereich der Plasmastrahlquelle 20 führt.
[0054] Auch bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 8 liegt der Glimmlichtbereich 33 der
Hohlkathode 23 innerhalb des Plasmastrahls 40, so dass durch Materialeintrag in das
Plasma 21 ausgehend von einem Gasflusssputterprozess in der Hohlkathode 23 zwischen
dem Glimmlichtbereich 33 und dem Substrat 10 ein modifiziertes Plasma 34 in einem
Reaktionsvolumen 26 entsteht.
[0055] Bevorzugt ist die Hohlkathode 23 gemäß Figur 8 um den gesamten Plasmastrahl 40 im
Bereich der Austrittsöffnung der Plasmastrahlquelle 20 angeordnet und gleichzeitig
als Gasdusche ausgebildet oder mit einer Injektionseinrichtung versehen ist, so dass
über die Hohlkathode 23 bei Bedarf reaktive Gase oder Reaktivstoffe in das Plasma
21 eingebracht werden können. Alternativ oder zusätzlich können diese aber auch direkt
noch in den Innenraum der topfförmigen Plasmastrahlquelle 20 eingebracht werden. Schließlich
kann auch bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 8 ein insbesondere als Gaszufuhr
31 ausgebildeter Injektor, nicht dargestellter Injektor vorgesehen sein, der das reaktive
Gas oder den Reaktivstoff dem Plasmastrahl 40 bezüglich der Richtung des Gasstromes
hinter der Austrittsdüse 41 zuführt.
[0056] Die Figur 9 erläutert ein weiteres Ausführungsbeispiel für eine Beschichtungsvorrichtung
30, wobei hier die Hohlkathode 23 in Bezug auf die Strömungsrichtung des in die Plasmastrahlquelle
20 eingeführten Gases, beispielsweise Argon, vor der Plasmastrahlquelle 20 angeordnet
ist. Auch in diesem Fall überlappt sich der Glimmlichtbereich 33 der Hohlkathode 23
mit dem in der Plasmastrahlquelle 20 gezündeten Plasma 21. Ansonsten ist der Aufbau
gemäß Figur 9 weitgehend analog zu Figur 8 bzw. auch zu Figur 3, Figur 4 oder Figur
5. Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 8 oder 9 wurde von einer Darstellung der
Gaszufuhren 31 bzw. 32 gemäß Figur 3, 4 oder 5 abgesehen. Diese können jedoch ohne
Weiteres auch hier entsprechend vorgesehen sein.
[0057] Die Figur 10 erläutert ein weiteres Ausführungsbeispiel für eine Beschichtungsvorrichtung
30, wobei sich die Hohlkathode 23 nun innerhalb der Plasmastrahlquelle 20 befindet.
Die Hohlkathode 23 dient dabei gleichzeitig als Injektor, das heißt, durch sie werden
das Arbeitsgas der induktiven gekoppelten Plasmastrahlquelle 20, beispielsweise Argon,
sowie je nach Anwendungsfall auch weitere Reaktivgase wie Methan, C
2H
2, Wasserstoff oder andere Reaktivstoffe wie eine Suspension mit mikroskaligen oder
nanoskaligen Pulverpartikeln oder eine Lösung mit Precursormaterialien in Plasmastrahlquelle
20 eingebracht. Daneben können diese Materialien bei diesem Ausführungsbeispiel alternativ
oder zusätzlich auch unmittelbar hinter der Hohlkathode 23 der Plasmastrahlquelle
20 oder auch außerhalb der Plasmastrahlquelle 20 dem Plasmastrahl 40, beispielsweise
durch geeignete Injektoren, zugeführt werden.
[0058] Die Figur 11 erläutert ein weiteres Ausführungsbeispiel für eine Beschichtungsvorrichtung
30, wobei die Hohlkathode 23 im Unterschied zur Figur 3 aus einem in Spulenform gewickelten
Draht, beispielsweise einem Metalldraht, besteht.
[0059] Figur 12 zeigt schließlich ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Hohlkathode23 senkrecht
zu dem Plasmastrahl 40 orientiert ist. Reaktive Bestandteile oder Gase können dabei
durch nicht dargestellte Injektoren oder die Hohlkathode 23 selbst in den Plasmastrahl
40 eingeleitet werden. Diese Variante bietet den Vorteil, dass der Plasmastrahl 40
selbst durch die Hohlkathode 23 insbesondere hinsichtlich der Strömungsverhältnisse
nicht oder wenig gestört wird, und dass lediglich die erwünschten reaktiven Bestandteile
oder Gase dem Plasmastrahl 40 zugeführt und mit der Gasströmung des Plasmastrahls
40 zu dem zu beschichtenden Substrat 10 geführt werden.
[0060] Eine weitere Variante ist die Ausführung der Hohlkathode 23 in koaxialer Form um
den Plasmastrahl 40 herum, bei dem als Kathoden Ringe oder Ringsegmente mit einem
dem Druck angepassten Abstand eingesetzt werden, durch die die Arbeitsgase geführt
sind.
[0061] Ergänzend sei noch erwähnt, dass es bei allen vorstehend erläuterten Ausführungsbeispielen
möglich ist, die Hohlkathode 23 zusätzlich mit einer Einrichtung zur Erzeugung eines
Magnetfeldes zu versehen, so dass durch dieses Magnetfeld die Elektroden in der Hohlkathode
23 auf eine Spiralbahn gezwungen werden. Hierdurch erfolgt ein Intensivieren des Hohlkathodenplasmas
bzw. des Glimmlichtbereiches 33, so dass eine effektivere Beschichtung bewirkt wird.
[0062] Weiter kann die Hohlkathode 23 auch aus einem Dielektrikum oder einem Halbleiter
oder in Form einer segmentierten Holhkathode 23 mit mindestens einem Segment aus einem
Dielektrikum oder Halbleiter ausgeführt sein, wobei die elektrische Anregung der Hohlkathodenentladung
dann durch Elektroden, die außen an dem Dielektrikum oder Halbleiter angebracht sind
und mit Hochfrequenzspannung oder gepulster Gleichspannung beaufschlagt werden, gewährleistet
wird. Auf diese Weise sind mit Hilfe der Hohlkathode 23 über ein Gasflusssputtern
auch Atome oder Cluster eines Isolators oder Halbleiters wie Si
3N
4 oder Legierungen damit oder daraus freisetzbar und auf dem Substrat 10 abscheidbar.
[0063] Insgesamt wird mit Hilfe einer der Beschichtungsvorrichtungen 30 gemäß einem der
vorstehend erläuterten Ausführungsbeispiele auf dem Substrat 10 gemäß Figur 1 zunächst
eine metallische Haftschicht 11 durch einen Gasflusssputterprozess abgeschieden, danach
erfolgt die Abscheidung einer Gradientenschicht 12 durch allmählich steigende Zugabe
reaktiver Plasmakomponenten im Bereich der Hohlkathode 23 und ein optionales Zuschalten
der induktiv gekoppelten Plasmastrahlquelle 20 oder eine optionale Zugabe von Reaktivstoffen
in den Plasmastrahl 40, das heißt unter zusätzlicher Beaufschlagung des Substrates
10 mit dem Plasmastrahl 40, und schließlich die Abscheidung einer nanodispersiven
Schicht als zweite Funktionsschicht 12, wobei die Hohlkathode 23 mit der Plasmastrahlquelle
20 gemeinsam eingesetzt und kein reines Metall mehr auf dem Substrat 10 abgeschieden
wird.
1. Vorrichtung zur Beschichtung eines Substrates mit Mitteln zur Erzeugung eines Gasstromes
und mindestens einer Plasmastrahlquelle, mit der ein zumindest zeitweilig auf das
Substrat einwirkender Plasmastrahl erzeugbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass neben der Plasmastrahlquelle (20) mindestens eine bei Betrieb zumindest zeitweilig
einen Materialeintrag auf das Substrat (10) bewirkende Hohlkathode (23) vorgesehen
ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) und die Plasmastrahlquelle (20) derart angeordnet sind, dass
sich eine von der Hohlkathode (23) bei Betrieb zumindest zeitweilig erzeugter Hohlkathodenentladungsbereich
(33) und der von der Plasmastrahlquelle (20) bei Betrieb erzeugte Plasmastrahl (40)
zumindest bereichsweise vor dem Einwirken des Plasmastrahls (40) auf das Substrat
(10) überlappen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmastrahlquelle (20) eine induktiv gekoppelte Plasmastrahlquelle, eine Mikrowellenplasmastrahlquelle
oder eine von einem Gas durchströmbare Gleichspannungs- oder Mittelfrequenzentladungseinrichtung
ist.
4. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmastrahlquelle (20) und/oder die Hohlkathode (23) im Grobvakuum, insbesondere
im Druckbereich von 0,1 mbar bis 100 mbar, oder bei einem Druck von mehr als 50 mbar
betreibbar ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein weiteres Mittel (31, 32) zur Zufuhr mindestens eines Reaktivstoffes
zu dem Plasmastrahl (40), insbesondere zur Zufuhr eines Gases, einer Flüssigkeit wie
einer Lösung oder einer Suspension, oder von Pulverpartikeln, vorgesehen ist.
6. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zur Erzeugung des Gasstromes auch zur Zufuhr mindestens eines Reaktivstoffes
zu dem Plasmastrahl (40), insbesondere zur Zufuhr eines Gases, einer Flüssigkeit wie
einer Lösung oder einer Suspension, oder von Pulverpartikeln, einsetzbar sind.
7. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) eine bei Betrieb mit einem Gas und/oder einem Plasma (21) beaufschlagte,
als Target dienende, insbesondere metallische Hohlkathode ist.
8. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Einrichtung zur Beaufschlagung der Hohlkathode (23) mit Gleichspannung, gepulster
Gleichspannung, mittelfrequenter Spannung oder Hochspannung vorgesehen ist.
9. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) zumindest bereichsweise innerhalb des Plasmastrahls (40) angeordnet
ist, oder dass die Hohlkathode (23) den Plasmastrahl (40) zumindest bereichsweise
umgibt.
10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) derart ausgebildet ist, dass über sie mindestens ein Reaktivstoff
dem Plasmastrahl (40), insbesondere in Form eines Gases, eines Plasmas, einer Flüssigkeit
wie einer Lösung oder einer Suspension, oder in Form von Pulverpartikeln, zuführbar
ist.
11. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) als Gasduschenhohlkathode ausgebildet ist.
12. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) als Austrittsdüse (41) der Plasmastrahlquelle (20) ausgebildet
ist, oder dass die Hohlkathode (23) in Bezug auf die Richtung des Gasstromes vor der
Plasmastrahlquelle (20), insbesondere in dem Gasstrom vor der Plasmastrahlquelle (20),
angeordnet ist.
13. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Hohlkathode (23) neben dem Plasmastrahl (40) vor dem Substrat (10) angeordnet
ist.
14. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Mehrzahl von Hohlkathoden (23) vorgesehen ist, die insbesondere zumindest zum
Teil in dem Plasmastrahl (40) und/oder konzentrisch um den Plasmastrahl (40) angeordnet
sind.
15. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mit der Hohlkathode (23) über ein Gasflusssputtern Atome oder Cluster eines Elementes
ausgewählt aus der Gruppe Cr, V, Ti, Nb, Zr, Ta, Hf, Mo, W, Ni, Cu, B, C, Si sowie
Legierungen damit oder daraus auf dem Substrat (10) abscheidbar sind, oder dass mit
der Hohlkathode über ein Gasflusssputtern Atome oder Cluster ausgewählt aus der Gruppe
Cr, V, Ti, Nb, Zr, Ta, Hf, Mo, W, Ni, Cu, B, C, Si dem Plasmastrahl (40) zuführbar
sind.
16. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mit der Hohlkathode (23) über ein Gasflusssputtern Atome oder Cluster eines Isolators
oder Halbleiters, insbesondere Si3N4, oder Legierungen damit oder daraus auf dem Substrat (10) abscheidbar sind, oder
dass mit der Hohlkathode über ein Gasflusssputtem Atome oder Cluster dem Plasmastrahl
(40) zuführbar sind.
17. Verfahren zum Beschichten eines Substrates, insbesondere mit einer Vorrichtung nach
einem der vorangehenden Ansprüche, wobei mit Hilfe mindestens einer Plasmastrahlquelle
(20) zeitweilig mindestens eine erste Funktionsschicht (13) mit oder aus einer Schicht
mit einer Matrix mit darin eingebetteten nanoskaligen Partikeln zumindest bereichsweise
auf dem Substrat (10) abgeschieden wird, und wobei mit Hilfe mindestens einer Hohlkathode
(23) über ein Gasflusssputtern zeitweilig mindestens eine zweite Funktionsschicht
(11) zumindest bereichsweise auf dem Substrat (10) abgeschieden wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass als zweite Funktionsschicht (11) eine metallische Schicht oder eine Siliziumschicht
abgeschieden wird.
19. Verfahren nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, dass auf dem Substrat (10) zunächst die zweite Funktionsschicht (11) abgeschieden wird,
und dass im Weiteren die erste Funktionsschicht (13) abgeschieden wird.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 17 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der ersten Funktionsschicht (13) und der zweiten Funktionsschicht (11) zumindest
bereichsweise eine Zwischenschicht (12), insbesondere in Form einer einen hinsichtlich
der Zusammensetzung allmählichen Übergang zwischen den Funktionsschichten (11, 13)
vermittelnden Gradientenschicht, abgeschieden wird.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 17 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass auf dem Substrat (10) als zweite Funktionsschicht zumindest bereichsweise eine haftvermittelnde
Schicht abgeschieden wird, dass darauf zumindest bereichsweise die Zwischenschicht
(12) abgeschieden wird, und dass darauf zumindest bereichsweise die erste Funktionsschicht
(13) abgeschieden wird, wobei die Zwischenschicht in Form einer hinsichtlich der Zusammensetzung
einen allmählichen Übergang zwischen benachbarten Funktionsschichten (11, 13) vermittelnden
Gradientenschicht abgeschieden wird.
22. Verfahren nach einem der Ansprüche 17 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass als erste Funktionsschicht (13) eine Schicht mit oder aus amorphem, insbesondere
diamantähnlichem Kohlenstoff abgeschieden wird, in die nanoskalige Metalloxidpartikel
und/oder Metallcarbidpartikel und/oder Metallnitridpartikel eingebettet sind, oder
dass die erste Funktionsschicht (13) zumindest eine derartige Schicht als Teilschicht
aufweist.
23. Beschichtung auf einem Substrat, insbesondere herstellbar nach einem Verfahren nach
einem der Ansprüche 17 bis 22, wobei auf dem Substrat (10) zumindest bereichsweise
mindestens eine zweite Funktionsschicht (11), insbesondere eine haftvermittelnde Schicht,
auf der zweiten Funktionsschicht (11) zumindest bereichsweise mindestens eine Zwischenschicht
(12) und auf der Zwischenschicht (12) zumindest bereichsweise mindestens eine erste
Funktionsschicht (13) vorgesehen ist, wobei mindestens eine der Zwischenschichten
(12) als einen hinsichtlich der Zusammensetzung allmählichen Übergang zwischen einer
benachbarten zweiten Funktionsschicht (11) und einer benachbarten ersten Funktionsschicht
(13) vermittelnde Gradientenschicht ausgebildet ist, und wobei mindestens eine der
Funktionsschichten (11, 13) eine Matrixschicht mit darin eingebetteten nanoskaligen
Partikeln, insbesondere eine Matrixschicht aus oder mit amorphem, diamantähnlichem
Kohlenstoff mit darin eingebetteten nanoskaligen Metalloxidpartikeln und/oder Metallcarbidpartikeln
und/oder Metallnitridpartikeln, aufweist.