[0001] La présente invention concerne les écrans à plasma et plus particulièrement la commande
des cellules d'un écran à plasma.
[0002] Un écran à plasma est un écran de type matriciel, formé de cellules disposées aux
intersections de lignes et de colonnes. Une cellule comprend une cavité remplie d'un
gaz rare, et au moins deux électrodes de commande. Pour créer un point lumineux sur
l'écran, en utilisant une cellule donnée, on sélectionne la cellule en appliquant
une différence de potentiel entre ses électrodes de commande, puis on déclenche une
ionisation du gaz de la cellule, généralement au moyen d'une troisième électrode de
commande. Cette ionisation s'accompagne d'une émission de rayons ultraviolets. La
création du point lumineux est obtenue par excitation d'un matériau luminescent rouge,
vert ou bleu par les rayons émis.
[0003] La figure 1 représente une structure classique d'écran à plasma formé de cellules
4. Chaque cellule 4 a deux électrodes de commande respectivement reliées à une ligne
6 et à une colonne 8.
[0004] La sélection des cellules, en vue de créer des images, est réalisée, classiquement,
par des circuits logiques produisant des signaux de commande. Les états logiques de
ces signaux déterminent les cellules qui sont commandées pour produire un point lumineux
et celles qui sont commandées pour ne pas en produire. L'ionisation du gaz d'une cellule
nécessite que des potentiels de l'ordre d'une centaine de volts soient appliqués entre
les deux électrodes de commande pendant une durée prédéterminée, de l'ordre de 2 microsecondes.
Chaque cellule a une capacité équivalente de l'ordre de plusieurs dizaines de picofarads.
[0005] Le brevet américain
US 4 316 123 décrit un circuit de commande des cellules d'un écran à plasma comportant des blocs
de commande de colonnes formant plusieurs groupes.
[0006] La figure 2 représente un écran à plasma dont les cellules 4 sont représentées par
une capacité équivalente. Un circuit de commande de ligne 10 comprend pour chaque
ligne 6 un bloc de commande de ligne 14 dont une sortie est reliée à la ligne 6. Un
circuit de commande de colonne 12 comprend pour chaque colonne 8 un bloc de commande
de colonne 18 dont une sortie 20 est reliée à la colonne 8. Les circuits 10 et 12
sont généralement intégrés sur une même puce de semiconducteur.
[0007] Classiquement, les cellules d'un écran à plasma sont activées ligne par ligne. Les
lignes non activées sont mises à un potentiel VDD1 de repos (par exemple 150 V). La
ligne activée est amenée à un potentiel GND d'activation (0 V). Pour allumer des points
choisis de la ligne activée, les colonnes correspondantes sont amenées à un potentiel
VDD2 (80 V). Les colonnes correspondant aux autres points de la ligne activée, sont
amenées au potentiel GND (0 V). Ainsi, les cellules allumées de la ligne activée voient
un potentiel colonne-ligne égal à VDD2 - GND (80 V) et les cellules non allumées de
la ligne activée voient un potentiel colonne-ligne égal à GND - GND (0 V). Pour toutes
les lignes non-activées, le potentiel de ligne est VDD1 (150 V) et le potentiel de
colonne est de 0 ou 80 V. Dans les deux cas, les cellules des lignes non-activées
sont polarisées en inverse.
[0008] Chaque bloc de commande de ligne 14 comporte un couple de transistors de puissance
22 et 24 complémentaires. Le transistor 24 reçoit le potentiel VDD1 sur sa source.
Son drain est relié à une ligne 6 et sa grille reçoit un signal de commande LSN d'inactivation
de ligne. La source du transistor 22 est liée au potentiel GND. Son drain est relié
à la ligne 6 et sa grille reçoit un signal de commande LS complémentaire du signal
LSN. Les signaux LS et LSN sont produits, par exemple, par un microprocesseur non
représenté.
[0009] Chaque bloc de commande de colonne 18 comprend un étage de sortie 26 comportant un
couple de transistors de puissance (non représentés) permettant d'amener la sortie
20 aux potentiels VDD2 ou GND en fonction d'un signal logique de sélection de colonne
LCS fourni à l'étage 26. Chaque bloc de commende 18 comprend également un élément
mémoire 28 connecté, par exemple à un microprocesseur non représenté, pour recevoir
et mémoriser la valeur du signal logique LCS destiné à l'étage de sortie 26. Chaque
bloc de commande 18 comprend en outre un commutateur logique 30 commandé par un signal
de validation VAL, connecté entre l'élément mémoire 28 et l'étage de sortie 26. Le
commutateur logique 30 est prévu pour fournir un signal inactif à l'étage de sortie
26 tant que le signal de validation VAL est inactif, par exemple à un niveau logique
bas. Le commutateur 30 est également prévu pour, lorsque le signal VAL est actif,
fournir à l'étage de sortie 26 le signal LCS mémorisé dans l'élément mémoire 28. Le
signal VAL est classiquement activé une durée prédéterminée après chaque activation
d'une ligne de l'écran.
[0010] La figure 3 est un chronogramme illustrant la tension V6 d'une ligne 6, le signal
de validation VAL, la tension V8 d'une colonne 8, et le courant 122 dans le transistor
22 du circuit de commande de ligne 14. A un instant t0, la ligne est sélectionnée
et la tension V6 passe du potentiel VDD1 au potentiel GND. La tension V8 est alors
au potentiel GND. A un instant t1, le signal VAL est activé et la colonne 8 est reliée
au potentiel VDD2, pour un point à allumer. La cellule sélectionnée se charge entre
l'instant t1 et un instant t2 et la tension V8 passe de GND à VDD2. Pendant cette
charge, le transistor 22 est traversé par un premier pic de courant P1. Pour des raisons
physiques liées à la structure de la cellule, peu après ce premier pic de courant,
il survient entre des instants t3 et t4 un second pic de courant P2 plus intense que
le premier. A titre d'exemple, l'instant t1 peut être situé 10 à 20 ns après l'instant
t0, l'instant t2 peut être situé 50 à 100 ns après l'instant t1, et les instants t3
et t4 peuvent être situés 150 à 200 ns après les instants t1 et t2 respectivement.
La charge d'une cellule peut correspondre à des pics de courant P1 et P2 respectivement
de 0,1 et 0,3 mA. Un circuit de commande est classiquement utilisé pour commander
plus de 3000 colonnes. Ainsi, si toutes les colonnes 8 d'une ligne sélectionnée doivent
être allumées, le second pic de courant traversant le transistor 22 peut atteindre
1 A. Les transistors 22 doivent avoir une taille importante pour pouvoir être traversés
par un tel courant.
[0011] Un objet de la présente invention est de prévoir un circuit de commande des cellules
d'un écran à plasma, qui soit de taille réduite et peu coûteux.
[0012] Pour atteindre cet objet, la présente invention prévoit de retarder la sélection
des différentes colonnes pour que la charge des capacités équivalentes des cellules
d'une même ligne de l'écran ne soit pas simultanée.
[0013] Plus particulièrement, la présente invention prévoit un procédé de commande de cellules
d'un écran à plasma de type matriciel, formé de cellules disposées aux intersections
de lignes et de colonnes, comprenant l'étape consistant à appliquer séquentiellement
à chaque ligne un potentiel d'activation et, pendant l'activation d'une ligne, à appliquer
un potentiel d'activation à des colonnes sélectionnées, dans lequel tandis qu'une
ligne est activée, les colonnes sélectionnées sont activées de manière non simultanée.
[0014] Selon un mode de réalisation de la présente invention, l'activation des colonnes
sélectionnées est commandée par un signal unique activant plusieurs blocs de commande
dont chacun commande avec un retard qui lui est propre l'application du potentiel
d'activation à la colonne.
[0015] La présente invention vise également un circuit de commande des cellules d'un écran
à plasma de type matriciel, formé de cellules disposées aux intersections de lignes
et de colonnes, comprenant des blocs de commande de ligne pour appliquer séquentiellement
à chaque ligne un potentiel d'activation, et comprenant des blocs de commande de colonne
pour, tandis que chaque ligne est activée, appliquer un potentiel d'activation à des
colonnes sélectionnées, chaque bloc de commande de colonne comprenant un moyen à retard
prédéterminé pour retarder l'application du potentiel d'activation aux colonnes sélectionnées.
[0016] Selon un mode de réalisation de la présente invention, le moyen à retard prédéterminé
de chaque bloc de commande de colonne est connecté pour être activé par un même signal
de validation.
[0017] Selon un mode de réalisation de la présente invention, chaque moyen à retard prédéterminé
retarde l'application du potentiel d'activation à une colonne sélectionnée avec un
retard prédéterminé à partir de son activation.
[0018] Selon un mode de réalisation de la présente invention, chaque bloc de commande de
colonne comporte :
un étage de sortie couplé à la colonne activée par le bloc de commande, et recevant
un signal d'entrée,
un élément mémoire pour recevoir et mémoriser un signal de sélection de colonne, et
un moyen à retard prédéterminé comprenant une porte NON-ET ayant une première entrée
connectée en sortie de l'élément mémoire, une deuxième entrée qui reçoit ledit signal
de validation et une sortie reliée à l'entrée de l'étage de sortie par l'intermédiaire
d'un-inverseur comportant un transistor MOS de type P dont les dimensions sont telles
que ledit inverseur commute à une vitesse prédéterminée.
[0019] Selon un mode de réalisation de la présente invention, les blocs de commande de colonne
forment plusieurs groupes, les blocs de commande de colonne d'un même groupe activant
chacun une colonne avec un même retard prédéterminé et chaque bloc de commande de
colonne comportant :
un étage de sortie couplé à la colonne activée par le bloc de commande, et recevant
un signal d'entrée,
- un élément mémoire pour recevoir et mémoriser un signal de sélection de colonne,
et
un moyen à retard prédéterminé comprenant une porte NON-ET ayant une première entrée
connectée en sortie de l'élément mémoire, une deuxième entrée qui reçoit ledit signal
de validation et une sortie reliée à l'entrée de l'étage de sortie par l'intermédiaire
d'un inverseur alimenté entre une masse et un noeud d'alimentation, les noeuds d'alimentation
des blocs de commande de colonne d'un même groupe étant reliés ensemble et séparés
des noeuds d'alimentation des autres blocs de commande de colonne par une résistance,
les noeuds d'alimentation d'un premier groupe de blocs de commande de colonne étant
reliés à une tension d'alimentation.
[0020] Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres de la présente invention
seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers
faite à titre non-limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles
:
la figure 1, précédemment décrite, représente schématiquement une structure classique
d'écran à plasma ;
la figure 2, précédemment décrite, représente schématiquement un écran à plasma relié
à un circuit de commande classique ;
la figure 3, précédemment décrite, illustre la charge d'une cellule d'une ligne de
l'écran de-la figure 2 ;
la figure 4 représente schématiquement des blocs de commande de colonne selon la présente
invention ;
la figure 5 illustre la charge de cellules d'une ligne d'un écran à plasma commandée
par un circuit de commande selon la présente invention ;
la figure 6 représente schématiquement un mode de réalisation d'un commutateur logique
d'un bloc de commande de colonne selon la présente invention ; et
la figure 7 représente schématiquement un autre mode de - réalisation du commutateur
logique d'un bloc de commande de colonne selon la présente invention.
[0021] Dans les figures, seuls les éléments nécessaires à la compréhension de la présente
invention ont été représentés, De mêmes références représentent de mêmes éléments
aux différentes figures.
[0022] La figure 4 représente schématiquement un circuit 12' de commande des colonnes d'un
écran à plasma (non représenté) selon la présente invention. Le circuit 12' comprend,
pour chaque colonne 8 de l'écran à plasma,-un bloc de commande de colonne 18' dont
une sortie 20 est reliée à la colonne 8. Chaque bloc de commande 18' comprend un étage
de sortie 26 commandé par un signal logique d'activation de colonne LCS, et un élément
mémoire 28 connecté pour recevoir et mémoriser la valeur du signal logique à fournir
à l'étage 26. chaque bloc de commande 18' comprend en outre un commutateur logique
30' commandé par un signal de validation VAL et connecté entre l'élément mémoire 28
et l'étage de sortie 26. Selon la présente invention, le commutateur logique 30' de
chaque bloc de commande 18' est prévu pour, lorsque le signal VAL est activé, fournir
le signal LCS mémorisé dans l'élément mémoire 28 à l'étage de sortie 26 avec un retard
prédéterminé. Les commutateurs logiques 30' des différents blocs 18' peuvent chacun
introduire un retard différent par rapport au signal VAL ou bien ils peuvent être
répartis en plusieurs groupes de commutateurs introduisant un même retard. Plus le
nombre de blocs 18' introduisant un retard différent est grand, plus le nombre de
cellules dont les capacités équivalentes peuvent être chargées simultanément est réduit,
et plus le courant maximum susceptible de traverser le transistor 22 est réduit.
[0023] La figure 5 représente diverses tensions et courants apparaissant lors du fonctionnement
du circuit de la figure 4. V8a, V8b, V8c représentent les tensions de trois colonnes
reliées à trois blocs 18' selon la présente invention dont les commutateurs logiques
introduisent respectivement des retards Da, Db, Dc. A un instant t0, une ligne 6 est
sélectionnée et sa tension V6 passe du potentiel VDD1 au potentiel GND. Les tensions
V8a, V8b et V8c sont alors au potentiel GND. Le signal VAL est activé à un instant
t1. Les commutateurs logiques 30' des trois blocs 18' produisent respectivement des
signaux d'activation LCSa, LCSb, LCSc à des instants t1a, t1b, t1c retardés de Da,
Db et Dc par rapport à l'instant t1. Les colonnes 8a, 8b et 8c sont reliées au potentiel
VDD2 sensiblement aux instants t1a, t1b et t1c. Les capacités des cellules reliées
aux colonnes 8a, 8b et 8c se chargent respectivement entre des instants t1a et t2a,
t1b et t2b, t1c et t2c. Le-transistor 22 est traversé par des premiers pics de courant
P1a, P1b, P1c de l'ordre de 0,1 mA chacun pendant la charge de chacune des trois capacités.
Comme on l'a vu précédemment, chaque charge est suivie d'un second pic de courant.
Le transistor 22 est traversé par trois seconds pics de courant P2a, P2b, P2c de l'ordre
de 0, 3 mA chacun entre des instants t3a et t4a, t3b et t4b, t3c et t4c. Lorsque toutes
les colonnes 8 d'une ligne doivent être allumées par un circuit de commande de colonne
selon la présente invention, le courant maximal qui traverse le transistor 22 est
égal seulement à la somme des pics de courant produits par les blocs 18' introduisant
un même retard. Si par exemple les blocs 18' sont répartis en trois groupes a, b,
c introduisant respectivement un retard Da, Db, Dc, la présente invention permet de
diviser par trois le courant maximal dans le transistor 22.
[0024] On notera qu'en figure 5, les durées de charge illustrées, c'est-à-dire la largeur
des pics de courant, et les retards Da, Db, Dc sont tels que les pics de courant correspondant
aux différents retards sont distincts. En pratigue cependant, les durées de charge
et les retards pourront être tels que les différents pics se chevauchent.
[0025] La figure 6 représente schématiquement un mode de réalisation d'un commutateur logique
30'. Le commutateur 30' comprend une porte NON-ET 34 classique. Les deux bornes d'entrée
de la porte 34 sont les deux bornes d'entrée du commutateur logique 30'. La sortie
de la porte 34 est reliée à la sortie S du commutateur 30' par l'intermédiaire d'un
inverseur 36. L'inverseur 36 comprend un transistor MOS de type N relié entre la masse
et la sortie S et un transistor MOS de type P relié entre la sortie S et une ligne
d'alimentation VDD, par exemple 3 ou 5 V. Selon la présente invention, le rapport
largeur/longueur (W/L) spécifique pour le transistor MOS de type P de l'inverseur
36 est utilisé pour obtenir un retard spécifique. Le rapport W/L du transistor de
type P détermine notamment le courant qui peut traverser ce transistor, et par là,
la vitesse avec laquelle le commutateur 30' peut amener une charge (l'étage 26) reliée
à sa sortie S à une tension correspondant à un état logique haut. Ainsi, le rapport
W/L du transistor MOS de type P de l'inverseur 36 permet d'ajuster le retard introduit
par le commutateur logique 30'.
[0026] La figure 7 représente des commutateurs logiques 30" d'un circuit de commande selon
un autre mode de réalisation de la présente invention. Chaque commutateur logique
30" comprend une porte NON-ET 34 dont les entrées constituent les entrées du commutateur
logique, et dont la sortie est reliée à la sortie S du commutateur logique 30" par
l'intermédiaire d'un inverseur 38. Chaque inverseur 38 est alimenté entre un noeud
d'alimentation A et la masse. Selon la présente invention, les commutateurs logiques
30" sont répartis en n groupes G1, G2, ...Gn (où n est entier), introduisant des retards
différents. La figure 7 représente des groupes de deux commutateurs 30". Les noeuds
A des commutateurs 30" appartenant à un même groupe sont reliés ensemble. Les noeuds
A des commutateurs du groupe G1 sont reliés à une tension d'alimentation VDD. Les
noeuds A des commutateurs du groupe G2 sont reliés aux noeuds A des commutateurs du
groupe G1 par l'intermédiaire d'une résistance 40. De même, les noeuds A des commutateurs
d'un groupe Gi (où i est compris entre 2 et n) sont reliés aux noeuds A des commutateurs
du groupe Gi-1 par l'intermédiaire d'une résistance 40.
[0027] Selon ce mode de réalisation, les inverseurs 38 des commutateurs 30" d'un même groupe
ont la même tension d'alimentation, et les inverseurs de deux groupes différents ont
des tensions d'alimentation différentes. La vitesse à laquelle chaque inverseur peut
amener une charge (l'étage 26) reliée à sa sortie S à une tension correspondant à
un état logique haut dépend de la tension d'alimentation de cet inverseur. Ainsi,
les retards introduits par les commutateurs 30" des groupes G1, G2, ...Gn, dépendent
de la tension d'alimentation des inverseurs 38 respectifs de ces commutateurs. La
tension d'alimentation des inverseurs 38 dépend des chutes de tension dans les résistances
40 et ces chutes de tension dépendent du nombre d'inverseurs 38 dont l'état change.
Lorsque le nombre de cellules activées est grand, ce qui dans l'art antérieur entraînait
des pics de courant importants dans le transistor 22, le nombre d'inverseurs 38 dont
l'état change est grand et les chutes de tension dans les résistances 40 sont importantes.
Cela entraîne que les retards introduits par les commutateurs 30" des groupes G1,
G2, ...Gn sont importants, et cela réduit les pics de courant dans le transistor 22.
Lorsque le nombre de cellules activées est faible, le nombre d'inverseurs 38 dont
l'état change est faible et les chutes de tension dans les résistances 40 sont faibles.
Les retards introduits par les commutateurs 30" des groupes G1, G2, ...Gn sont alors
peu importants et le temps de sélection de ligne est ainsi peu important. Un tel circuit
de commande fonctionne ainsi à une vitesse optimale tout en ayant des transistors
22 de taille réduite.
[0028] Bien entendu, la présente invention est susceptible de diverses variantes et modifications
qui apparaîtront à l'homme du métier. En particulier, on a décrit des modes de réalisation
de la présente invention dans lesquels on retarde le signal d'activation des colonnes
à partir d'un signal de validation VAL unique, mais l'homme du métier adaptera sans
difficultés la présente invention à un mode de réalisation dans lequel on utilise
plusieurs signaux de validation VAL retardés produits à partir d'un signal VAL initial.
[0029] La présente invention a été décrite en relation avec des commutateurs logiques (30',
30") prévus pour recevoir et fournir des signaux logiques actifs à un niveau haut,
mais l'homme du métier adaptera sans difficultés la présente invention à des commutateurs
logiques prévus pour recevoir et fournir des signaux logiques actifs à un niveau bas.
[0030] En outre, la présente invention a été décrite en relation avec un commutateur logique
(30', 30") dont la sortie est fournie-par un inverseur (36, 38) prévu pour introduire
un retard prédéterminé, mais l'homme du métier adaptera sans difficultés la présente
invention à un commutateur logique comprenant également d'autres éléments (tels qu'une
porte logique NON-ET) prévus pour introduire un retard prédéterminé.
1. Circuit de commande des cellules d'un écran à plasma de type matriciel, formé de cellules
(4) disposées aux intersections de lignes (6) et de colonnes (8), comprenant des blocs
de commande de ligne (14) pour activer séquentiellement chaque ligne, et comprenant
des blocs de commande de colonnes (18) pour, tandis que chaque ligne est activée,
appliquer un potentiel d'activation à des colonnes sélectionnées, chaque bloc de commande
de colonne comprenant un moyen de retard (30") pour retarder l'application du potentiel
d'activation aux colonnes sélectionnées, le moyen de retard de chaque bloc de commande
de colonne étant connecté pour être activé par un même signal de validation (VAL),
les blocs de commande de colonnes formant plusieurs groupes (G1, G2 .. Gn) et les
blocs de commande de colonnes d'un même groupe activant les colonnes de ce groupe
avec un même retard, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (38, 40) pour faire varier la valeur de chaque retard en fonction
du nombre de colonnes sélectionnées.
2. Circuit selon la revendication 1, dans lequel chaque bloc de commande de colonne (18)
comporte un moyen de retard (30") comprenant une porte NON-ET (34) ayant une première
entrée qui reçoit un signal de sélection de colonne et une deuxième entrée qui reçoit
ledit signal de validation (VAL), et une sortie reliée à l'entrée d'un inverseur (38)
alimenté entre une masse et un noeud d'alimentation (A), les noeuds d'alimentation
des inverseurs d'un même groupe étant reliés ensemble, les noeuds d'alimentation des
inverseurs d'un premier groupe étant reliés à une tension d'alimentation (VDD) et
les noeuds d'alimentation des inverseurs de chaque groupe suivant étant séparés des
noeuds d'alimentation des inverseurs d'un groupe précédent par une résistance (40).
3. Procédé de commande de cellules d'un écran à plasma de type matriciel, formé de cellules
(4) disposées aux intersections de lignes (6) et de colonnes (8), comprenant l'étape
consistant à activer séquentiellement chaque ligne et, pendant l'activation d'une
ligne, à commander par un signal (VAL) unique l'activation de colonnes sélectionnées,
dans lequel chaque colonne sélectionnée est activée par un bloc de-commande (18) avec
un retard propre à ce bloc, les blocs de commande de colonnes formant plusieurs groupes
(G1, G2 Gn) et les blocs de commande de colonnes d'un même groupe activant les colonnes
de ce groupe avec un même retard, caractérisé en ce que la valeur de chaque retard est fonction du nombre de colonnes sélectionnées.
1. A circuit for controlling the cells of a plasma screen of array type, formed of cells
(4) arranged at the intersections of lines (6) and columns (8), including line control
blocks (14) for sequentially activating each line, and including column control blocks
(18) for, as each line is activated, applying an activation potential to selected
columns, each column control block including delay means (30") for delaying the application
of the activation potential to selected columns, the delay means of each column control
block being connected to be activated by a same enable signal (VAL), the column control
blocks forming several groups (G1, G2,...Gn) and the column control blocks of a same
group activating the columns of this group with a same delay, characterized in that it comprises means (38, 40) for modifying the value of each delay as a function of
the number of selected columns.
2. The circuit of claim 1, wherein each column control block (18) includes delay means
(30") including a NAND gate (34) having a first input that receives a column selection
signal and a second input which receives said enable signal (VAL), and an output connected
to the input of an inverter (38) supplied between a ground and a supply node (A),
the supply nodes of the inverters of a same group being interconnected, the supply
nodes of the inverters of a first group being connected to a supply voltage (VDD)
and the supply nodes of the inverters of each following group being separated from
the supply nodes of the inverters of a former group by a resistor (40).
3. A method for controlling cells of a plasma screen of array type, formed of cells (4)
arranged at the intersections of lines (6) and columns (8), including the step of
sequentially activating each line and, during the activation of a line, controlling
by a single signal (VAL) the activation of selected columns, wherein each selected
column is activated by a control block (18) with a delay specific to this block, the
column control blocks forming several groups (G1, G2,...Gn) and the column control
blocks of a same group activating the columns of this group with a same delay, characterized in that the value of each delay is a function of the number of selected columns.
1. Ein Schaltkreis zum Steuern der Zellen von einem Plasmabildschirm des Array-Typs,
gebildet aus Zellen (4), die angeordnet sind an den Kreuzungen bzw. Kreuzungspunkten
von Zeilen (6) und Spalten (8), Zeilensteuerblöcke (14) zum sequentiellen Aktivieren
jeder Zeile aufweisend und Spaltensteuerblöcke (18) aufweisend um, wenn jede Leitung
aktiviert ist, ein Aktivierungspotenzial an gewählte Spalten anzulegen, wobei jeder
Spaltensteuerblock Verzögerungsmittel (30") aufweist zum Verzögern des Anlegens von
dem Aktivierungspotenzial an gewählte Spalten, wobei die Verzögerungsmittel von jedem
Spaltensteuerblock verbunden sind, um durch ein gleiches Aktivierungssignal (VAL)
aktiviert zu werden, wobei die Spaltensteuerblöcke mehrere Gruppen (G1, G2, ...Gn)
bilden und die Spaltensteuerblöcke von einer gleichen Gruppe die Spalten dieser Gruppe
mit einer gleichen Verzögerung aktivieren, gekennzeichnet dadurch, dass sie Mittel (38, 40), aufweist zum Modifizieren des Werts von jeder Verzögerung als
einer Funktion von der Zahl der gewählten Spalten.
2. Schaltkreis nach Anspruch 1, wobei jeder Spaltensteuerblock (18) Verzögerungsmittel
(30") aufweist, die ein NAND-Gatter (34) aufweisen, das einen ersten Eingang, der
ein Spaltenwahlsignal empfängt und einen zweiten Eingang, der das Aktivierungssignal
(VAL) empfängt und einen Ausgang aufweist, der mit dem Eingang von einem Inverter
(38) verbunden ist, der angeordnet ist zwischen einer Masse bzw. Erde und einem Versorgungsknoten
(A), wobei die Versorgungsknoten von den Invertern von einer gleichen Gruppe verbunden
bzw. zusammen geschaltet sind, wobei die Versorgungsknoten von den Invertern von einer
ersten Gruppe mit einer Versorgungsspannung (VDD) verbunden sind und die Versorgungsknoten
von den Invertern von jeder folgenden Gruppe von den Versorgungsknoten von den Invertern
von einer vorherigen Gruppe durch einen Widerstand (40) getrennt sind.
3. Ein Verfahren zum Steuern von Zellen von einem Plasmabildschirm des Array-Typs, gebildet
aus Zellen (4), angeordnet an den Kreuzungen bzw.
Kreuzungspunkten von Zeilen (6) und Spalten (8), den Schritt aufweisend zum sequentiellen
Aktivieren jeder Zeile und, während der Aktivierung von einer Zeile, Steuern der Aktivierung
von gewählten Spalten durch ein einzelnes Signal (VAL), wobei jede gewählte Spalte
aktiviert wird durch einen Steuerblock (18) mit einer Verzögerung, die für diesen
Block spezifisch ist, wobei die Spaltensteuerblöcke mehrere Gruppen (G1, G2, ...Gn)
bilden und die Spaltensteuerblöcke von einer gleichen Gruppe die Spalten von dieser
Gruppe mit einer gleichen Verzögerung aktivieren, gekennzeichnet dadurch, dass der Wert von jeder Verzögerung eine Funktion von der Zahl von gewählten Spalten ist.