Domaine technique de l'invention
[0001] La présente invention se rapporte à un détecteur de sécurité doté de deux sorties
et d'une entrée de test. Ce détecteur présente un niveau de sécurité SIL au moins
égal à 2.
Etat de la technique
[0002] Il est connu de proposer des systèmes de détection sécurisée permettant de sécuriser
le fonctionnement d'une application. Par exemple, pour sécuriser l'accès à une machine
située dans un local, il est connu de prévoir un système de détection sécurisée qui
permet de ne pas autoriser le démarrage de la machine lorsque le moyen d'accès au
local est ouvert. Un tel système de détection comporte un ou plusieurs détecteurs,
une unité logique de traitement recevant l'état de chaque détecteur et un ou plusieurs
actionneurs commandés par l'unité logique de traitement en tenant compte de l'état
de chaque détecteur.
[0003] Lorsque le système de détection est sécurisé, il présente un certain niveau de sécurité,
appelé SIL (pour "Safety Integrity Level"). Ces niveaux de sécurité sont définis par
différentes normes (par exemple IEC 61508 ou IEC 62061 pour le niveau SIL2). Dans
un système de détection à niveau SIL2 ou supérieur, l'une des problématiques principales
est de savoir diagnostiquer les pannes sur les sorties du détecteur ainsi que sur
le câble qui permet de raccorder le détecteur à l'unité logique de traitement. Un
système de détection SIL2 est préférentiellement réalisé en employant un détecteur
SIL2 ou plusieurs détecteurs de niveau inférieur à SIL2.
[0004] Dans l'état de la technique, il a été proposé différentes solutions pour attribuer
un niveau SIL2 ou supérieur à un détecteur.
[0005] Une première solution consiste à proposer un détecteur doté de deux sorties de type
NO (pour "Normally Opened", c'est-à-dire normalement ouverte) connectées à l'unité
logique de traitement. Dans cette solution, le détecteur intègre un module de diagnostic
lui permettant de diagnostiquer la panne de l'une des deux sorties NO et d'ouvrir
l'autre sortie en cas de panne. Dans cette solution, une coupure du câble est détectée
par l'unité logique de traitement et un court-circuit sur le câble est détecté par
le module de diagnostic du détecteur.
[0006] Une deuxième solution consiste à proposer un détecteur doté d'une sortie NO et d'une
sortie NC (pour "Normally Closed", c'est-à-dire normalement fermée). Dans cette solution,
la panne de l'une des deux sorties est détectée par l'unité logique de traitement,
par exemple en vérifiant la complémentarité des deux signaux de sortie. Une coupure
du câble et un court-circuit sur le câble sont détectés par l'unité logique de traitement,
immédiatement ou lors du changement d'état des sorties.
[0007] Une troisième solution consiste à proposer un détecteur doté d'une sortie NO et d'une
entrée de test cyclique permettant à l'unité logique de traitement de vérifier la
sortie du détecteur. Dans cette solution, les pannes sur la sortie du détecteur, sur
le câble, ainsi que sur l'entrée de l'unité logique de traitement, sont détectées
par l'unité logique de traitement lors du cycle de test.
[0008] Ces trois solutions permettent d'attribuer un niveau 2 de SIL au détecteur.
[0009] Cependant, elles présentent toutes certains inconvénients listés ci-dessous :
- Nécessité d'un module de diagnostic intégré au détecteur dans la première solution.
- Peu d'unité logique de traitement du commerce sont compatibles avec un détecteur du
type de la deuxième solution, à deux sorties complémentaires.
- Nécessité de proposer deux variantes de détecteur du type de la première ou de la
troisième solution pour pouvoir surveiller l'absence ou la présence de la cible.
[0010] US 2005/0112942 divulgue un système sécurisé destiné à surveiller un processus industriel conformément
à un SIL souhaité.
[0011] Le but de l'invention est de proposer un détecteur polyvalent permettant de pallier
les inconvénients listés ci-dessus tout en restant compatible avec une connectique
à quatre points de connexion imposée par le connecteur de type M12.
Exposé de l'invention
[0012] Ce but est atteint par un détecteur conforme à la revendication 1.
[0013] Selon une particularité, le module de test comporte un module de comparaison agencé
pour générer le signal de sortie selon l'état du signal d'entrée de test par rapport
à une valeur seuil déterminée.
[0014] Selon une autre particularité, le détecteur comporte un module d'alimentation comprenant
un condensateur agencé pour se charger en fonctionnement normal et à se décharger
en maintenant une tension d'alimentation suffisante pour le bon fonctionnement du
détecteur lors du test des sorties.
[0015] Selon une autre particularité, le détecteur comporte quatre bornes de connexion agencées
pour recevoir un connecteur de type M12.
[0016] Selon une autre particularité, la première sortie est de type "normalement ouvert".
[0017] Selon une autre particularité, la deuxième sortie est de type normalement "normalement
fermé".
[0018] L'invention concerne également un système de détection qui comporte :
- une unité logique de traitement comprenant au moins une entrée et une sortie de test,
- un détecteur tel que défini ci-dessus, dont la première borne de sortie est connectée
à ladite entrée de l'unité logique de traitement et une borne d'alimentation est connectée
à la sortie de test de l'unité logique de traitement, l'unité logique de traitement
étant agencée pour générer un signal d'entrée de test appliqué sur ladite borne d'alimentation
du détecteur afin de tester chaque sortie du détecteur connectée à l'unité logique
de traitement.
[0019] L'invention concerne enfin un système de détection comprenant :
- une unité logique de traitement comprenant deux entrées et deux bornes d'alimentation,
- un détecteur tel que défini ci-dessus, dont les deux bornes d'alimentation sont connectées
aux deux bornes d'alimentation de l'unité logique de traitement et les deux bornes
de sortie sont connectées aux deux entrées de l'unité logique de traitement de manière
à proposer une redondance entre les deux sorties du détecteur.
Brève description des figures
[0020] D'autres caractéristiques et avantages vont apparaître dans la description détaillée
qui suit faite en regard des dessins annexés dans lesquels :
- La figure 1 représente un système de détection comprenant notamment un détecteur et
une unité logique de traitement,
- la figure 2 représente de manière schématique un détecteur de l'invention,
- la figure 3A représente un système de détection dans une première configuration de
connexion du détecteur de l'invention à une unité logique de traitement, le détecteur
étant dans un mode de fonctionnement à deux sorties redondantes,
- la figure 3B représente un système de détection dans une deuxième configuration de
connexion du détecteur de l'invention à une unité logique de traitement, le détecteur
étant dans un mode de fonctionnement à au moins une sortie et une entrée de test.
- les figures 4A à 4D illustrent le principe de fonctionnement du détecteur de l'invention
dans la deuxième configuration de connexion.
Description détaillée d'au moins un mode de réalisation
[0021] Le détecteur de l'invention est agencé pour présenter un niveau de sécurité SIL au
moins égal à 2.
[0022] En référence à la figure 1, au moins un détecteur D1 est connecté par un câble de
raccordement à une unité logique de traitement 2 afin de former un système de détection
sécurisée. L'unité logique de traitement 2 fournit par exemple l'alimentation au détecteur
via ledit câble qui est connecté à deux bornes d'alimentation (A1 et A2) présentes
sur le détecteur D1. Les deux bornes d'alimentation sont désignées ci-après première
borne d'alimentation A1 et deuxième borne d'alimentation A2. L'unité logique de traitement
2 est connectée à un ou plusieurs actionneurs 3 et permet de commander ces actionneurs
3 en fonction de l'état du signal de sortie du détecteur D1.
[0023] Pour la suite de la description, on définit un état de détection sûr et un état de
détection non sûr. Dans l'état de détection sûr, le détecteur D1 est agencé pour générer
au moins un premier signal de sortie qui est interprété par l'unité logique de traitement
2 comme une autorisation de fonctionnement de l'application sécurisée. Dans l'état
de détection non sûr, le détecteur D1 est agencé pour générer au moins un deuxième
signal de sortie qui est interprété par l'unité logique de traitement 2 comme une
mise en sécurité de l'application sécurisée.
[0024] Selon la configuration de l'application à sécuriser, l'état de détection sûr peut
correspondre à la détection de la cible devant le détecteur D1 ou à la non-détection
de la cible devant le détecteur D1. De même, l'état de détection non sûr peut correspondre
à la détection de la cible devant le détecteur D1 ou à la non-détection de la cible
devant le détecteur D1.
[0025] Le détecteur D1 de l'invention peut être de tous types connus, à sortie tout ou rien,
tels que par exemple inductif, capacitif, à ultrasons ou photoélectrique, voire des
pressostats ou thermostats. Le détecteur comporte donc un organe capteur 10 adapté
pour remplir sa fonction.
[0026] Le détecteur D1 comporte un étage de détection 11 connecté à l'organe capteur 10
et destiné à générer un signal de détection représentatif de l'état de détection sûr
ou de l'état de détection non sûr. En sortie de l'étage de détection 11, le signal
de détection est préférentiellement binaire.
[0027] Le détecteur D1 comporte un étage de traitement 12 connecté à l'étage de détection
11 et destiné à générer un ou plusieurs signaux de sortie.
[0028] Le détecteur de l'invention présente la particularité d'être polyvalent. Il peut
s'adapter aux différentes configurations de traitement et de commande de l'unité logique
de traitement 2 qui lui est connecté.
[0029] Pour cela, en référence à la figure 2, le détecteur de l'invention comporte :
- une première sortie, par exemple de type NO (pour "Normally Opened", c'est-à-dire
normalement ouverte),
- une deuxième sortie, par exemple de type NC (pour "Normally Closed", c'est-à-dire
normalement fermée),
- une entrée de test cyclique reliée à l'une de ses bornes d'alimentation.
[0030] Dans cette configuration, le détecteur D1 de l'invention pourra ainsi indifféremment
se connecter sur une unité logique de traitement 2 qui est apte à gérer un détecteur
à deux sorties NO et NC complémentaires ou apte à gérer un détecteur à sortie NO ou
NC et une entrée de test cyclique.
[0031] Bien entendu, le détecteur D1 pourrait également comporter deux sorties de type NO
ou deux sorties de type NC.
[0032] Par ailleurs, le détecteur D1 de l'invention est agencé pour disposer d'une connectique
simple et standard à quatre points de connexion, telle que la connectique M12. En
plus de ses deux bornes d'alimentation, le détecteur D1 de l'invention comporte donc
deux bornes de sortie O1, O2, c'est-à-dire une première borne de sortie O1 connectée
à la première sortie (de type NO sur les figures annexées) et une deuxième borne de
sortie O2 connectée à la deuxième sortie (de type NC sur les figures annexées). Chaque
sortie du détecteur comporte un transistor de type PNP ou NPN commandé par un dispositif
de commande relié à l'étage de traitement.
[0033] Par ailleurs, le détecteur D1 de l'invention comporte un module de test MT connecté
à la première borne d'alimentation A1 ou à la deuxième borne d'alimentation A2. Sur
la figure 2, le module de test est connecté à la première borne d'alimentation.
[0034] Le module de test MT comporte un module de comparaison comprenant une première entrée
recevant une valeur seuil Vseuil prédéterminée et une deuxième entrée connectée à
la première borne d'alimentation A1 et recevant un signal d'entrée de test S_test
en provenance de l'unité logique de traitement 2. Le module de comparaison comporte
une sortie sur laquelle est appliqué un signal de sortie Sig dont l'état dépend de
la comparaison entre le signal d'entrée de test S_test appliqué sur la deuxième entrée
du module de comparaison et la valeur seuil Vseuil appliquée sur la première entrée.
Le module de test MT permet de tester que la première sortie (NO) et/ou la deuxième
sortie (NC) du détecteur D1 sont en parfait état de fonctionnement lorsque le détecteur
est connecté à une unité logique de traitement 2 disposant d'une sortie de test Out_test
(figure 3B par exemple). Lors du test des sorties, le signal de sortie Sig est envoyé
à l'étage de traitement 12 qui commande alors le blocage simultané des 2 sorties.
[0035] Par ailleurs, le détecteur D1 comporte également un module d'alimentation MA lui
permettant de rester alimenté lorsque le test des sorties est en cours. Ce module
d'alimentation MA comporte un condensateur Cp chargé périodiquement par la tension
d'alimentation appliquée par l'unité logique de traitement 2 entre les deux bornes
d'alimentation A1, A2 du détecteur et un régulateur de tension 13 destiné à réguler
la tension d'alimentation aux bornes du condensateur. Le module d'alimentation MA
est connecté à la deuxième borne d'alimentation du détecteur.
[0036] En référence aux figures 3A et 3B, par sa polyvalence, le détecteur D1 de l'invention
est ainsi capable de s'adapter aux deux configurations classiques de connexion à une
unité logique de traitement 2.
[0037] La figure 3A illustre une première configuration dans laquelle le détecteur D1 de
l'invention est doté de deux sorties redondantes (identiques ou complémentaires) connectées
à deux entrées in1, in2 de l'unité logique de traitement 2. Dans cette configuration,
le module de test MT du détecteur n'est pas employé. Les deux bornes d'alimentation
A1, A2 du détecteur sont connectées à deux bornes d'alimentation +, - de l'unité logique
de traitement 2.
[0038] La figure 3B illustre une deuxième configuration dans laquelle le détecteur D1 de
l'invention est employé dans un mode de fonctionnement à une sortie (NO ou NC) connectée
à une entrée in1 de l'unité logique de traitement. Le détecteur D1 est alimenté par
la sortie de test de l'unité logique de traitement 2 et sa première borne d'alimentation
A1 reçoit le signal d'entrée de test S_test.
[0039] Le principe de fonctionnement du détecteur D1 de l'invention dans cette deuxième
configuration est illustré par les figures 4A à 4D.
[0040] La figure 4A représente l'état du signal d'entrée de test S_test envoyé par la sortie
de test Out_test de l'unité logique de traitement 2 sur la première borne d'alimentation
A1 du détecteur. Afin de tester la sortie du détecteur D1 de manière cyclique, le
signal d'entrée de test S_test alterne périodiquement entre deux valeurs (0 ou 1 en
binaire). Lorsque le signal d'entrée de test S_test est à 1, le détecteur D1 fonctionne
normalement et est alimenté par l'unité logique de traitement 2. Lorsque le signal
d'entrée de test S_test est à 0, l'unité logique de traitement 2 teste chaque sortie
du détecteur et le détecteur D1 n'est donc plus alimenté par l'unité logique de traitement
2.
[0041] La figure 4B représente l'état de charge et décharge du condensateur Cp. Le condensateur
Cp se charge lorsque le signal d'entrée de test appliqué sur la première borne d'alimentation
A1 est à 1, c'est-à-dire lorsque le détecteur D1 est alimenté par l'unité logique
de traitement. Lorsque le signal d'entrée de test est à la valeur 0, le détecteur
D1 n'est plus alimenté par l'unité logique de traitement 2 et s'alimente alors sur
l'énergie emmagasinée dans le condensateur Cp, qui se décharge.
[0042] La figure 4C représente l'état du signal de sortie Sig du module de comparaison.
La valeur 1 du signal de sortie Sig correspond à la commande d'inhibition de chaque
sortie du détecteur D1. Le signal de sortie Sig est à la valeur 1 lorsque le signal
d'entrée de test S_test est à la valeur 0.
[0043] La figure 4D représente l'état des deux sorties NO et NC du détecteur D1 (même si
une seule sortie est connectée à l'unité logique de traitement 2, les deux sorties
basculent simultanément). Par exemple, les deux sorties NO, NC prennent alternativement
un état complémentaire (C) lorsque le détecteur D1 fonctionne normalement et un état
commun de blocage (B) lorsque l'unité logique de traitement 2 passe le signal d'entrée
de test S_test à la valeur 0 pour tester les deux sorties NO et NC.
[0044] Le module de test MT décrit ci-dessus pourrait présenter un fonctionnement différent
de celui décrit ci-dessus. En effet, l'idée principale consiste à inhiber périodiquement
les sorties de manière à les tester, sur sollicitation de l'unité logique de traitement.
La comparaison effectuée par le module de comparaison pour la génération du signal
de sortie Sig pourrait donc être différente de celle décrite ci-dessus.
1. Détecteur (D1) comprenant :
- un organe capteur (10),
- un étage de détection (11) connecté à l'organe capteur (10) et destiné à générer
un signal de détection représentatif, selon la position d'une cible par rapport au
détecteur, d'un état de détection sûr ou d'un état de détection non sûr,
- une première borne d'alimentation (A1) et une deuxième borne d'alimentation (A2)
entre lesquelles peut être appliquée une tension d'alimentation nécessaire à l'alimentation
du dispositif,
- une première borne de sortie (O1) connectée à une première sortie,
- une deuxième borne de sortie (02) connectée à une deuxième sortie,
- un étage de traitement (12) destiné à traiter le signal de détection et à commander
la première sortie et la deuxième sortie en fonction du signal de détection reçu,
- caractérisé en ce qu'il comporte un module de test (MT) connecté à la première borne d'alimentation (A1)
ou à la deuxième borne d'alimentation et agencé pour recevoir un signal d'entrée de
test cyclique (S_test) en provenance d'une unité logique de traitement (2) externe
sur ladite première borne d'alimentation ou deuxième borne d'alimentation, ledit module
de test étant agencé pour générer un signal de sortie (Sig) envoyé à l'étage de traitement
(12) pour placer chaque sortie dans un état déterminé interprétable par ladite unité
logique de traitement (2) externe.
2. Détecteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que le module de test (MT) comporte un module de comparaison agencé pour générer le signal
de sortie (Sig) selon l'état du signal d'entrée de test (S_test) par rapport à une
valeur seuil (Vseuil) déterminée.
3. Détecteur selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il comporte un module d'alimentation (MA) comprenant un condensateur (Cp) agencé pour
se charger en fonctionnement normal et à se décharger en maintenant une tension d'alimentation
suffisante pour le bon fonctionnement du détecteur lors du test des sorties.
4. Détecteur selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce qu'il comporte quatre bornes de connexion agencées pour recevoir un connecteur de type
M12.
5. Détecteur selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que La première sortie est de type "normalement ouvert" (NO).
6. Détecteur selon la revendication 5, caractérisé en ce que la deuxième sortie est de type normalement "normalement fermé" (NC).
7. Système de détection,
caractérisé en ce qu'il comporte :
- une unité logique de traitement comprenant au moins une entrée (in1) et une sortie
de test (Out_test),
- un détecteur (D1) tel que défini dans l'une des revendications précédentes, dont
la première borne de sortie (01) est connectée à ladite entrée (in1) de l'unité logique
de traitement (2) et une borne d'alimentation (A1, A2) est connectée à la sortie de
test de l'unité logique de traitement (2), l'unité logique de traitement (2) étant
agencée pour générer un signal d'entrée de test (S_test) appliqué sur ladite borne
d'alimentation du détecteur (D1) afin de tester chaque sortie (NO, NC) du détecteur
(D1) connectée à l'unité logique de traitement (2).
8. Système de détection,
caractérisé en ce qu'il comporte :
- une unité logique de traitement comprenant deux entrées (in1, in2) et deux bornes
d'alimentation (+, -),
- un détecteur (D1) tel que défini dans l'une des revendications précédentes, dont
les deux bornes d'alimentation (A1, A2) sont connectées aux deux bornes d'alimentation
(+, -) de l'unité logique de traitement (2) et les deux bornes de sortie (O1, O2)
sont connectées aux deux entrées (in1, in2) de l'unité logique de traitement (2) de
manière à proposer une redondance entre les deux sorties du détecteur.
1. Detektor (D1), umfassend:
- ein Sensororgan (10),
- eine Detektionsstufe (11), die an das Sensororgan (10) angeschlossen ist und dazu
bestimmt ist, ein repräsentatives Detektionssignal nach der Position eines Ziels relativ
zu dem Detektor eines sicheren Detektionszustands oder eines nicht sicheren Detektionszustands
zu erzeugen,
- eine erste Einspeiseklemme (A1) und eine zweite Einspeiseklemme (A2) zwischen denen
eine Versorgungsspannung angelegt werden kann, die für die Stromversorgung der Vorrichtung
notwendig ist,
- eine erste Ausgangsklemme (O1), die an einen ersten Ausgang angeschlossen ist,
- eine zweite Ausgangsklemme (O2), die an einen zweiten Ausgang angeschlossen ist,
- eine Verarbeitungsstufe (12), die dazu bestimmt ist, das Detektionssignal zu verarbeiten
und den ersten Ausgang und den zweiten Ausgang in Abhängigkeit von dem empfangenen
Detektionssignal zu steuern,
- dadurch gekennzeichnet, dass er ein Testmodul (MT) aufweist, das an die erste Einspeiseklemme (A1) oder an die
zweite Einspeiseklemme angeschlossen ist und angeordnet ist, um ein zyklisches Eingangstestsignal
(S_test), das von einer externen logischen Verarbeitungseinheit (2) stammt, auf der
ersten Einspeiseklemme oder der zweiten Einspeisklemme zu empfangen, wobei das Testmodul
angeordnet ist, um ein Ausgangssignal (Sig) zu erzeugen, das an die Verarbeitungsstufe
(12) gesendet wird, um jeden Ausgang in einen bestimmten Zustand zu versetzen, der
von der externen logischen Verarbeitungseinheit (2) lesbar ist.
2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Testmodul (MT) ein Vergleichsmodul aufweist, das angeordnet ist, um das Ausgangssignal
(Sig) nach dem Zustand des Eingangstestsignals (S_test) in Bezug auf einen vorbestimmten
Schwellenwert (Vseuil) zu erzeugen.
3. Detektor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass er ein Einspeisemodul (MA) aufweist, das einen Kondensator (Cp) aufweist, der angeordnet
ist, um sich im normalen Betrieb aufzuladen und sich zu entladen, indem eine Versorgungsspannung
aufrechterhalten wird, die für das ordnungsgemäße Funktionieren des Detektors während
des Tests der Ausgänge ausreichend ist.
4. Detektor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass er vier Anschlussklemmen aufweist, die angeordnet sind, um einen M12-Steckverbinder
aufzunehmen.
5. Detektor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Ausgang vom "normalerweise offenen" Typ (NO) ist.
6. Detektor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Ausgang vom "normalerweise geschlossenen" Typ (NC) ist.
7. Detektionssystem,
dadurch gekennzeichnet, dass es Folgendes aufweist:
- eine logische Verarbeitungseinheit, umfassend mindestens einen Eingang (in1) und
einen Testausgang (Out_test),
- einen Detektor (D1), wie in einem der vorhergehenden Ansprüche definiert, dessen
erste Ausgangsklemme (O1) an den ersten Eingang (in1) der logischen Verarbeitungseinheit
(2) angeschlossen ist, und eine Einspeiseklemme (A1, A2) an den Testausgang der logischen
Verarbeitungseinheit (2) angeschlossen ist, wobei die logische Verarbeitungseinheit
(2) angeordnet ist, um ein Testeingangssignal (S_test) zu erzeugen, das auf die Einspeiseklemme
des Detektors (D1) angelegt ist, um jeden Ausgang (NO, NC) des Detektors (D1) zu testen,
der an die logische Verarbeitungseinheit (2) angeschlossen ist.
8. Detektionssystem,
dadurch gekennzeichnet, dass es Folgendes aufweist:
- eine logische Verarbeitungseinheit, umfassend zwei Eingänge (in1, in2) und zwei
Einspeiseklemmen (+, -),
- einen Detektor (D1), wie in einem der vorhergehenden Ansprüche definiert, dessen
zwei Einspeiseklemmen (A1, A2) an die zwei Einspeiseklemmen (+, -) der logischen Verarbeitungseinheit
(2) angeschlossen sind und dessen zwei Ausgangsklemmen (O1, O2) an die zwei Eingänge
(in1, in2) der logischen Verarbeitungseinheit (2) derart angeschlossen sind, dass
eine Redundanz angeboten wird.
1. A detector (D1) comprising:
- a sensor member (10),
- a detection stage (11) connected to the sensor member (10) and intended to generate
a detection signal representative, depending on the position of a target relative
to the detector, of a safe detection state or of an unsafe detection state,
- a first power supply terminal (A1) and a second power supply terminal (A2) between
which can be applied a power supply voltage required to power the device,
- a first output terminal (O1) connected to a first output,
- a second output terminal (O2) connected to a second output,
- a processing stage (12) intended to process the detection signal and to control
the first output and the second output as a function of the detection signal received,
- characterized in that it comprises a test module (MT) connected to the first power supply terminal (A1)
or to the second power supply terminal and arranged to receive a cyclical test input
signal (S_test) arriving from an external processing logic unit (2) on said first
power supply terminal or second power supply terminal, said test module being arranged
to generate an output signal (Sig) sent to the processing stage (12) in order to place
each output in a determined state that can be interpreted by said external processing
logic unit (2).
2. The detector as claimed in claim 1, characterized in that the test module (MT) comprises a comparison module arranged to generate the output
signal (Sig) according to the state of the test input signal (S_test) relative to
a determined threshold value (Vseuil).
3. The detector as claimed in claim 1 or 2, characterized in that it comprises a power supply module (MA) comprising a capacitor (Cp) arranged to charge
in normal operation and to discharge while maintaining a sufficient power supply voltage
for the correct operation of the detector when the outputs are being tested.
4. The detector as claimed in one of claims 1 to 3, characterized in that it comprises four connection terminals arranged to receive a connector of M12 type.
5. The detector as claimed in one of claims 1 to 4, characterized in that the first output is of "normally open" (NO) type.
6. The detector as claimed in claim 5, characterized in that the second output is of "normally closed" (NC) type.
7. A detection system,
characterized in that it comprises:
- a processing logic unit comprising at least one input (in1) and one test output
(Out_test),
- a detector (D1) as defined in one of the preceding claims, the first output terminal
(01) of which is connected to said input (in1) of the processing logic unit (2) and
a power supply terminal (A1, A2) of which is connected to the test output of the processing
logic unit (2), the processing logic unit (2) being arranged to generate a test input
signal (S_test) applied to said power supply terminal of the detector (D1) in order
to test each output (NO, NC) of the detector (D1) connected to the processing logic
unit (2).
8. A detection system,
characterized in that it comprises:
- a processing logic unit comprising two inputs (in1, in2) and two power supply terminals
(+, -),
- a detector (D1) as defined in one of the preceding claims, the two power supply
terminals (A1, A2) of which are connected to the two power supply terminals (+, -)
of the processing logic unit (2) and the two output terminals (O1, O2) of which are
connected to the two inputs (in1, in2) of the processing logic unit (2) so as to offer
redundancy between the two outputs of the detector.