VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG DES ZUSTANDS EINER KONTAKTOBERFLÄCHE EINES ELEKTRISCHEN STECKVERBINDERKONTAKTES

Beschreibung

[0001] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche gemäß dem Oberbegriff des unabhängigen Hauptanspruchs 1.

[0002] Derartige Kontaktoberflächen umfassen eine Kontaktoberflächenbeschichtung, aufweisend zumindest eine Zwischenschicht, die zumindest größtenteils aus Nickel gebildet sein kann, und weiterhin aufweisend eine darauf angeordnete Oberflächenschicht, die aus einem Edelmetall, beispielsweise aus Silber oder Gold, oder auch aus einer organischen Schicht bestehen kann. Die Kontaktoberflächenbeschichtung, und insbesondere ihre Oberflächenschicht, dient in der Regel dazu, das Leitverhalten eines elektrischen Steckverbinderkontaktes, auf den sie aufgebracht ist, zu verbessern und diesen Steckverbinderkontakt gegen Oxydation zu schützen.

Stand der Technik

[0003] Aus den Druckschriften US 2007 0158 619 A1 und US 2007 0199 826 A1 sind in einer Matrix eingelagerte Kohlenstoffnanoröhren (carbon nanotubes; "CNTs") sowie die Herstellung solcher Schichten mittels galvanischer Kontaktoberflächenbeschichtung bereits bekannt.

[0004] Aus den Druckschriften DE 10 2008 001 000 A1 und DE 10 2009 002 178 A1 ist die Herstellung und Anwendung von in einer Matrix eingebetteten Kohlenstoffnanostrukturen als Material für Elektroden mit verbesserter Leistungsfähigkeit und als strangförmiges Kompositleitermaterial bekannt.

[0005] Aus der Druckschrift DE 10 2009 054 427 A1 ist für Elektronikanwendungen ebenfalls ein Verfahren bekannt, bei welchem die kohlenstoff- und edelmetallhaltige Kontaktoberflächenbeschichtung als Paste oder in Pulverform auf ein Substrat aufgebracht wird.

[0006] Die Druckschrift DE 10 2006 004 730 A1 offenbart ein Verfahren zur Überwachung des Zustands einer Fahrzeugbremsvorrichtung. Die Vorrichtung umfasst einen Bremsbelag mit einem integrierten Verschleißsensor, wobei der Verschleißsensor über eine zweiadrige Leitungsverbindung mit einer elektronischen Steuereinheit verbunden ist. Innerhalb der Steuereinheit wird über den Widerstandswert der Leiterschleife der aktuelle Widerstandswert, bzw. ein resultierender Strom- und/oder Spannungswert ermittelt und in Abhängigkeit von diesem auf den Verschleißzustand des Bremsbelags geschlossen.

[0007] Aus den Druckschriften EP 1 566 814 B1 und DE 603 15 063 T2 ist es bekannt, für Schleifkontakte Kohlenstoffnanofasern oder Kohlenstoffnanoröhren auf der Oberfläche von Metallpartikeln aufzubringen.

[0008] Die Druckschrift WO 2007 118 337 A1 schlägt vor, dass solche Kohlenstoffnanofasern oder Kohlenstoffnanoröhren in eine Metallmatrix eingebracht werden um die thermische und elektrische Leitfähigkeit zu erhöhen.

[0009] Im Stand der Technik existiert der Nachteil, dass bezüglich des aktuellen Zustandes der Oberfläche einzelner Kontakte im Betrieb eine ständige Unsicherheit besteht. Oft werden die Kontaktoberflächenbeschichtungen bei der Herstellung der Kontakte zur Sicherheit unnötig stark ausgestaltet, was einen erhöhten Materialaufwand zu Folge hat. Im Einzelfall verbleibt trotzdem eine Restunsicherheit.

Aufgabenstellung

[0010] Die Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, eine solche kontinuierliche Zustandsüberwachung einer Kontaktoberfläche eines Steckverbinderkontaktes mit einem möglichst geringen Aufwand zu ermöglichen.

[0011] Die Aufgabe wird durch ein Verfahren der eingangs erwähnten Art durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils des unabhängigen Anspruchs 1 gelöst.

[0012] Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.

[0013] Die Kontaktoberfläche umfasst eine Kontaktoberflächenbeschichtung, aufweisend zumindest eine Zwischenschicht sowie eine darauf angeordnete Oberflächenschicht. Bei der Herstellung kann die Kontaktoberflächenbeschichtung in mehreren Schritten auf ein Kontaktbasismaterial aufgebracht werden, indem zunächst die Zwischenschicht auf das Kontaktbasismaterial aufgebracht wird und danach die Oberflächenschicht auf die Zwischenschicht aufgebracht wird. Die Zwischenschicht kann zumindest größtenteils aus Nickel gebildet sein. Die Oberflächenschicht kann zumindest größtenteils aus einem Edelmetall wie Silber oder Gold oder auch aus einer organischen Schicht bestehen. Die Kontaktoberflächenbeschichtung und insbesondere deren Oberflächenschicht kann vorteilhafterweise dazu dienen, das Leitverhalten des elektrischen Kontaktes zu verbessern. Weiterhin kann die Kontaktoberflächenbeschichtung und insbesondere die Oberflächenschicht den Kontakt gegen Oxydation schützen.

[0014] Das erfindungsgemäße Verfahren dient dazu, den Verschleiß eines Steckverbinderkontaktes auch während seines Betriebs in Echtzeit zu überwachen. Bei dem Steckverbinderkontakt kann es sich beispielsweise um einen Pin- oder einen Buchsenkontakt handeln, der in einem Isolierkörper des Steckverbinders angeordnet ist oder dafür vorgesehen ist, in einem solchen Isolierkörper angeordnet zu werden. Der Steckverbinderkontakt weist zumindest das Basismaterial und die darauf angeordnete Kontaktoberflächenbeschichtung auf.

[0015] Die besagte Überwachung des Verschleißes ist besonders vorteilhaft, um ein sogenanntes "Over-Engineering" zu vermeiden, also z.B. um die Kontaktoberflächenbeschichtung nicht aus Unsicherheit unnötig stark ausgestalten zu müssen, weil mit einem ausreichenden Vorlauf bekannt ist, oder zumindest daraus extrapoliert werden kann, wann ein Kontakt voraussichtlich ausfallen wird.

[0016] Mit Hilfe dieses Verfahrens wird eine Ermittlung der dazu benötigten Informationen über die Belastungshistorie des Steckverbinders auch in Echtzeit auf Einzelkontaktebene ermöglicht.

[0017] Von besonderem Vorteil ist es, dass durch die Erfindung eine aus Unsicherheit stattfindende Überdimensionierung der Kontaktoberflächenbeschichtung nicht mehr notwendig ist. Stattdessen kann gemessen und weiterhin aus den gewonnenen Messungen extrapoliert werden, wann ein Steckverbinder bzw. seine Steckverbinderkontakte voraussichtlich ausfallen werden. Somit ist es möglich, den jeweiligen Steckverbinder ggf. rechtzeitig auszutauschen, was in vielen Fällen ausreichend ist. Dadurch kann in einigen Fällen auch besonders wertvolles Veredelungsmaterial, möglicherweise sogar Silber oder Gold, eingespart werden.

[0018] Besonders vorteilhaft ist es, dass bei der Anwendung unabhängig von Fertigungsschwankungen eine ständige individuelle Kontrolle des Zustands der Oberfläche des jeweiligen Steckverbinderkontaktes existiert.

[0019] Dies ist insbesondere für sicherheitsrelevante Anwendungen von großer Bedeutung, weil konkrete Aussagen über den Zustand des jeweils verwendeten Steckverbinders, d.h. seiner einzelnen Steckverbinderkontakte, gemacht werden können.

[0020] Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass Wartungs- und Reparaturarbeiten vorausschauend geplant werden können, so dass der wirtschaftliche Schaden, der gegebenenfalls durch den Ausfall eines Steckverbinders besteht, überschaubar bleibt.

[0021] Es ist daher besonders vorteilhaft, während der Fertigung in die Kontaktoberfläche, insbesondere in die Zwischenschicht, Sensoren, insbesondere Sensorstrukturen, einzubringen. Insbesondere ist es von Vorteil, wenn diese Sensoren mit geringem Aufwand elektronisch ausgewertet werden können, beispielsweise mit einer einfachen Widerstandsmessung.

[0022] Insbesondere ist es vorteilhaft, wenn die Zwischenschicht eine Matrix aufweist und wenn in diese Matrix bestimmte Strukturen als Sensoren eingelagert werden, die insbesondere die Leitfähigkeit der Matrix beeinflussen. Beispielswiese können Nanostrukturen, insbesondere Nanofasern und/oder Nanoröhren in die Zwischenschicht eingebracht werden, wobei diese Nanostrukturen einen höheren spezifischen elektrischen Leitwert besitzen als die weitere Zwischenschicht.

[0023] Alternativ dazu können auch Lichtwellenleiter als Sensoren Verwendung finden.

[0024] Beim Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung, insbesondere der Zwischenschicht, werden die Sensoren, insbesondere die Nanostrukturen, zumindest teilweise beschädigt.

[0025] Beispielsweise kann aus der daraus resultierenden Änderung des elektrischen Leitverhaltens über eine Widerstandsmessung / Leitfähigkeitsmessung zumindest ein signifikantes Maß für den Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung gewonnen werden. Alternativ dazu kann, falls die Sensoren als Lichtwellenleiter ausgebildet sind, aus Photometrischen Größen, d.h. optischen Messgrößen, ein signifikantes Maß für den Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung gewonnen werden.

Ausführungsbeispiel

[0026] Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Zeichnungen dargestellt und wird im Folgenden näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1a

einen Steckverinderkontakt mit einer unbeschädigten Kontaktoberflächenbeschichtung und eine Gegenkontaktzunge;

Fig. 1b

den Steckverbinderkontakt, mit der Kontaktoberflächenbeschichtung, die bereits einen Abrieb erfahren hat;

Fig. 2a

den unbeschädigten Steckverbinderkontakt, mit Sensoren in der Kontaktoberflächenbeschichtung;

Fig. 2b

den Steckverbiderkontakt, mit den zum Teil bereits zerstörten Sensoren in der teilweise bereits abgeriebenen Kontaktoberflächenbeschichtung ;

Fig. 3a

einen angedeuteten möglichen geometrischen Verlauf einer Nanostruktur in einer Zwischenschicht;

Fig. 3b

den unbeschädigten Steckverbinderkontakt mit Sensoren und einer Messeinrichtung;

Fig. 3c

den teilweise abgeriebenen Steckverbinderkontakt mit Sensoren und einer Messeinrichtung;

Fig. 4a

Eine mögliche Ausführung eines Verlaufs eines Sensors in der Zwischenschicht eines Steckverbinderkontaktes;

Fig. 4b

eine zweite mögliche Ausführung eines Verlaufs mehrerer Sensoren in der Zwischenschicht des Steckverbinderkontaktes;

Fig. 4c

eine dreidimensionale Darstellung eines Steckverbinderkontaktes, in dessen Kontaktoberflächenbeschichtung ein angedeutetes Netzwerk von Sensoren das Kontaktbasismaterial umgibt.

[0027] Die Figuren enthalten teilweise vereinfachte, schematische Darstellungen. Zum Teil werden für gleiche, aber gegebenenfalls nicht identische Elemente identische Bezugszeichen verwendet. Verschiedene Ansichten gleicher Elemente könnten unterschiedlich skaliert sein.

[0028] Die Fig. 1a und 1b zeigen jeweils eine Anordnung, die aus dem Stand der Technik bekannt ist, nämlich einen Kontakt, bei dem es sich insbesondere um einen Steckverbinderkontakt, d.h. um einen elektrischen Kontakt eines Steckverbinders, handelt, z.B. um einen Pin- oder Buchsenkontakt, der in einem Isolierkörper des Steckverbinders angeordnet ist oder dafür vorgesehen ist, in einem solchen Isolierkörper angeordnet zu werden.

[0029] Der Steckverbinderkontakt besitzt ein Kontaktbasismaterial 1, auf das z.B. zum Korrosionsschutz und/oder zur Verbesserung der elektrischen Leitfähigkeit eine Kontaktoberflächenbeschichtung 2 aufgebracht ist, wobei die Kontaktoberflächenbeschichtung 2, in diesem Fall durch eine Gegenkontaktzunge 3, einen Abrieb erfährt und dadurch zunächst abgerieben und langfristig zerstört wird. Die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 besteht aus einer Zwischenschicht 21 und einer Oberflächenschicht 22.

[0030] Die Fig. 1a zeigt den Steckverbinderkontakt mit einem Kontaktbasismaterial 1 sowie der darauf aufgebrachten Kontaktoberflächenbeschichtung 2 und eine Gegenkontaktzunge 3.

[0031] Die Fig. 1b zeigt den Steckverbinderkontakt in einem Zustand, bei dem die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 bereits teilweise abgerieben ist. Die Oberflächenschicht 22 ist nur noch in Fragmenten vorhanden. Auch die Zwischenschicht 21 ist zumindest in einem Bereich bereits teilweise abgerieben. Es ist leicht erkennbar, dass der Abrieb von dem Zusammenwirken des Kontaktes mit der Gegenkontaktzunge 3 stammt.

[0032] Die Fig. 2a und 2b zeigen vergleichbare Anordnungen, bei denen jedoch zusätzlich in die Kontaktoberflächenbeschichtung, insbesondere in die Zwischenschicht 21, mehrere Sensoren 4,4',4" eingebracht sind. Diese Sensoren 4,4',4" können sich insbesondere dadurch auszeichnen, dass sie eine höhere spezifische elektrische Leitfähigkeit besitzen als die Zwischenschicht 21, in die sie gegebenenfalls eingebracht sind. In einer alternativen Ausführung könnte es sich bei den Sensoren 4,4', 4" aber beispielsweise auch um Lichtwellenleiter, z.B. Glasfaserleitungen, handeln.

[0033] In der Fig. 2a sind die in die noch unbeschädigte Kontaktoberflächenbeschichtung 2 eingebrachten Sensoren 4,4',4" dargestellt. Es ist selbstverständlich, dass die drei dargestellten Sensoren 4,4',4" stellvertretend für eine in der Zwischenschicht 21 existierende Vielzahl von Sensoren stehen. Insbesondere kann es sich bei den Sensoren 4,4',4" um Nanostrukturen handeln, welche in die Kontaktoberflächenbeschichtung 2, insbesondere in die Matrix der Zwischenschicht 21, eingebracht sind.

[0034] In der Fig. 2b ist dargestellt, wie die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 einen so starken Abrieb erfahren hat, dass die im äußeren Bereich der Zwischenschicht 21 angeordneten Sensoren, 4,4', die stellvertretend für einen ersten Teil der Sensoren stehen, zumindest teilweise zerstört sind, wodurch ihre verglichen mit der Kontaktoberflächenbeschichtung besonders gut elektrisch leitende Funktion zumindest erheblich reduziert ist. Ein weiterer Sensor 4", der näher am Kontaktbasismaterial angeordnet ist und stellvertretend für einen zweiten Teil der Sensoren steht, ist dagegen unzerstört und erhält so beispielsweise seinen hohen Leitwert aufrecht.

[0035] Die Fig. 3a deutet einen realistischeren Verlauf einer Nanostruktur in der Matrix einer Kontaktoberflächenbeschichtung 2 an. Weiterhin ist auch eine daran angeschlossene Messeinrichtung 5 dargestellt. Diese beinhaltet im vorliegenden Beispiel Mittel zur elektrischen Widerstandsmessung. Aufgrund des wesentlich höheren Leitwerts, durch den sich der Sensor 4 von der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 unterscheidet, kann trotz der vergleichsweise großen Länge des Sensors 4 von der Messeinrichtung 5 eine Aussage darüber getroffen werden, ob der Sensor 4 beschädigt ist, oder ob der Sensor 4 unbeschädigt ist und somit eine elektrisch leitende Verbindung mit dem für ihn typisch hohen Leitwert darstellt. Doch auch bei einer teilweisen Beschädigung des Sensors 4 ist der dazugehörige Stromkreis nicht vollständig unterbrochen, sondern lediglich dessen Leitwert verringert, da seine an die Beschädigung grenzenden Enden über die Kotaktoberflächenbeschichtung 2 elektrisch leitend verbunden sind und auch die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 elektrisch leitend ist, wenngleich ihr Leitwert auch geringer ist als der des Sensors 4,4',4". Bei einer Vielzahl solcher Sensoren 4,4',4" kann mittels einer statistischen Auswertung somit auch das Ausmaß der Zerstörung der Sensoren 4 Berücksichtigung finden.

[0036] Die Fig. 3b zeigt in eine schematisierte Darstellung eine Ausführung, bei der mehrere Sensoren 4,4',4", die über das Kontaktbasismaterial 1 unterschiedlich weit in den Kontakt hineingeführt werden. Von dort aus dringen die Sensoren 4,4',4" auch unterschiedlich tief in die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 ein. Auf diese Weise verlaufen sie über einen relativ langen Bereich durch das Kontaktbasismaterial 1, dessen Leitwert noch einmal deutlich geringer ist als der Leitwert der Kontaktoberflächenbeschichtung 2, was die Messbarkeit verbessert. In einer alternativen Ausführung könnten die Sensoren selbstverständlich auch ausschließlich in der Kontaktoberflächenbeschichtung liegen ohne das Kontaktbasismaterial zu passieren.

[0037] In der Fig. 3c ist zusätzlich die Gegenkontaktzunge 3 dargestellt, durch die ein Teil der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 abgerieben ist. Dementsprechend ist zumindest ein erster Teil der Sensoren 4,4' teilweise zerstört, d.h. unterbrochen, und besitzt somit, verglichen mit ihrem ursprünglichen Zustand, eine zumindest verringerte elektrische Leitfähigkeit, während ein weiterer Teil der Sensoren, hier dargestellt durch den weiteren Sensor 4", nach wie vor unzerstört ist und seine ursprüngliche Leitfähigkeit aufrecht erhält.

[0038] Es ist insbesondere beim Einsatz von Nanostrukturen wie Nanofasern und/oder Nanoröhren als Sensoren 4,4',4", mit denen die Kontaktoberfläche durchsetzt ist, leicht nachvollziehbar, dass die gezeigten Sensoren 4,4',4" jeweils exemplarisch für eine Vielzahl von Sensoren stehen, dass deren geometrische Verteilung ebenfalls statistischer Natur ist, und dass daher bei den Messungen statistische Erkenntnisse über den Zustand der Gesamtheit dieser Sensoren 4,4',4" gewonnen werden. Tatsächlich lassen diese statistischen Erkenntnisse jedoch, wie mit Hilfe von Messungen und Simulationen herausgefunden wurde, signifikante Rückschlüsse auf den Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 zu.

[0039] In der Fig. 4a ist exemplarisch ein Sensor 4 in der angedeuteten Form einer Nanostruktur dargestellt, der innerhalb der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 an zwei gegenüberliegenden Seiten des Kontakts im Wesentlichen in Steckrichtung verläuft und sich somit von einer Seite des Kontaktes zur anderen Seite des Kontaktes erstreckt und der am Fuß des Steckverbinders an jeder der beiden Seiten zur Auswertung elektrisch leitend mit der Messeinrichtung 5 verbunden ist. Diese Ausführungsform besitzt den Vorteil, dass der Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 über die gesamte Kontaktlänge automatisch mit gleicher Gewichtung ausgewertet wird.

[0040] In der Fig. 4b sind exemplarisch drei solche Sensoren 4,4',4" dargestellt, die jeweils nur an einer Seite des Kontaktes an die Messeinrichtung 5 angeschlossen sind und daher entsprechend ihrer Länge unterschiedlich weit in Steckrichtung verlaufen. Es ist leicht erkennbar dass ein Abrieb an der Spitze des Kontaktes bei der statistischen Auswertung geringer gewichtet ist als ein Abrieb an demjenigen Bereich, an dem die Sensoren 4,4',4" an das Messeinrichtung 5 angeschlossen sind. Es empfiehlt sich also, die Konzentration der Sensoren an denjenigen Stellen, an denen ein hoher Reibverschleiß zu erwarten ist, zu erhöhen. Diese Darstellung dient in erster Linie dem prinzipiellen Verständnis dieses Vorgangs.

[0041] Die Fig. 4c zeigt einen Steckverbinderkontakt in einer dreidimensionalen Darstellung. Dabei ist das Kontaktbasismaterial von einem Netz von Sensoren umgeben. Die Konzentration der Sensoren bleibt, von geringfügigen statistischen Schwankungen abgesehen, über die Oberfläche des Steckverbinderkontaktes konstant.

Verfahren zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche eines Steckverbinderkontaktes

Bezugszeichenliste

[0042] 

1 Kontaktbasismaterial

2 Kontaktoberflächenbeschichtung

21 Zwischenschicht

22 Oberflächenschicht

3 Gegenkontaktzunge

4,4',4" Sensoren

5 Messeinrichtung

Ansprüche

1. Verfahren zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche eines Steckverbinderkontaktes, umfassend eine Kontaktoberflächenbeschichtung (2), die auf ein Kontaktbasismaterial (1) des Steckverbinderkontaktes in mehreren Schritten aufgebracht wird, indem zunächst eine Zwischenschicht (21) auf das Kontaktbasismaterial (1) aufgebracht wird und danach eine Oberflächenschicht (22) auf die Zwischenschicht (21) aufgebracht wird, dadurch gekennzeichnet,
dass in die Kontaktoberflächenbeschichtung (2) Sensoren (4,4',4") eingebracht werden.

2. Verfahren gemäß Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Sensoren (4,4',4") der Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) über eine elektrische Messgröße bestimmt wird.

3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) mittels einer Widerstandsmessung ermittelt wird.

4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in eine Matrix der Zwischenschicht (21) eingelagerte Strukturen als Sensoren (4,4',4") verwendet werden.

5. Verfahren gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in die Zwischenschicht (21) eingebrachte Nanostrukturen als Sensoren (4,4',4") verwendet werden.

6. Verfahren gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Zwischenschicht (21) aus Nickel gebildet wird.

7. Verfahren gemäß Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass in die aus Nickel gebildete Zwischenschicht (21) Nanostrukturen aus Kohlenstoff als Sensoren (4,4',4") eingebracht werden.

8. Verfahren gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoren (4,4',4") einen höheren Leitwert besitzen als die Zwischenschicht (21) .

9. Verfahren gemäß Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass eine senkrecht zur Steckrichtung gemessene Querleitfähigkeit und/oder eine in Steckrichtung gemessene Leitfähigkeit der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) ein Maß für die darin unbeschadet verlaufenden Sensoren (4,4',4") darstellt.

10. Verfahren gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sich durch einen Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) der Leitwert zumindest einiger Sensoren (4,4',4") signifikant ändert, und dass dieser Leitwert und/oder die Änderung dieses Leitwertes mit einer Messeinrichtung (5) gemessen und zur Analyse des Zustands der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) verwendet wird.

11. Verfahren gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberflächenschicht (22) zumindest größtenteils aus Silber oder Gold gebildet wird.

12. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Sensoren (4,4',4") der Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) über eine optische Messgröße bestimmt wird.

Claims

1. Method for monitoring the condition of a contact surface of a plug-in connector contact comprising .a contact surface coating (2) which is applied to a contact base material (1) of the plug-in connector contact in several steps by an intermediate layer (21) first being applied to the contact base material (1) and a surface layer (22) then being applied to the intermediate layer (21), characterized in that sensors (4,' 4', 4") are inserted into the contact surface coating (2).

2. Method according to Claim 1, characterized in that the condition of the contact surface coating (2) is determined by way of an electrical measurement variable by means of the sensors (4, 4', 4").

3. Method according to either of the preceding claims, characterized in that the condition, of the contact surface coating (2) is ascertained by means of a resistance measurement.

4. Method according to one of the preceding claims, characterized in that structures which are incorporated into a matrix of the intermediate layer (21) are used as sensors (4, 4', 4").

5. Method according to one of the preceding claims, characterized in that the nanostructures which are inserted into the intermediate layer (21) are used as sensors (4, 4', 4").

6. Method according to one of the preceding claims, characterized in that the intermediate layer (21) is formed from nickel.

7. Method according to Claim 6, characterized in that nanostructures which are composed of carbon are inserted into the intermediate layer (21) which is formed from nickel as sensors (4, 4', 4").

8. Method according to one of the preceding claims, characterized in that the sensors (4, 4', 4") have a higher conductance than the intermediate layer (21).

9. Method according to Claim 8, characterized in that a cross-conductivity, which is measured perpendicular to the direction of insertion, and/or a conductivity, which is measured in the direction of insertion, of the contact surface coating (2) constitute/constitutes a measure of the sensors (4, 4', 4") which run in an undamaged condition therein.

10. Method according to one of the preceding claims, characterized in that the conductance of at least some sensors (4, 4', 4") changes significantly owing to abrasion of the contact surface coating (2), and in that this conductance and/or the change in this conductance is measured using a measuring device (5) and is used for analysing the condition of the contact surface coating (2).

11. Method according to one of the preceding claims, characterized in that the surface layer (22) is formed at least for the most part from silver or gold.

12. Method according to Claim 1, characterized in that the condition of the contact surface coating (2) is determined by way of an optical measurement variable by means of the sensors (4, 4', 4").

Revendications

1. Procédé de surveillance de l'état d'une surface de contact d'un contact de connecteur électrique, comprenant un revêtement superficiel de contact (2) qui est déposé en plusieurs stades sur un matériau de base de contact (1) du contact de connecteur en déposant tout d'abord une couche intermédiaire (21) sur le matériau de base de contact (1) puis en déposant une couche superficielle (22) sur la couche intermédiaire (21),
caractérisé en ce que des capteurs (4, 4', 4") sont incorporés au revêtement superficiel de contact (2).

2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'état du revêtement superficiel de contact (2) est déterminé au moyen des capteurs (4, 4', 4") par l'intermédiaire d'une grandeur de mesure électrique.

3. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'état du revêtement superficiel de contact (2) est obtenu au moyen d'une mesure de résistance.

4. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que des structures noyées dans une matrice de la couche intermédiaire (21) sont utilisées en tant que capteurs (4, 4', 4").

5. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que des nanostructures incorporées à la couche intermédiaire (21) sont utilisées en tant que capteurs (4, 4', 4").

6. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la couche intermédiaire (21) est constituée de nickel.

7. Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce que des nanostructures constituées de matière plastique sont incorporées en tant que capteurs (4, 4', 4") dans la couche intermédiaire (21) constituée de nickel.

8. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les capteurs (4, 4', 4") possèdent une conductivité supérieure à celle de la couche intermédiaire (21).

9. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce qu'une conductivité transversale mesurée perpendiculairement à la direction d'enfichage et/ou une conductivité mesurée dans la direction d'enfichage du revêtement superficiel de contact (2) constitue une mesure pour les capteurs (4, 4', 4") non endommagés s'étendant dans celui-ci.

10. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la conductivité d'au moins certains capteurs (4, 4', 4") varie de manière significative du fait d'une abrasion du revêtement superficiel de contact (2) et en ce que ladite conductivité et/ou la variation de ladite conductivité est mesurée à l'aide d'un dispositif de mesure (5) et est utilisée pour analyser l'état du revêtement superficiel de contact (2).

11. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la couche superficielle (22) est au moins en grande partie constituée d'argent ou d'or.

12. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'état du revêtement superficiel de contact (2) est déterminé au moyen des capteurs (4, 4', 4") par l'intermédiaire d'une grandeur de mesure optique.

Zeichnung